JPS6118844A - 硬貨の汚れ検知装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、銀行等の金融機関、スーパーマーケットＪ３
よび百貨店などで使用される硬貨の計数機、選別Ｊ１数
機、入出金（幾等の硬貨処理機、或ｔｚＮ　ｔ、ｉ自動
釣銭補給式の自動販売機などにおりる硬貨表面の汚れを
検知する硬貨等円形物１本の汚れ検知）（置に関する。

〔従来の技術〕

銀行等の金融機関、まＩこはソーパーン−９ツトおよび
百貨店において紙幣１ｂ硬貨を払出り−とぎ。

余り汚れた紙幣や硬貨を渡すと顧客に対しで印象を悲く
することになるので、できるだり汚れていないきれいな
紙幣や硬貨を渡づ−ようにしくいる。

この汚れた紙幣や硬貨の選別（，１、紙幣に゛ついて′
は汚損判別を自動的に判別して選別する装Ｋが開発され
ているが、硬貨については子しめ係員が手作業で汚れて
いる硬貨と、汚れていない硬貨を口で判別して選別して
いた。

〔発明が解決しようとする問題５；ユ〕上述のように従
来は汚れ硬貨を自動的に検出することができず、係員に
より汚れ硬貨を選別していたので、手間および時間がか
かり、また、係ｄによって汚れ判断のばらつきがあると
いう問題があった。

本発明はこのような問題点に鑑みなされたもので、Ｙ　
ｕＥの汚れを自動的かつ均一的に判別することがてさる
硬貨等円形物体の汚れ検知装置を提供づることを目的と
するものである。

（問題点を解決するための手段〕 本発明は、搬送される硬貨等円形物体Ｃの表面に対しッ
で光を照射するとともに反射する光を受光し硬貨等円形
物体Ｃからの反射光Ｗを検出する光学検出部２を設け、
かつ、この光学検出部２の近傍に搬送される硬貨等円形
物体Ｃの材質を磁気的に検出りる材質検出部３を設け、
この材質検出部３により検出された磁気信号の所定のゾ
ーン内で予しめ定められた汚れ判定レベルと上記光学検
出部２で検出した反則光量とを比較する判定部としての
例えば中央処理装置３１をｑえた硬貨等円形物イ木の汚
れ検出装置である。

（作用） 光学検出部により検出した硬貨等円形物体の反０’ｌ光
吊と、（４質検出部により検出された磁気信号の所定の
ゾーン内で予じめ定められた汚れ判定レベルとを判定部
によって比較づ−るものである。

〔実施例〕

次に本発明の実施例の構成を図面を参照して説明する。

第１図ａ３よび第２図にｄ３いて、１は例えば硬Ｌ１計
数機、選別計数機および入出金機等の硬貨処理機の硬貨
Ｃが搬送される硬貨通路で、この硬貨通路１上に光学検
出部２および材質検出部３とが硬貨Ｃの搬送方向順にそ
れぞれ設けられている。この光学検出部２は一端から入
用した光を他端の発光端５ａから照射する発光用光ファ
イバー５と、この発光用光ファイバー５の照射した光の
反射光を一端の受光端６ａから受光し他端から放！Ｊ１
する受光用光ファイバー６とを有し、これらの発光ａ３
よび受光用晃ファイバー５，６は複数本−・体向に束ね
られその発光端５ａおよび受光端６ａの各端面を面一・
に合せて矩形枠状の支持枠７に納め、第３図に示すよう
な検出部゛８を構成づ−る。この検出面８１ま受光用光
ファイバー６が支持枠７内の略全体に配置されるのに対
して、発光用光フッフィバ−５は所定間隔毎に数列に配
列され（発光用光ファイバー５は太、線にて示す）、か
つ、この、検出面８には透明（及９が密着固定されてい
る。また、この検出面８が臨む上記硬貨通路１上には発
光用光ファイバー５から照甲される光が通過づる挿通孔
１０が開口形成されている。また、上記材質検出部３は
磁気センサ１１をイｊし、この磁気センサ１１は上記１
ｆＪ！ξ宵通路］に搬送される硬貨Ｃの表裏面を挾むよ
うに略コ字状に設けられ、この磁気センサ１１の磁気出
力に、Ｊ、り磁気識別部１２から磁気信号を出ツノして
、後述りる中央処理装置３１は汚れ検出ゾーンとダスト
検出ゾーンを決定し、また、この磁気信号に基づき、金
種識別し行なって後述するランダムアクセスメ七り３３
の磁気金種メモリＭＤＭに金種信号を記憶さ［！−（指
示された金種との照合を行なう。

