JPS61223656A - コネクタ - Google Patents

コネクタ

Info

Publication number
JPS61223656A
JPS61223656A JP61065045A JP6504586A JPS61223656A JP S61223656 A JPS61223656 A JP S61223656A JP 61065045 A JP61065045 A JP 61065045A JP 6504586 A JP6504586 A JP 6504586A JP S61223656 A JPS61223656 A JP S61223656A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductor
jaw
collet member
fitted
cylindrical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61065045A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0658380B2 (ja
Inventor
トーマス デイー コー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KIYUU A TECHNOL CO Inc
Original Assignee
KIYUU A TECHNOL CO Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KIYUU A TECHNOL CO Inc filed Critical KIYUU A TECHNOL CO Inc
Publication of JPS61223656A publication Critical patent/JPS61223656A/ja
Publication of JPH0658380B2 publication Critical patent/JPH0658380B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • H01R4/24Connections using contact members penetrating or cutting insulation or cable strands
    • H01R4/2491Connections using contact members penetrating or cutting insulation or cable strands the contact members penetrating the insulation being actuated by conductive cams or wedges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R11/00Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/11End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
    • H01R11/18End pieces terminating in a probe
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • H01R4/26Connections in which at least one of the connecting parts has projections which bite into or engage the other connecting part in order to improve the contact
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Cable Accessories (AREA)
  • Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は1回路試験プローブおよびコネクタに関し、特
に、端部に形成されたプラグハウジングと、プラグハウ
ジングにすベリ嵌入して、導体を把握して、電気接触保
持するコレレトジョー付プラグとから成る可脱式導体コ
ネクタを備えるソケット管に延出して、ソケット管内の
部材の内側と接触する偏倚竿を有するばね付プランジャ
を設ける回路試験プローブに関する6 〔従来の技術〕 回路試験技術は、過去数年間で、必要に応じて急成長を
遂げたが、小型回路が出現するまでは、第1図に示す要
領で行われていた。すなわち、1対の大型手持プローブ
(12)をメータ(14)に接続し、大型ヒユーズ(l
O)の両端に設置して、その通電性を調べていた。
しかし、近年のプリント回路(pc)板は、このように
手動試験できない、近接離間された、多数の接続部を試
験して、回路の連続性を確かめる必要から、第2図に示
す装置で、自動的に行う方法が定着しつつある。
PC板(16)を保持テーブル(18)に設置し、複数
の試験プローブ(22)を備える取付具(20)を回路
表面と接触させて、プローブ(22)と試験論理装置(
26)とを、ケーブル(24)で接続する。
こうすると、論理装置(26)は1回路の多数の相互接
続部の連続性を、迅速かつ正確に試験できる。
自明のように、試験装置を首尾よく作動させるには、プ
ローブ(22)と取付具(20)とを相対的に機能させ
るとともに、論理装置(26)に接続することが肝要で
あるが、論理装置(26)は、プローブ(22)とpc
板(16)との電気的接触不良、または電気的接触のパ
スバック不良を、pc板(16)の故障と誤解し易い。
プローブ(22)の全体的作動については、次の2点が
重要である。
第1に、プローブ(22)は、取付具(20)内である
程度軸方向に線運動して、pc板からの接点の突出のば
らつきを調整することにより、適切な電気的接触を確保
しつつ、pc板(16)への過度の加圧、またはプロー
ブ(22)の破損を防止する必要がある。
第2は、ケーブル(24)からプローブ(22)に至る
導体の接続要領である。第3図乃至第8図に従来例を示
す。
第3図は、米国特許第4,200,351号明細書に記
載されているプローブを示す。
符号(28)で全体を示すプローブは、取付具(20)
の孔(32)にプレスばめされた、ばね金属管(30)
から成っており、管(30)にすべり嵌入するとともに
、外端に、pc板(16)と接触するヘッド(36)を
備える第1円筒部(34)を有している。
小径筒形シャフト(30)は、円筒部(34)と軸整合
して延出し、孔(32)を貫通して、ワイヤラップ(W
ire Wrap)工法で導体を取り付ける方形断面端
部(40)で終結している。
シャフト(38)の拡大部(42)は、管(30)内の
指部(44)外端と接触することにより、ヘッド(36
