JPS6124285A - 光導電性薄膜の製造方法 - Google Patents

光導電性薄膜の製造方法

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JPS6124285A
JPS6124285A JP59146402A JP14640284A JPS6124285A JP S6124285 A JPS6124285 A JP S6124285A JP 59146402 A JP59146402 A JP 59146402A JP 14640284 A JP14640284 A JP 14640284A JP S6124285 A JPS6124285 A JP S6124285A
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JP
Japan
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thin
cds
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electrode
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JP59146402A
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JPH0519832B2 (ja
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Kosuke Ikeda
光佑 池田
Yoichi Harada
洋一 原田
Mikihiko Nishitani
幹彦 西谷
Toshio Yamashita
敏夫 山下
Noboru Yoshigami
由上 登
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1828Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIBVI compounds, e.g. CdS, ZnS, CdTe

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は可視域の光センサとして使用される光導電イ1
薄ノ摸の製造方法に関するものである。
従来例のfil成とその問題点 従来、CdSやCdSe を生体とする光センサは光電
流が大きいため、特にこの2種の化合物の固溶体Cd’
5−CdSeを主体とする光センサでは可視光全域をカ
バーする感度を有するため、ファクシミリの密着型ライ
ンセンサ用などとして注目され開光されてきた。
このCd S −Cd S e光センサの代表的製法は
以下の通りである。すなわち、適当な基板上にCd5−
CdSe固、容体の#膜を蒸着形成し、CdCl2の蒸
発源と1−ての例えばCdS:CdC12(混合、焼結
、粉砕し/こ)粉末を該薄膜と共にアルミナ等の半密閉
容器に入瓦て500℃程度の高温度に加熱して蒸発した
CdCe2の蒸気中で結晶成長させ、同時に増感中心を
形成させ大きな光電流を得るに至るのである(この工程
を活性化と称する)。上記の製法のま\では暗革流がか
なシ大きいのでCCd5−Cd5e膜の蒸着時に同時に
蒸4源にCuを例えばL d b 1. b e 、 
: Cu C(12(OS X り1 + Cd b 
sCdSe、 CuCd2  を混合、焼結、粉砕した
もの)。
の形で混入°しておき蒸着膜中にCuを添加しておけば
暗電流をかなシ小さくすることができる。
さて、CdCl2蒸気による活性化で増感中心を形成し
、光電子の寿命を長くシ、結果として大きな光電流を得
ることができる反面、基板的には光電子の寿命が光応答
時間に対応するので光電流が大きいと応答時間が長くな
ってしまう。その上に薄膜表面へのcac7)2の付着
残存などの影響で電極の付着強度も弱くて、暗電流も大
きく特性の再現性も悪く、場所的ばらつきも大きいとい
う欠点を有している。
発明の目的 本発明は従来の製法による光導電性薄膜に比べて、電極
の付着強度が強くて、暗電流が小さく、光電流の光応答
時間が短く、かつ特性の再現性に優れ、ばらつきの小さ
い光導電性薄膜を製造する方法を提供する。
@明の構成 本発明はCd51CdSeあルイはCd5−CdSe固
溶体を主成分として成る薄膜を基板上に形成し、CdC
l2の粉末と共に半密閉容器に入れ、高温度にて該薄膜
をCdCl2の蒸気に暴露して結晶成長と共に活性化し
て後、電極形成して光導電性薄膜を製造するに際して、
電極形成の前に薄膜を中性雰囲気(ArやN2  など
)中か空気中にて250℃以上で加熱処理することを特
徴とする光導電性薄膜の製造方法である。
実施例の説明 薄膜の厚さは20oO〜10000人であることが好ま
しい。2ooOÅ以下だと結晶成長の段階で若干の膜厚
減少などの影響が見られ光電流煽が小さくなシ、かつそ
の立上シ時間τ1は逆に大きくなシ、10000八以上
だとJpが大きく、かつその立下シ時間τdが長くなる
傾向があるからである。結晶成長の温度は450〜60
0℃が好ましい。450℃以下だとCdCl2の蒸気圧
が不足して結晶成長が起シ難く、600℃以上では逆に
CdCl2の蒸気圧が冒すぎて結晶成長が促進され過ぎ
てピンホールが生じたりするからでるる。熱処理の温度
は250〜650℃が好ましい。
