JPS61210437A - インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法 - Google Patents
インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法Info
- Publication number
- JPS61210437A JPS61210437A JP60051344A JP5134485A JPS61210437A JP S61210437 A JPS61210437 A JP S61210437A JP 60051344 A JP60051344 A JP 60051344A JP 5134485 A JP5134485 A JP 5134485A JP S61210437 A JPS61210437 A JP S61210437A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- timing
- control
- program
- memory
- control program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
この発明は、インサーキット会エミュレータの制御方法
に関するものである。
に関するものである。
(b)従来技術と問題点
最初に、従来装置の構成図を第2図に示す。
第2図の1は被試験器のCPU12は制御用CPU13
は制御プログラムメモリ、4・は制御回路、13は切換
器、6は被試験器のメモリ・Iloである。
は制御プログラムメモリ、4・は制御回路、13は切換
器、6は被試験器のメモリ・Iloである。
切換器13はエミユレータが被試験器のメモリ・Ilo
を読み出したり書き換えたりまたは被試験プログラムを
実行したりするときはCPUIのデータバスを6側に切
り換え、準備と整理のための制御プログラムを実行する
ときは3側にCPU1のデータバスを切り換える。
を読み出したり書き換えたりまたは被試験プログラムを
実行したりするときはCPUIのデータバスを6側に切
り換え、準備と整理のための制御プログラムを実行する
ときは3側にCPU1のデータバスを切り換える。
なお、切換画工3は制御回路4によって制御される。制
御回路4はその他エミニレータの各部も制御する。
御回路4はその他エミニレータの各部も制御する。
制御回路4は各種のタイミング信号を必要とする・例え
ば、被試験器のメモリーI10をアクセスするタイミン
グ、被試験器のプログラムを実行するタイミング、制御
回路プログラムの終了を知らせるタイミングなどである
。これらのタイミング信号を第3図(a)〜(a)に示
す。
ば、被試験器のメモリーI10をアクセスするタイミン
グ、被試験器のプログラムを実行するタイミング、制御
回路プログラムの終了を知らせるタイミングなどである
。これらのタイミング信号を第3図(a)〜(a)に示
す。
制御回路4は、これらのタイミング信号により各種の制
御信号を発生する。
御信号を発生する。
例えば、切換器13は第3図(3)と第3図(c)の論
理和により制御される。
理和により制御される。
第4図は、第2図のCPU2、制御プログラムメモリ3
および制御回路4の部分の従来方法による動作説明用構
成図である。
および制御回路4の部分の従来方法による動作説明用構
成図である。
エミュレータは制御プログラムに同期して制御されるの
で、タイミング信号の基準として制御プログラムメモリ
へ供給されるアドレスを用いることができる。すなわち
、プログラム開始から終了までのアドレスのうち、どれ
かのアドレスで一致信号を発生する比較回路を用いる。
で、タイミング信号の基準として制御プログラムメモリ
へ供給されるアドレスを用いることができる。すなわち
、プログラム開始から終了までのアドレスのうち、どれ
かのアドレスで一致信号を発生する比較回路を用いる。
7〜10が比較回路であり、タイミングの数だけ接続す
る必要がある。
る必要がある。
また、第3図(e)の実行信号のように、持続する信号
を得るためには、第4図のように7リツプフロツプ14
を制御回路4内に設ける。
を得るためには、第4図のように7リツプフロツプ14
を制御回路4内に設ける。
第2図と第4図のような従来装置では、タイミングが固
定的であるため、制御プログラムが短い場合には無意味
な命令で満たして長さをそろえる必要があり、高速で動
作させることができない。
定的であるため、制御プログラムが短い場合には無意味
な命令で満たして長さをそろえる必要があり、高速で動
作させることができない。
また、持続性の信号を発生させるためフリフプフロップ
が必要になったり、タイミング信号の種類だけ比較器が
必要になったりするなど、回路が複雑になるという問題
がある。
が必要になったり、タイミング信号の種類だけ比較器が
必要になったりするなど、回路が複雑になるという問題
がある。
(c)発明の目的
この発明は、第2図の制御プログラムメモリ3のプログ
ラム部のほかに拡張ビットを設け、この拡張ビットにタ
イミング情報を格納し、制御プログラム実行時にタイミ