)が管(30)から出て、所定最高点を越えて、縦移動
しないようにする。ばね(46)は、肩部(48)と、
指部(44)内側との間に圧縮されて、装置全体を外側
位置に偏倚させる。
プローブへの接続部(図示せず)は、端部(40)に直
かに取付けられているため、プローブ(28)が孔(3
2)から出入りする際に、連続性が損われる恐れがない
反面、プローブ(28)の再構成または取換は容易では
ない。
第4図は、米国特許第4,168,873号明細書に開
示されている試験プローブ(50)を示す。
プローブ(50)は、取付具(20)に形成された1対
の整合孔(32)に滑入する、ソケット管(52)から
成っており、鎖管(52)は、くびれ成形され、その一
端に嵌入されたコネクタ(58)の1対のジョー(56
)に導体(54)を圧入することにより接続される。
管状スリーブ(60)は、管(52)のコネクタ(58
)隣接端部に嵌入され、ヘッド(36)は、管(52)
にすべり嵌入するように寸法決めされた円筒部(64)
を有するシャフト(62)に装着されている。
これに対応して、シャフト(62)内端は、スリーブ(
60)にすベリ嵌入するように寸法決めされている。
スリーブ(60)と円筒部(64)との間には、ばね(
46)が設けられており、ヘッド(36)に、外向きの
偏倚力をかける。また、シャフト(62)が、所定の最
高点を越えて、外側に移動しないようにするストッパ(
66)が設けられている。
本例では、必要に応じて、管(52)を容易に孔(52
)から外せるが、導体(54)を外すには、ジョー(5
6)の間から引き出さなければならない。
また、円筒部(64)と管(52)内側、およびシャフ
ト(62)内端と、スリーブ(60)内側を接触させて
、移動中のシャフト(62)と導体(54)とを、電気
的に接触させる必要がある。
第5図は、米国特許第4,461,993号明細書に開
示されているプローブ(68)を示す。
管(70)は、孔(32)内に装着されており、ヘッド
(36)は、管(70)にすベリ嵌入する小径他端(7
6)を有する管(74)にすべり嵌入する、円筒シャフ
ト(72)の端部で構成されている。
導体(図示せず)は、所望要領で管(70)に接続され
、管(70)と(74)とは、すべりばめで電気的に接
触することにより、接続される。
シャフト(72)は、小径部(78)と球形端部(80
)とを有しており、管(74)は、地点(82)でくび
れでおり、シャフト(72)が所望限度を越えて管(7
4)から出ないようにしている。
小径部(78)と球形端部(80)との間には、ばね(
46)が設けられており、ヘッド(36)をその伸展位
置まで押し出す。
本例では、導体(図示せず)の接続を切らずに、管(7
4)およびその組立部品を管(70)から容易に外せる
が、シャフト(72)と、管(74)内側、および球形
端部(80)と管(74)内側をすベリ接触させ、ばね
(46)で管(74)と端部(80)とを電気的に接触
させることにより、管(74)とシャフト(72)とを
接続させる必要がある。
第6図乃至第8図に示す従来例は、第4図および第5図
装置の変形実施例であり、外管に、ヘッド(36)付シ
ャフトをすべり嵌入させて、より確実に電気的に接触さ
せようとするものである。
第6図は、米国特許第4,050,762号明細書の開
示に相当するものであり、指(84)付ばね(82)は
、移動シャフト(86)端部に装着されて、管(88)
内壁に圧接している。
第7図は、米国特許第3,753,103号明細書の開
示に相当するものであり、接着部材(90)は、これを
管(96)内壁に押し当てる偏倚偶力を出す板ばね(9
4)によって、すベリシャフト(92)端部に結合され
ている。
第8図は、米国特許第4,397,519号明細書の開
示に相当するものであり、シャフト(ioo)内端(9
8)は、表面(102)で角−付けされ、ボール(10
4)を介して、ばね(46)の偏倚力を、角付表面(1
02)に伝えることにより、ばね(46)から、端部(
98)にかかり、管(105)の内側壁に向う、偏倚力
のベクトルを形成している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記の従来型プローブは、実用化されていないものが多
いが、導体への接続方法に、有効性、信頼性、コスト、
製造の容易さおよび使い勝手の点で問題がある。
特に、被験回路板の小型化に応じて、多段プローブ取付
具のプローブ心間距離が狭まるため、少数の簡単な部品
で、容易に製造でき、しかも取換え易く、導電性の点で
、信頼できるプローブが要求されている。
したがって1本発明の目的は、上記特性を兼ね備える回
路試験プローブ、およびコネクタを提供することにある
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、取付具の孔にすべり嵌入し、導体接続手段
を備える一端と、開放他端とを有する導電材製の、筒形
ソケット管、前記開放他端にすべり嵌入し、外端側が被
験回路と接触するヘッドで終結する第1円筒部と、前記
第1円筒部の内端から、共通縦軸線に沿って延び、前記
第1円筒部と接合されて、肩部を形成するとともに、内
端に、共通縦軸線に対して、角変位して延出し、実質的
に同一直径の、球形接触部材で終結する弾性竿を備える
第2円筒部とを有する導電材製のプランジャ、前記ソケ
ット管に配設され、前記接触部材を嵌受し、前記接触部
材が通れない開口部に、前記弾性竿を通した状態で、前
記接続手段と隣接して、前記ソケット管と接触する。導
電材製の筒形プランジャ管、および前記肩部とプランジ
ャ管との間に配設され、前記プランジャが、ソケット管
から出入りする際に、前記プランジャに、伸展位置に向
う偏倚力が発生するとともに、前記第のオフセットから
得られる偏倚力により、前記接触部材と、前記プランジ
ャ管内面との電気接触を保つようにした圧縮ばねから成
る回路試験プローブによって達成される。
好適実施例では、接続手段は、ソケット管端部に差込ま
れるとともに、一端に心孔に面するジョー(Jaw)を
有し、前記孔およびジョーの対向面間に導体を設けるよ
うにした導電材製の筒形コレット部材、および一端に、
前記コレット部材を嵌受する開口部を有するとともに、
前記ジョーをすべり嵌受する内径を有する第1円筒部と
、平滑なテーパ部で、前記第1円筒部と結合されるとと
もに、前記コレット部材がその内側の導体とともに、前
記テーパ部を介してすベリ嵌入する際に、前記ジョーを
圧搾して前記導体に食い込むように寸法法めされた内径
を有する第2円筒部とを有するプラグハウジングから成
る可脱コネクタである。
前記コレット部材は、ジョーの隣接部で、可塑変形して
、プラグハウジングにすベリ嵌入し易くすることにより
、前記ジョーと導体との接続を保つ。
〔実施例〕
第9図乃至第14図に1本発明によるコネクタを示す。
第9図乃至第11図は、下記の要領で、導体端部に嵌合
