JPS61234339A - 液体用微粒子検出装置 - Google Patents
液体用微粒子検出装置Info
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- JPS61234339A JPS61234339A JP60075581A JP7558185A JPS61234339A JP S61234339 A JPS61234339 A JP S61234339A JP 60075581 A JP60075581 A JP 60075581A JP 7558185 A JP7558185 A JP 7558185A JP S61234339 A JPS61234339 A JP S61234339A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
- G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、微粒子を含む測定液体中をレーザ光を透過さ
せ、その際発生する前記微粒子によるレーザ光の散乱光
から該微粒子の個数や大きさに関する情報を得るように
した液体用の微粒子検出装置、#夛ζ大きざの小さい微
粒子の検出を容易−ζ行うことができる装置構成に関す
る。
せ、その際発生する前記微粒子によるレーザ光の散乱光
から該微粒子の個数や大きさに関する情報を得るように
した液体用の微粒子検出装置、#夛ζ大きざの小さい微
粒子の検出を容易−ζ行うことができる装置構成に関す
る。
液体中の微粒子による散乱光を検出して該微粒子シζ関
する情報を得ようとする微粒子検出装置−ζおいては、
散乱光の強度を強くして該散乱光の検出を容易−こする
ためシζ従来レーザ光を前記液体EC投射することがよ
く行われており、第4図はこのようなレーザ光を用いる
よう膠ζした従来の微粒子検出装置の構成を説明する斜
視図である゛。第4図において、1は直方体状に形成さ
れた70−セル、A、−A、、B、−B、、C,−C,
は70−セル1の三個の直交軸のそれぞれに一致するよ
う■こした空間軸で、この場合軸A1−A、は鉛直方向
に配置され、70−セル1は、微粒子を含む測定液体2
カ軸A t ’tに沿ってP矢印方向に該70−セル
1内を貫流するように構成されている。測定液体2を流
動させる機構は図示されていない。3はその軸が軸B、
−B、に一致するよう1こして70−セルIIζ投射さ
れた断面円形のレーザビームで、レーザビーム3は横モ
ードが単一である単一モードのレーザ光である。該レー
ザ光の光源は図示されていない。フローセル1の側壁f
at laはレーザビーム3を透過させつるよう−こ
構成されている。
する情報を得ようとする微粒子検出装置−ζおいては、
散乱光の強度を強くして該散乱光の検出を容易−こする
ためシζ従来レーザ光を前記液体EC投射することがよ
く行われており、第4図はこのようなレーザ光を用いる
よう膠ζした従来の微粒子検出装置の構成を説明する斜
視図である゛。第4図において、1は直方体状に形成さ
れた70−セル、A、−A、、B、−B、、C,−C,
は70−セル1の三個の直交軸のそれぞれに一致するよ
う■こした空間軸で、この場合軸A1−A、は鉛直方向
に配置され、70−セル1は、微粒子を含む測定液体2
カ軸A t ’tに沿ってP矢印方向に該70−セル
1内を貫流するように構成されている。測定液体2を流
動させる機構は図示されていない。3はその軸が軸B、
−B、に一致するよう1こして70−セルIIζ投射さ
れた断面円形のレーザビームで、レーザビーム3は横モ
ードが単一である単一モードのレーザ光である。該レー
ザ光の光源は図示されていない。フローセル1の側壁f
at laはレーザビーム3を透過させつるよう−こ
構成されている。
測定液体2もレーザビーム2を透過させつる液体である
。4はその軸が軸C1−C,に一致するよう一ζして7
0−セル1外に配置された円形の集光レンズで%該しン
ズ4は70−セルl内で発生した。
。4はその軸が軸C1−C,に一致するよう一ζして7
0−セル1外に配置された円形の集光レンズで%該しン
ズ4は70−セルl内で発生した。
測定液体2中の微粒子昏ζもとづくレーザビーム3の散
乱光を集光する機能を有している。5は集光レンズ4#
こよって集光された前記散乱光を受光して光電交換する
光電変換器で、5aは光電変換器5から出力される電気
信号である。
乱光を集光する機能を有している。5は集光レンズ4#
こよって集光された前記散乱光を受光して光電交換する
光電変換器で、5aは光電変換器5から出力される電気
信号である。
集光レンズ4と光電変換器5との間−ζはその軸が軸C
,−C,に一致するようにされた円板状の開口部材6が
設けられ、該部材6には円形の貫通孔6aが軸C1−C
1と同軸−ζなるように設けられている。集光レンズ4
によって集光された前記散乱光は貫通孔6aを通って光