上記発光用光ファイバー５の発光端５ａに対する他端に
Ｃ３Ｌ光光手段１５が接続され、この発光手段１５は例
えば７０００　Ｌｘ程度の照度を持つ小型の発光ランプ
１６と、この発光ランプ１６を点灯させる発光回路１７
とからなっている。

上記受光用光ファイバー６の受光端６ａに対Ｊる他端に
は受光手段１８が接続され、この受光手段１８は検出用
受光センサ１９にＪ：り受光用光ファイバー６から放射
される反射光量を検出して、検出用受光回路２０により
電圧レベル信号を出力し、この検出されたアナログ電圧
値を△／Ｄ−１ンバータ２１にて１６進のディジタル値
に変換し受光信号を出力する。

また、上記発光ランプ１６と発〉に周光〕１イバー５ど
の間には赤外カットフィルタ２２が介在され、発光ラン
プ１６から放射される光のうち赤外光以上の波長（例え
ば７００ｎｍ以上の波長）の光をカットして、上記受光
センサ１９に対し硬貨Ｃの表面の汚れ具合によって反射
光量の変化が出易い波長の光のみを通過させる。また、
上記受光センサ１９と受光用光フッフィバ−６との間に
＋、Ｌ−（工［」−フィルタ２３が介在され、受光用光
ノアイバー６を仏シ９してきた反射光のうち黄色系の光
以下の波長（例えば５０００ｍ以下の波長）の光をカッ
トし、硬貨Ｃの汚れが検出し易い反射光のみを受光セン
リー１９に通過さゼる。

また、上記発光手段１５には発光用光ファイバー５とと
ムにモニター用光ファイバー２４の−・端が接続され、
このモニター用光ファイバー２４の他端に（よモニター
用受光手段２５が接続されている。このモニター用受光
手段２５は上記発光ランプ１６が正常に発光しているか
否かを判定するため発光ランプ１６の光量を検出するも
ので、上記受光手段１８と同様にモニター用光ファイバ
ー２４を伝導してきた光をイー［［］−フィルタ２６を
通してモニター用受光センリ２７で検出し、モニター用
受光回路２８から出力される電圧レベル信号をＡ／Ｄコ
ンバーク２９でディジタル値に変換し、モニター受光信
号を出力する。

次に、３１は中央処理装置（以下ＣＰＵと呼ぶ）−Ｃ１
このＣＰＵ３１はリード副ンメモリ３２（以下ＲＯＭと
呼ぶ）に記憶されているプログラムに従って硬貨処理し
１を制御するとともに、硬貨Ｃの汚れ具合を判定づ−る
判定部どして機能する。このＣＰＵ３１は上記発光回路
１７を制御して発光ランプ１６を点灯制御し、また、こ
のｃ　ｐ　Ｕ　３１に上記磁気識別部１２から磁気信号
および上記Δ／　Ｄ　ｌンバータ２１゜２９から各受光
信号がぞれぞれ入ノｊされる。また、ＣＰ　Ｕ　３１に
はランダムアクレスメ士り３３（」ス下ＲＡＭと呼ぶ）
、硬貨処理部３４、表示部３５どが接続され、ＲＡＭ３
３は少なくとも第４図に示ヅような各・種のフラグ、メ
モリ、カウンターをイｊし、硬貨処理部３４は上記硬貨
通路１に硬貨Ｃを１枚ずつ搬送し、表示部３５は少なく
とも汚れ・塵埃イ・」ル・光量不足等の異常時の表示を
行ない、ざらに、硬貨１）１数枚数表示・金種別選別機
能を右づる場合（よ金種別枚数等の表示も行なう。また
、正常硬貨と汚れ硬貨とを分けてぞれぞれ枚数を表示さ
μｍ（ムよい。

次に本実施例の各検出作用について説明りる。

第５図において、磁気識別部１２ｆ）＋ｌろＣＰＵ３１
に入力された磁気信号はａ−ｂ−ｃ・（」のＪｌ’ζ：
に分りられてａ＜−）６間を汚れ検出ゾーン、Ｃ〈→ｄ
　囲をダスト検出ゾーンとしている。この各ゾーンを決
定するａ−ｂ　−ｃ　−ｄのレベルは金種ｆ７ｊに異な
り、これを下記の表１のゾーン判定表に示す。