する金属製の導電性コレット部材(106)を示してい
る。
コレット部材(106)は、概ね円筒形状を成し、第1
3図に示す要領で、導体(110)を挿入する開口部(
108)を有している。使用時には、導線(110)端
部から、絶縁部(112)を剥離して、導線の一部(1
14)を露出させる。
コレット部材(106)は、さらに、絶縁部(112)
に嵌合する内径を有する第1円筒部(116)と、導線
(114)に嵌合する小径の第2円筒部(118)とを
有しており、円筒部(116)と(118)とは、接合
点で肩部(120)を形成することにより、導体(11
0)を、最適点を越えて挿入できないようにしている。
第2円筒部(118)の端部は、地点(122)でみぞ
削りされ、内側に曲げられて、2個の対面ジョー(12
4)を形成する。各ジョー(124)は、円筒部の残余
部分に結合する首部(125)を有している。
また、コレット部材(106)は、みぞ削り(122)
領域に直角に形成され、ジョー(124)の横方向に、
コレット(106)の厚味を薄くするようにした、平行
平面(126)を有しており、好適実施例では、CDA
330で、4分の3硬い真ちゅう導管であり、その外周
には、1対の隆起した尾根(127)が離間配設され、
開口部(108)側端部に隣接する溝(128)を形成
している0次に、その目的を簡単に説明する。
上記実施例では、2.aのジ1−を用いたが、3個、4
個またはそれ以上のジョーを設けることができる。
第12図は、プラグハウジング(130)の全体図であ
る。プラグハウジング(130)は、CDA752の洋
銀製であり、その内面は、金合金で被覆され、コレット
部材(106)を第13図に示す要領ですべり嵌受する
第1円筒部(132)と、小径の第2円筒部(134)
とを有している。
前記円筒部(132) (134)は、角度(138)
で示すように、平滑にテーパ付けされたテーパ部(13
6)により、相互結合されている。
プラグハウジング(130)は、第2円筒部(134)
を通過し、収れんして、さらに小径の閉塞端部(140
)に至り、端部(140)と円筒部(134)とが出会
う外部に肩部(142)を形成している。
端部(140)は、プラグハウジング(130)を1本
発明による回路試験プローブの外端に嵌入できるように
するためのものであるが、種々に変形し得ることは勿論
である。
自明のように、可脱的な電気の道をつけようとする回路
への接続手段が、プラグハウジング(130)に設けら
れていれば良い。
第19図に示すように、剥離された導体(110)は。
コレット部材(106)の開放端(ioa)に挿入され
、絶端部(112)は、肩部に当接し、導線(114)
は、対面ジョー(124)の間を通っている。
絶縁材製の熱収縮円筒部材(144)は、コレット部材
(106)周辺の尾根(127)の間に設けられ、溝(
128)に収縮侵入して、これをグリップ締めする。
部材(144)の外径は、プローブおよびコネクタより
大きいため、隣接プローブを単離できる。
第13図に示すように、ジ*−(124)をプラグハウ
ジング(130)を挿入してから、最内端尾根(126
)が、プラグハウジング(130)の外端と当接するま
で、部材(106)全体をプラグハウジング(130)
に押し込むと、ジョー(124)は、テーパ部(136
)に沿ってすべり、小径の第2円筒部(134)に嵌入
する。
その際、ジョーは、押されて線(114)に食い込むが
、さらに挿入して、可塑変形する程度1首部(125)
に応力をかけることにより、コレット部材(106)を
プラグハウジング(130)に完全に挿入しながら、ジ
:1−(124)と導線(114)とを、電気的に密(
食い込み)接触させる。
さらに、ジョー(124)をテーパ部(136)から離
し。
第2円筒部(134)に挿入することにより、ジ1−の
外向きの力で、コレット部材(106)をプラグハウジ
ング(130)内に保持する。
次に、第15図乃至第19図を参照して、本発明による
試験プローブの各部分を説明する。
第15図は、プランジャ(146)を示す。
プランジャ(146)は、一端に電気接点(34)を有
する第1円筒部(148) (場合によっては、両端の
中間部を縮径し、円筒部(148)に相当する2つの離
間した円筒表面を有する部分を持たせてもよい。)から
成っている。
共通縦軸線(154)と整合する小径の第2円筒部(1
52)は1円筒部(148)の他端から延び、円筒部(
152)他端からは、さらに小径の竿部分(156)が
延びて、実質的に、円筒部(152)と同一直径の球形
接触部(158)で終結している。
プランジャは、CDA173につき、半分硬い熱処理さ
れた、ベリリウム銅33−25またはM2Sで構成され
254マイクロセンチメートル(100マイクロインチ
)厚のニッケルに127マイクロセンチメードル(50
マイクロインチ)厚の金メッキが施されている。
竿部分(156)の直径は、0.0234cm(0,0
092インチ)であり、0.4572cm(0,18イ
ンチ)の良さにわたって、0.0254cm(0,01
0インチ)だけ、共通縦軸線(154)から偏倚してい
るため、その端部の接触部(158)とともに、可どう
性指部の役目をする。
第16図は、プランジャ管(160)を示す。
プランジャ管(160)は、プランジャ(146)接触
部(158)にルーズフィツトするように寸法決めされ
た内径を有し両側に金合金を被せたODA#725であ
る。
第17図は、ソケット管(162)を示す。
ソケット管(162)は、内面に銀合金を被せたベリリ
ウム銅合金で構成されているが、各部分の寸法および相
互作用については、第18図を参照して行う以下の記述
から明らかである。
管端部(164)は、プラグハウジング(130)端部
(140)を嵌受するよう、寸法決めされており、端部
(140)を管端部(164)に挿入して、くびれ成形
すると、ソケット管(162)との確実な接点が得られ
る。
ソケット管(162)は、地点(166)で陥没してい
る。
プランジャ管(160)の外径は、ソケット管(162
)に滑入し、凹部(166)の締りばめ圧力で、端部(
140)(164)に隣接して定置保持できるように寸
法決めされているが、その前に、球形接触部(158)
を、プランジャ管(160)に挿入し、竿部(156)
の周りで端部(168)をくびれ成形して1竿部は容易
に滑動できるが、接触部(158)は戻れないような寸
法にする。
そのため、接触部(158)は、管(160)内に閉じ
込められるが、上記の挿入およびくびれ成形前に。
竿部(156)および第2円筒部(152)に、圧縮ば
ね(170)をスライドさせ、第2円筒部(152)と
第1円筒部(148)とが接合する肩部(172)に当
接させる。
次に、プランジャ管を、位置決めおよびくびれ成形して
、ばね(170)を、肩部(172)とプランジャ管端
部(16g)との間にトラップする。
続いて、プランジャ管(160)を、第18図に示すよ