電変換器5に入射される。
,−C,に一致するようにされた円板状の開口部材6が
設けられ、該部材6には円形の貫通孔6aが軸C1−C
1と同軸−ζなるように設けられている。集光レンズ4
によって集光された前記散乱光は貫通孔6aを通って光
電変換器5に入射される。
7は集光レンズ4と開口部材6と光電変換器5とからな
る受光部で、8は受光部7Iこよって形成された散乱光
検出可能領域である。領域8は軸CI−〇、と同軸の軸
を有する紡錘状で、該領域8の中心は三軸Al k2
b B I B 1、cl−c、の交点OIこ一致
しており、またこの領域8から出射された光のみが集光
レンズ4によって集光されて光電変換器5Iご入射させ
られる可能性がある。すなわち領域8は、測定液体2中
の微粒予告こよるレーザビーム3の散乱光のうち該領域
8で発生した散乱光のみが受光部7番ζよって検出可能
となっている領域であって、領域8で発生してもレンズ
4で集光されない散乱光は、もちろん受光部7によって
も検出されない。領域8は換言すれば受光部7の立体的
な視野領域である。
る受光部で、8は受光部7Iこよって形成された散乱光
検出可能領域である。領域8は軸CI−〇、と同軸の軸
を有する紡錘状で、該領域8の中心は三軸Al k2
b B I B 1、cl−c、の交点OIこ一致
しており、またこの領域8から出射された光のみが集光
レンズ4によって集光されて光電変換器5Iご入射させ
られる可能性がある。すなわち領域8は、測定液体2中
の微粒予告こよるレーザビーム3の散乱光のうち該領域
8で発生した散乱光のみが受光部7番ζよって検出可能
となっている領域であって、領域8で発生してもレンズ
4で集光されない散乱光は、もちろん受光部7によって
も検出されない。領域8は換言すれば受光部7の立体的
な視野領域である。
第4図1こおいては受光部7が上述のように構成されて
いるので、領域8で一個の散乱光が発生してこの散乱光
が光電変換器5#ζ入射され、かつ該散乱光の発生源で
ある微粒子が測定液体2に搬送されて領域8を通過する
と、電気信号5aはパルス状となる。故に信号5aを形
成するパルスの個数と大きさと)こよって領域8を通過
する前記微粒子の個数と大きさとを検出することができ
るが。
いるので、領域8で一個の散乱光が発生してこの散乱光
が光電変換器5#ζ入射され、かつ該散乱光の発生源で
ある微粒子が測定液体2に搬送されて領域8を通過する
と、電気信号5aはパルス状となる。故に信号5aを形
成するパルスの個数と大きさと)こよって領域8を通過
する前記微粒子の個数と大きさとを検出することができ
るが。
領域8におけるレーザビーム3の強度分布にばらつきが
あると、受光部7で検出される散乱光の状態が領域8−
ζおける微粒子の状態に対応しなくなるので電気信号5
alこは検出誤差が発生する。すなわち第5図はこのよ
うな検出誤差を発生する一原因の説明図で、第5図囚は
第4図において領域8近傍を軸A1−A、と軸C,−C
!とで形成される面で切断した場合の図形に対応する図
形である。
あると、受光部7で検出される散乱光の状態が領域8−
ζおける微粒子の状態に対応しなくなるので電気信号5
alこは検出誤差が発生する。すなわち第5図はこのよ
うな検出誤差を発生する一原因の説明図で、第5図囚は
第4図において領域8近傍を軸A1−A、と軸C,−C
!とで形成される面で切断した場合の図形に対応する図
形である。
第5図(2)■こおける9は第4図の領域8に対応する
散乱光検出可能領域で、この場合第4図のレーザビーム
3#ζ対応するようlこして、軸が交点Oを通るように
円形断面を有する単−横モードのレーザビーム10が配
設され、レーザビーム10は領域9を貫通するように構
成されでいる。11a、Llbは測定液体2と共−ζ図
の紙面上を領域9を横切るようICLで上向きに移動す
る、該測定液体2Iζ含まれた、同じ大きさを有する球
形の二個の微粒子である。レーザビーム10は単−横モ
ードであるから軸C,−C,上におけるレーザビーム1
0の強度分布は第5図OIζ示したよう昏ζ吊鐘状にな
っている。したがってこのような強度分布を有するレー
ザビーム10を第5図(2)に図示したように配設した
領域9を、上述のよう瞥ζして微粒子11a。
散乱光検出可能領域で、この場合第4図のレーザビーム
3#ζ対応するようlこして、軸が交点Oを通るように
円形断面を有する単−横モードのレーザビーム10が配
設され、レーザビーム10は領域9を貫通するように構
成されでいる。11a、Llbは測定液体2と共−ζ図
の紙面上を領域9を横切るようICLで上向きに移動す
る、該測定液体2Iζ含まれた、同じ大きさを有する球
形の二個の微粒子である。レーザビーム10は単−横モ
ードであるから軸C,−C,上におけるレーザビーム1
0の強度分布は第5図OIζ示したよう昏ζ吊鐘状にな
っている。したがってこのような強度分布を有するレー
