JPS61212843A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

Info

Publication number
JPS61212843A
JPS61212843A JP60052219A JP5221985A JPS61212843A JP S61212843 A JPS61212843 A JP S61212843A JP 60052219 A JP60052219 A JP 60052219A JP 5221985 A JP5221985 A JP 5221985A JP S61212843 A JPS61212843 A JP S61212843A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
pattern
crystal cell
reticle
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60052219A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayoshi Oosakaya
大坂谷 隆義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60052219A priority Critical patent/JPS61212843A/ja
Publication of JPS61212843A publication Critical patent/JPS61212843A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70283Mask effects on the imaging process
    • G03F7/70291Addressable masks, e.g. spatial light modulators [SLMs], digital micro-mirror devices [DMDs] or liquid crystal display [LCD] patterning devices
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は露光装置に関し、%に半導体装置の製造に適用
して効果的な露光装置に関するものである。
〔背景技術〕
従来の露光装置、たとえば縮小投影露光装置では、レチ
クルはウェハに転写するデバイスパターンの原版となる
が、このレチクルは品種別(たとえば64にビットのス
タティックRAMや256にビットダイナミックメモリ
などの如く、製品の種類別)、工程別(ある製品の種類
に対し各工程上の各パターン)に製造しなげればならず
、従って縮小投影露光装置用レチクルとして異なったパ
ターンのレチクルを多数必要となる。また露光作業にお
いては、工程別の露光の都度それに見合ったレチクルに
交換しなければならない。よってレチクル製作工数がき
わめて多く、かつレチクル交換に手間がかかり、このた
めスループットの低下をもたらすと共に製造コストが高
くなるという問題点を生ずる。
マタレチクルの交換作業により、レチクル交換みなどの
異物が付着したり、レチクルが汚れたり、レチクルにき
すがついたりして、ウェハに欠陥として現われる。特に
10:1  (又は1/10)の如き縮小投影露光装置
では、レチクルの汚れ、ごみ、きすがウェハの個々のチ
ップに転写され、ウェハ全体が不良となる。このため製
品の歩留低下をきたすことになる。そこで、レチクルの
交換の都度、ごみ(異物)の付着や汚れ、きすの検査を
行なっているが、非常にやっかいであるという問題があ
る。
以上のことは、レチクルを用いて10二1の如き縮小露
光方式でホトマスクにパターンを作成し、更にこのホト
マスクを用いてウェハにデバイスパターンを転写する場
合にも同様のことがいえる。
なお、フォトマスク(レチクル)の欠陥が発生すればこ
れを修正する工程も必要とされるが、と1984年1月
号P95〜99等に記載の工程が必要とされる。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、パターン露光のための任意のマスクパ
ターンを1個の液晶セルで実現できるようにし、もって
工数の低減9歩留の向上、スループットの向上及び製造
コストの低減を図れるようにした露光装置を提供するこ
とにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、マスク(レチクル)を用いて被処理部材とし
てのウェハ上にパターン露光を行なう露光装置において
、前記マスクを液晶セルで構成し、この液晶セルをパタ
ーン信号発生部からの設計データにもとづくパターン信
号でマトリクス方式で駆動し、これにより得られる透明
、不透明のパターンヲパターン露光のためのマスクパタ
ーンとして用いて、前記液晶セルに対向して配置される
