JPS612085A

JPS612085A - アナログｌｓｉテスタ

Info

Publication number: JPS612085A
Application number: JP59123457A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Mihara; 見原　猛
Original assignee: Yokogawa Hokushin Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1984-06-15
Filing date: 1984-06-15
Publication date: 1986-01-08
Anticipated expiration: 2010-08-09
Also published as: JPH0774815B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（技術分野）本発明は、アナログＬＳＩの動作異常を検査するための
アナログＬＳＩテスタに関し、詳しくはアナログＬＳＩ
テスタの計測用モジュールに対しコントロール系からノ
イズが混入しないようにしたデータ転送方式の改良に関
するものである。

（従来技術）従来より、計測用モジュールをディジタル計算機で制御
されるモジュール・コントローラによシ駆動し、このモ
ジュールに接続された被試験アナログＬＳＩに対し、必
要ならば所定のアナログ信号を与え、適宜ＬＳＩの各部
のアナログ信号を計測用モジュールにて測定し、得られ
たデータをディジタルに変換した後ディジタル計算機等
によシ解析し、被試験アナｑグＬＳＩの動作異常を検査
するアナログＬＳＩテスタがある。

このようなＬＳＩテスタにおいては、計測モジュールへ
コントロール系からのノイズが混入しないようにする必
要があり、その−手法として計測モジュールとコントロ
、−ラとの間のデータ転送を光フアイバ経由で行うよう
にしたものがある。この場合のデータ転送には通常シリ
アル転送方式が採られ、市販の同期式、非同期式シリア
ル転送ＬＳＩが用いられる。このシリアル転送ＬＳＩは
、パラレル信号をシリアル信号に変換して出力する並列
・直列変換（ｐｓ変換）機能と、与えられるシリアル信
号をパラレル信号に変換して出力する直列・並列変換（
ｓｐ変換）機能を併有し、第２図に示すような構成で用
いられる。すなわち、一方のシリアル転送ＬＳＩ２００
（２１０）の出力信号は光電変換器（図示せず）、転送
線（光ファイバ）２２０及び相手側の光電変換器（図示
せず）を介して他方のシリアル転送ＬＳＩ２１０（２０
０）に転送される。この場合、各転送ＬＳＩにはＬＳＩ
コントロール用のプロセッサ２０４　、　２１１あるい
はそれに代るシーケンサが必要とされる。

ところで、このようなシステムにおいて、計測モジュー
ル２５０に対し、ＬＳＩコントロール用のプロセラｖ２
０１．　２１１や他のコントロール系がらノイズが混入
するという問題があった。

（発明の目的）本発明は、このような点に鑑み、その目的とするところ
は、コントロール系から計測モジュールへノイズが混入
しないようにしたアナログＬＳＩテスタを提供すること
におる。

（発明の概要）このような目的を達成するために本発明では、被試験ア
ナログＬＳＩに対し必要に応じてアナログ信号を与える
と共にＬＳＩ各部のアナログ信号を測定するだめの計測
モジュールと、この計測モジュールとは光結合となって
いてそのモジュールを制御するためのモジュール・コン
トローラと、モジュール・コントローラを駆動し所定の
テスト動作を行わせ、得られた測定データを適宜に処理
する計算機を備え、被試験アナログＬＳＩの動作解析を
行い得るアナログＬＳＩテスタにおいて、前記モジュー
ル・コントローラと前記計測モジュールはそれぞれイン
タフェースを介してシリアル転送方式で信号の授受がで
きるように構成され、計測モジュール用の前記インタフ
ェースはデータ転送に係る動作期間中のみ作動できるよ
うにモジュール・コントローラによ多制御されるように
構成されたことを特徴とする。

（実施例）以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。第１図は本
発明に係るアナログＬＳＩテスタの特にデータ転送に係
わる部分の一実施例を示す要部構成図である。同図にお
いて、１０はモジュール・コントローフ、２０ｉコント
ローラ・インタフェース、５０はモジュール・インタフ
ェース、４０は計測モジュールである。