ザビーム10を第5図(2)に図示したように配設した
領域9を、上述のよう瞥ζして微粒子11a。
11bが横切ると、これら微粒子が領域9を横切る経路
によってはレーザビーム10による散乱光が発生しない
場合が生じ、あるいは同じ大きざの微粒子118.11
bに対してそnぞれ強度の異なる散乱光が発生する場合
が生じる。故にこのような散乱光検出可能領域9から出
射される散乱光を検出して測定液体2中の微粒子θ〕状
態を測定しようとすると、前者の場合微粒子の個数に対
する測定誤差を生じ、後者の場合微粒子の大きさ1こ関
する測定誤差を生じるという問題があり、このため第4
図の微粒子検出装置Cζおいては要部が第6図に示した
よう静こ構成されている。
によってはレーザビーム10による散乱光が発生しない
場合が生じ、あるいは同じ大きざの微粒子118.11
bに対してそnぞれ強度の異なる散乱光が発生する場合
が生じる。故にこのような散乱光検出可能領域9から出
射される散乱光を検出して測定液体2中の微粒子θ〕状
態を測定しようとすると、前者の場合微粒子の個数に対
する測定誤差を生じ、後者の場合微粒子の大きさ1こ関
する測定誤差を生じるという問題があり、このため第4
図の微粒子検出装置Cζおいては要部が第6図に示した
よう静こ構成されている。
第6図(A)、■はそれぞれ第5図^、■に対応する説
明図で、第6図−ζおけるP、はレーザビーム3の強度
分布のピーク値、Plはピーク値P0よりも光強度がk
だけ弱いビーム3の強度である。
明図で、第6図−ζおけるP、はレーザビーム3の強度
分布のピーク値、Plはピーク値P0よりも光強度がk
だけ弱いビーム3の強度である。
Plは、レーザビームの強度がPoとP、との間ICあ
る限り、第4図に示した電気信号5aに許容誤差以上の
検出誤差を生じることのないレーザ光の強度で、第6図
においては領域8の右端招よびでいる。第6図−ζおい
てはビーム3と領域8とが上述のように配置されている
ので、領域8はレーザビーム3の強度分布がほぼ一様−
ζなっている該レーザビームの部分疹ζ配置されている
ことlこなり。
る限り、第4図に示した電気信号5aに許容誤差以上の
検出誤差を生じることのないレーザ光の強度で、第6図
においては領域8の右端招よびでいる。第6図−ζおい
てはビーム3と領域8とが上述のように配置されている
ので、領域8はレーザビーム3の強度分布がほぼ一様−
ζなっている該レーザビームの部分疹ζ配置されている
ことlこなり。
この場合前述した所から明らかなよう騒ζ、領域8は測
定液体2内lζ配置されている。したがってこのように
各部が構成された第4図の微粒子検出装置普ζおいては
、領域8#ζ存在するレーザ光の強度分布の不均一−こ
もとづいて検出誤差が発生するということはないが、一
方以下暑こ説明するような問題がある。
定液体2内lζ配置されている。したがってこのように
各部が構成された第4図の微粒子検出装置普ζおいては
、領域8#ζ存在するレーザ光の強度分布の不均一−こ
もとづいて検出誤差が発生するということはないが、一
方以下暑こ説明するような問題がある。
すなわち、今、第4図の検出装置1こおいて検出可能な
微粒子の大きさを小さくしようとし、た場合、微粒子の
大きさが小さくなっても散乱光量が少なくならないよう
1こするためにレーザビーム3の光強度を強くする必要
があるが、このためレーザビーム3を絞って光強度の強
化を図ろうとすると、第6図で示した、光強度が21以
上であるレーザ光領域も狭くなるので、これに応じて散
乱光検出可能領域8もおのずから狭くせざるを得ず、領
域8を狭くするため1こ開口部材6の貫通孔6aを小ざ
くすると該貫通孔6aを通過する散乱光量が減少するの
で、光電変換器5Iこ入射する散乱光量はレーザビーム
3の光強度を強くした割膠ζは増加しないこと一ζなる
。すなわち第4図#C示した従来の微粒子検出装置−ζ
は、レーザビーム3を絞って該ビームの強度を強くして
も、微粒子の標準試料として用いられているポリスチレ
ン球の径で0.3〜0.5〔μm〕とされている従来の
検出可能最小粒径よりも小さい微粒子を検出することが
できないという問題がある。換言すれif従来の微粒子
検出装置−ζは大出力のレーザ発生器を用いないと従来
以上−ζ小さい微粒子を検出することができないという
問題がある。
微粒子の大きさを小さくしようとし、た場合、微粒子の
大きさが小さくなっても散乱光量が少なくならないよう
1こするためにレーザビーム3の光強度を強くする必要
があるが、このためレーザビーム3を絞って光強度の強
化を図ろうとすると、第6図で示した、光強度が21以
上であるレーザ光領域も狭くなるので、これに応じて散
乱光検出可能領域8もおのずから狭くせざるを得ず、領
域8を狭くするため1こ開口部材6の貫通孔6aを小ざ
くすると該貫通孔6aを通過する散乱光量が減少するの