（以下次頁） 表１ そして、汚れ検出ゾーンのａレベル（例えば１０円貨の
場合は５レベル）に磁気信号が達すると、このａレベル
の１゛１に対−リ−る受光手段１８からの受光信号の×
１のレベルを検出し、さらにこの×１のレベルを検出し
たのちｔ２に対するＸ２　、ｔ３に対４るＸ３というよ
うに磁気信跡がｂレベル（例えば１０円貨の場合１２レ
ベル）に達するまで所定口４間間隔で受光信号の数個所
のレベルを検出する。そして、これらの受光信号の検出
レベル（ま検出釦に予じめ設定されている汚れ判定レベ
ルとＣＰｔＪ３１により比較し、硬貨Ｃの汚れ具合を判
定づ−る４、この汚れ判定レベルを下記の表２の汚れ判
定表に示す。

く以下次頁） 表２ 上記表２において、汚れ判定レベル【、１金種毎にシビ
アレベル、ノーマルレベル、ルーズレベルとに分けられ
、各レベルＧ、ｊ２１／１００００枚、５／１００００
枚、１／１００００枚を検出する程度のレベルに設定さ
れている。また、フリーでは全金種Ｃレベルに設定され
硬貨Ｃの汚れ判別を行なわないようになっている。

また、磁気信号がダスト検出ゾーンのＣレベル（例えば
１０円貨の場合１６レベル）に達すると、このＣレベル
のｔ！、に対する受光信号の×４のレベルを検出し、ざ
らにｔ６に対して×５というように磁気信号がｄレベル
（１０円貨の場合７レベル）に達ツーるまで所定時間間
隔で数個所のレベルを検出する。このとき、硬貨Ｃはｇ
！貨連通路１上流にある光学検出部２を通過し又しよっ
ているので、発光用光ファイバー５にて照射された光は
硬貨通路１の挿通孔１０ｈ口ら通り抜けてしまい、受光
用光ファイバー６に入用されるのは透明板９にて反Ｑｙ
ｌ　ｌ、た極く僅かの反射光のみとなる。従って、第６
図に示づ′ように、硬貨Ｃの搬送に伴って透明板９の表
面に金属粉等の塵埃が（ｔ　’ｊ’ｉ　Ｌ／ているどさ
には、この塵埃により反射光量が増加しＣ受光ｆ−号の
レベルが上がする。この受光イ５０のレベルど予じめ定
められている塵埃イ」石判定レベルとを比較し、塵埃の
４４着を判定づる。

まＩｃ、所定時間以上硬貨Ｃの搬送が途切れると発光ラ
ンプ１６の光量をモニター用受光手段２５　／ｆｉ検出
し、このモニター受光手段２５からのモーター受光信号
と予じめ定められている光子判定レベルとを比較して発
光ラン・ブ１Ｇの異常を判定する。

次にＣＰ　Ｕ　３１による′制御を第７図の７１−１−
ヂＶ−１−により説明する。

図示していない金種ボタンにより処理リベき硬貨の金種
を指示入ノ」Ｊると、指定された金種の汚れ検出ゾーン
とダスト検出ゾーンのａ−ｂ−ｃ・ｄレベルの値が第４
図に示’ｌ’ＲＡＭ３３のゾーンメモリに記憶され、ま
た、汚れ判定レベルが選択されるーとその数値（例えば
１０円貨のノーマルレベルの場合０．５０の値）がＲＡ
Ｍ３３の汚れレベルメモリＤＬＭに記憶される（ステッ
プ■）。でして、硬貨処理部３４の作動により硬貨通路
１に硬貨Ｃが１枚ずつ搬送され（ステップ■）、この硬
貨Ｃが光学検出部２および磁気センサ１１下に達して磁
気検出部１２からの磁気イハ号のレベルＭ　Ｌが８５Ｍ
　Ｌ≦ｂ（上記表１のａレベルからｂレベル）の範囲に
入ると（ステップ■）、直ちに受光手段１８からの受光
信号のレベルと上記ＲＡＭ３３の汚れレベルメモリＤＬ
Ｍに記憶されている汚れ判定レベルどの比較が行なやれ
（ステップ■）、受光信号のレベルが低く、汚れと判定
されればＲＡＭ３３の）りれフラグＩＩ）ＦＬＧをオン
にセットしくステップ■）、所定部間（例えば１ｍ５ｅ
ｃ）遅延した後に（スラーツブ■）、ステップ■に戻っ
てＭＬ＞ｂに軒るまで数回の汚れ判定を行なう。そして
、ステップ■で磁気信号のレベルＭＬがａ≦ＭＬ≦ｂの
範囲から外れるとＲＡＭ３３の汚れフラグＤＦＬＧがオ
ン状態にあるか判定され（ステップ■）、オン状態であ
れば汚れ硬貨として表示部３５で汚れ表示もしくは汚れ
アラーム表示を行なうとともに、硬貨処理部３４を即時
に停止させろくステップ■）。

