JPS6123835Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は検査端子を設けた集積回路に関するも
のである。

一般に例えば水晶時計などに用いられる分周回
路は集積化され大量に作られるものであり、その
検査を行なう際に、その最終段の出力、例えば１
秒信号を取り出して検査するのでは、検査に要す
る時間がかかり不都合である。そこで分周回路を
２つに分割し、その前段と後段とをそれぞれ個別
に以下のようにして検査するものがあつた。分周
回路と同一チツプ内に切換え回路を集積化し、前
段の分周回路の出力を切換え回路を介して後段の
分周回路に供給する。切換え回路からは切換え制
御端子と検査用端子とを導出し、切換え制御端子
を一論理値に保持することによつて前段の分周回
路の出力を検査用端子に発生させるとともに後段
の分周回路に供給する。このときの検査用端子か
らの出力によつて前段の分周回路の検査を行な
う。一方切換え制御端子を他の論理値に切換える
ことによつて前段の分周回路の出力を遮断し、外
部からの検査用端子に高周波数の検査用の信号を
入力して後段の分周回路に供給し、その最終段の
出力を取り出して後段の分周回路の検査を行なう
ものであつた。このよつうに前段および後段の分
周回路を別個に検査するため、一つの集積回路を
２回にわけて検査しなければならなかつた。しか
も分周回路の検査用として２端子を必要とし、さ
らにこの他に分周回路のリセツト用の端子を必要
とし、集積回路から導出する端子数が多くなるも
のであつた。そのため集積回路にノイズ等が混入
する危険性が高まり、故障あるいは破壊を引き起
こす可能性が高くなるものであつた。

そこで本考案は一端子からの３種類の出力信号
によつて第１の回路から第２の回路への信号の供
給を制御するとともに第２の回路の動作状態をも
制御するようにし、従来の欠点を除去するもので
ある。

つぎに本考案の一実施例を図面に基づいて説明
する。第１図においてD₁，D₂はそれぞれ第１お
よび第２の手段を構成する分周回路であり、本例
では分周回路D₁の出力端子d₁，d₂，d₃からはそれ
ぞれ16Hz，８Hz，４Hzのパルスが発生するように
設定してある。F₁……F₅はフリツプフロツプ回
路、G₁……G₉はゲート回路、V₁，V₂，V₃はイン
バータ、Ｔは電界効果トランジスタf₁……f₄から
なりスイツチング回路を構成する伝達ゲート、
R₁，R₂は抵抗である。フリツプフロツプ回路F₁
……F₅、インバータV₂，V₃、伝達ゲートＴおよ
びゲート回路G₄……G₉によつて制御手段を構成
するものである。上記の回路構成は集積化してあ
り、集積回路Ａを構成している。Ｑは水晶振動
子、C₁，C₂はコンデンサであり、インバータV₁
および抵抗R₂とにより水晶発振器を構成するも
のである。S₁，S₂は直流電源の供給を受ける第１
および第２のスイツチ、R₃は抵抗であり、第３
の回路を構成するものである。上記構成におい
て、ゲート回路G₁〜G₉およびフリツプフロツプ
回路F₁〜F₅は検出回路を構成する。

