JPS61251248A - 内蔵モデムの試験とモニタ方式 - Google Patents
内蔵モデムの試験とモニタ方式Info
- Publication number
- JPS61251248A JPS61251248A JP60091528A JP9152885A JPS61251248A JP S61251248 A JPS61251248 A JP S61251248A JP 60091528 A JP60091528 A JP 60091528A JP 9152885 A JP9152885 A JP 9152885A JP S61251248 A JPS61251248 A JP S61251248A
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- driver
- signal
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- Pending
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- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
モデムを内蔵した端末装置（ＤＴＥ）のモデム部と端末
部間のインタフェースをモニタ可能とするためドライバ
を設けてモニタ装置を接続可能とすると共に、モデム部
と端末部間のインタフェースを切り離し、モデム部にモ
デム試験器を接続可能とすることで、既設のモニタ装置
及びモデム試験器を使用可能とする。
部間のインタフェースをモニタ可能とするためドライバ
を設けてモニタ装置を接続可能とすると共に、モデム部
と端末部間のインタフェースを切り離し、モデム部にモ
デム試験器を接続可能とすることで、既設のモニタ装置
及びモデム試験器を使用可能とする。
本発明はモデムを内蔵した端末装置に係り、特に該端末
装置の端末部と内蔵モデムの間のインタフェースに既設
のモデム試験器又はモニタ装置を接続可能とする内蔵モ
デムの試験とモニタ方式に関する。
装置の端末部と内蔵モデムの間のインタフェースに既設
のモデム試験器又はモニタ装置を接続可能とする内蔵モ
デムの試験とモニタ方式に関する。
近年、情報処理システムの発展に伴い、遠隔地の端末装
置で発生するデータを電話回線等を使用し、中央に設置
した計算機システムに集中して処理することが行われて
いる。この場合端末装置で取り扱うデータや計算機シス
テムで処理するデータは、そのまま電話回線に乗せて伝
送するには不適当であるため、モデムを用いて変調して
伝送する必要がある。 □ 第３図はモデムの接続を説明する図である。
置で発生するデータを電話回線等を使用し、中央に設置
した計算機システムに集中して処理することが行われて
いる。この場合端末装置で取り扱うデータや計算機シス
テムで処理するデータは、そのまま電話回線に乗せて伝
送するには不適当であるため、モデムを用いて変調して
伝送する必要がある。 □ 第３図はモデムの接続を説明する図である。
通常モデムを使用する際は、第３図に示す如く端末装置
１とモデム２の間をＲＣ−２３２Ｃインタフエースで接
続しており、例えばコネクタ３と４により相互をケーブ
ルで接続する。
１とモデム２の間をＲＣ−２３２Ｃインタフエースで接
続しており、例えばコネクタ３と４により相互をケーブ
ルで接続する。
この一般的なインタフェースのため、モデムに対する各
種の試験装置が用意されている。
種の試験装置が用意されている。
即ちコネクタ４を取外し、端末装置１と置き換えてエラ
ー等を測定するモデム試験器やモデム２と端末装置ｌの
間にブランチして、相互に送受される信号をモニタする
モニタ装置等があり、電話回線異常時や機器障害時の切
分は等に広く使用されている。
ー等を測定するモデム試験器やモデム２と端末装置ｌの
間にブランチして、相互に送受される信号をモニタする
モニタ装置等があり、電話回線異常時や機器障害時の切
分は等に広く使用されている。
ところで、端末装置はモデムと一対となって設置される
ため、端末装置にモデムを内蔵し、設置面積が小さく安
価な端末装置が使用されるようになってきた。この内蔵
モデムは端末装置内部で相互が結合されているが、障害
発生時に前記モデム試験器又はモニタ装置を使用して調
査出来ることが望ま′しい。 ”７
゛〔従来の技術〕 従来のモデム内蔵端末装置はモデムと端末部とを直接装
置内部で接続しており、モデムと端末部間のＲＣ−２３
２Ｃインタフエースは外部に出ていない。
ため、端末装置にモデムを内蔵し、設置面積が小さく安
価な端末装置が使用されるようになってきた。この内蔵
モデムは端末装置内部で相互が結合されているが、障害
発生時に前記モデム試験器又はモニタ装置を使用して調
査出来ることが望ま′しい。 ”７
゛〔従来の技術〕 従来のモデム内蔵端末装置はモデムと端末部とを直接装
置内部で接続しており、モデムと端末部間のＲＣ−２３
２Ｃインタフエースは外部に出ていない。
上記の如く、従来のモデム内蔵端末装置はＲＣ−２３２
Ｃインタフエースが外部に出ていないため、既に用意さ
れている従来のモデム試―器やモニタ装置が接続出来ず
、且つ障害発生時にモデムと端末装置間の切分けが不可
能である。
Ｃインタフエースが外部に出ていないため、既に用意さ
れている従来のモデム試―器やモニタ装置が接続出来ず
、且つ障害発生時にモデムと端末装置間の切分けが不可