で、光電変換器5Iこ入射する散乱光量はレーザビーム
3の光強度を強くした割膠ζは増加しないこと一ζなる
。すなわち第4図#C示した従来の微粒子検出装置−ζ
は、レーザビーム3を絞って該ビームの強度を強くして
も、微粒子の標準試料として用いられているポリスチレ
ン球の径で0.3〜0.5〔μm〕とされている従来の
検出可能最小粒径よりも小さい微粒子を検出することが
できないという問題がある。換言すれif従来の微粒子
検出装置−ζは大出力のレーザ発生器を用いないと従来
以上−ζ小さい微粒子を検出することができないという
問題がある。
本発明は、上述したような従来の微粒子検出装置におけ
る問題を解消して、従来以上に大きざの小さい微粒子の
検出を容易−ζ行うことができる。
る問題を解消して、従来以上に大きざの小さい微粒子の
検出を容易−ζ行うことができる。
レーザ光を用いた散乱光検出式の液体用微粒子検出装置
を提供することを目的とする。
を提供することを目的とする。
本発明は、上述の目的を達成するため疹ζ、横モードが
多モード優ζなっているレーザ光を発生する内部鏡式レ
ーザ光発生器を備え、該レーザ光を、微粒子を含みかつ
該レーザ光が透過しうる測定液体に投射するレーザ光出
射部と;受光機構と該受光機構督ζよって形成された散
乱光検出可能領域とを有し、かつレーザ光が測定液体を
透過する透過領域に散乱光検出可能領域が配置され、か
つ散乱光検出可能領域で発生した微粒子によるレーザ光
の散乱光を受光して電気信号に変換する受光部と;から
なり、該電気信号にもとづいて微粒子の検出を行う液体
用微粒子検出装置において、散乱光検出可能領域が、レ
ーザ光の強度分布がほぼ一様になっているレーザ光の部
分に配置されるように、前記受光機構を構成したもので
、このように本発明を構成すること駈こよって、測定液
体重こ投射するレーザ光を絞ってレーザ光強度を強くす
るよう−こしても、該レーザ光が多モードであるために
、レーザ光強度分布の一様な壁間的部分が単−横モード
レーザ光はどには狭くなることがなく、このためこの空
間的部分憂ζ配置される散乱光検出可能領域も狭く設定
する必要がなくなって、結局、大出力のレーザ光発生器
を用いることな〈従来以上に゛大きさの小さい微粒子の
検出が行える微粒子検出装置が得られるよう騒ζしたも
のである。
多モード優ζなっているレーザ光を発生する内部鏡式レ
ーザ光発生器を備え、該レーザ光を、微粒子を含みかつ
該レーザ光が透過しうる測定液体に投射するレーザ光出
射部と;受光機構と該受光機構督ζよって形成された散
乱光検出可能領域とを有し、かつレーザ光が測定液体を
透過する透過領域に散乱光検出可能領域が配置され、か
つ散乱光検出可能領域で発生した微粒子によるレーザ光
の散乱光を受光して電気信号に変換する受光部と;から
なり、該電気信号にもとづいて微粒子の検出を行う液体
用微粒子検出装置において、散乱光検出可能領域が、レ
ーザ光の強度分布がほぼ一様になっているレーザ光の部
分に配置されるように、前記受光機構を構成したもので
、このように本発明を構成すること駈こよって、測定液
体重こ投射するレーザ光を絞ってレーザ光強度を強くす
るよう−こしても、該レーザ光が多モードであるために
、レーザ光強度分布の一様な壁間的部分が単−横モード
レーザ光はどには狭くなることがなく、このためこの空
間的部分憂ζ配置される散乱光検出可能領域も狭く設定
する必要がなくなって、結局、大出力のレーザ光発生器
を用いることな〈従来以上に゛大きさの小さい微粒子の
検出が行える微粒子検出装置が得られるよう騒ζしたも
のである。
第1図は本発明の一実施例の構成図で、第1図において
は第4図におけるものと同一の機能を有する部分には同
一の符号が付しである。第1図において、16は横モー
ドが多モード−こなっているレーザ光16aを発生する
内部鏡式のレーザ光発生器で、17は発生器16から出
射されたレーザ光16aを集束して、70−セル1に投
射されるレーザビーム3にする集束レンズである。この
場合、測定液体2は紙面に垂直な方向−ζ70−セル1
を貫流するように構成されている。z3はレーザ光発生
器16と集束レンズ17とからなるレーザ光出射部であ
る。レンズ17によって交点0に集束されたレーザビー
ム3はフローセル1を透過して該70−セル外に出射さ
せられるが、18は。
は第4図におけるものと同一の機能を有する部分には同
一の符号が付しである。第1図において、16は横モー
ドが多モード−こなっているレーザ光16aを発生する
内部鏡式のレーザ光発生器で、17は発生器16から出
射されたレーザ光16aを集束して、70−セル1に投
射されるレーザビーム3にする集束レンズである。この
場合、測定液体2は紙面に垂直な方向−ζ70−セル1
を貫流するように構成されている。z3はレーザ光発生
器16と集束レンズ17とからなるレーザ光出射部であ
る。レンズ17によって交点0に集束されたレーザビー
