JPS61187351A - ヒートパイプを統合した電力用半導体モジユール - Google Patents

ヒートパイプを統合した電力用半導体モジユール

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JPS61187351A
JPS61187351A JP61028049A JP2804986A JPS61187351A JP S61187351 A JPS61187351 A JP S61187351A JP 61028049 A JP61028049 A JP 61028049A JP 2804986 A JP2804986 A JP 2804986A JP S61187351 A JPS61187351 A JP S61187351A
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semiconductor module
heat
heat pipe
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アルノ・ナイデイヒ
ハンス・ゲオルグ・ベスヨハン
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BBC Brown Boveri AG Germany
BBC Brown Boveri France SA
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Brown Boveri und Cie AG Germany
BBC Brown Boveri France SA
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属化、セラミック取付板上の少くとも1個
の電力用半導体部品と、電力用半導体部品から放出され
る熱を電力用半導体部品の底面に比べて大き々ヒート/
4イプ凝縮区域の面に分配するために、電力用半導体化
モジュールに統合された少くとも1個のヒート・臂イデ
を有する電力用半導体モジュールに関する。このモジー
−ルは、基板として用いられるセラミックペースの上に
電気的に絶縁してはんだ付は技術を用いて組立てた電力
用半導体を有している。
〔従来の技術〕
上記の電力用半導体モジュールは西独特許出願公開第3
402003号明細書により公知である。
上記明細書では電力用半導体部品の損失熱をより大きな
ベース面に分配すると共に、電気的に絶縁されたペース
を介して電力用半導体部品から冷却面への熱輸送を改善
するために、ヒート/9イブをモジュールに統合するこ
とが提案される。この公開明細書によって公知の例では
、すべてヒートバイブをペースの金属被覆の内側に結合
され、この場合ヒートバイブに対して比較的小さな蒸気
室が設けられるのにすぎないため、熱輸送能力が比較的
限られている。またここに開示されている微細な毛細管
構造の製造は必ずしも容易でない。
十分の大きい蒸発室を有するヒート/4イブを備えた電
力用半導体モジュールは英国特許第2039416号に
より公知である。その例は第2図に示されている。第2
図の例では、空所、すなわち蒸気室を有するセラミック
ペースがヒート/4イブとして用いられ、この場合には
、半導体部品からセラミック層を経て蒸気室に至る熱輸
送が必要である。半導体部品とヒートバイブの蒸気室の
間に良好な熱結合が形成されていることは第5図の実施
例で明らかである。この実施例ではセラミックに穴が設
けられ、そこに半導体部品が挿着され、こうしてヒート
/4イブの蒸気室との直接接触が行なわれる。しかしこ
の設計も幾つかの難点があり、特に問題となるのは寿命
が短かいということである。ペースと作動液と半導体部
品の結合のための前述の手段では、例えば短時間で腐食
しない材料の組合せを見出すことは不可能でちるし、ま
たヒートツタイブの末端への熱輸送に於て、良好な熱拡
散が実現できない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
この先行技術から出発してこの発明が解決しようとする
問題点は、ヒートパイプの大きな蒸気室を有するととも
に、簡単に製造でき、又腐食に対して高い耐久性を有す
るヒート・譬イブを統合した電力用半導体モジュールを
提供することである。
〔問題点を解決する手段〕
上記問題点の解決は、前述の電力用半導体モジュールに
おいて、両面に金属被覆を設けられたセラミックから成
る熱伝導良好な取付板を設け、枠を介して基板と気密に
結合させて、ヒートパイプの蒸気室を構成し、かつ基板
が電力用半導体部品又は間挿された補償円板の下の区域
に開口するように形成することによりて達成される。
〔発明の効果〕
本発明の効果は、とりわけヒート・クイプを統合した電
力用半導体モジュールを市販の部材すなわちセラミック
ペースを組立てることによりて簡単に製造することがで
き、かつモジュールをヒートパイプを有し危いモジュー
ルと同様に容易に取扱えることにある。作動液と接触す
るヒートパイプのすべての部材はセラミック又・は銅で
製造され、若しくは鋼で被覆できるので、腐食の発生は
防止される。好ましい実施例に於ては、毛細管構造を設
けることによって、任意の取付は長さのモジュールを使