ウェハに対しパターン露光を行なうものであり、1個(
7) fi 晶セルでパターン露光のための任意のマス
クパターンを実現でき、マスク(レチクル)交換が不要
となり、このため工数の低減2歩留の向上及びスルーブ
ツトの向上を図ることができ、また工数の低減、スルー
プットの向上と併せ装置が1台ですみ、しかも液晶セル
も1個で足りるので製造コストの低減を図ることができ
、更に電気的方法で液晶セルを駆動させて所定位置にマ
スクパターンを正確に作成できるので、設計マージンが
不要になる。
〔実施例〕
第1図は本発明による露光装置の一実施例を示し、特に
10:1縮小投影露光装置に適用した場合を示すも・の
である。第2図は第1図のレチクルを構成する液晶セル
の拡大断面図である。
以下、本発明を第1図および第2図を用いて詳述する。
第1図にお・いて、1は固定台であって、この上にX軸
、Y軸方向に移動自在なXY移動台2が配設されている
。このXY移動台2上に被処理部材としてのウェハ3が
載置されている。ここでは、ウェハ3はたとえば基板上
に形成されたAt蒸着膜上にレジストを塗布してなるも
ので、kl配WJハターンに対応したレジストパターン
を得るべくパターン露光に供されるものである。なお、
被処理部材としては種々のものが使用できる。本発明に
おいては、前記ウェハが好適なものの一つであるが、そ
の他の好適なものとしては、石英基板表面に形成された
クロム(Cr)膜やクロム酸化(CrxOy)膜などの
被膜の上にホトレジストを塗布してマスクパターン露光
を得るホトマスク又はレチクルなどがある。
4は光源としての水銀ランプであって、この水銀ランプ
4から照射される光はコンデンサレンズ5を介してレチ
クル6に照射される。ここで、水銀ランプ4とコンデン
サレンズ5は露光照明系7を構成する。レチク/l/6
はレチクル載置台8上に載置され、このレチクル載置台
8は固定部材9上に配設されている。そして、レチクル
位置制御部10からのレチクル位置制御信号によりレチ
クル6を所定位置に設定調整すべくレチクル載置台8を
X、Y軸方向に(平面内で)移動(微動)できるよづな
構成となっている。
レチクル6は本発明では第2図に示す如き液晶セル11
を用いて構成されている。
即ちたとえば石英を用いた透明体12.13の内表面に
夫々X軸透明電極14.Y軸透明電極15がマトリクス
形に配設されている。この透明体12と13の間に液晶
]6を介在させて、スペーサ17で密封されている。こ
のスペーサ17は液晶層の厚みを一定に保つ働きをする
。なお、スペーサ17の外側には気密性を保持するため
の接着剤18を被着させ液晶層へ水分の侵入を防ぎ、液
晶の劣化を防止している。更に透明体12.13の外側
に偏光板(偏光子)19.偏光板20(検光子)が夫々
配設されている。
ここで、偏光子19と検光子20はお互いの偏光軸を平
行となるように配置する。そして液晶16としてたとえ
ばp形ネマティック液晶を用いTN方式(ねじれネマテ
ィック効果利用方式)を用いろものとし電圧印加のない
ときは、入射光は液晶16で偏光軸が90°回転される
ようになっている。従って液晶16を通過した光が検光
子20に入ると、偏光軸が互いに90°であるため光は
検光子20から出て来ない。このとぎ液晶セル1】は不
透明となる。次にパターン信号発生部21からのレチク
ル設計データにもとづくパターン信号によりレチクル6
としての液晶セル11の所定のX軸およびY軸透明電極
14および15に所定の電圧を印加すると、電圧が印加
された両透明電極14.15間(両透明電極14と15
の交叉箇所)において液晶16の分子軸が電界方向に沿
うようになり、この部分では入射光の偏光軸が回転せず
入射光は液晶16の影響を殆んど受けずに出てくるため
検光子20にさえぎられないことになり、液晶16は透
明になる。従って黒地に白のパターン像を得ることにな
る。よってウェハ3上のレジストとしてネガレジストが
使用される。
なお、偏光子19と検光子20の偏光軸方向を直交させ
ておくと白地に黒のパターン像を得ることになり、この
場合にはウェハ3上のレジストとしてポジレジストが使
用される。
このように構成された液晶セル11はパターン信号によ
りマ) IJクス形駆動方式で駆動される。
次にレチクル設計データ、即ち品種に合わせた工程別の
パターンデータを設計データ入力部22のメモリに入力
しておき、この設計データ入力部22からの設計データ
信号にもとづきパターン信号発生部21はパターン信号
を発生し、このパターン信号により該当する液晶セル1
1のX軸透明電極14とY軸透明電極15に所定の電圧
が印加される。これによりたとえば黒地に白のパターン
像が得られる。即ちマスクパターン(レチクルパターン
)が形成される。そして液晶セル11を透過した光は1
/10縮小レンズ23で絞られ、ウェハ3上に結像し、
パターン露光が行なわれる。
なお、予めXY移動台2を移動させてマスク(レチクル
6)の投影像とウェハ3との位置合せを行なうことはも