ム3はフローセル1を透過して該70−セル外に出射さ
せられるが、18は。
このようにしてフローセル1から出てきた出射レーザ光
が1反射1こよってレーザ光発生器16に戻って該発生
器におけるレーザ発振が停止することのないように、前
記出射レーザ光を吸収するビームストッパであって%
19は図示の各部からなる微粒子検出装置である。微粒
子検出装置19においては、光電変換器5の受光機能を
有する部分。
が1反射1こよってレーザ光発生器16に戻って該発生
器におけるレーザ発振が停止することのないように、前
記出射レーザ光を吸収するビームストッパであって%
19は図示の各部からなる微粒子検出装置である。微粒
子検出装置19においては、光電変換器5の受光機能を
有する部分。
たとえば図示していないレンズ系および受光面と、開口
部材6と、集光レンズ4とで受光機構20が構成されて
いて、該機構20によって中心が交点OIこ一致するよ
う−こ形成された散乱光検出可能領域8と、レーザビー
ム3の強度分布と、の位置関係は第2図のようになって
いる。
部材6と、集光レンズ4とで受光機構20が構成されて
いて、該機構20によって中心が交点OIこ一致するよ
う−こ形成された散乱光検出可能領域8と、レーザビー
ム3の強度分布と、の位置関係は第2図のようになって
いる。
すなわち第2図囚、■はそれぞれ第6図(2)、8夛ζ
対応する説明図で、第2図において21はレーザビーム
3の軸C1−C!上の強度分布特性線。
対応する説明図で、第2図において21はレーザビーム
3の軸C1−C!上の強度分布特性線。
Potは特性線21上の最大値、P8.は強度値Pot
よりもkだけ弱い強度値である。この場合特性線21上
の強度がpttになる、軸C1−C,上の点が。
よりもkだけ弱い強度値である。この場合特性線21上
の強度がpttになる、軸C1−C,上の点が。
第6図に示した点り、、D、に一致するように、第1図
におけるレーザ光発生器16、集束レンズ17が構成さ
れ、散乱光検出領域8も第6図憂ζおける領域8と同じ
形状、同じ寸法であるよう蚤こ形成されている。l、は
二点D1.D、間の距離bLlはレーザビーム3の直径
である。22は、第1図の集束レンズ17を別σ】レン
ズとしてレーザ光16aの集束度合いを弱め、換言すれ
ばレーザビーム3の直径を大きくしてレーザビーム3a
とし、軸C,−C,上のビーム3aの強度分布の最大値
が第6図−ζ示したピーク値P、に等しくなるようにし
た時の、レーザビーム3aの軸C,−C,上の強度分布
特性線で、L、はこのレーザビーム3aの直径、12は
特性線22上の光強度がPlsこなる、軸CI−〇!上
の二点間の距離である。特性線22は特性線21を有す
るレーザビーム3の集束度合いを弱めで得られた特性線
であるからPo < Forであり、11<1!であり
、Lt<Lxである。第2図においては各図形が上述の
ようにして得られたものであって、この場合、L、も第
6図−ζ右けるレーザビーム3の直径L#ζ等しくなっ
ているように関係要部が構成されているが、ビーム3a
は多モードレーザ光であるから、長ざ1.はレーザビー
ム3が単一モードレーザ光となっている第6図の場合の
対応する長ざlよりも1.5〜2倍程度長くなっている
。故SCレーザビーム3aを絞って、光強度分布がほぼ
一様夛ζなっている部分の長さが1!から領域80大き
さにほぼ等しい長さ11にまで短くなるようにすると、
光強度分布の最大値がPoよりも大きいPo1となるわ
けで、第2図の特性線21はこのよう醗こして特性線2
2から得られたものと考えてもよいものである。
におけるレーザ光発生器16、集束レンズ17が構成さ
れ、散乱光検出領域8も第6図憂ζおける領域8と同じ
形状、同じ寸法であるよう蚤こ形成されている。l、は
二点D1.D、間の距離bLlはレーザビーム3の直径
である。22は、第1図の集束レンズ17を別σ】レン
ズとしてレーザ光16aの集束度合いを弱め、換言すれ
ばレーザビーム3の直径を大きくしてレーザビーム3a
とし、軸C,−C,上のビーム3aの強度分布の最大値
が第6図−ζ示したピーク値P、に等しくなるようにし
た時の、レーザビーム3aの軸C,−C,上の強度分布
特性線で、L、はこのレーザビーム3aの直径、12は
特性線22上の光強度がPlsこなる、軸CI−〇!上
の二点間の距離である。特性線22は特性線21を有す
るレーザビーム3の集束度合いを弱めで得られた特性線
であるからPo < Forであり、11<1!であり
、Lt<Lxである。第2図においては各図形が上述の
ようにして得られたものであって、この場合、L、も第
6図−ζ右けるレーザビーム3の直径L#ζ等しくなっ
ているように関係要部が構成されているが、ビーム3a
は多モードレーザ光であるから、長ざ1.はレーザビー
ム3が単一モードレーザ光となっている第6図の場合の
対応する長ざlよりも1.5〜2倍程度長くなっている