うに、ソケット管(162)に位置決めして、プローブ
アセンブリ(174)全体を1組立状態に保つ。
プローブアセンブリ(174)を孔(32)に入れ、管
(162)の外周の1個以上の隆起領域(176)のす
べりグリップ作用で、定置保持する。
隆起領域(176)は、好適には、ソケット管に入る第
1円筒部(148)の最内端突出部から離れた、ソケッ
ト管(162)部分に設けられている。
第1円筒部(148)に続いて、プランジャ管(160
)をソケット管(162)にすべり嵌入すると1竿部(
156)が必然的に、オフセット位置からまっすぐにな
り、接触部(158)によってプランジャ管(160)
の貴金属被覆内面に偏倚力がかかる。
こうして、第19図に示すように、接触部(158)を
走行全長にわたって、プランジャ管(160) 丙に保
持することにより、確実に電気接触し続けるようにする
〔発明の効果〕
上記の説明から、本発明が、所期目的を達成し得ること
は明白である。
構造が簡単で、最少の部品で済み、しかも製造が容易で
ある。
例えば、プランジャ(146)は、一体構造であり。
コネクタは、取り外し易いと同時に、小型で、締結力が
強い。
実施例では、プローブの心間距離を、0 、127cm
(o、osoインチ)程度に、容易に縮めることができ
るため、好結果が得られ、しがも使い勝手が良く、ばね
で高い接触圧を出す、従来のプローブよりストロークを
長くできるため、被験中のPC板と確実に電気接触させ
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、大型の手持プローブを用いる。従来の試験法
の概略図である。 第2図は、本発明を適用し得る、従来型多段プローブ試
験取付具の概略図である。 第3図乃至第8図は、従来型プローブの例示図である。 第9図は、本発明によるコレット部材の端面図である。 第10図は、第9図のA−A線に沿った断面図である。 第11図は、第9図の矢印(X)方向に見たコレット部
材端部の平面図である。 第12図は、本発明によるプラグハウジングの縦断面図
である。 第13図は、導体締結前の、本発明による。コネクタ(
組立中)の縦断面図である。 第14図は、第13図のコネクタを充分挿入した状態を
示す縦断面図である。 第15図は、本発明によるプランジャの全体図である。 第16図は、本発明によるプランジャ管の縦断面図であ
る。 第17図は、本発明によるソケット管の全体図である。 第18図は、本発明によるプローブとコネクタとの、組
立完了状態を示す縦断面図である。および 第19図は、プランジャを後退させた状態を示すプラン
ジャ管の部分断面図である。 (工のヒユーズ       (12)プローブ(14
)メータ         (16)PC板(20)取
付具        (22)試験プローブ(24)ケ
ーブル       (26)論理装置(28)プロー
ブ       (3o)ばね金属管(32)孔   
        (34)第1円筒部(36)ヘッド 
        (38)筒形シャフト(40)シャフ
ト端部      (42)シャフト拡大部(44)指
部          (46)ばね(48)肩部  
        (50)プローブ(52)ソケット管
       (54)導体(56)ジョー対    
     (58)コネクタ(60)管状スリーブ  
     (62)シャフト(64)円筒部     
    (66)ストッパ(68)プローブ     
   (7o)管(72)筒形シャフト      (
74)管(76)管端部         (78)小
径部(80)球形端部        (82)<びれ
(82’)ばね          (84)指部(8
G)移動シャフト      (92)すベリシャフト
(88)管           (9o)接触部材(
94)板ばね         (96)管(98)シ
ャフト内端      (10のシャフト(102)角
付面         (104)ボール(105)管
           (106) :l L/ ット
部材(108)開口部         (11の導体
(112)絶縁部         (114)導線(
116)第1円筒部       (11B)第2円筒
部(12の肩部          (122)みぞ削
り端部(124)ジョー         (125)
首部(126)平面          (12力尾根
対(128)溝            (13のプラ
グハウジング(132)第1円筒部       (1
34)第2円筒部(136)テーパ部        
(138)角付部(140)閉塞端         
(142)肩部(144)円筒部材        (
146)プランジャ(148)第1円筒部      
 (152)第2円筒部(154)共通縦軸線    
   (156)竿部(158)球形接触部     
  (16のプランジャ管(162)ソケット管   
    (164)ソケット管端部(166)凹部  
        (168)クリンプ端部(170)圧
縮ばね        (172)肩部(174)圧縮
ばね        (174)プローブアセンブリF
IG、/2 LムLj FIG、 7 FIG  8 FIG  9 FIG、10 FIG、//

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) (a)一端に、心孔に面するジョーを備え、前記心孔内
    のジョー対向面間に導体を配設できるようにする導電材
    製の筒形コレット部材、および (b)一端に、前記コレット部材を嵌受する開口部を備
    え、前記ジョーにすべり嵌合できる内径を有するととも
    に、前記コレット部材が、導体を嵌受した状態でテーパ
    部から嵌入する際に、前記ジョーが、圧搾されて導体に
    食い込み、前記コレット部材のジョー隣接部を塑性変形
    させて、すべり嵌入し易くすることにより前記ジョーと
    導体との接続を保つように寸法決めされた内径を有する
    第2円筒部に、平滑テーパ部によって結合された第1円
    筒部を有する導電材製の回路接続用プラグハウジング から成ることを特徴とするコネクタ。
  2. (2)ジョーが、圧搾され、テーパ部によって導体とか
    み合い接触する際に、可塑変形するように寸法決めされ
    た首部により、前記ジョーの対向面が、部材の残余部分
    に結合されていることを特徴とする特許請求の範囲第(
    1)項に記載のコネクタ。
  3. (3)開口部の反対側のプラグハウジング端部が、第2
    円筒部を通って延びる閉塞端部であり、くびれ成形され
    て、回路試験プローブアセンブリのソケット管端部に嵌
    入されていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
    項に記載のコネクタ。