このとぎ、その検出された汚ね硬貨を図示しないストッ
パーによって硬貨通路１１−に停止さＵるようにして係
員により確認し取除いた後に再ひステップ■から処理を
再開Ｊ−る。

また、ステップ■で受光信号のレベルが汚れ判定レベル
より高く正常硬貨と判定されるとＲＡＭ３３の正常フラ
グＮＦＬＧをオンにレッドするとともに、汚れフラグＤ
ＦＬＧがオン状態にあるときにはオフに、リレン１〜づ
−る。そして、磁気信号のレベルＭ［がｄ≦ＭＬ≦Ｃ（
上記表１のｄレベルからＣレベル）の範囲に入ると（ス
テップ［相］）、直ちに受光信号のレベルと塵埃付６刊
定レベルどの比較が行なわれ（ステップ■）、受光信号
の１ノベルが高く、検出部８に塵埃が付着しくいると判
定されるとＲＡＭ３３のゲス１〜カウンターＤ　ＣＯに
＋１を加えくステップｏ）、このタ′ストカウンターＤ
ＣＯの計数が１００回を越えていな（プれば所定時間（
例えば１　ｍｍ５ｅｃ　）　ｌ延した後にステップ［株
］に戻る（ステップ０■）。また、ラス１〜′ｈウンク
−’　ｏ　ｃ　ｏの計数が１００回を越えるとＲＡＭ３
３のシス１〜ノツクＤ　Ａ　Ｇをオン）こレツ１へする
とどもに表示部３５にで検出部８のクリーニング要の表
示を？ｒ′Ｊない（スーｊツブ■）、硬貨処理部３４を
即時に停止さＵる（ステップ（ゆ）。また、ステップ■
で塵」り：のイ・」γ１が検出ざねな（）ればゲス１〜
カウンターＤＣＯをＯにクリソ′−りるどどもにダスト
・フラグＤ△Ｇをオフにリレン１−シ（ステップｏ）、
所定時間′！Ｙ延後スｉツ１［相］に戻り、Ｍ　ｌ−＜
　ｄになるまでＩ’！　１５：　（・する’Ｉ’ｌｌ定
を行なう。なお、ゲス１〜カウンターＤ　ＣＯ（Ｊ映山
処理旬や電源のオン・Ａ〕毎にリレ・・ノドされるしの
でｔ、Ｌなく絶えずｄ１数記位して（１３す、塵宏［・
ｊ？１１が（り）出されなかったときにリレン１−され
る。ぞしく、磁気信翼のレベルＭＬがＭＬ＜（ｊとイＪ
−ると１個の硬貨Ｃの汚れ判定が終了（〕たことにイｆ
す、正８＋：ｉフラグＮＦＬＧをオフにリレン１へして
ス１ツブ（Φに戻り次の硬ＣＣの汚れ判定に待期−４−
る（ステップＯＯ）。□ ８１、た、硬貨通路１に所定時間（例えば５ｓｅｃ）Ｊ
ス十１四貨Ｃの１狼送が途切れると（ステップ［相］〉
、発光ランプ１Ｇの光量をモニター用発光手段２５が検
出し、このモニター用発光手段２５からの［ニター受光
信号のレベルと光量判定レベルとを比較しくステップ■
）、光量不足と判定されれｌ、ｆランプ異常フラグＬ　
Ｆ　Ｌ　Ｇをオンにヒツト−ｊＪるどどしに、表示部３
５でランプ異常の表示を１１Ｇい、硬貨処理部３４を即
時に停■ざＵる（ステップ＠＠＠）。

なお、汚れ硬貨を検出すると直しに硬貨処理部を停止さ
せるようにしたが、汚れ硬Ｌ°ｊを正７１；　ｈ硬貨と
は別の所に排除さけるようにしても、Ｊ、く、例えば循
環式硬貨人出機では汚れ硬（ｑ　Ｔ、９用の収納部へＪ
ＪＩ除して再度出金に使用しない、１、〕にし、Ｉ？、
Ｆ　４’？道別Ｋｉ数機では汚れ硬貨のみをｊＬ常な硬
Ｌうの金（・「選別と１．１別に選別収納さけるよ〜〕
にしＣしよい。