。故SCレーザビーム3aを絞って、光強度分布がほぼ
一様夛ζなっている部分の長さが1!から領域80大き
さにほぼ等しい長さ11にまで短くなるようにすると、
光強度分布の最大値がPoよりも大きいPo1となるわ
けで、第2図の特性線21はこのよう醗こして特性線2
2から得られたものと考えてもよいものである。
上述した所から明らかなよう−こ、第1図においては領
域8がレーザビーム3の光強度分布がほぼ一様になって
いる該ビーム3の部分内に配置され、しかもこの部分の
光強度は第4図1ζぢいて領域8が存在する部分の光強
度よりも強くなっており。
域8がレーザビーム3の光強度分布がほぼ一様になって
いる該ビーム3の部分内に配置され、しかもこの部分の
光強度は第4図1ζぢいて領域8が存在する部分の光強
度よりも強くなっており。
かつ第1図の領域8と第4図σ)領域8とは同じ形状、
大きさを有している。故に第1図1こ示した微粒子検出
装置19によれば、第4図に示した検出装置によるより
も小さい大きざの微粒子の検出が、大出力のレーザ光発
生器を用いることなく行えることが明らかである。第3
図は第1図の微粒子検出装置19を用いて行ったー実験
結果説明図で、この実験は、標準微粒子として直径o−
rt Cμm〕のポリスチレン球を用い、これを水に混
じて得た試料液体憂こついて行ったものである。図の縦
軸は第1図の電気信号5alこもとづいて得られたパル
スの計数値で、 logは常用対数を示している。第
3図において、低試料粒子濃度領域昏こ見られる実験結
果の飽和状態は、試料水作成中に空気中の塵埃等が混入
すること−こよって生じた試料粒子濃度の不正確さにも
とづくもので、高試料粒子濃度に見られる飽和傾向は、
散乱光検出可能領域8に同時に複数個の微粒子が存在す
る確率が高くなったために生じたものである。後者の飽
和傾向は第4回置こ示した従来の微粒子検出装置しこも
同様に発生する現象である。第3図から、第1図の検出
装置19によればO,lICμm〕程度までの大きさの
微粒子検出が行えることが明らかである。なおこの実験
夛ζおいては、交点0におけるレーザビーム3の直径は
50(μm)、領域8の体積は2 X to−’〔−〕
、70−セル1における試料水の流路断面積は0,16
(d)であった。
大きさを有している。故に第1図1こ示した微粒子検出
装置19によれば、第4図に示した検出装置によるより
も小さい大きざの微粒子の検出が、大出力のレーザ光発
生器を用いることなく行えることが明らかである。第3
図は第1図の微粒子検出装置19を用いて行ったー実験
結果説明図で、この実験は、標準微粒子として直径o−
rt Cμm〕のポリスチレン球を用い、これを水に混
じて得た試料液体憂こついて行ったものである。図の縦
軸は第1図の電気信号5alこもとづいて得られたパル
スの計数値で、 logは常用対数を示している。第
3図において、低試料粒子濃度領域昏こ見られる実験結
果の飽和状態は、試料水作成中に空気中の塵埃等が混入
すること−こよって生じた試料粒子濃度の不正確さにも
とづくもので、高試料粒子濃度に見られる飽和傾向は、
散乱光検出可能領域8に同時に複数個の微粒子が存在す
る確率が高くなったために生じたものである。後者の飽
和傾向は第4回置こ示した従来の微粒子検出装置しこも
同様に発生する現象である。第3図から、第1図の検出
装置19によればO,lICμm〕程度までの大きさの
微粒子検出が行えることが明らかである。なおこの実験
夛ζおいては、交点0におけるレーザビーム3の直径は
50(μm)、領域8の体積は2 X to−’〔−〕
、70−セル1における試料水の流路断面積は0,16
(d)であった。
上述の実施例に8いては開口部材6の貫通孔6aは円形
としたが1本発明は該貫通孔がスリットや他の形状卑で
あってもよいものであり、また上述の実施例においては
受光部7の軸がレーザビーム3の光軸−ζ直交するもσ
)としたが1本発明では両軸の交角は900以外であっ
ても差し支えないものである。ざら疹こまた第1図+C
おいてはレーザビーム3が測定液体2中をすべて透過す
るようにしたが、本発明は、逆に、測定液体を柱状に形
成してこ0〕ように形成された測定液体がレーザビーム
中を貫通するようにしてもよいものであり、さらに本発
明においては、後者の場合、散乱光検出可能領域が、レ
ーザ光の強度分布がほぼ一様になっている該レーザ光の
部分−こ配置されていさえすれば、前記領域のすべてが
測定液体で満されるようになっていなくても差し支えな
いものである。なお本発明が70−セル1の上述した形
状や三軸氏−A、、B、−B、、C1−C1の上述した
空間的方向に限定されるものでないことは説明するまで
もなく明らかである。
としたが1本発明は該貫通孔がスリットや他の形状卑で
あってもよいものであり、また上述の実施例においては
受光部7の軸がレーザビーム3の光軸−ζ直交するもσ
