JPH0367154A - 側方散乱光測定装置 - Google Patents

側方散乱光測定装置

Info

Publication number
JPH0367154A
JPH0367154A JP20141889A JP20141889A JPH0367154A JP H0367154 A JPH0367154 A JP H0367154A JP 20141889 A JP20141889 A JP 20141889A JP 20141889 A JP20141889 A JP 20141889A JP H0367154 A JPH0367154 A JP H0367154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
cell
optical axis
lens
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20141889A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Nanba
昭宏 南波
Hirofumi Suzuki
浩文 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP20141889A priority Critical patent/JPH0367154A/ja
Publication of JPH0367154A publication Critical patent/JPH0367154A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野1 この発明は、例えばコロイド溶液や微生物を収容する試
料セルにレーザ光を投射し、その側方散乱光を検出して
コロイド粒子の粒径や分散状態、微生物等の運動等を測
定したり、またラテックス粒子のようなコロイド粒子の
表面に抗体または抗原を固定化した溶液とサンプルとを
試料セルに収容してレーザ光を投射し、その側方散乱光
を検出してサンプル中の抗原または抗体濃度を測定する
のに用いるに好適な側方散乱光測定装置に関する。
[従来の技術1 この種の測定装置として、本願人は例えば特開昭61−
65144号公報において、矩形試料セルに抗体を固定
化したラテックス粒子とサンプルとを収容してレーザ光
を投射し、その抗原抗体反応の前後における側方散乱光
の強度ゆらぎを検出して、そのパワースペクトル密度の
変化からサンプル中の抗原濃度を測定するようにしたも
のを提案している。
このように、レーザ光等のコヒーレント光を用いて側方
散乱光を測定する装置においては、セル表面からの直接
反射光が光源に戻ると、光源の光強度がゆらいでしまい
、高精度の測定ができなくなるという問題がある。
そこで、上記の特開昭61−65144号公報に開示さ
れた測定装置においては、レーザ光源と矩形試料セルと
の間の入射光路中に、偏光板および1/4波長板から戒
る光アイソレータを配置して、セルからの直接反射光が
レーザ光源に戻るのを防止するようにしている。
[発明が解決しようとする課題1 しかしながら、上記のように入射光路中に光アイソレー
タを配置する構成にあっては、入射光の一部が光アイソ
レータで遮断されるため、セルに投射される入射光の強
度が低下し、測定感度が低下するという問題がある。ま
た、光アイソレータは、偏光板と174波長板とを組み
合わせて構成されるため、装置全体が高価になるという
問題がある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、簡単かつ安価な構成で、測定感度を低下させ
ることなく、レーザ光源に不所望な直接反射光が入射し
ないよう適切に構成配置した側方散乱光測定装置を提供
することを目的とする。
[課題を解決するための手段1 上記目的を達成するため、この発明では、集光レンズの
光軸と平行な面を有する矩形状容器を、光軸と平行な平
面内で、集光レンズの開口角の172よりも大きい角度
傾けて配置し、この矩形状容器にレーザ光源からの光束
を集光レンズを経て投射して、その矩形状容器の前記光
軸と平行な面から出射する側方散乱光を光検出器で受光
するようにする。
[作 用1 このように、集光レンズの光軸と平行な面を有する矩形
状容器を、光軸と平行な平面内で、集光レンズの開口角
の1/2よりも大きい角度傾けて配置すると、矩形状容
器での直接反射光は集光レンズとは異なる方向に向かう
こととなり、集光レンズには入射しないことになる。し
たがって、入射光の強度を何ら低下させることなく、矩
形状容器からの直接反射光による入射光強度のゆらぎの
発生を有効に防止できるので、高感度かつ高精度の測定
が可能となる。また、光アイソレータを用いることなく
、単に集光レンズの光軸と平行な面を有する矩形状容器
を、上記のように傾けて配置すればよいので、構成を簡
単にでき、かつ安価にできると共に、光軸と平行な矩形
状容器の面から出射する側方散乱光を光検出器で受光す
るようにしているので、複数個の矩形状容器を順次測定
する場合において、個々の矩形状容器の傾き角度にずれ
があっても、そのずれに影響されることなく、側方散乱
光を常に有効に受光することができ、安定して測定する
ことが可能となる。
(実施例j 第1図〜第3図はこの発明の一実施例を示すものである
。この実施例ではレーザ光源として半導体レーザ(LD
) 1を用い、このLDIからの光をコリメートレンズ
2で平行光とした後、集光レンズ3を経て矩形状の試料
セル4に投射する。
試料セル4は、第2図および第3図に示すように、側面
を集光レンズ3の光軸と平行として、これを光軸と平行
な平面内で、集光レンズ3の開口角の172の角度(γ
