JPS61164298A - 複合セラミツク多層配線板及びその製造方法 - Google Patents

複合セラミツク多層配線板及びその製造方法

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JPS61164298A
JPS61164298A JP526185A JP526185A JPS61164298A JP S61164298 A JPS61164298 A JP S61164298A JP 526185 A JP526185 A JP 526185A JP 526185 A JP526185 A JP 526185A JP S61164298 A JPS61164298 A JP S61164298A
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JP
Japan
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conductor layer
layer
thick film
paste
conductor
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Application number
JP526185A
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English (en)
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宮 好宏
三森 誠司
堀部 芳幸
上山 守
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Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は混成集積回路などの電子回路部品に用いられる
複合セラミック多層配線板及びその製造方法に関する。
(従来の技術) 従来の複合セラミック多層配線板は第2図に示す如くセ
ラミック基板1上にMO9W等の高融点金属粉を主成分
とした導体ペーストを焼結して第1導体層2を形成し、
その第1導体層2の一部を絶線層4中に形成したスルー
ホール3を介して表面に引出し、スルーホール3上に露
出させた第1導体層2の露出表面及び絶縁層4の表面に
Ag、A、u等の貴金跣ペーストを焼結して形成した第
2導体層5.そして必要に応じ第2導体層5のわきに抵
抗ペーストを焼結して形成した抵抗体層6を形成するが
、第2導体層5及び抵抗体層6は通常大気中で焼結され
るため第1導体層2は酸化しないようにすることが必要
である。
(発明が解決しようとする問題点) 通常第2導体層5には約900℃の温度で焼成して焼結
する導体ペーストが用いられている。しかし複合セラミ
ック多層配線板の場合、650℃以上の温度で焼成する
と下地の第1導体層2が酸化する欠点がある。
本発明は上記の欠点のない複合セラミック多層配線板お
よびその製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
(問題点を解決するだめの手段) 本発明者らは上記の欠点について種々検討した結果、第
1導体層の露出表面及びその近傍の絶縁層の表面に中性
雰囲気で焼結するガラスを含有する厚膜導体層を形成し
た後、厚膜導体層の表面に第2導体層及び/又は抵抗体
層を形成したところ大気中で650℃以上の温度で焼成
しても下地の第1導体層の酸化は見られなかった。
本発明はグリーン法で得られる第1導体層と乾式厚膜法
で得られる第2導体層及び/又は抵抗体層との組み合わ
せからなる複合セラミック多層配線板において、第1導
体層の露出表面及びその近傍の絶縁層の表面に中性雰囲
気で焼結するガラスを含有する厚膜導体層を形成し、さ
らにその表面に第2導体層及び/又は抵゛抗体層を形成
してなる複合セラミック多層配線板並びにセラミックグ
リーンシート上に高融点金属粉を主成分とした導体ペー
ストを印刷する工程、高融点金属粉を主成分とした導体
ペースト上にスルーホールを形成しながら絶縁ペースト
を印刷するか又はスルーホールを形成したセラミックグ
リーンシートを重ねて圧着する工程、そしてこれらを弱
還元性雰囲気中で同時焼成して絶縁層及び第1導体層を
形成する工程、第1導体層の露出表面及びその近傍の絶
縁層の表面に中性雰囲気で焼結するガラスを含む厚膜導
体ペーストを印刷する工程、ガラスを含む厚膜導体ペー
ストを中性雰囲気中で焼成して厚膜導体層を形成する工
程、さらに厚膜導体層の表面に貴金属粉を主成分とした
導体ペースト及び/又は抵抗ペーストを印刷する工程、
貴金属粉を主成分とした導体ペースト及び/又は抵抗ペ
ーストを大気中で焼成して第2導体層及び/又は抵抗体
層を形成する工程を含む複合セラミック多層配線板の製
造方法に関する。
本発明において第1導体層を形成する材料としてはMo
、W等の高融点金属粉が用いられ、第2導体層を形成す
る材料としてはAg/Pd、 Ru等の貴金属粉が用い
られ、抵抗体層を形成する材料としてはカーボン系の物
質、Ru0z粉等が用いられ。
ガラスを含有する厚膜導体層の形成に用いられる導体材
料としてはPt、 pa、 Rn等の貴金属粉が用いら
れる。
=5− なおガラスを含有する厚膜導体層は第1導体層の露出表
面より幅広く形成する必要があり、第1導体層の幅と同
等又は第1導体層の幅より狭いと第2導体層の焼結時に
第1導体層が酸化し2本発明の目的を達成することがで
きない。以上の理由によシガラスを含有する厚膜導体層
の幅は第1導体層の露出表面部分より0.05mm以上
広く形成することが好ましい。
本発明における焼成条件において、セラミックグリーン
シート、高融点金属粉を主成分とした導体ペースト及び
絶縁ペーストは弱還元性雰囲気中で焼成することが必要
であり、ガラスを含む厚膜導体ペーストは中性雰囲気中
で焼成することが必要であり、また貴金属粉を主成分と
した導体ペーストは大気中で焼成することが必要であシ
、上記以外の条件で焼成すると接着強度が弱くなったり
第1導体層が酸化したりするなどの欠点が生じる。
焼成温度は各ペーストに応じて適宜選択するものとする
(実施例) =6= 以下実施例により本発明を説明する。
実施例1 厚さ0.8 mmのアルミナセラミックグリーンシート
(アルミナ純度96重量%)(以下グリーンシートとい
う)上にWペースト(旭化学製、商品名3TW−120
0)を印刷し、乾燥後その上面に直径0.2 mmのス
ルーホールを形成しながらグリーンシートにする前のス
リップを印刷し、さらにスルーホールに前記と同じWペ
ーストを充填した後PH□O/ P H2の分圧比0.
45の弱還元性雰囲気中で1時間200℃の昇温速度で
1560°Ctで昇温し、1時間保持した後1時間30
0℃の速度で降温してグリーンシート及び各ペーストを
焼結し。
第1導体層、絶縁層などを形成した。
次に前記の第1導体層の露出表面と露出表面の端部から
0.1 mm幅の部分捷で5i02とA、1203とP
tとの混合物からなる厚膜導体ペーストを印刷し。
80℃で20分乾燥後N2雰囲気中で900℃の温度で
10分間焼成して厚膜導体ペーストを焼結して厚膜導体
層を形成した。この後厚膜導体層の表面にAg/Pd導
体ペースト(日中マンセイ社製。
商品名TR−4846)を印刷して被覆し、そしてその
わきにRuO2系抵抗ペースト(デュポン社製、商品名
≠4500シリーズ)を印刷し、870℃の温度で10
分間焼成して第1図に示す如く第2導体層5及び抵抗体
層6を形成した複合セラミック多層配線板を得た。なお
第1図において2は第1導体層、3はスルーホール、4
け絶縁層、7はグリーンシート及び8は厚膜導体層であ
った。
実施例2 実施例1で用いたAg/Pa導体ペーストに代えて(住
友金属鉱山社製、商品名C−4240)のAg/Pd導
体ペーストを用い、大気中で650°Cの温度で焼成し
た以外は実施例1と同様の工程及び同様の材料を用いて
複合セラミック多層配線板を得だ。
実施例3 実施例1で用いたAg/Pd導体ペーストを5層形成し
た以外は実施例1と同様の工程及び同様の材料を用いて
複合セラミック多層配線板を得た。
次に各実施例で得た複合セラミック多層配線板について
第2導体層及び厚膜導体層の下地の第1導体層を観察し
だところ、酸化は見られなかった。
(発明の効果) 本発明によれば、第2導体層の下面に中性雰囲気で焼結
するガラスを含有する厚膜導体層を形成するので大気中
で650℃以上の温度で焼成しても下地の第1導体層は
酸化せず、信頼性の高い複合セラミック多層配線板を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例になる複合セラミック多層配線
板の断面側面図および第2図は従来の複合セラミック多
層配線板の断面側面図である。 符号の説明 1・・・セラミック基板  2・・・第1導体層3・・
・スルーホール   4・・・絶縁層5・・・第2導体
層    6・・・抵抗体層7・・・グリーンシート 
 8・・・厚膜導体層第 1 菌 z:’Ji +卑碌層 Y2邑