用することができる。セラミックと銅部材の間又は鋼面
相互の間に必要な勝れた気密結合は、いわゆる直接ボン
ディングによって達成される。又別の好適な実施例に示
すように、ヒート・臂イブの加熱部の良好な熱分配を得
るために、特別のヒータを設けることができる。
その他の利点は後記する実施例の#J1.aAによりて
明らかである。
〔実施例〕
次に図面を参照しつつ本発明の実施例を述べるが、その
前に本発明が使用しているヒート/9イブ一般について
説明する・ ヒート・4イブは公知であり、例えばBBCナハリヒテ
ン(BBCNachriehtsn ) 1966年2
06カいし211頁に記載されている。それは液体で一
部充填された密室から成る。壁体の材料と液体の種類は
、ヒートパイプを使用する温度範囲に太いに関係して定
められる。ヒート・平イデの一方の部位(加熱部)に熱
が供給されると液体が蒸発し、蒸気が内室全体に分配さ
れる。この蒸気は熱シンクに移動して凝縮して液体(作
動液)とtす、その除熱を放出する。作動液は加熱部に
戻されねば々らない。高温部が下に、熱シンクが上にあ
るようにヒートパイプを配列すれば、作動液の戻しは重
力によりて行われる。
しかし毛細管作用を用いて作動液の戻しを行うこともで
きる。そのために内面に条溝、網状構造又は多孔質材料
で形成された部材が用いられる。ヒート・9イブは熱を
熱源から離隔位置に設けられた大きな面積を有する熱シ
ンクに、僅かの温度差を利用して輸送できるという長所
を有する。一般にヒートツクイブに設けられる空所は、
通常考えられる円筒形でなくてよく、従ってヒート/9
イブはほとんど任意の形状に設計することができる。
電力用半導体モジュールは特定の取付は位置、例えば配
電盤の垂直壁で使用されることが多い。
このような場合には第1図に示すように、重力式ヒート
/4イブを備えた電力用半導体モジュールを使用するこ
とができる。
第1図は通常、図示しないプラスチックケースを具備し
、熱シンクとしての冷却体2の上に取付けた電力用半導
体モジュール1を示す。接続部材3、電力用半導体部品
4、場合によってはその他の図示しない部品が基板5の
上にはんだ付けされている。基板5は金属被覆したセラ
ミック板である。基板5は特別に熱伝導が良くなくても
よいので、純度の低い、例えばAt203分96%以下
の厚さ約1ないし2■のAt203セラミツクで製造す
ることが好ましい。基板5は装着部品に臨む上面に1例
えば層厚0.3ないし0、5 vmで所望の配線に対応
する構造の銅の金属被覆層を付与されている。基板5は
特に熱伝導良好でなくてよいので、比較的厚い鋼層すな
わち構造を形成した金属被覆層6を着持する比較的厚い
セラミック板から成ることができる。このことは流れが
強い場合に特に有利である1表ぜなら基板5の上面に設
けられた金属被覆層6が流れの流路となるからである。
電力用半導体部品4は基板5の金属被覆層6に直接はん
だ付けされないで、通常はスペーサとして、又補償円板
7.1及び7.2としてモリブデン円板が用いられる。
上側の補償円板7.2は陰極接続端子8を担持し、r−
)接続端子9の区域に穴を有する。下側の補償円板7゜
1は基板5の開口10を蔽っている。1個又は複数個の
開口10が基板5の、モジー−ルの組立状態に於ての下
辺の近傍に、配設されている。電力用半導体部品4又は
補償円板7.1の形状に応じて、開口10の形状は円形
又は長方形に定められる。
開口JOの直径は補償円板7.1の直径より例えば1m
小さく形成される。
基板5は枠11.を介して取付板12と結合される。基
板5と取付板12の間の枠J1の厚さはヒー) ノ4イ
ブ14の蒸気室13の寸法によりて定められる。枠11
を厚く選定すれば、それだけ蒸気室13、それと共にヒ
ート・クイズ14の熱輸送能力が大きくなる。取付板1
2の面積を70X100■に選んだモジュールについて
の試験が示すところでは、数百ワットの損失電力をヒー
ト/9イブ14に均一に分配するのに、枠11の厚さが
1ないし2−あれば十分である。
枠11は基板5と同様に低純度のセラミック材料から成
る。tた枠11は熱膨張差を吸収するのに十分な柔軟性
を有するとともに、外圧に十分耐える強度を備え、適当
表熱膨張を有する金属、例えば厚さ約1−の銅板で形成
されてもよい。
取付板12は熱伝導良好であるとともに、電気的絶縁性
を有するものでなくてはならず、高純度のAt20.セ
ラミック(少くとも96%紅203、例えば99.5チ
At20. )により形成され、その代表的には厚さ0
.641に定められている。取付板12は両面に厚さ約
0.2ないし0.3−の銅板から成る金属被覆層6.1
を臭備する。冷却体2の後側の金属被覆層6.1は、電
気絶縁のための十分な絶縁区間を得るために、取付板1
2の縁端から約1ないし2■後退している。
金属被覆層6 、6.1とセラミック板5,120間及
びセラミック板5.12と枠11の間の結合は、すべて
直接の?ンディングによることが好ましい。
そのために枠J1と基板5の間に金属被覆層6.1が彦
ければならない。金属被覆層6.Jは基板5又は枠IJ
の上に設けられる。基板5と枠11の双方の両面に金属
被覆を設けてもよい。
鬼ぜなら2つの金属被覆層6.1は互いに良く結合され
るからである。基板5の下面には全面に金属被覆層を設
けることが好ましい。これは、製造の後にセラミック板