  4. (4)コネクタ残余部分より大きい外径を有する絶縁カ
    ラーが、開口部の隣接部で、前記プラグハウジングに嵌
    合されていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
    項に記載のコネクタ。
  5. (5)一端に、試験プローブを備えるソケット管を有す
    る回路試験プローブアセンブリであつて、他端に導体と
    の可脱接続部を備え、かつ、 (a)一端に、心孔に面するジョーを備え、前記孔内の
    ジョー対向面間に導体を配設できるようにする、導電材
    製の筒形コレット部材から成り、 (b)前記プローブの他端が、前記コレット部材を嵌受
    する開口部を備え、前記ジョーとすべり嵌合する内径を
    有するとともに、前記コレット部材が、導体を嵌受した
    状態でテーパ部からすべり嵌入する際に、前記ジョーが
    圧搾されて導体に食い込み、前記コレット部材のジョー
    隣接部を可塑変形させて、 プラグハウジングにすべり嵌入し易くすることにより、
    前記ジョーと導体との接続を保つように寸法決めされた
    内径を有する第2円筒部に、平滑テーパ部で結合させた
    第1円筒部で終結していることを特徴とする回路試験プ
    ローブアセンブリ。
  6. (6)ジョー対向面が、前記テーパ部により、前記ジョ
    ーを圧搾して導体とかみ合い接触させる際に、可塑変形
    するように寸法決めされた首部によって、部材の残余部
    分に結合されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    (5)項に記載の回路試験プローブアセンブリ。
  7. (7)第1、第2円筒部が、別の接続手段の一部を成し
    、開口部反対側のハウジング端部が、前記第2円筒部を
    通って延びる閉塞端であり、くびれ成形されソケット管
    端部に嵌入されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第(5)項に記載の回路試験プローブアセンブリ。
  8. (8)コネクタ残余部分より大きい外径を有する絶縁カ
    ラーが、開口部隣接部で前記プラグハウジングに嵌合さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第(5)項に
    記載の回路試験プローブアセンブリ。
  9. (9)(a)一端に、心孔に面するジョーを備え、前記
    孔内のジョー対向面間に、導体を配設できるようにする
    導電材製の筒形コレット部材、および (b)一端に設けられたコレット部材嵌受開口部で、コ
    レット部材嵌受孔を画成するとともに、前記コレット部
    材が、前記ジョー対向面間に導体を嵌入した状態で前記
    孔にすべり嵌入する際に、前記孔と圧力との相互作用に
    よって、前記ジョーを圧搾して密体と導電係合させると
    ともに、前記コレット部材をさらに孔に挿入し、孔との
    相互作用で前記コレット部材のジョー隣接部を可塑変形
    させることにより、前記ジョーと導体との導電係合状態
    を保ち、前記コレット部材を孔に保持するように寸法決
    めされた内径を有する導電材製のプラグシウジング から成ることを特徴とするコネクタ。
JP61065045A 1985-03-25 1986-03-25 コネクタ Expired - Lifetime JPH0658380B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US715540 1985-03-25
US06/715,540 US4597622A (en) 1985-03-25 1985-03-25 Electrical connector for electrical circuit test probe and connector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61223656A true JPS61223656A (ja) 1986-10-04
JPH0658380B2 JPH0658380B2 (ja) 1994-08-03

Family

ID=24874464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61065045A Expired - Lifetime JPH0658380B2 (ja) 1985-03-25 1986-03-25 コネクタ

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4597622A (ja)
EP (1) EP0197636B1 (ja)
JP (1) JPH0658380B2 (ja)
AT (1) ATE54759T1 (ja)
CA (1) CA1249340A (ja)
DE (1) DE3672651D1 (ja)
IE (1) IE57260B1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6256865A (ja) * 1985-09-06 1987-03-12 Yamaichi Seiko:Kk プロ−ブコンタクト
JPS6325374U (ja) * 1986-08-01 1988-02-19
JP2020202129A (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子
JP2020202092A (ja) * 2019-06-11 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、及び、端子付き電線
WO2020250733A1 (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、および端子付き電線
CN113574741A (zh) * 2019-03-28 2021-10-29 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113632322A (zh) * 2019-03-28 2021-11-09 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113711443A (zh) * 2019-04-10 2021-11-26 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4676568A (en) * 1986-02-21 1987-06-30 Adc Telecommunications, Inc. Terminal test plug
US4904213A (en) * 1989-04-06 1990-02-27 Motorola, Inc. Low impedance electric connector