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、グリーン法で得られる第1導体層と乾式厚膜法で得
    られる第2導体層及び/又は抵抗体層との組み合わせか
    らなる複合セラミック多層配線板において、第1導体層
    の露出表面及びその近傍の絶縁層の表面に中性雰囲気で
    焼結するガラスを含有する厚膜導体層を形成し、さらに
    その表面に第2導体層及び/又は抵抗体層を形成してな
    る複合セラミック多層配線板。 2、セラミックグリーンシート上に高融点金属粉を主成
    分とした導体ペーストを印刷する工程、高融点金属粉を
    主成分とした導体ペースト上にスルーホールを形成しな
    がら絶縁ペーストを印刷するか又はスルーホールを形成
    したセラミックグリーンシートを重ねて圧着する工程、
    そしてこれらを弱還元性雰囲気中で同時焼成して絶縁層
    及び第1導体層を形成する工程、第1導体層の露出表面
    及びその近傍の絶縁層の表面に中性雰囲気で焼結するガ
    ラスを含む厚膜導体ペーストを印刷する工程、ガラスを
    含む厚膜導体ペーストを中性雰囲気中で焼成して厚膜導
    体層を形成する工程、さらに厚膜導体層の表面に貴金属
    粉を主成分とした導体ペースト及び/又は抵抗ペースト
    を印刷する工程、貴金属粉を主成分とした導体ペースト
    及び/又は抵抗ペーストを大気中で焼成して第2導体層
    及び/又は抵抗体層を形成する工程を含むことを特徴と
    する複合セラミック多層配線板の製造方法。
JP526185A 1985-01-16 1985-01-16 複合セラミツク多層配線板及びその製造方法 Pending JPS61164298A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05191048A (ja) * 1992-01-13 1993-07-30 Murata Mfg Co Ltd セラミック多層電子部品の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH05191048A (ja) * 1992-01-13 1993-07-30 Murata Mfg Co Ltd セラミック多層電子部品の製造方法

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