)としたが1本発明では両軸の交角は900以外であっ
ても差し支えないものである。ざら疹こまた第1図+C
おいてはレーザビーム3が測定液体2中をすべて透過す
るようにしたが、本発明は、逆に、測定液体を柱状に形
成してこ0〕ように形成された測定液体がレーザビーム
中を貫通するようにしてもよいものであり、さらに本発
明においては、後者の場合、散乱光検出可能領域が、レ
ーザ光の強度分布がほぼ一様になっている該レーザ光の
部分−こ配置されていさえすれば、前記領域のすべてが
測定液体で満されるようになっていなくても差し支えな
いものである。なお本発明が70−セル1の上述した形
状や三軸氏−A、、B、−B、、C1−C1の上述した
空間的方向に限定されるものでないことは説明するまで
もなく明らかである。
上述したように、本発明においては、横モードが多モー
ド−こなっているレーザ光を発生する内部鋺式レーザ光
発生器を備え、該レーザ光を、微粒子を含みかつ該レー
ザ光が透過しつる測定液体に投射するレーザ光出射部と
;受光機構と該受光機構膠ζよって形成された散乱光検
出可能領域とを有し、かつレーザ光が測定液体を透過す
る透過領域に散乱光検出可能領域が配置され、かつ散乱
光検出可能領域で発生した微粒子によるレーザ光の散乱
光を受光して電気信号に変換する受光部と;からなり、
該電気信号蚤こもとづいて微粒子の検出を行う液体用微
粒子検出装置において、散乱光検出可能領域が、レーザ
光の強度分布がほぼ一様になっているレーザ光の部分−
こ配置されるように、前記受光機構を構成したので、こ
のように本発明を構成すること蚤こよって、測定液体に
投射するレーザ光を絞ってレーザ光強度を強くするよう
にしても、該レーザ光が多モードであるために、レーザ
光強度分布の一様な空間的部分が単一モードレーザ光は
ど−こは狭くなることがなく、このためこの空間的部分
1こ配置される散乱光検出可能領域も狭く設定する必要
がなくなって、結局、大出力のレーザ光発生器を用いる
ことな〈従来以上に大きさの小さい微粒子の検出が行え
る微粒子検出装置が得らnる効果がある。
ド−こなっているレーザ光を発生する内部鋺式レーザ光
発生器を備え、該レーザ光を、微粒子を含みかつ該レー
ザ光が透過しつる測定液体に投射するレーザ光出射部と
;受光機構と該受光機構膠ζよって形成された散乱光検
出可能領域とを有し、かつレーザ光が測定液体を透過す
る透過領域に散乱光検出可能領域が配置され、かつ散乱
光検出可能領域で発生した微粒子によるレーザ光の散乱
光を受光して電気信号に変換する受光部と;からなり、
該電気信号蚤こもとづいて微粒子の検出を行う液体用微
粒子検出装置において、散乱光検出可能領域が、レーザ
光の強度分布がほぼ一様になっているレーザ光の部分−
こ配置されるように、前記受光機構を構成したので、こ
のように本発明を構成すること蚤こよって、測定液体に
投射するレーザ光を絞ってレーザ光強度を強くするよう
にしても、該レーザ光が多モードであるために、レーザ
光強度分布の一様な空間的部分が単一モードレーザ光は
ど−こは狭くなることがなく、このためこの空間的部分
1こ配置される散乱光検出可能領域も狭く設定する必要
がなくなって、結局、大出力のレーザ光発生器を用いる
ことな〈従来以上に大きさの小さい微粒子の検出が行え
る微粒子検出装置が得らnる効果がある。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は第1図に
おける要部の説明図で、同図図は要部配置図、同図■は
レーザ光強度分布図である。第3二は実験結果説明図、
第4図は従来σ1微粒子検出\装置σ〕構成説明図、第
5図は従来技術説明図で同図(2)は要部配置図、同図
■はレーザ光強度分布図である。第6図は第4図におけ
る要部の説明図で、同図図は要部配置図、同図■はレー
ザ光強度分布図である。 2・・・・・・測定液体、5a・・・・・・電気信号、
7・・・・・・受光部、8.9・・・・・・散乱光検出
可能領域、1lalllb・・・・・・微粒子、16・
・・・・・レーザ光発生器、L6a・・・・・・レーザ
光、−19・・・・・・微粒子検出装置、20・・・・
・・受光機構、23・・・・・・レーザ光出射部。 第 1 図 A1 第 2 図 奮戊f+オπ子:a’f!t loy、(@/ml>
第 3 口 /−IJ 第 5 の vJ C図
おける要部の説明図で、同図図は要部配置図、同図■は
レーザ光強度分布図である。第3二は実験結果説明図、
第4図は従来σ1微粒子検出\装置σ〕構成説明図、第
5図は従来技術説明図で同図(2)は要部配置図、同図
■はレーザ光強度分布図である。第6図は第4図におけ
る要部の説明図で、同図図は要部配置図、同図■はレー
ザ光強度分布図である。 2・・・・・・測定液体、5a・・・・・・電気信号、
7・・・・・・受光部、8.9・・・・・・散乱光検出
可能領域、1lalllb・・・・・・微粒子、16・