能である。
従って装置のカバーを外してＴＴＬレベルの信号をモニ
タする位のことしか行えないため、障害の探索に時間が
かかるという問題がある。
タする位のことしか行えないため、障害の探索に時間が
かかるという問題がある。
本発明はこのような問題点に鑑み、スイッチ等によりモ
デムと端末装置間を切り離してモデム、試験器を接続可
能とすると共に、モニタ装置も接続可能とすることで、
障害探索を容易とすることを目的、としている。
デムと端末装置間を切り離してモデム、試験器を接続可
能とすると共に、モニタ装置も接続可能とすることで、
障害探索を容易とすることを目的、としている。
第１図は本発明の原理ブロック図である、。
通常の動作中は第１図（ａｌに示す如く、端末装置７の
端末部５とモデム部６は電気的にＴＴＬレベルで相互に
接続されている。Ａは端末部５からモデム部６に送出す
るデータ及び信号を伝送する信号線で、その内容はＳＤ
（送信データ）、、Ｒ３（データ送信要求の信号）、Ｅ
Ｒ（モデム制御中の信号）、ＳＴＩ （端末部から９送
信タイミング信号）等である。
端末部５とモデム部６は電気的にＴＴＬレベルで相互に
接続されている。Ａは端末部５からモデム部６に送出す
るデータ及び信号を伝送する信号線で、その内容はＳＤ
（送信データ）、、Ｒ３（データ送信要求の信号）、Ｅ
Ｒ（モデム制御中の信号）、ＳＴＩ （端末部から９送
信タイミング信号）等である。
又Ｂはモデム部６が端末部５に送出するデータ及び信号
を伝送する信号線で、その内容はＲＤ（受信データ）、
Ｃ３（Ｒ３に対する応答で送信許可を示す信号）、ＣＤ
（キャリア受信中の信号）。
を伝送する信号線で、その内容はＲＤ（受信データ）、
Ｃ３（Ｒ３に対する応答で送信許可を示す信号）、ＣＤ
（キャリア受信中の信号）。
ＤＲ（ＥＲに対する応答でモデムのデータ送信可能を示
す信号）、５ＱＤ（受信データの品質良好を示す信号）
、Ｓｒ１ （モデムからの送信タイミング信号）、ＲＴ
、（ＲＤサンプリングに端末部が必要なタイミング）、
等である。
す信号）、５ＱＤ（受信データの品質良好を示す信号）
、Ｓｒ１ （モデムからの送信タイミング信号）、ＲＴ
、（ＲＤサンプリングに端末部が必要なタイミング）、
等である。
モニタ装置８を接続してモデム部６と端末部５の間の信
号をモニタする場合、第１図（ｂ）に示す如＜ＴＴＬレ
ベルをＣＣＩＴＴ勧告Ｖ２勧告型２８レベル（Ｒ３２３
２Ｃの電気的レベル）に変換するドライバ１１を信号線
Ａに４個、ドライバ１０を信号線Ｂに７個夫々設けて、
七斗ダ装置８を接続する。
号をモニタする場合、第１図（ｂ）に示す如＜ＴＴＬレ
ベルをＣＣＩＴＴ勧告Ｖ２勧告型２８レベル（Ｒ３２３
２Ｃの電気的レベル）に変換するドライバ１１を信号線
Ａに４個、ドライバ１０を信号線Ｂに７個夫々設けて、
七斗ダ装置８を接続する。
モデム試験器９を接続してモデム部６の試験を行う場合
、第１図（Ｃ）に示す如くスイッチ１３を４個とスイッ
チ１４を７個６設けて端末部５を切り離、し、ＣＣＩＴ
Ｔ勧告Ｖ２勧告型２８レベル（Ｒ３２３２Ｃの電気的レ
ベル）をＴＴＬレベルに変換するレシーバ１２を４個と
スイッチ１５を４個夫々設け、スイッチ１５でモニタ用
に設けたドライバ１１とレシーバ１２を切替えると共に
、モニタ用に設けたドライバ１０を利用して、モデム試
験器９をモデム部６に接続する構成とする。
、第１図（Ｃ）に示す如くスイッチ１３を４個とスイッ
チ１４を７個６設けて端末部５を切り離、し、ＣＣＩＴ
Ｔ勧告Ｖ２勧告型２８レベル（Ｒ３２３２Ｃの電気的レ
ベル）をＴＴＬレベルに変換するレシーバ１２を４個と
スイッチ１５を４個夫々設け、スイッチ１５でモニタ用
に設けたドライバ１１とレシーバ１２を切替えると共に
、モニタ用に設けたドライバ１０を利用して、モデム試
験器９をモデム部６に接続する構成とする。
上記の如く構成することにより、モデム内蔵の端末部Ｗ
７のモデム部６と端末部５の間にＲ３−２３２０インタ
フエースでブランチするインタフェースと、モデム部６
のみに接続するインタフェースとが形成される。
７のモデム部６と端末部５の間にＲ３−２３２０インタ
フエースでブランチするインタフェースと、モデム部６
のみに接続するインタフェースとが形成される。
従って必要に応じモニタ装置又はモデム試験器を接続す
ることが出来る。
ることが出来る。
第２図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図であ
る。
る。
通常の動作中はスイッチ１．３．１４及び１５は実線で
示す如く接続され、端末部５は信号線Ａを経て前記の如
＜ＳＤ、ＲＳ、ＥＲ，ＳＴＩをモデム部６に送出する。
示す如く接続され、端末部５は信号線Ａを経て前記の如
＜ＳＤ、ＲＳ、ＥＲ，ＳＴＩをモデム部６に送出する。
又モデム部６は信号線Ｂを経て端末部５にＲＤ。
Ｃ３，ＣＤ、ＤＲ，ＳＱＤ、ＳＴ２．ＲＴを送出する。
これらの信号をモニタする場合、モニタ装置をコネクタ
１６に接続する。コネクタ１６には信号線Ａの信号はド
ライバ１１により、信号線Ｂの信号はドライバ１０によ
り夫々供給されるため、モニタ装置はこれらの信号をモ
ニタすることが出来る。
１６に接続する。コネクタ１６には信号線Ａの信号はド
ライバ１１により、信号線Ｂの信号はドライバ１０によ
り夫々供給されるため、モニタ装置はこれらの信号をモ
ニタすることが出来る。
又モデム試験器をモデム部６に接続する場合は、スイッ