ング信号として読み出すことにより、制御プログラムに
柔軟性をもたせると同時に回路を簡単化することを目的
とする。
ラム部のほかに拡張ビットを設け、この拡張ビットにタ
イミング情報を格納し、制御プログラム実行時にタイミ
ング信号として読み出すことにより、制御プログラムに
柔軟性をもたせると同時に回路を簡単化することを目的
とする。
(d)発明の実施例
この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図は第4図に対応する構成図であり、第1図の11
は制御プログラムメモリ、11Aはプログラム部、11
Bはタイミング部、12は制御回路である。
は制御プログラムメモリ、11Aはプログラム部、11
Bはタイミング部、12は制御回路である。
制御プログラムメモリ11は、第4図の制御プログラム
メモリ3にタイミング部11Bを追加したものである。
メモリ3にタイミング部11Bを追加したものである。
いいかえると、第1図のプログラム部11Aは第4図の
制御プログラムメモリ3と同じものである。
制御プログラムメモリ3と同じものである。
すなわち、制御プログラムメモリ11は、プログラム部
11Aとタイミング部11Bの容量をもつメモリであり
、プログラム部11Aのほかにタイミング部11Bの拡
張ビットを設け、このタイミング部11Bにタイミング
情報を格納する。
11Aとタイミング部11Bの容量をもつメモリであり
、プログラム部11Aのほかにタイミング部11Bの拡
張ビットを設け、このタイミング部11Bにタイミング
情報を格納する。
タイミング部11Bには第3図の各タイミング信号に対
応するビットが格納されており、CPU1がプログラム
部11Aから制御プログラムを取り出して実行するごと
に、タイミング部11Bの情報が制御回路12にタイミ
ング信号として送られる。
応するビットが格納されており、CPU1がプログラム
部11Aから制御プログラムを取り出して実行するごと
に、タイミング部11Bの情報が制御回路12にタイミ
ング信号として送られる。
制御回路12は、制御信号を出力して、第2図と同じよ
うに各部を制御する。
うに各部を制御する。
(s)発明の効果
この発明によれば、制御に必要なタイミング信号をメモ
リという集積度の高(低コストな素子に一元化とするこ
とができ、また、アドレスに対してビットを連続的に立
てることにより、持続的な゛タイミング信号を直接出力
することができる。したがって、制御回路も簡単になる
ので、インサーキット・エミュレータの回路を簡素化し
設計効率を向上することができる。
リという集積度の高(低コストな素子に一元化とするこ
とができ、また、アドレスに対してビットを連続的に立
てることにより、持続的な゛タイミング信号を直接出力
することができる。したがって、制御回路も簡単になる
ので、インサーキット・エミュレータの回路を簡素化し
設計効率を向上することができる。
さらに、制御プログラムに応じたタイミングを自由に選
ぶことができるので柔軟性があり、また、いつでも終了
することができるので各制御プログラムの実行時間を最
小にすることができ、高速の制御が可能となるなど多く
の効果を生ずる。
ぶことができるので柔軟性があり、また、いつでも終了
することができるので各制御プログラムの実行時間を最
小にすることができ、高速の制御が可能となるなど多く
の効果を生ずる。
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は従来
装置の構成図、 第3図は切り換え用タイミング信号の一例を示す図、 第4図は動作説明用構成図。 1・・・・・・被試験器のCPU12・・・・・・制御
用CPU。 3・・・・・・制御プログラムメモリ、4・・・・・・
制御回路、5・・・・・・被試験器のメモリー Ilo
、8・・・・・・カウンタ、7〜10・・・・・・比較
器、11・・・・・・制御プログラムメモリ、11A・
・・・・・プログラム部、11B・・・・・・タイミン
グ部、12・・・・・・制御回路、13・・・・・・切
換器、14・・・・・・フリップ・フロップ。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 第 2 図
装置の構成図、 第3図は切り換え用タイミング信号の一例を示す図、 第4図は動作説明用構成図。 1・・・・・・被試験器のCPU12・・・・・・制御
用CPU。 3・・・・・・制御プログラムメモリ、4・・・・・・
制御回路、5・・・・・・被試験器のメモリー Ilo
、8・・・・・・カウンタ、7〜10・・・・・・比較
器、11・・・・・・制御プログラムメモリ、11A・
・・・・・プログラム部、11B・・・・・・タイミン
グ部、12・・・・・・制御回路、13・・・・・・切
換器、14・・・・・・フリップ・フロップ。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 第 2 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被試験器の第1のCPUを動作させる制御プログラ
ムメモリと、前記制御プログラムメモリを制御する第2
