JPS61184862A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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Publication number
JPS61184862A
JPS61184862A JP2544285A JP2544285A JPS61184862A JP S61184862 A JPS61184862 A JP S61184862A JP 2544285 A JP2544285 A JP 2544285A JP 2544285 A JP2544285 A JP 2544285A JP S61184862 A JPS61184862 A JP S61184862A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitive element
integrated circuit
dielectric isolation
npn transistor
isolation region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2544285A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumihisa Nakano
中野 文壽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2544285A priority Critical patent/JPS61184862A/ja
Publication of JPS61184862A publication Critical patent/JPS61184862A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/06Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
    • H01L27/07Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common
    • H01L27/0744Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common without components of the field effect type
    • H01L27/075Bipolar transistors in combination with diodes, or capacitors, or resistors, e.g. lateral bipolar transistor, and vertical bipolar transistor and resistor
    • H01L27/0755Vertical bipolar transistor in combination with diodes, or capacitors, or resistors
    • H01L27/0777Vertical bipolar transistor in combination with capacitors only

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 不発明は集積回路に関し、特に誘電体分離領域より成る
集積回路において電気的索子を作る構造に関する。
〔従来の技術〕
従来、基板上に誘電体分離領域を有する集積回路におい
て′電気回路を作成する場合の素子の実装方法としては
第6図に示す方式が採用されている。
すなわち、1つのNPN)ランジスタのコレクタとの間
に容量性素子を構成するには2つの誘を体分離領域4a
、4bt一つくり、1つの領域4aにはNPNI−ラ/
ジスタを他の領域4bには容量性素子を形成し、これ全
絶縁物5上に形成した配線6により接続する。安↑るに
、1つの電気的素子に対し1つの誘電体分離領域を用い
各絶縁された領域内に作られた素子間を配線により接続
することにより目的の電気回路を作成していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したように従来の集積回路では、tス回路を作成す
るに必要な素子の数だけ誘電体分離領域が必要となり数
が多くなり、また容量性素子等を作成する場合は、大き
な誘電体分離領域全必要とし、集積回路全体としてのチ
ップ面積が大きくなり、製造歩留り効率が悪く、集積回
路が高価となりがちであり、容量性素子のような面ff
r’に大きくとるものは、あまり用いられなかった。
不発明は、上記問題点に対処してなされたもので、1つ
の分離領域に複数個の素子をつくり込み、集N度が高く
、チップ面積の小さな、かつ安価な集積回路を提供する
ことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の集積回路は、誘電体分離構造により構成されて
いる集積回路において該集積回路の誘電体分離領域を作
成する絶縁物の一部を用いた容量性素子を含むことを特
徴として構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について、図面を参照して峠5明する。第
1図は本発明の一実施例の電気回路でNPNトランジス
タ1と容量素子2を接続したものでNPN )ランジス
タ1のコレクタとの間に容量性素子2を接続したもので
ある。
第2図(a)、Φ)は本発明の第1の実施例の断面図及
び第2図(a)の誘電体分離領域を底面より見た図であ
る。第2図(a)において、基板3に形成された誘電体
分離領域4の絶縁物5の底面へ容量性素子2の一方の電
極7を作成することによりNPN トランジスタ1のコ
レクタとの間に容量性素子2を形成している。第2図(
b)は上記したように誘電体分離領域4を底面より見た
図で7は容量性素子の一方の電極で底面に形成されてい
る。すなわち誘電体分離領域4にはNPNトランジスタ
と容量性素子の複数個が構成されたこととなる。
第3図(al、 (b)は本発明のwc2のW流側の断
面図及び第3図(a)の誘電体分離領域を底面より見た
図である。両図かられかるとおり、本実施例では誘電体
分離領域4の絶縁物5の側面へ容量性素子2の一方の電
極7’t−形成したものである。
第2の実施例でも第1の実施例と同様1つの誘電体分離
領域に複数個の素子が形成され、その結果集積度の向上
、チップ面積の小さくなった集積回路とすることができ
る。
wc4[gおよび第5図は本発明の第3の実施例の電気
回路及び第4図の回路を果埒回路化した実施例の断面向
である。第3の実施例の電気回路はNPNトランジスタ
8と容量性素子9で構成され、NPN)ランジスタ8と
容量性素子9との交点が外部に配線されている構造で、
この集積回路は第5図に示すように、誘電体分離領域4
のところからNPN)ランジスタ8のコレクタと容量性
素子9の交点の端子10t”取り出せばよい。
〔発明の効果“ 以上説明したとおり1本発明は誘電体分離領域を作成す
る絶縁物を用い容量性素子の端子間の絶縁物として用い
ることを利用したもので、1つの誘電体分離領域に複数
個の素子を形成することが可能となり、集積度の同上、
チップ面積の縮小化、ひいては安価な集積回路の形成に
大きな効果を発揮することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の電気回路図、!2m(
a)、 (b)は本発明の第1の実施例の断面図及びl
E2図(alの誘電体分離領域の底面より見た図。 第3図(a)、 (b)は本発明の第2の実施例の断面
図及びl!3図(a)の誘電体分離領域の底面より見た
図。 第4図並びに第5図は本発明の第3の実施例の電気回路
図及びその集積回路の断面図、第6図は従来の誘電体分
離領域を有する集積回路の断面図である。 1・・・・・・′NPNトランジスタ、2・・・・・・
容量性素子、3・・・・・・基板、4・・・・・・誘電
体分離領域、5・・・・・・絶縁物、6・・・・・・配
線、7・・・・・・容量性素子の一方の電極、8・・・
・・・NPNトランジスタ、9・旧・・容量性素子、1
0・・・・・・NPN )ランジスタと容量性素子の交
点。 代理人 弁理士  内 原   !F””’、゛へ〜− 予1t (b) 茅3初

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  誘電体分離構造により構成されている集積回路におい
    て、該集積回路の誘電体分離領域を構成する絶縁物の一
    部を用いた容量性素子を含むことを特徴とする集積回路
JP2544285A 1985-02-13 1985-02-13 集積回路 Pending JPS61184862A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2544285A JPS61184862A (ja) 1985-02-13 1985-02-13 集積回路

Applications Claiming Priority (1)

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JP2544285A JPS61184862A (ja) 1985-02-13 1985-02-13 集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61184862A true JPS61184862A (ja) 1986-08-18

Family

ID=12166114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2544285A Pending JPS61184862A (ja) 1985-02-13 1985-02-13 集積回路

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JP (1) JPS61184862A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5040043A (en) * 1988-10-12 1991-08-13 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Power semiconductor device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5040043A (en) * 1988-10-12 1991-08-13 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Power semiconductor device

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