US5061892A (en) * 1990-06-13 1991-10-29 Tektronix, Inc. Electrical test probe having integral strain relief and ground connection
US5143310A (en) * 1991-02-08 1992-09-01 Roto-Mix Enterprises, Ltd. Combined hay processor and feed mixer
US5417595A (en) * 1993-04-22 1995-05-23 Applied Robotics, Inc. Method and apparatus for frequently connecting and disconnecting signal cables
US5484306A (en) * 1994-10-20 1996-01-16 Interconnect Devices Inc. Quick-connect terminal and receptacle
US6570399B2 (en) 2000-05-18 2003-05-27 Qa Technology Company, Inc. Test probe and separable mating connector assembly
US6605934B1 (en) * 2000-07-31 2003-08-12 Lecroy Corporation Cartridge system for a probing head for an electrical test probe
US6331836B1 (en) * 2000-08-24 2001-12-18 Fast Location.Net, Llc Method and apparatus for rapidly estimating the doppler-error and other receiver frequency errors of global positioning system satellite signals weakened by obstructions in the signal path
US6876530B2 (en) * 2001-01-12 2005-04-05 Qa Technology Company, Inc. Test probe and connector
WO2003076957A1 (en) 2002-03-05 2003-09-18 Rika Denshi America, Inc. Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment
JP4089976B2 (ja) * 2004-05-17 2008-05-28 リーノ アイエヌディー.インコーポレイテッド 大電流用プローブ
US7315176B2 (en) * 2004-06-16 2008-01-01 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes, methods of making, and methods of using
US7161369B2 (en) * 2004-10-29 2007-01-09 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for a wobble fixture probe for probing test access point structures
US7362118B2 (en) * 2006-08-25 2008-04-22 Interconnect Devices, Inc. Probe with contact ring
NO334696B1 (no) 2011-09-15 2014-05-12 Roxar Flow Measurement As Brønnhulls målesammenstililng
US8905795B2 (en) 2011-10-12 2014-12-09 Apple Inc. Spring-loaded contacts
US8734189B2 (en) * 2011-10-12 2014-05-27 Apple Inc. Spring-loaded contact having dome-shaped piston
US20130330983A1 (en) 2012-06-10 2013-12-12 Apple Inc. Spring-loaded contacts having sloped backside with retention guide
TWI560454B (en) * 2014-11-07 2016-12-01 Primax Electronics Ltd Testing base
US10566708B2 (en) 2015-12-01 2020-02-18 Quickwire Limited Electrical connector
GB201521174D0 (en) * 2015-12-01 2016-01-13 Flex Connectors Ltd An Improved electrical connector
CN109164346B (zh) * 2018-10-08 2024-04-30 无锡隆盛科技股份有限公司 一种汽车接插件检测装置
JP7113796B2 (ja) * 2019-06-12 2022-08-05 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、および端子付き電線
JP7113786B2 (ja) * 2019-06-12 2022-08-05 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子
CN113875091B (zh) * 2019-06-12 2024-05-10 株式会社自动网络技术研究所 端子及带端子的电线
JP6936836B2 (ja) * 2019-08-09 2021-09-22 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子付き電線
JP6957568B2 (ja) * 2019-08-09 2021-11-02 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子付き電線
US11942722B2 (en) 2020-09-25 2024-03-26 Apple Inc. Magnetic circuit for magnetic connector
US11437747B2 (en) 2020-09-25 2022-09-06 Apple Inc. Spring-loaded contacts having capsule intermediate object