〉よりも大きい角度(θ〉傾けて、ホルダ5に保持して
配置する。
試料セル4に入射した光の内、該試料セル4を直接透過
する直接透過光は光トラツプ6で捉え、試料セル4で直
接反射される直接反射光は光トラツプ7で捉える。また
、集光レンズ3の光軸と平行な試料セル4の側面から出
射する90’側方散乱光は、第2図に示すように共焦点
レンズ8およびアパーチャ9を経て光電子増倍管10で
受光する。
このように、試料セル4を、θ〉γを満足するように傾
けて配置すれば、試料セル4での直接反射光は、集光レ
ンズ3に入射することなく、該集光レンズ3とは異なる
方向に向かうことになるので、入射光の強度を何ら低下
させることなく、試料セル4からの直接反射光による入
射光強度のゆらぎの発生を有効に防止できる。
したがって、試料セル4内にコロイド溶液や大腸菌等の
微生物を収容し、その90°側方散乱光を検出してコロ
イド粒子の粒径、分散状態や微生物を測定する場合や、
また試料セル4内にラテックス粒子のようなコロイド粒
子の表面に抗体または抗原を固定化した溶液とサンプル
とを収容し、その90’側方散乱光を検出してサンプル
中の抗原または抗体濃度を測定する場合等において、常
に高感度かつ高精度の測定が可能となる。
この実施例によれば、矩形状の試料セル4の側面を集光
レンズ3の光軸と平行として、これを光軸と平行な平面
内で、集光レンズ3の開口角の172の角度γよりも大
きい角度θ傾けて配置するとい・う簡単かつ安価な構成
で、入射光の強度を何ら低下させることなく、試料セル
4からの直接反射光による入射光強度のゆらぎの発生を
有効に防止できる。したがって、試料セル4内に収容さ
れる試料を、その90°側方散乱光から常に高感度かつ
高精度で測定することができる。また、光軸と平行な試
料セル4の側面から出射する90°側方散乱光を受光す
るようにしているので、複数個の試料セル4を順次al
l]定する場合において、個々の試料セル4の傾き角度
にずれがあっても、そのずれに影響されることなく、9
0”側方散乱光を常に有効に受光でき、安定して測定す
ることができる。
第4図AおよびBは第1〜3図に示す試料セル4を傾斜
して保持するホルダの他の例の構成を示すものである。
このホルダ11は、試料セル4を上述したように光軸と
平行な平面内で、集光レンズ3の開口角の1/2の角度
γよりも大きい角度θ傾けて保持する凹部12と、集光
レンズ3からの入射光束を通すと共に、その試料セル4
での直接反射光をホルダ11で反射させることなく通す
円筒孔工3と、試料セル4での直接透過光を通す円筒孔
14と、試料セル4での90°側方散乱光を通ず円筒孔
15とから成る。
かかるホルダ11を用いれば、その凹部12に試料セル
4を装填するだけで、試料セル4を所定の方向に所定の
角度傾けてセットできるので、測定を容易に行うことが
できる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上述した実施例では、試料セルの側面を集光レンズの
光軸と平行にして、試料セルを傾けるようにしたが、試
料セルの上部開口面および/または底面を光軸と平行と
して傾けて、上部開口面または底面からの側方散乱光を
受光するようにすることもできる。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、集光レンズの光軸と
平行な面を有する矩形状容器を、光軸と平行な平面内で
、集光レンズの開口角の1/2よりも大きい角度傾けて
配置するという簡単かつ安価な構成で、入射光の強度を
何ら低下させることなく、矩形状容器からの直接反射光
による入射光強度のゆらぎの発生を有効に防止でき、常
に高感度かつ高精度の測定を行うことができる。また、
光軸と平行な矩形状容器の面から出射する側方散乱光を
受光するようにしているので、複数個の矩形状容器を順
次測定する場合において、個々の矩形状容器の傾き角度
にずれがあっても、そのずれに影響されることなく、側
方散乱光を常に有効に受光でき、安定して測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図および第3図はこの発明の一実施例を示
す図、 第4図AおよびBは第1〜3図に示す試料セルを保持す
るホルダの他の例の構成を示す図である。 半導体レーザ 集光レンズ ・ホルダ ・共焦点レンズ 光電子増倍管 凹部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザ光源と、このレーザ光源からの光束を集光す
    る集光レンズと、この集光レンズの光軸と平行な面を有
    し、光軸と平行な平面内で、集光レンズの開口角の1/
    2よりも大きい角度傾けて配置した矩形状容器と、この
    矩形状容器の前記光軸と平行な面から出射する散乱光を
    受光する光検出器とを具えることを特徴とする側方散乱
    光測定装置。
JP20141889A 1989-08-04 1989-08-04 側方散乱光測定装置 Pending JPH0367154A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20141889A JPH0367154A (ja) 1989-08-04 1989-08-04 側方散乱光測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20141889A JPH0367154A (ja) 1989-08-04 1989-08-04 側方散乱光測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0367154A true JPH0367154A (ja) 1991-03-22