つぎに動作について説明する。まず分周回路
D₁の検査を行なう場合について説明する。この
場合にはスイツチS₁，S₂をともに開成する。その
ため端子P₁には分周回路D₁の端子d₃からの４Hz
のパルスが抵抗R₁を介してフリツプフロツプ回
路F₁，F₂に供給される。一方フリツプフロツプ
回路F₁，F₂のクロツク入力には以下のようなパ
ルスが供給される。分周回路D₁の端子d₁から発
生する第２図Ａのパルスと、端子d₂からの第２図
Ｂのパルスとによつてゲート回路G₁から第２図
Ｃのパルスが発生する。このパルスがゲート回路
G₂，G₃に供給され、ゲート回路G₂，G₃はそれぞ
れ端子d₃からの第２図Ｄのパルスおよびその反転
パルスによつて開かれる。そのためゲート回路
G₂，G₃からそれぞれ第２図Ｅ，Ｆのパルスが発
生し、フリツプフロツプ回路F₁，F₂に供給され
る。そのためフリツプフロツプ回路F₁の入力が
“１”のときおよびフリツプフロツプ回路F₂の入
力が“０”のときそれぞれにクロツクパルスが供
給され、それぞれの出力Ｑは“１”および“０”
に保持される。フリツプフロツプ回路F₁の出力
Ｑが“１”であるため、ゲート回路G₃からのパ
ルスによつてフリツプフロツプ回路F₄の出力Ｑ
も“１”に保持され、ゲート回路G₄の一入力が
“１”に保持される。一方フリツプフロツプ回路
F₂の出力Ｑが“０”であるため、ゲート回路G₃
からのパルスによりフリツプフロツプ回路F₃の
出力が“１”に保持され、ゲート回路G₄の一
入力が“１”に保持される。さらにフリツプフロ
ツプ回路F₂の出力が“１”に保持されている
ため、ゲート回路G₄の入力はすべて“１”に保
持され、その出力は“０”に保持される。そのた
めゲート回路G₇の出力が“１”にインバータV₂
の出力が“０”に保持される。一方フリツプフロ
ツプ回路F₂の出力Ｑによつてゲート回路G₅の出
力が“０”に、ゲート回路G₈の出力も“０”に
保持される。そのためゲート回路G₉の両入力が
“０”に保持され、その出力も“０”に保持さ
れ、ゲート回路G₃からのパルスによつてフリツ
プフロツプ回路F₅の出力Ｑは“０”に保持され
る。これにより電界効果トランジスタf₁がオンに
なり、分周回路D₁からの出力パルスが電界効果
トランジスタf₁を介して分周回路D₂に供給される
とともに端子P₂に分周回路D₁の出力パルスが発
生する。したがつて分周回路D₁，D₂が動作し、
端子P₃からのパルスによつて負荷（図示せず。）、
例えばカウンタ等を駆動し、端子P₂から分周回路
D₁の出力パルスを取り出して、その検査を行な
うものである。

つぎに分周回路D₂の検査を行なう動作につい
て説明する。この場合にはスイツチS₁を閉成して
端子P₁を“１”に保持する。そのためフリツプフ
ロツプ回路F₁，F₂の出力Ｑ，がともに“１”，
“０”に保持され、ゲート回路G₅の出力が“１”
に保持される。またフリツプフロツプ回路F₂の
出力によつてゲート回路G₄の出力が“１”に
保持され、ゲート回路G₇の一入力が“１”に保
持される。このときフリツプフロツプ回路F₅の
出力が“１”であるとすると、ゲート回路G₇の
出力が“０”に、インバータV₂の出力が“１”
になつて、ゲート回路G₉の出力、すなわちフリ
ツプフロツプ回路F₅の入力が“１”になり、そ
の出力Ｑは“１”に保持される。またスイツチS₁
の上記閉成時にフリツプフロツプ回路F₅の出力
が“０”であつたとするとゲート回路G₇の出力
が“１”になり、ゲート回路G₈の出力が“１”
に反転してフリツプフロツプ回路F₅の出力Ｑは
“１”に反転する。このによにスイツチS₁を閉成
することによりフリツプフロツプ回路F₅の出力
Ｑは“１”に保持され、電界効果トランジスタf₁
がオフになつて分周回路D₁からの出力パルスが
遮断される。そこで端子P₂に外部から高周波数の
パルスを入力して分周回路D₂に供給し、端子P₃
からの出力パルスを取り出すことにより分周回路
D₂の検査を行なうものである。したがつて検査
に要する時間が短くてすむものである。

