JP2006268482A - 硬貨識別装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 硬貨表面に光を照射する照射手段と、前記光の硬貨表面からの正反射光を受光する第1の受光手段と、前記光の硬貨表面からの拡散反射光を受光する第2の受光手段と、前記第1の受光手段からの前記正反射光の受光信号及び前記第2の受光手段からの前記拡散反射光の受光信号に基づいて、識別硬貨の硬貨表面の汚損を識別する制御手段とを備える。
【選択図】図2
Description
<センサ信号の種類>
汚損検出センサ30のセンサ信号は、次の8種類の信号がある。
(1)硬貨通過時における上面正反射センサ32の受光信号(以下「上面正反射信号DS1」と呼ぶ)
(2)硬貨通過時における上面拡散反射センサ33の受光信号(以下「上面拡散反射信号DS2」と呼ぶ)
(3)上面モニタセンサ34の受光信号(以下「上面モニタ信号DS3」と呼ぶ)
(4)硬貨無し時(例えば計数動作の開始時)に上側の赤外LEDから発光して通路部30cを透過した光の下面正反射センサ32での受光信号(以下「上側発光下側透過信号DS4」と呼ぶ)
(5)下面正反射センサ32の硬貨通過時の正反射光受光信号(以下「下面正反射信号DS5」と呼ぶ)
(6)下面拡散反射センサ33の硬貨通過時の拡散反射光受光信号(以下「下面拡散反射信号DS6」と呼ぶ)
(7)下面モニタセンサ34の受光信号(以下「下面モニタ信号DS7」と呼ぶ)
(8)硬貨無し時(例えば計数動作の開始時)に下側の赤外LEDから発光して通路部30cを透過した光の上面正反射センサ32での受光信号(以下「下側発光上側透過信号DS8」と呼ぶ)
上記(1)の上面正反射信号DS1と上記(8)の下側発光上側透過信号DS8、上記(5)の下面正反射信号DS5と上記(4)の上側発光下側透過信号DS4は、それぞれ物理的には同一の受光センサであるが、発光源及び光路が異なることで2種類のセンサ機能を有することになる。
<各センサ信号の用途>
上面正反射信号DS1と上面拡散反射信号DS2は、硬貨上面の汚損判定用のセンサ信号として使用される他に、汚損判定用データ(上面正反射センサ及び上面拡散反射センサの受光出力)の補正用のセンサ信号としても使用される。上面モニタ信号DS3は、上側赤外LEDの光量調整用(発光強度の補正用)のセンサ信号として使用される。上側発光下側透過信号DS4は、硬貨通路(透光性通路部)の汚れ検出用、及び汚損判定用データの補正用(透光性通路部の汚れに伴う受光出力低下の補正用)のセンサ信号として使用される。また、その他に、硬貨進入/脱出タイミングの取得用としても使用される。例えば、上流側の硬貨識別センサから硬貨到来通知を受信してから硬貨進入までの時間を監視し、規定時間内に硬貨進入(硬貨による光の遮断)が検知されない場合は、硬貨の流動不良と判定し、上位(メイン識別部又は硬貨処理機本体)に当該コードを送信する。さらに、硬貨進入検知から脱出検知までの時間についても同様に監視して、汚損検出センサ内の通路部での硬貨の流動不良の有無を検出するというように、上側発光下側透過信号DS4は、ゴミ屑や液体の混入等による硬貨流動不良などの異常検出用としても利用される。
ガラス汚れ率1=下透過データ/基準下透過データ
ガラス汚れ率2=上透過データ/基準上透過データ
なお、上記ステップS3において、「ガラス汚れ率」の代わりに「透過出力低下量率」を算出する形態としても良い。ここで言う「透過出力低下量率」とは、(a)上側発光下側透過信号DS4の受光出力の低下量の割合(基準値に対する実測値の割合)、即ち、硬貨が存在しない状態で、上側の赤外LEDから発光され、通路部30cを透過した赤外光の下面正反射センサ(対向側の受光センサ)での受光信号の低下率、又は、(b)下側発光上側透過信号DS8の受光出力の低下量の割合(基準値に対する実測値の割合)、即ち、硬貨が存在しない状態で、下側の赤外LEDから発光され、通路部30cを透過した赤外光の上面正反射センサ32での受光信号の低下率のことを言う。
判定データ=(正反射データ+拡散反射データ)*(ガラス汚れ修正値/K)
判定データ=(正反射データ+拡散反射データ)*(ガラス汚れ修正値/K)/
((1−α)+α*ガラス汚れ率1+(1−β)+β*ガラス汚れ率2)
ここで、上記数3、数4における「K」は、判定データの補正量の基準値(定数)であり、本例ではK=128としている。また、上記数3、数4における「ガラス汚れ修正値(初期値=K)」は、汚損貨のカウント値に応じて変化させる変数である(後述する「計数後」の処理を参照)。また、上記数4における「α」,「β」は金種による固有値である。