モジュール・コントローラ１０は、プロセッサ１１（通
常マイクロプロセッサが用いられる）と発振器１２より
構成てれ、コントローラ・インタフェース２０を制御す
る。プロセッサ１１は図示しない計算機から与えられる
コマンドに応じて所定の計測動作を実行するためにコン
トローラ・インタフェースに対して制御信号やデータの
授受を行う。

コントローラ・インタフェース２０ハ、モジュール・イ
ンタフェース３０に対してデータの授受及びクロックの
供給を行うもので、送信部２１．受信部２２およびシー
ケンサ２３よシ構成されている。

送信部２１は、シーケンサ２３によ多制御され、与えら
れる並列のデジタル信号を直列信号に変換し、更にこれ
を光電変換により光信号に変換して出力する。受信部２
２は、シーケンサ２３によシタイミング制御され、入力
される直列デジタル信号（光信号）を光電変換により光
信号に変換した後この直列の電気信号を並列信号に変換
して出力する。シーケンサ２３は、プロセッサ１１から
与えられる制御信号（ライト、リード及びリセット信号
）に応じて送信部２１．受信部２２を制御する信号を発
生すると共に前記制御信号をコード信号にした上で送信
部２１へ入力し、また、発振器１２から与えられるクロ
ックを光電変換して光信号で出力する。

モジュール・インタフェース３０は、受信部３１゜送信
部３２．シーケンサ３３及びパルス発生器３４より構成
される。受信部３１及び送信部３２はコントローラ・イ
ンタフェース２０の受信部３１及び送信部３２と同−の
構成又は同じ機能を有するものである０シーケンサ３３
ハコントローラ・インタフェース２０からの同期クロッ
クによって作動し、受信部３１及び送信部３２をタイミ
ング制御すると共に、受信部３１で受傷した制御信号の
コードを解釈してパルス発生器５４を制御する。パルス
発生器３４は前記同期クロックに同期し、シーケンサ３
３からの信号にもとづきリード又はライト又はリセット
信号を発生する。

計測モジュール４０は、メモリ（又はレジスタ）４１を
備え、送受データが記憶されるようになっている。この
メモリ４１には、モジュール・インタフェース３０のパ
ルス発生器３４からの制御信号（ライト、リード、リセ
ット）が与えられる。

このような構成における動作を次に説明する。

モジュール・コントローラ１０のプロセッサ１１は計算
機より与えられるコマンドに応じて所定のプログラムを
実行し一つずつシーケンスを実行する。

計測モジュール４０を制御する必要がある時（例えは書
込みの場合）、プロセッサ４からライト信号がシーケン
サ２３に与えられる。シーケンサ２３はライト信号を受
けるとアクノリッジ信号をプロセラｖ４に返す。プロセ
ッサ４はまた、アドレス線１６゜データ線１４を介して
アドレスとデータが送信部２１に送られ、シリアル信号
に変換された後、光ファイバ２４を経由してモジュール
・インタフェース３０の受信部５１に入力される。一方
、コントローラ・インタフェース２０のシーケンサ２３
に入ったライト信号は、送信データの一部として送信部
２１及び光ファイバ２４を介して受信部３１に入る（第
４図の（口島この場合におけるデータ書式は第３図の（
イ）に示すような形式である。なお、第３図の（イ）は
送信データの中に制御命令やアドレスデータを含むデー
タのフォーマ、トを示し、伺図（ロ）は送受信されるデ
ータ（いわゆる単なる数値としてのデータ）のフォーマ
ットを示す。