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US720908A (en) * 1902-04-02 1903-02-17 Eynon Evans Mfg Company Condenser.
US2160694A (en) * 1936-07-09 1939-05-30 Thomas & Betts Corp Wire connector
US2534881A (en) * 1946-04-20 1950-12-19 Henry J Schroeder Electrical wire connector with insulation piercing means
US2896981A (en) * 1953-08-05 1959-07-28 Pylon Company Inc Rod joint
US2959766A (en) * 1956-03-16 1960-11-08 Jacobsen Edwin Electrical connector
US2934738A (en) * 1956-06-07 1960-04-26 Cambridge Thermionic Corp Electric meter probe
US2885648A (en) * 1956-12-06 1959-05-05 Herbert H King Test probe with retractible shield
US3109689A (en) * 1959-06-17 1963-11-05 Pylon Company Inc Terminal
US3153561A (en) * 1960-06-09 1964-10-20 Pyion Company Inc Resilient electrical connector
US3278890A (en) * 1964-04-13 1966-10-11 Pylon Company Inc Female socket connector
US3416125A (en) * 1966-10-20 1968-12-10 Ostby & Barton Co Co-axial connector
US3435168A (en) * 1968-03-28 1969-03-25 Pylon Co Inc Electrical contact
US3562643A (en) * 1969-01-21 1971-02-09 Ostby & Barton Co Spring loaded test probe assembly
US3675189A (en) * 1970-12-22 1972-07-04 Ostby & Barton Co Electrical connector
US3753103A (en) * 1971-11-17 1973-08-14 Crystal Protronics Ass Electrical circuit test probe having spring biased probe assembly
US4050762A (en) * 1976-11-10 1977-09-27 Everett/Charles, Inc. Telescoping spring probe having separate wiper contact member
US4108528A (en) * 1976-12-06 1978-08-22 Everett/Charles, Inc. Probe actuator assembly
US4114093A (en) * 1976-12-17 1978-09-12 Everett/Charles, Inc. Network testing method and apparatus
US4138186A (en) * 1977-07-22 1979-02-06 Everett/Charles, Inc. Test apparatus
US4176900A (en) * 1977-12-23 1979-12-04 Everett/Charles, Inc. Low insertion force connector
US4377318A (en) * 1978-02-06 1983-03-22 Everett/Charles, Inc. Low insertion force electrical interface assembly and actuable interface assembly therefor
US4321532A (en) * 1978-03-16 1982-03-23 Luna L Jack Repairable spring probe assembly
US4168873A (en) * 1978-04-03 1979-09-25 Luna L Jack Wire connections to board terminals
US4200351A (en) * 1978-06-12 1980-04-29 Everett/Charles, Inc. Straight through electrical spring probe
US4209745A (en) * 1978-06-12 1980-06-24 Everett/Charles, Inc. Interchangeable test head for loaded test member
US4342496A (en) * 1980-05-22 1982-08-03 Bunker Ramo Corporation Contact assembly incorporating retaining means
US4288745A (en) * 1980-07-22 1981-09-08 Ostby & Barton Company Printed circuit board testing means
US4427250A (en) * 1981-01-19 1984-01-24 Everett/Charles Test Equipment, Inc. Printed circuit board test fixture with compliant platen
US4397519A (en) * 1981-05-12 1983-08-09 Pylon Company, Inc. Electrical contact construction
US4461993A (en) * 1981-09-21 1984-07-24 Everett/Charles, Inc. Low resistance electrical spring probe
US4409191A (en) * 1982-01-04 1983-10-11 Exxon Research & Engineering Co. Integrated cyclic scrubbing and condensate stripping process for the removal of gaseous impurities from gaseous mixtures