5.12と枠11の全構造が機械的応力の結果どのよう
にわん曲するかによるが、通常の場合には、取付板12
が冷却体2@に突出する方向に僅かに弯曲するように調
整するとよい、取付板12の上の金属被覆層6.1の厚
さによりてこのわん曲を調節することもできる。ここで
述べる直接ゲンrイング法は公知であり、例えば西独特
許第3036128号明細書に記載されている。
ヒート/9イブ14のために必要な蒸気室13は、前述
のようにセラミック板製基板5及び取付板12、枠11
及び電力用半導体部品4の下の補償円板7.1によりて
構成される。これらの部材の間の結合は気密に行わなけ
ればならない。
ヒート/9イブ14を完成するには、銅製の注入管16
を経て若干の作動液15(例えば水)を充、填すること
が必要である。注入管16は穴17を経て基板15に嵌
着され、前記基板の金属被覆層に直接?ンダイング法に
より直結される。
作動液15は所定の取付は位置で重力の作用で下側補償
円板7.1の区域に集まり、第1図に示すように、水位
、付着力・及び毛細管作用により補償円板7.1を濡ら
す、下側補償円板7.1を介して使用液に送られる電力
用半導体部品4の損失熱によりて、使用液が蒸発する。
蒸気は蒸気室13全体に拡がり、冷えた取付板12(凝
縮区域)で凝縮し、高温部に逆流する。
本発明に基づく電力用半導体モジュールの詳細は後に記
載する説明により、更に明らかとまる。
まず金属被覆層6.1又はセラミック板5の上の金属被
覆層6を作るために、基板5(穴10゜17を有する)
と取付板120両面は銅によって被覆される。セラミッ
ク板5又は12の上面に金属被覆層6又は6.1を適当
に形成し大径、下側補償円板7.1と注入管16を直接
がンディングで基板5の上面に取付ける結合工程を円滑
に行なうためK、下側補償円板7.1を鋼で被覆する。
このようにして行なう直接がンディングによる取付けは
部材を軟質はんだで取付けるよし有利である。それは、
軟質はんだ付は部材の場合は、作動液15(脱イオン水
)により腐食問題が起こる恐れがあるからである。
続いて次の結合工程の準備のために取付板12、枠11
及び予め装備した基板5を積み重ねる。
特にその後の真空状態の安定性を高めるために、適当な
材料のスペーサ18を基板5と取付板12の間の空隙に
挿設することが好ましい。このスペーサ18を例えば枠
11に突設してもよい。
次に結合工程(直接がンディング)が行われ、処理し、
□後続の軟質はんだ付は工程を容易にする丸めの、外側
の銅面に対する化学的(す力わち電流を流さない)ニッ
ケルメッキが行なわれる。すなわち電力用半導体部品4
、上伸補償円板7.2、接続端子3.8その他の部材は
はんだ付けされプラスチックケースに封入される。次に
若干の作動液15、例えば水を注入管J6を経て1ヒー
トポンプ14に充填し、蒸気室13を約2,00(1:
いし3,000Paiで減圧し、注入管16が外部に対
して気密となるように押しつぶす。
陽極接点面の直径25■の電力用半導体部品(サイリス
タ)と基板5の直径21■の開口JOを備え、本発明に
基づいて形成された上記の毎ジュールに対して行なった
試験により、電力用半導体部品4の活性部(Junct
ion )と冷却体20間にRtJK= 0.06 K
/’W(7)直流熱抵抗カ得うれることが確認された。
この値は同様の非絶縁型両面冷却円板電池の場合にほぼ
相当する。上記試験に基づいて本発明によりて達成され
六進歩を比較するには、上記の実効熱抵抗値とヒート・
母イブを用いない同じ絶縁型部品(純度99.5チのh
t2o3から成る厚さ0.64−のセラミック板)の実
効熱抵抗値である0、 15 K/Wを比べればよい。
第2図は取付は位置を任意に選べる(すなわち重力と無
関係の)電力用半導体モジュールJの、本発明に基づ〈
実施例を示す。任意の取付は位置が毛細管構造19.2
0.21によって達成される。この毛細管構造による毛
細管作用により、凝縮した作動液15は高温部、すなわ
ち下側補償円板7.1の所に戻される。
毛細管構造19,20,2λを形成するために、基板5
、枠11及び取付板12を組立てる前に、細かい目の銅
線ネッ)19を取付板1,2の冷却体2の後側に張り、
また直径が約5−で取付板12と補償円板7.1の間隔
に相当する高さの銅又はセラミック製の多孔質焼結成形
体20を下側補償円板7.1の中央部の下に挿入する。
これらの部材19.20は直接ゲンディングにより固定
される。一方、下側補償円板7.1はヒートノタイデ1
4の内室に臨む側に毛細管系21を有する0毛細管系2
1は基板5の開口J0の丁度縁端にまで達している。
もちろん当業者には、毛細管構造を用いるほか多数の方
式が知られている。その1例は、銅線ネット19の代り
に、金属被覆層6.1に条溝を設けることである。
電力用半導体部品4の内部の不均一な通電(いわゆる傾
斜負荷)によりて、電力用半導体部品4に不拘−表発熱
がこることがある。このような場合には通常、モリブデ
ンから成る下側補償円板7.1と作動液15の接触面の
温度分布は不均一となる。すカわちモリブデンの熱伝導
性は、電力用半導体部品4からの熱流を補償円板7.1
の全面に一様に分配するのに十分で危い。
このため高温部にいわゆる高温点が生じ、いわゆるフィ
ルムゲイリング(Fi1msisd@n )が起こるた