受信部５１に入ったデータは並列データに変換され（第
４図のに））“ツ゛レス数３５．データ線３６を経由し
て計測モジュール４０のメモリ４１に入る。この七き第
３図（イ）に示されるリセ、ト、リード（１１でリード
、＠Ｏ＠でライト）、コマンドを示すビットはシーケン
サ３３に送られ、ここでその内容が解釈される。シーケ
ンサ３３は、制御信号（第４図の（ハ））が出ている間
過られるクロック（第４図（イ））に同期して、ライト
命令であることをパルス発生器３４部３１の出力で指定
されるメモリアドレスに受信部３１から与えられるデー
タ（第４図のに）のｎ番目確定データ）が書き込まれる
（第４図め（へ））。

−転送が終了するとシーケンサ２３はプロセッサ４に対
してアクノリッジ信号を返して、プロセラｖ４のライト
タイミングを終わらせる。これによシ制御信号が下ち（
第４図の（ハ））、シーケンｔ２３からのクロック出力
は停止する（第４図（イ））。

モジュール・インタフェース５０のシーケンサ３３はク
ロックが入力されている期間だけ作動し、クロックの入
力されない期間には作動しない。シーケンサ３３が作動
しないときはモジュール・インタフェース内の受信部３
１．送信部３２．パルス発生器３４もその動作が停止す
る。

なお、データ読み取りの場合、すなわち計測モジュール
のメモリ４１に格納された測定データを読み出してプロ
セッサ１１に取り込む場合は、インタフェース３０では
送信部５２が、またインタフェース２０では受信部２２
がそれぞれ作動し、上述のライトの場合と同様の動作原
理によシデータ転送が行われる。

また、電源投入時あるいは所望時にシステム全体を初期
化する場合には、モジュール・コントローラのプロセラ
ｖ１１よりリセット信号が出力され、データ書き込みの
場合と同様にしてリセット・コマンドがモジュール・イ
ンタフェース６０へ転送され、パルス発生器３４よシリ
セット信号が出力され、このリセット信号によって計測
モジュールが初期化される。

以上のような動作において、プロセラ＋ｊｊ１１からの
制御信号がアクティブでない期間中は、モジュール・イ
ンタフェースが動作停止の状態になるため、計測モジュ
ールに対しコントロール系からのノイズの混入を防止で
きる。

（発明の効果）以上説明したように、本発明によれば、計測モジュール
にて計測中はモジュール・インタフェースの動作を停止
状態としているため、計測モジュールに対するコントロ
ーラ側からのノイズの回り込みを防止できるアナログＬ
ＳＩテスタを実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るアナログＬＳＩテスタの要部構成
図、第２図は従来のアナログＬＳＩテスタの一例を示す
要部構成図、第３図は転送データ書式を示す図、第４図
は動作を説明するためのタイムチャートである。１０・・・モジュール・コントローラ、１１・・・ブロ
セッケ、１２・・・発振器、２０・・・コントローラ・
インタフェース、　２１．３２・・・送信部、２２．３
１・・・受信部、２５．５５・・・シーケンサ、２４，
２５．２６・・・光ファイバ、３０・・・モジュール−
インタフェース、３４・・・パルス発生器、４０・・・
計測モジュール、４１・・・メモリ。

Claims

【特許請求の範囲】

被試験アナログＬＳＩに対し必要に応じてアナログ信号
を与えると共にＬＳＩ各部のアナログ信号を測定するた
めの計測モジュールと、この計測モジュールとは光結合
となっていてそのモジュールを制御するためのモジュー
ル・コントローラと、モジュール・コントローラを駆動
し所定のテスト動作を行わせ、得られた測定データを適
宜に処理する計算機を備え、被試験アナログＬＳＩの動
作解析を行い得るアナログＬＳＩテスタにおいて、前記
モジュール・コントローラと前記計測モジュールはそれ
ぞれインタフェースを介してシリアル転送方式で信号の
授受ができるように構成され、計測モジュール用の前記
インタフェースはデータ転送に係る動作期間中のみ作動
できるようにモジュール・コントローラにより制御され
るように構成されたことを特徴とするアナログＬＳＩテ
スタ。