ちろんである。この位置合せは、マスク側を動かすこと
によりできるように構成してもよく、この場合にはマス
クの動きはウェハ3上の投影像の動きとしては1/10
に縮小されるので精密な調整がしやすい。
以上のように構成された露光装置において、パターン信
号発生部21は設計データにもとづくパターン信号を発
生し、これにより液晶セル11はマ) IJクス形駆動
方式で駆動される。そして電圧が印加されたX軸、Y軸
内透明電極14.15の各交点の画素に相当する部分の
液晶の分子軸を電界方向に配向させる。これらの液晶部
分への入射光は偏光軸が回転せず、検光子20を介して
出ていくことになる。従って液晶セル11に形成された
パターン像部分だけは透明となる(この場合は偏光子1
9と検光子20の偏光軸を平行させた場合であるが、互
いに直交させた場合にはパターン像部分は不透明となる
)。液晶セル11を透過した光は1/10縮小レンズ2
3を介してウニ/’%3上に結像され、パターン露光が
行なわれる。XY移動台2を動かしてウェハ3上の各チ
ップに対して同様のパターン露光を行なうことができる
以上から判るように、レチクル設計データ、即ち全品種
、全工程のマスクパターン(レチクルパターン)データ
を設計データ入力部22に入力しておき、必要に応じて
必要な゛レチクル設計データをパターン信号発生部21
に供給し、パターン信号発生部21からのパターン信号
にもとづいてレチクル6としての液晶セル11を駆動す
ることにより、任意の品種、任意のマスクパターン(レ
チクルパターン)を一枚のレチクル6 (1個の液晶セ
ル11)で作成することができ、このため従来の如くレ
チクル6を品種毎、工程毎に交換する必要が全くなくな
る。
このようにレチクル6の交換が不要となるため、従来の
如く人手によるレチクルの交換の手間が省けると共に、
従来の如くレチクルの交換毎に行なっていたレチクルに
対する異物(ごみなど)の付着や汚れ、きずなどの検査
が不要となり、スループットの向上を図ることができる
。また人手によるレチクルの交換が不要となるので、従
来の如(レチクル交換時にレチクル6にごみなどの異物
が付着したり、きすがついたり、あるいはレチクル6が
汚れたりすることがなくなり1.このためウェハ3上に
欠陥として転写されることがなくなる。
従って歩留の向上が図れる。更に品種別、工程別の多数
のレチクルを用意する(製造する)必要がなく一枚のレ
チクル6で足りること、またレチクル6の交換が不要と
なるため、従来レチクルの交換の都度行なっていた異物
(ごみなど)、きす。
汚れなどの検査が不要となることなどにより、工数の低
減が図られる。更にまた、スループットの向上及び工数
の低減と併せて、一枚のレチクル6で全工程の任意のマ
スクパターン(レチクルパターン)を作成できること、
装置が1台で済むことなどにより製造コストの低減が図
られる。
また従来はレチクル交換の都度、レチクルの投影像とウ
ェハとの位置合せを行なわなければならず、その位置合
せが大変やっかいでレチクルの位置ずれを考慮して設計
マージンを必要としていたのに対して、本発明ではレチ
クル6を交換することもなく電気的な方法で任意のマス
クパターン(レチクルパターン)を正確に形成できるの
で、従来のようなマスク(レチクル)の位置ずれのため
の設計マージンが不要になる。
更にレチクル6、即ち液晶セル11の画素に要求される
分解能は1/10縮小投影露光装置の場合、実際のデバ
イスの10倍でよく、液晶セル11の透明電極14.1
5を技術的にも容易に形成できる。
〔効果〕   □ (1)  設計データにもとづき、パターン露光のため
のマスクとしての液晶セルを駆動することにより、任意
のマスクパターン像を、一枚のマスク即ち1個の液晶セ
ルで作成することができ、このためマスクをたとえば品
種毎、工程毎に交換する必要が全くなくなる。
(2)マスクとしての液晶セルの交換が不要となるため
、従来の如くマスク交換の手間が省けると共に従来の如
くマスクの交換の都度行なっていたマスクに対する異物
の付着や汚れ、きずなどの検査が不要になりスループッ
トの向上を図ることができる。
(3)人手によるマスク交換が不要になるので、従来の
如くマスク交換時罠マスクに異物が付着したり、きすが
ついたり、あるいはマスクが汚れたりすることがなくな
り、このためパターン露光される被処理部材上に欠陥と
して転写されることがなくなり、歩留の向上が図られる
(4)多数のマスクパターンを必要とする場合、多数の
マスクを用意する(製造する)必要がなく一枚のマスク
即ち1個の液晶セルで足りること、またマスク交換不要
のため、従来マスク交換の都度性なっていた異物、きす
、汚れなどの検査が不要となることなどにより、工数の
低減を図ることができる。
(5)前記スループットの向上及び前記工数の低減と併
せて、一枚のマスク(1個の液晶セル)で任意のマスク
パターンを作成できること、装置が1台で済むことなど
により、製造コストの低減を図ることができる。