めに、この高温点が乾燥して更に過熱され、一方、温度
が低い場所では、該温度は良好な放熱のために有効力気
泡沸騰を生ずる沸騰温度に到達し々い。従って、上記の
ような温度分布の発生のために有効に作用する高温部の
減少が生ずる。
第3図に示す好適な実施例では、特別のヒータ22が設
けられ、加熱部に配設するという対応策が講じられてい
る。ヒータ22は熱伝導良好な材料、例えば銅から成り
、電力用半導体部品4に生じた熱を熱拡散により大きな
面に分配することができる。
上記ヒータ22は第1図及び第3図に示す、毛細管構造
19を設けられないヒート/母イグ14の実施例に対し
て特に効果的であるが、毛細管構造19を備えたヒート
・臂イブ14を使用する場合にも適用することができる
上記ヒータ22の用途は、本発明の構造のモジュールに
限定されない。ピートノ4イブ14が統合され、電力用
半導体部品4が直接に又は中間層を介してピートノ4イ
ブ14と結合するすべての電力用半導体モジュールに使
用することができる。
ヒータ22は下側補償円板7.1にはんだ付けして用い
ることができる。熱膨張係数が電力用半導体部品4す危
わちシリコンに適応した材料をヒータ22のために選ぶ
々らば、鋼層6に気密に直結することができる1例えば
銅−モリブデンのような焼結金属から成る集積部材を補
償円板及びヒータとして設けることが好ましい。
ヒータ22と作動液15の接触面を拡大するために、ヒ
ータ22の蒸気室13に臨む側にフィン構造23、例え
ば条溝を設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は毛細管構造のないヒート/クイズ(重力形ヒー
ト・母イブ)を有する電力用半導体モジュールの断面図
、第2図は毛細管構造を含むヒート・クイズを備えた電
力用半導体モジュールの断面図、第3図は高温部に特別
のヒータを配設したヒート・ぐイゾを有する電力用半導
体モジュールの断面図を示す。 4・・・電力用半導体部品、5・・・基板、7.1・・
・補償円板、10・・・開口、11・・・枠、12・・
・取付板、13・・・蒸気室、14・・・ヒート/クイ
ズ、15・・・基板、16・・・注入管、18・・・ス
ペーサ、19〜2ノ・・・毛細管構造、22・・・ヒー
タ、23・・・フィン構造。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)金属被覆を有するセラミック取付板上の少くとも
    1個の電力用半導体部品と、電力用半導体部品から放出
    される熱を電力用半導体部品の底面に比して大きなヒー
    トパイプの凝縮区域の面に分配するために、電力用半導
    体モジュールに統合された少くとも1個のヒートパイプ
    を有する電力用半導体モジュールにおいて、 両面に金属被覆を有するセラミックから成る熱伝導良好
    な取付板(12)が設けられ、枠(11)を介して基板
    (5)に気密に結合されてヒートパイプ(14)の蒸気
    室(13)を構成し、かつ基板(5)が電力用半導体部
    品(4)又は間挿された補償円板(7.1)の下の区域
    に開口(10)を有する ことを特徴とする電力用半導体モジュール。
  2. (2)作動液(15)を電力用半導体部品(4)の下の
    高温部に返送するために、ヒートパイプ(14)の内部
    に毛細管構造(19、20、21)が配設されているこ
    とを特徴とする、特許請求の範囲第(1)項に記載の電
    力用半導体モジュール。
  3. (3)基板(5)と取付板(12)の間に支持部材(1
    8)が配設されていることを特徴とする、特許請求の範
    囲第(1)項又は第(2)項に記載の電力用半導体モジ
    ュール。
  4. (4)部材(5、7.1、11、12)が1回又は複数
    回の直接ボンディング工程により互いに結合されて、ヒ
    ートパイプ(14)の壁体を形成することを特徴とする
    、特許請求の範囲第(1)項ないし第(3)項のいずれ
    か1に記載の電力用半導体モジュール。
  5. (5)作動液(15)と接触するヒートパイプ(14)
    のすべての部材(5、7.1、11、12、16、18
    ないし21)がセラミック、銅、若しくは銅で被覆され
    たセラミックで形成されていることを特徴とする、特許
    請求の範囲第(1)項ないし第(4)項のいずれか1に
    記載の電力用半導体モジュール。
  6. (6)熱伝導良好な取付板(12)が純度少くとも96
    %Al_2O_3、好ましくは99.5%Al_2O_
    3のセラミックで作られていることを特徴とする、特許
    請求の範囲第(1)項ないし第(5)項のいずれか1に
    記載の電力用半導体モジュール。
  7. (7)ヒートパイプ(14)の高温部に熱伝導良好な材
    料から成るヒータ(22)が配設されていることを特徴
    とする、特許請求の範囲第(1)項ないし第(6)項の
    いずれか1に記載の電力用半導体モジュール。
  8. (8)ヒータが蒸気室(13)に臨む側にフィン構造(
    23)を具備することを特徴とする、特許請求の範囲第
    (7)項に記載の電力用半導体モジュール。
  9. (9)ヒータ(22)が銅から成ることを特徴とする、