以上のよにして分周回路D₁，D₂の検査を行な
つた後、分周回路D₂の出力によつて負荷を始動
する際などには、分周回路D₂を予めリセツトし
ておく必要がある。そこで分周器D₂をリセツト
する動作について説明する。この場合にはスイツ
チS₂を閉成して端子P₁を“０”に保持する。これ
によりフリツプフロツプ回路F₁，F₂の出力が
ともに“１”になり、ゲート回路G₆の出力が
“１”に保持されて分周回路D₂がリセツトされ
る。一方フリツプフロツプ回路F₁，F₂の出力Ｑ
によつてゲート回路G₅の出力が“０”に、ゲー
ト回路G₈の出力も“０”に保持される。またフ
リツプフロツプ回路F₄の出力Ｑはフリツプフロ
ツプ回路F₁の出力Ｑによつて“０”に保持さ
れ、ゲート回路G₄の出力は“１”に保持され
る。したがつてフリツプフロツプ回路F₅はスイ
ツチS₂の上記閉成時における出力状態を保持す
る。すなわち上記閉成時にフリツプフロツプ回路
F₅の出力Ｑが“１”のときはゲート回路G₇の出
力が“０”に、インバータV₂の力が“１”に保
持され、フリツプフロツプ回路F₅の出力Ｑは
“１”に保持される。また上記閉成時にフリツプ
フロツプ回路F₅の出力Ｑが“０”のときはゲー
ト回路G₇の出力が“１”に、インバータV₂の出
力が“０”に保持され、フリツプフロツプ回路
F₅の出力Ｑは“０”に保持される。

したがつてスイツチS₁が開成している状態でス
イツチS₂を閉成すると、分周回路D₂がリセツト
されるとともに分周回路D₁の出力パルスが端子
P₂に発生し、スイツチS₁が閉成している状態でス
イツチS₂を閉成すると、分周回路D₂がリセツト
されるとともに分周回路D₁の出力パルスは遮断
される。

以上のように分周回路D₁，D₂の検査用端子と
して、集積回路Ａから端子P₁，P₂の２端子を導出
するだけでよいものである。

ところで上記の実施例では分周回路D₁の出力
を取り出す端子と分周回路D₂に外部から信号を
供給する端子とを共通の端子P₂として導出した
が、分周回路D₁の出力端子と分周回路D₂の入力
端子をそれぞれ別個に導出するようにすると、分
周回路D₁および分周回路D₂の各出力を同時に取
り出すことができるため、両分周回路を同時に検
査することができ、検査に要する時間を短縮でき
るものである。

なお上記の実施例では分周回路を検査する場合
について説明したが、これに限るものではなく、
例えば水晶発振器の出力と分周回路の出力の検査
あるいはカウンタの出力の検査に用いてもよい。

以上詳述したごとく本考案は、一端子からの３
種類の出力信号を用いて第１の回路から第２の回
路への信号の供給を制御するとともに第２の回路
の動作状態を制御し第２の回路の入力から入出力
手段を導出するようにしたので、集積回路から２
端子を導出するだけで第１および第２の回路の検
査およびその動作状態の制御を行なえ、集積回路
を小型のものとすることができるとともに静電破
壊等の故障の危険性を少なくできるものである。

また第１の回路の出力を取り出す端子と第２の
回路に信号を供給する端子とをそれぞれ別に導出
すると、両回路を同時に検査することができ、検
査に要する時間を短縮できるものである。特に第
１および第２の回路を分周回路とした場合には、
後段の分周回路の入力端子に入力する信号に高周
波数のものを用いると、分周回路の検査に要する
時間を短縮できる。したがつて集積化した分周回
路を大量に検査する場合に特に有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示した電気回路
図、第２図は第１図の動作説明のためのタイムチ
マートである。 D₁……第１の回路、D₂……第２の回路、F₁〜
F₅……フリツプフロツプ回路、G₁〜G₉……ゲー
ト回路、V₁，V₂，V₃……インバータ、Ｔ……伝
達ゲート、R₁，R₂，R₃……抵抗、S₁，S₂……ス
イツチ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 直流電源の供給を受ける第１のスイツチと第２
   のスイツチを設け、前記スイツチの各開閉状態の
   組合わせに応じて異なる電位または開放出力を生
   じる一端子を前記スイツチの接続部に設け、集積
   回路内に構成した第１の分周回路の出力パルスを
   受けて上記一端子の出力を検出する検出回路を設
   け、この検出回路の出力を受けてスイツチングす
   るスイツチング回路を設け、このスイツチング回
   路を介して上記第１の分周回路の出力を受ける第
   ２の分周回路と検査端子とを設け、上記集積回路
   内に上記検出回路、スイツチング回路および第２
   の分周回路を構成した検査端子を設けた集積回
   路。