Family

ID=16440754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20141889A Pending JPH0367154A (ja) 1989-08-04 1989-08-04 側方散乱光測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0367154A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2860513A1 (en) * 2013-10-08 2015-04-15 Anton Paar GmbH Adjusting sample holder orientation for symmetric incident beam and scattered beam geometry to compensate for refraction index related distortions
JP2017534890A (ja) * 2014-11-13 2017-11-24 マーケット ユニバーシティー 分光蛍光光度計のセルホルダー用のアダプター

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2860513A1 (en) * 2013-10-08 2015-04-15 Anton Paar GmbH Adjusting sample holder orientation for symmetric incident beam and scattered beam geometry to compensate for refraction index related distortions
US9528933B2 (en) 2013-10-08 2016-12-27 Anton Paar Gmbh Adjusting sample holder orientation for symmetric incident beam and scattered beam geometry to compensate for refraction index related distortions
JP2017534890A (ja) * 2014-11-13 2017-11-24 マーケット ユニバーシティー 分光蛍光光度計のセルホルダー用のアダプター

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4979821A (en) Cuvette for receiving liquid sample
JP4945025B2 (ja) 軸方向高解像度を有する走査型顕微鏡方法
JP6565934B2 (ja) 表面プラズモン増強蛍光測定装置および表面プラズモン増強蛍光測定方法
CN101627288A (zh) 光检测装置以及样品架用夹具
JPS60310A (ja) 表面構造、特に、荒さの測定装置
US4799796A (en) Method and apparatus for measuring immunological reaction with the aid of phase-modulation of light
JPH05215680A (ja) 濁度測定および比色測定を実施するための分光計
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
JP2000230901A (ja) 光学ユニット
JPS62291547A (ja) 物質の濃度測定方法
JPH0367154A (ja) 側方散乱光測定装置
CN102033055A (zh) 光检测装置以及样品架用夹具
US6788415B2 (en) Turntable measuring apparatus utilizing attenuated total reflection
JPH0310902B2 (ja)
JP2002296177A (ja) 表面プラズモン共鳴測定チップ
JP2009204484A (ja) センシング装置
JP6711285B2 (ja) 検出方法、検出装置およびチップ
JP6586884B2 (ja) チップおよび表面プラズモン増強蛍光測定方法
JPS6314295B2 (ja)
EP0510175B1 (en) Fluorescence assay apparatus
JPS6259841A (ja) 直線偏光を用いる免疫反応の測定方法および装置
JPH11142241A (ja) 分光透過率測定装置
JP2687539B2 (ja) 粒度分布測定装置
JPS61173138A (ja) 光強度ゆらぎによる免疫反応測定方法
JP2001091455A (ja) 生化学分析装置