    特許請求の範囲第(7)項又は第(8)項に記載の電力
    用半導体モジュール。
  10. (10)ヒータ(22)が補償円板(7.1)にはんだ
    付けされていることを特徴とする、特許請求の範囲第(
    7)項ないし第(9)項に記載の電力用半導体モジュー
    ル。
  11. (11)ヒータ(22)と補償円板(7.1)が1個の
    構成部分にまとめられ、かつ熱膨張率が電力用半導体部
    品(4)に適応する材料から成ることを特徴とする、特
    許請求の範囲第(7)項ないし第(9)項に記載の電力
    用半導体モジュール。
  12. (12)取付板(12)が冷却体(2)と結合されてい
    ることを特徴とする、特許請求の範囲第(1)項ないし
    第(11)項のいずれか1に記載の電力用半導体モジュ
    ール。
JP61028049A 1985-02-14 1986-02-13 ヒートパイプを統合した電力用半導体モジユール Pending JPS61187351A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012504339A (ja) * 2008-09-30 2012-02-16 オスラム・シルバニア・インコーポレイテッド 多孔性セラミック芯を有するセラミックヒートパイプ

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3717489A1 (de) * 1987-05-23 1988-12-01 Asea Brown Boveri Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung des moduls
DE3731624A1 (de) * 1987-09-19 1989-03-30 Asea Brown Boveri Ausgleichsronde fuer leistungshalbleitermodule
US4944344A (en) * 1988-10-31 1990-07-31 Sundstrand Corporation Hermetically sealed modular electronic cold plate utilizing reflux cooling
US4941530A (en) * 1989-01-13 1990-07-17 Sundstrand Corporation Enhanced air fin cooling arrangement for a hermetically sealed modular electronic cold plate utilizing reflux cooling
EP0461114A1 (en) * 1989-12-28 1991-12-18 Bell Telephone Manufacturing Company Naamloze Vennootschap Cooling system
IL96808A (en) * 1990-04-18 1996-03-31 Rambus Inc Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage
US5305338A (en) * 1990-09-25 1994-04-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Switch device for laser
EP0501044B1 (en) * 1991-02-25 1994-10-12 BELL TELEPHONE MANUFACTURING COMPANY Naamloze Vennootschap Cooling system
EP0529837B1 (en) * 1991-08-26 1996-05-29 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for cooling multi-chip modules using integral heatpipe technology
US5386143A (en) * 1991-10-25 1995-01-31 Digital Equipment Corporation High performance substrate, electronic package and integrated circuit cooling process
US5369550A (en) * 1992-09-02 1994-11-29 Vlsi Technology, Inc. Method and apparatus for cooling a molded-plastic integrated-circuit package
US5283715A (en) * 1992-09-29 1994-02-01 International Business Machines, Inc. Integrated heat pipe and circuit board structure
US5325913A (en) * 1993-06-25 1994-07-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Module cooling system