(6)マスク交換することなく、電気的な方法で任意の
マスクパターンを正確に作成できるので、従来のような
マスクの位置ずれのための設計マージンが不要になる。
(7)縮小露光装置の場合には、液晶セルの画素に要求
される分解能を、実際のデバイスよりも大きくとれるの
で、液晶セルの電極形成が容易になる。
以上本発明者によってなさねた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。たとえば、マスク(レ
チクル6)としての液晶セル11にp形ネマティック液
晶を用いたTN方式の場合について言及したけれども、
偏光子19と検光子20の偏光軸方向を直交させておき
、n型ネマティック液晶をホメオトロピック配列させる
か、あるいは、n型ネマティック液晶をホモジニアス配
列させて、DAP方式(電界制御複屈折効果の利用)を
用いてもよい。要するにマスクとしての液晶セルの構成
については、本実施例(第2図)に限定されることなく
、液晶セルの駆動により透明、不透明のパターン像が得
られる構成なら何でもよい。
〔利用分野〕
以上の説明では主として本発明者によってなさねた発明
を、その背景となった利用分野である1/10縮小投影
露光装置に適用した場合について説明したが、それに限
定されるものではなく、たとえば115縮小投影露光装
置や等2倍投影露光装置などの投影露光装置、密着露光
装量、近接露光装置など露光装置全般に適用できる。こ
れらの露光装置ではレチクルやホトマスクに液晶セルを
用いろことになる。また本発明は、マスク製造装置やレ
チクル製造装置などにも適用できる。本発明は、少なく
ともパターン露光を行なう装置には適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による露光装置の一実施例を示す簡略構
成図、 第2図は第1図のレチクル6(液晶セル11)の簡略拡
大断面図である。 2・・・XY移動台、3・・・ウェハ、6・・・レチク
ル、7・・・露光照明系、8・・・レチクル載置台、1
0・・・レチクル位置制御部、11・・・液晶セル、1
2.13・・・透明体、14・・・X軸透明電極、15
・・・Y軸透明電極、】6・・・液晶、17・・・スペ
ーサ、18・・・接着剤、19・・・偏光板(偏光子)
、20・・・偏光板(検光子)、21・・・パターン信
号発生部、22・・・設計データ入力部、23・・・1
/10縮小レンズ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、設計データにもとづくパターン信号を発生させるパ
    ターン信号発生部と、このパターン信号発生部のパター
    ン信号にもとづいて駆動され、透明あるいは不透明のパ
    ターンを生ずる液晶セルと、この液晶セルに光を照射す
    る露光照明系とを少なくとも備え、前記液晶セルに対向
    して配置される被処理部材に対し、前記液晶セルを駆動
    させてパターン露光を行なえるようにしたことを特徴と
    する露光装置。 2、前記液晶セルは、X軸透明電極とY軸透明電極間に
    液晶を介在させ、かつ両透明電極外側に偏光板を配置し
    てなり、マトリクス駆動方式を採用してなる特許請求の
    範囲第1項記載の露光装置。 3、前記液晶セルをホトマスクとして用いてなる特許請
    求の範囲第1項又は第2項記載の露光装置。 4、前記液晶セルをレチクルとして用い、前記液晶セル
    と前記被処理部材との間に縮小レンズを介挿してなる特
    許請求第1項又は第2項記載の露光装置。 5、前記被処理部材として、表面に形成されたSi_3
    N_4膜や金属膜などの被膜の上にホトレジストを塗布
    してパターン露光を得るためのウェハを用いてなる特許
    請求の範囲第1項ないし第4項のいずれかに記載の露光
    装置。 6、前記被処理部材として基板表面に形成されたCr膜
    やCr_xO_y膜などの被膜の上にホトレジストを塗
    布してマスクパターン露光を得るホトマスク又はレチク
    ルである特許請求の範囲第1項記載の露光装置。
JP60052219A 1985-03-18 1985-03-18 露光装置 Pending JPS61212843A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60052219A JPS61212843A (ja) 1985-03-18 1985-03-18 露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60052219A JPS61212843A (ja) 1985-03-18 1985-03-18 露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61212843A true JPS61212843A (ja) 1986-09-20