・・・・・レーザ光発生器、L6a・・・・・・レーザ
光、−19・・・・・・微粒子検出装置、20・・・・
・・受光機構、23・・・・・・レーザ光出射部。 第 1 図 A1 第 2 図 奮戊f+オπ子:a’f!t loy、(@/ml>
第 3 口 /−IJ 第 5 の vJ C図
Claims (1)
- 横モードが多モードになつているレーザ光を発生する内
部鏡式レーザ光発生器を備え、前記レーザ光を、微粒子
を含みかつ前記レーザ光が透過しうる測定液体に投射す
るレーザ光出射部と;受光機構と該受光機構によつて形
成された散乱光検出可能領域とを有し、かつ前記レーザ
光が前記測定液体を透過する透過領域に前記散乱光検出
可能領域が配置され、かつ前記散乱光検出可能領域で発
生した前記微粒子による前記レーザ光の散乱光を受光し
て電気信号に変換する受光部と;からなり、前記電気信
号にもとづいて前記微粒子の検出を行う液体用微粒子検
出装置において、前記散乱光検出可能領域が、前記レー
ザ光の強度分布がほぼ一様になつている該レーザ光の部
分に配置されるように、前記受光機構を構成したことを
特徴とする液体用微粒子検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60075581A JPS61234339A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 液体用微粒子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60075581A JPS61234339A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 液体用微粒子検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61234339A true JPS61234339A (ja) | 1986-10-18 |
JPH04545B2 JPH04545B2 (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=13580299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60075581A Granted JPS61234339A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 液体用微粒子検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61234339A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005164973A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Kowa Co | 光学装置 |
CN110487684A (zh) * | 2019-08-19 | 2019-11-22 | 常州市第二人民医院 | 一种带自动震荡功能的液体颗粒质量扫描仪 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56128555A (en) * | 1980-03-13 | 1981-10-08 | Hitachi Ltd | Ion implantation device |
JPS5970944A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
-
1985
- 1985-04-10 JP JP60075581A patent/JPS61234339A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56128555A (en) * | 1980-03-13 | 1981-10-08 | Hitachi Ltd | Ion implantation device |
JPS5970944A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005164973A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Kowa Co | 光学装置 |
CN110487684A (zh) * | 2019-08-19 | 2019-11-22 | 常州市第二人民医院 | 一种带自动震荡功能的液体颗粒质量扫描仪 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04545B2 (ja) | 1992-01-07 |
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