US5578869A (en) * 1994-03-29 1996-11-26 Olin Corporation Components for housing an integrated circuit device
US6317321B1 (en) * 1994-11-04 2001-11-13 Compaq Computer Corporation Lap-top enclosure having surface coated with heat-absorbing phase-change material
DE19527674C2 (de) * 1995-07-31 2000-11-02 Anceram Gmbh & Co Kg Kühleinrichtung
US6065529A (en) * 1997-01-10 2000-05-23 Trw Inc. Embedded heat pipe structure
US5880524A (en) * 1997-05-05 1999-03-09 Intel Corporation Heat pipe lid for electronic packages
US6163073A (en) * 1998-04-17 2000-12-19 International Business Machines Corporation Integrated heatsink and heatpipe
DE10017971A1 (de) * 2000-04-11 2001-10-25 Bosch Gmbh Robert Kühlvorrichtung zur Kühlung von Bauelementen der Leistungselektronik mit einem Mikrowärmeübertrager
DE10062108B4 (de) * 2000-12-13 2010-04-15 Infineon Technologies Ag Leistungsmodul mit verbessertem transienten Wärmewiderstand
US6483705B2 (en) * 2001-03-19 2002-11-19 Harris Corporation Electronic module including a cooling substrate and related methods
US20020185726A1 (en) * 2001-06-06 2002-12-12 North Mark T. Heat pipe thermal management of high potential electronic chip packages
US6388882B1 (en) 2001-07-19 2002-05-14 Thermal Corp. Integrated thermal architecture for thermal management of high power electronics
US7002800B2 (en) * 2002-01-25 2006-02-21 Lockheed Martin Corporation Integrated power and cooling architecture
US6721181B1 (en) * 2002-09-27 2004-04-13 Rockwell Automation Technologies, Inc. Elongated heat sink for use in converter assemblies
US6956742B2 (en) * 2002-09-27 2005-10-18 Rockwell Automation Technologies, Inc. Compact liquid converter assembly
US6822850B2 (en) * 2002-09-27 2004-11-23 Rockwell Automation Technologies, Inc. Laminated bus bar for use with a power conversion configuration
US7068507B2 (en) * 2002-09-27 2006-06-27 Rockwell Automation Technologies, Inc. Compact liquid converter assembly
US6885553B2 (en) * 2002-09-27 2005-04-26 Rockwell Automation Technologies, Inc. Bus bar assembly for use with a compact power conversion assembly
SE0301381D0 (sv) * 2003-05-12 2003-05-12 Sapa Ab Extruded heat sink with integrated thermosyphon
JP4015975B2 (ja) * 2003-08-27 2007-11-28 三菱電機株式会社 半導体装置
US20080266801A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 Rockwell Automation Technologies, Inc. Phase change cooled power electronic module