判定データ=(正反射データ+拡散反射データ)/(1−透過出力低下量率
*汚損判定率)
ここで、上記数5における「汚損判定率(初期値=1)」は、汚損貨のカウント値に応じて変化させる変数である(後述する「計数後」の処理を参照)。
上ガラス汚れ修正値=上ガラス汚れ修正値+1
下ガラス汚れ修正値=下ガラス汚れ修正値−1
下ガラス汚れ修正値=下ガラス汚れ修正値+1
上ガラス汚れ修正値=上ガラス汚れ修正値−1
一方、第2実施形態の場合には、前記数5で用いる「汚損判定率」を例えば次の数10及び数11により補正する。
上汚損判定率=上汚損枚数/(上汚損枚数+下汚損枚数)
下汚損判定率=下汚損枚数/(上汚損枚数+下汚損枚数)
そして、前記数6及び数7、又は前記数8及び数9により上下面の「ガラス汚れ修正」を算出、あるいは前記数10及び数11により上下面の「汚損判定率」を算出して記憶した後(ステップS22)、汚損貨のカウント値(枚数)をクリアし(ステップS23)、当該硬貨の計数後の動作を終了する。
2 硬貨
10 硬貨識別センサ
11 イメージセンサ
12 磁気センサ
13 タイミングセンサ
20 メイン識別部
21 基本モジュール
22 制御モジュール
30 汚損検出センサ
30a 上面汚損センサモジュール
30b 下面汚損センサモジュール
30c 通路部
30d 制御手段
31 照射手段(赤外LED)
32 第1の受光手段(正反射センサ)
33 第2の受光手段(拡散反射センサ)
34 光量監視手段(モニタセンサ)
35 光路変換手段(ハーフミラー)
Claims (3)
- 識別硬貨の硬貨表面に光を照射する照射手段と、前記光の硬貨表面からの正反射光を受光する第1の受光手段と、前記光の硬貨表面からの拡散反射光を受光する第2の受光手段と、前記第1の受光手段からの前記正反射光の受光信号及び前記第2の受光手段からの前記拡散反射光の受光信号に基づいて、前記識別硬貨の硬貨表面の汚損を識別する制御手段とを備えたことを特徴とする硬貨識別装置。
- 前記識別硬貨の硬貨表面に照射される光がスポット光である請求項1に記載の硬貨識別装置。
- 前記照射手段、及び前記第1、第2の受光手段は、硬貨識別用の磁気センサ又はイメージセンサが設けられている硬貨通路の下流側に配置され、前記制御手段は、前記磁気センサ又は前記イメージセンサからの金種情報、及び金種毎の汚損判定基準情報に基づいて、前記識別硬貨の硬貨表面の汚損を識別することを特徴とする請求項1又は2に記載の硬貨識別装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005086174A JP2006268482A (ja) | 2005-03-24 | 2005-03-24 | 硬貨識別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005086174A JP2006268482A (ja) | 2005-03-24 | 2005-03-24 | 硬貨識別装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006268482A true JP2006268482A (ja) | 2006-10-05 |
Family
ID=37204380
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2005086174A Pending JP2006268482A (ja) | 2005-03-24 | 2005-03-24 | 硬貨識別装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2006268482A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012238165A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Laurel Precision Machines Co Ltd | 貨幣入出金機 |
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2005
- 2005-03-24 JP JP2005086174A patent/JP2006268482A/ja active Pending
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