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6256865A (ja) * 1985-09-06 1987-03-12 Yamaichi Seiko:Kk プロ−ブコンタクト
JPS6325374U (ja) * 1986-08-01 1988-02-19
CN113574741A (zh) * 2019-03-28 2021-10-29 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113632322B (zh) * 2019-03-28 2023-11-07 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113574741B (zh) * 2019-03-28 2023-10-20 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113632322A (zh) * 2019-03-28 2021-11-09 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
CN113711443A (zh) * 2019-04-10 2021-11-26 株式会社自动网络技术研究所 接头连接器
JP2020202092A (ja) * 2019-06-11 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、及び、端子付き電線
WO2020250642A1 (ja) * 2019-06-11 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、及び、端子付き電線
CN113939958A (zh) * 2019-06-11 2022-01-14 株式会社自动网络技术研究所 端子及带端子电线
JP2020202128A (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、および端子付き電線
WO2020250733A1 (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子、および端子付き電線
CN114008868A (zh) * 2019-06-12 2022-02-01 株式会社自动网络技术研究所 端子及带端子的电线
US11637386B2 (en) 2019-06-12 2023-04-25 Autonetworks Technologies, Ltd. Terminal and terminal wire assembly
WO2020250799A1 (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子
JP2020202129A (ja) * 2019-06-12 2020-12-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 端子
US11848527B2 (en) 2019-06-12 2023-12-19 Autonetworks Technologies, Ltd. Terminal
CN114008868B (zh) * 2019-06-12 2024-05-10 株式会社自动网络技术研究所 端子及带端子的电线

Also Published As

Publication number Publication date
ATE54759T1 (de) 1990-08-15
DE3672651D1 (de) 1990-08-23
IE860369L (en) 1986-08-25
US4597622A (en) 1986-07-01
JPH0658380B2 (ja) 1994-08-03
CA1249340A (en) 1989-01-24
EP0197636B1 (en) 1990-07-18
IE57260B1 (en) 1992-06-17
EP0197636A1 (en) 1986-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61223656A (ja) コネクタ
JPS61223655A (ja) 回路試験プローブ
US4120556A (en) Electrical contact assembly
US6053777A (en) Coaxial contact assembly apparatus
US5498838A (en) Modular electrical contact assemblies
GB1077332A (en) An electrical contact socket
US4072394A (en) Electrical contact assembly
US4632496A (en) Connector socket
US10276955B2 (en) Electrical connector
US10680359B2 (en) Plug contact
US4720275A (en) Quick termination apparatus and method for electrical connector
US2780794A (en) Pressure connector
US3626363A (en) Roll-formed contact and crimping device therefor
US2953185A (en) Terminal and cable stop
US9225106B2 (en) Environmentally sealed contact
US5484306A (en) Quick-connect terminal and receptacle
US6796853B1 (en) No-crimp electrical connectors and method of manufacture
JPH0616424B2 (ja) 電気接点
US2724097A (en) Separable crimped connector
US2163771A (en) Electrical connector
US4846739A (en) Gas impervious crimp connection
US2740102A (en) Electrical connection, method, and apparatus
US3975077A (en) Electrical connector
JPH0527811Y2 (ja)
JP3036592B2 (ja) 信号ライン計測治具

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term