250℃以゛下では効果が不充分であシ、550 ℃以
上では変化か大きすぎてコントロールか難しくなるから
である。この熱処理によって光センサの暗電流1dが著
しく減少し、特性(Jp、τ1、τd)が安定化すると
共に応答(τ1、τd)が早くなる。
以下、本発明の効果を実施例をもって説明する。
実施例 ガラス基板(コーニング社7069.23o×50X1
.2ms  )の上KCdS。、6Se0,4:CdC
l2(0,2モルチ)を蒸発源として約4000人の厚
さに蒸着した。蒸着膜中に含まれるCuの量は0s00
8モルチであった。図に見られる様にアルミナ製ボート
本体1(上、ぶた2つき内容積52Xs 1o X 2
0 wtb3tD W方体) CD中央底部K、CdS
:CdCIJ2(2%ル%)粉末4をC>2q/cm 
 の割合で長さ方向に置き、その上に上記蒸着膜を設け
たガラス基板3を上向きに置き、ふた2とのギャップが
2Bである様にしてふた2をしてカI7熱する。
600℃で1時間加熱した。この様にして得た膜をボー
ト本体1から取出しさらにN2ガス中で250.300
,400.500および550 ℃で1時間加熱して後
N i Cr/A u  の電極を蒸着形成した(巾2
#lA、ギャップ1m)。との様KL’て得た光センサ
にDCl ovを印加して100ルツクスの緑色光(e
長555 nmン を照射(1,Hzで0.5secず
つ)すてIp とそのτr(0から飽和値の90%まで
上がる時間)、τd (飽和値からその10%まで下が
る時間)を測定した。結果を熱処理のない場合の結果と
共沈次表に載せる。
’+!i性表(Jp、J小τ7、τd)またllf、極
のテープ剥離テストによシ未処理のものは剥離すること
かあるが、熱処理したものでは剥離することがない。
発明の効果  ′ 表に見られる様に、この熱処理によって電極の付着強度
が高まる上に暗電流が著しく減少すると共に光電流の応
答特性(立上り時間、立下り時間)が早くなシ、シかも
特性の再現性が優れ、はらつきも小さくなる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明に用いるボートの断面図である。 1・・・・・・ボート本体、2・・・・・・ボートふた
、3・・・・・・ガラス基板、4・・・・・・CdS:
CdC72粉末。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)CdS−CdSeあるいはこれら2種の化合物の
    固溶体CdS−CdSeを主体として成り、これに微量
    のCuを含んだ薄膜を基板上に形成し、前記薄膜をCd
    Cl_2の蒸気中にて加熱処理して結晶成長と共に活性
    化して後、電極形成して光導電性薄膜を製造するに際し
    て、前記電極形成の前に前記薄膜を中性雰囲気中か空気
    中にて250℃以上にて加熱処理することを特徴とする
    光導電性薄膜の製造方法。
  2. (2)薄膜の厚さが2000〜10000Å、結晶成長
    の湿度が450〜600℃、熱処理の温度が250〜5
    50℃であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の光導電性薄膜の製造方法。
JP59146402A 1984-07-13 1984-07-13 光導電性薄膜の製造方法 Granted JPS6124285A (ja)

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JP59146402A JPS6124285A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 光導電性薄膜の製造方法

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JP59146402A JPS6124285A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 光導電性薄膜の製造方法

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JPS6124285A true JPS6124285A (ja) 1986-02-01
JPH0519832B2 JPH0519832B2 (ja) 1993-03-17

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JP (1) JPS6124285A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63106236A (ja) * 1986-10-23 1988-05-11 Mita Ind Co Ltd 給紙装置
JPH0198267A (ja) * 1987-10-12 1989-04-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光センサの製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63106236A (ja) * 1986-10-23 1988-05-11 Mita Ind Co Ltd 給紙装置
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