チ１３．１４及び１５を点線で示す如く切替え、コネク
タ１６にモデム試験器を接続する。
チ１３．１４及び１５を点線で示す如く切替え、コネク
タ１６にモデム試験器を接続する。
モデム試験器から送出する信号はレシーバ１２によりモ
デム部６に供給され、モデム部６から送出される信号は
ドライバ１０によりモデム試験器に供給されるため、モ
デム部６の試験を行うことが出来る。
デム部６に供給され、モデム部６から送出される信号は
ドライバ１０によりモデム試験器に供給されるため、モ
デム部６の試験を行うことが出来る。
以上説明した如く、本発明は既設のモニタ装置及びモデ
ム試験器を利用してモデム内蔵の端末装置のモニタ及び
試験を行うことが出来る。
ム試験器を利用してモデム内蔵の端末装置のモニタ及び
試験を行うことが出来る。
第１図は本発明の原理ブロック図、
第２図は本発明の一実施例を示す回路のプロ・ツク図、
第３図はモデムの接続を説明する図である。
図において、
１．７は端末装置、 ３，４．１６はコネクタ、２
はモデム、 ５は端末部、６はモデム部、
８はモニタ装置、９はモデム試験器、 １０．
１１はドライバ、１２はレシーバ、 １３、１４．１５はスイッチである。
はモデム、 ５は端末部、６はモデム部、
８はモニタ装置、９はモデム試験器、 １０．
１１はドライバ、１２はレシーバ、 １３、１４．１５はスイッチである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 モデム部（６）を内蔵した端末装置において、モデム部
（６）と端末部（５）との間のインタフェースをモニタ
するドライバ（１０、１１）と、 該インタフェースを切替えて端末部（５）を切り離す第
１のスイッチ（１３、１４）と、 該第１のスイッチ（１３、１４）切替えによりモデム部
（６）にモデム試験器が送出する送信信号を供給するレ
シーバ（１２）と、 モデム部（６）が受信する信号をモニタするドライバ（
１１）と前記レシーバ（１２）を切替える第２のスイッ
チ（１５）とを設け、 前記インタフェースに前記ドライバ（１３、１４）を経
てモニタ装置（８）を接続するか、又は前記第１及び第
２のスイッチ（１３〜１５）を切替え、前記レシーバ（
１２）とドライバ（１０）とを経てモデム部（６）にモ
デム試験器（９）を接続することを特徴とする内蔵モデ
ムの試験とモニタ方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60091528A JPS61251248A (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 | 内蔵モデムの試験とモニタ方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60091528A JPS61251248A (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 | 内蔵モデムの試験とモニタ方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61251248A true JPS61251248A (ja) | 1986-11-08 |
Family
ID=14028932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60091528A Pending JPS61251248A (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 | 内蔵モデムの試験とモニタ方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61251248A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0630081A (ja) * | 1992-07-08 | 1994-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | モデム装置 |
| US6097505A (en) * | 1997-03-21 | 2000-08-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Communication apparatus and communication control method |
-
1985
- 1985-04-27 JP JP60091528A patent/JPS61251248A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0630081A (ja) * | 1992-07-08 | 1994-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | モデム装置 |
| US6097505A (en) * | 1997-03-21 | 2000-08-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Communication apparatus and communication control method |
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