また、光学検出部２からの光の照射範囲は第１図および
第２図の如（硬貨Ｃの一部分のみてあったが、硬貨Ｃの
全体を照Ｑｊ　Ｌで検出を行なつ−Ｃもよい。

また、硬貨Ｃの汚れ判定について、１回でも正常であれ
ｉＪその硬貨Ｃは汚れていないと刊断したが、ａ≦ＭＬ
≦ｂの間で何回か判定を行ｌＪ′い、）すれと判ｔＪｌ
ｉされた回数が正常と判断された回数より多りれば汚れ
ていると判断されてもよい。

、１、た、ａ　−ｂ　−ｃ　−ｄの各タイミングを磁気
信号のレベルから判断したが、光学的手段によって搬送
される硬貨Ｃを検知してタイミング信号を牛成りるよう
にしてもよい。

まｌこ、汚れを判定する硬貨Ｃの金種は金種ボタンに」
、−）Ｃ指示されるようにしたが、硬貨ｔ１数選別機な
どでは磁気的手段や光学的手段によって自動的に金種を
判別して汚れ検出ゾーン、ダス］〜検出ゾーンの８埴を
硬ｆ、’ｉ　／＋＜　１枚搬送される毎にゾーンメモリ
に記憶させて、連続的に送られてくる硬７、！ｊ　Ｃに
ついて判定でるようにしてもよい。

’ｊ　ｉｌ”ｉ、上記実施例では検出面８の構成を支持
枠７内の略全体に配置される受光用光ファイバー６に夕
・１して発光用光ファイバー５を所定間隅角に数列に配
列させていたが、第８図および第９図に示ｔ　にうに（
発光用光ファイバー５は太線にて示す入発光用光ファイ
バー５を何重かの多角形状の輪に配列したり、放〔ト」
状に配列してもよく、さらには均一゛分散させて配列し
てムよい。Ｊ、た、この検出面８は正方形であるが円形
でもＪ、く、この場合には発光用光ファイバー５の配列
（，１１司・Ｆか（１＝環状に配列して構成してもよい
。

また、上記実施例では発光Ｊ５よび受光用光ノアイバ−
５，６を−イホに束ねて支１７１枠７に納めていたが、
第１０図に示すように、発光用光ファイバー５と受光用
光ファイバー６とを分（Ｊて支１′１枠７ｉ＋に一体的
に納め、その発光端５　ａ　Ｊ３よび受光端６ａとを所
定角度対向させて発光！’＃１　、’ｌ　ｉｌから照則
さｈ硬Ｌ“７Ｃにて反則した光を受光端６ａで受）℃さ
せるようにしてもよい。

〔発明の効果） 本発明によれば、光学検出部により検出（、た硬貨等円
形物体の反射光量と祠貿検出部により検出された磁気信
号の所定のゾーン内Ｃ゛予しめ定められた汚れ判定レベ
ルとを判定部に（比較りることにより、硬貨等円形物体
の汚れを自動的に判別１）ることができ、そのことによ
り、係Ｃ４の手間を？’；（）、均一的に汚れ硬貨等円
形物１本の選別をりることがでさるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置の実施例を示づ一概要図、第２図
はその要部の斜視図、ｍ３図（よその検出面の構成図、
９１４図はそのランダムアクセスメモリの内容を示す説
明図、第５図は（の呂信号の波形図、第６図はその要部
のｍ断面図、第７図はそのフローヂｐ−ｌ−図、第８図
および第９図は本発明の装置の検出面の変形例を示づ゛
構成図、第１０図は本発明の装置の光学検出部の変形例
を示り′縦断面図である。 ２・・光学検出部、３・・材質検出部、３１・・判定部
どしての中央処理装置、Ｃ・・砂貨笠円形１勿（４−ど
じ−Ｃのｉ四り行。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）搬送される硬貨等円形物体の表面に対し光を照射
   するとともに反射する光を受光し硬貨等円形物体からの
   反射光量を検出する光学検出部と、この光学検出部の近
   傍に設けられ搬送される硬貨等円形物体の材質を磁気的
   に検出する材質検出部と、この材質検出部により検出さ
   れた磁気信号の所定のゾーン内で予じめ定められた汚れ
   判定レベルと上記光学検出部で検出した反射光量とを比
   較して硬貨等円形物体の汚れを検出する判定部とを具備
   したことを特徴とする硬貨等円形物体の汚れ検知装置。