JPWO2010084717A1 (ja) * 2009-01-23 2012-07-12 日本電気株式会社 冷却装置
DE202010014106U1 (de) 2010-10-08 2010-12-16 Congatec Ag Wärmeverteiler mit flexibel gelagertem Wärmerohr
US20190271510A1 (en) * 2011-10-17 2019-09-05 Asia Vital Components Co., Ltd. Manufacturing method of vapor chamber
US11765861B2 (en) * 2011-10-17 2023-09-19 Asia Vital Components Co., Ltd. Vapor chamber structure
US20190191589A1 (en) * 2017-12-15 2019-06-20 Google Llc Three-Dimensional Electronic Structure with Integrated Phase-Change Cooling
WO2021013961A1 (en) * 2019-07-25 2021-01-28 Abb Power Grids Switzerland Ag Housing element for a housing of a power semiconductor module
DE102021102944A1 (de) 2021-02-09 2022-08-11 Avl Software And Functions Gmbh Kühlvorrichtung mit verbessertem EMV-Verhalten
DE102022204169A1 (de) 2022-04-28 2023-11-02 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Elektronische Baugruppe

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2958021A (en) * 1958-04-23 1960-10-25 Texas Instruments Inc Cooling arrangement for transistor
US4145708A (en) * 1977-06-13 1979-03-20 General Electric Company Power module with isolated substrates cooled by integral heat-energy-removal means
US4212349A (en) * 1979-01-02 1980-07-15 International Business Machines Corporation Micro bellows thermo capsule
JPS5936827B2 (ja) * 1979-01-12 1984-09-06 日本電信電話株式会社 集積回路素子の冷却装置
US4322737A (en) * 1979-11-20 1982-03-30 Intel Corporation Integrated circuit micropackaging
DE3137570A1 (de) * 1980-09-25 1983-03-31 Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim Verfahren zum direkten verbinden von kupferteilen mit oxidkeramiksubstraten
FR2500959A1 (fr) * 1981-02-27 1982-09-03 Thomson Csf Boitier de dispositif electronique a forte dissipation thermique
US4551787A (en) * 1983-02-07 1985-11-05 Sperry Corporation Apparatus for use in cooling integrated circuit chips

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012504339A (ja) * 2008-09-30 2012-02-16 オスラム・シルバニア・インコーポレイテッド 多孔性セラミック芯を有するセラミックヒートパイプ

Also Published As

Publication number Publication date
EP0191419A3 (en) 1988-07-27
DE3504992A1 (de) 1986-08-14
US4727455A (en) 1988-02-23
EP0191419A2 (de) 1986-08-20
EP0191419B1 (de) 1990-11-28
DE3675786D1 (de) 1991-01-10

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