のCPUと、制御回路とを有するインサーキット・エミ
ュレータにおいて、 前記制御プログラムメモリにプログラム部とタイミング
部の容量をもつメモリを使用し、 第2のCPUにより前記タイミング部にエミュレータを
制御するためのタイミング情報を記憶しておき、 第1のCPUが制御プログラムを読み出して実行するの
と同時に前記タイミング情報を読み出してタイミング信
号として制御回路に与えることを特徴とするインサーキ
ット・エミュレータの制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60051344A JPS61210437A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60051344A JPS61210437A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61210437A true JPS61210437A (ja) | 1986-09-18 |
Family
ID=12884311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60051344A Pending JPS61210437A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61210437A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819961A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-05 | テクトロニツクス・インコ−ポレイテツド | エミユレ−タ制御装置 |
-
1985
- 1985-03-14 JP JP60051344A patent/JPS61210437A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5819961A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-05 | テクトロニツクス・インコ−ポレイテツド | エミユレ−タ制御装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4987537A (en) | Computer capable of accessing a memory by supplying an address having a length shorter than that of a required address for the memory | |
IE53976B1 (en) | Multi-processor automatic test system | |
KR20020007325A (ko) | 아날로그 및 디지털 겸용 채널을 구비한 집적회로 시험 장치 | |
US20020162055A1 (en) | Trace circuit | |
US4450538A (en) | Address accessed memory device having parallel to serial conversion | |
JP4156726B2 (ja) | 高速パターン生成方法及び装置並びにメモリ試験装置 | |
EP0276794B1 (en) | Data input circuit having latch circuit | |
KR930008042B1 (ko) | 마이크로 콘트롤러 유닛 | |
JPS61210437A (ja) | インサ−キツト・エミユレ−タの制御方法 | |
JPH11282709A (ja) | インサーキットエミュレータ | |
KR100265550B1 (ko) | 버스제어기를갖는데이타프로세서 | |
KR100278429B1 (ko) | 펄스 출력 기능을 가진 마이크로 컴퓨터 | |
JP3605146B2 (ja) | I/oピンエレクトロニクス回路 | |
JPH0391195A (ja) | メモリ回路 | |
JPS61282946A (ja) | プログラマプルコントロ−ラ | |
JPH01239485A (ja) | 大規模集積回路 | |
JPH0776784B2 (ja) | 試験パタ−ン発生器 | |
KR100265424B1 (ko) | 디지탈 펄스폭 신호발생회로 및 그 방법 | |
JPH0617195Y2 (ja) | 楽音発生装置 | |
JP2786033B2 (ja) | 時間測定装置 | |
JPS63166099A (ja) | デ−タ並べ換え回路 | |
JPH10319096A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPS62259145A (ja) | アルゴリズミツク・パタ−ン発生装置 | |
JPH06201795A (ja) | 半導体装置テスト回路 | |
JP2001282324A (ja) | シーケンス制御回路 |