Family

ID=12908636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60052219A Pending JPS61212843A (ja) 1985-03-18 1985-03-18 露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61212843A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5045419A (en) * 1986-11-20 1991-09-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Pattern exposure/transfer method and pattern exposure/transfer mask apparatus
US5523193A (en) * 1988-05-31 1996-06-04 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for patterning and imaging member
JP2017134375A (ja) * 2016-01-29 2017-08-03 ウシオ電機株式会社 露光装置及び露光方法
JP2020173470A (ja) * 2020-06-30 2020-10-22 株式会社アドテックエンジニアリング 露光方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5045419A (en) * 1986-11-20 1991-09-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Pattern exposure/transfer method and pattern exposure/transfer mask apparatus
US5523193A (en) * 1988-05-31 1996-06-04 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for patterning and imaging member
JP2017134375A (ja) * 2016-01-29 2017-08-03 ウシオ電機株式会社 露光装置及び露光方法
JP2020173470A (ja) * 2020-06-30 2020-10-22 株式会社アドテックエンジニアリング 露光方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7423723B2 (en) Transverse electric-field type liquid crystal display device, process of manufacturing the same, and scan-exposing device
US6566018B2 (en) Dual-member pellicle assemblies and methods of use
CN101625528B (zh) 掩模版夹具
JPS61212843A (ja) 露光装置
US20050226492A1 (en) Acceptable defect positioning and manufacturing method for large-scaled photomask blanks
JPH08227851A (ja) ホトリソグラフィ方法及びそれに使用するホトリソグラフィシステム
JPS59160144A (ja) ホトマスク
JPH08124822A (ja) 投影露光装置
JPS61190935A (ja) 露光装置
JP3068398B2 (ja) レチクルの製造方法およびその製造装置
Gordon et al. Pathways in device lithography
JPH0423314A (ja) 露光装置
US6873401B2 (en) Reflective liquid crystal display lithography system
JPS6337617A (ja) レティクルの欠陥検出方法
JPS634216Y2 (ja)
JPS5999426A (ja) 防塵機構付焼付露光装置
JPS62274719A (ja) 縮小投影露光装置
JPH0357209A (ja) 縮小投影型露光装置
Horne Semiconductor Microlithography VI
JPS63163464A (ja) マスク
KR20070079861A (ko) 노광 장치
JPS5998524A (ja) 透明体の検査装置
JPH06347995A (ja) Ic製造用マスク
JPS6386518A (ja) パタ−ン形成方法
JP2003076030A (ja) 露光装置における光照射装置