JPS61147543A - 電子部品選別押印装置 - Google Patents

電子部品選別押印装置

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Publication number
JPS61147543A
JPS61147543A JP26848484A JP26848484A JPS61147543A JP S61147543 A JPS61147543 A JP S61147543A JP 26848484 A JP26848484 A JP 26848484A JP 26848484 A JP26848484 A JP 26848484A JP S61147543 A JPS61147543 A JP S61147543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mark
frame
suspended
parts
sorting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26848484A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoyoshi Maniwa
真庭 友由
Akira Fujii
藤井 曄
Koji Hoshi
浩二 星
Hironori Tago
田胡 裕規
Tatsuhiro Akaha
赤羽 辰弘
Koji Yamazaki
山崎 孝次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP26848484A priority Critical patent/JPS61147543A/ja
Publication of JPS61147543A publication Critical patent/JPS61147543A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、フレームから切り離されていない状態の複数
個の電子部品を選別して押印する装置に関するものであ
る。
〔発明の背景〕
第1図は1個のフレーム1に複数個の薄形■C2が作り
つけられて未だ切り離されていない状態を示している。
薄形ICを工業的に生産する工程の途中で上記のように
フレーム1から未だ切り離されていない状態(いわゆる
吊り状態)を経るが、薄形ICの本体部分をなすパッケ
ージ2aがフレーム1から完全に切り離されていない状
態でも、リード2bの一部若しくは全部がフレーム1か
ら切断されていれば薄形IC2の電気的性能を検査する
ことが可能である。
これら多数の薄形ICのハンドリングについて考えると
、第1図に示した吊り状態のままで実施できる処理(検
査1選別、マーキング等)は出来るだけ吊り状態で行う
ことが望ましい。
しかし、従来においては吊り状態の電子部品を能率よく
検査2選別、押印できる自動装置が開発されていない。
吊り状態の電子部品の搬送は、従来一般に、第2図に示
すようなカートリッジ3が用いられる。
この種のカートリッジ3は角筒状のケーシング3aの両
側面の内側に多段状に水平な収納溝3bを設けて多数の
電子部品(本例においては薄形IC2を吊ったフレーム
1)を収納する構造である。
吊り状態の電子部品を搬送する自動装置、同じく検査2
選別する自動装置、及び押印する自動装置などはそれぞ
れ開発されているが、上に述べた各自動機器を有機的に
結合して吊り状態の電子部品の搬送・検査・選別・押印
を一貫して自動的に処理し得る装置は未だ開発されてい
ない。
〔発明の目的〕
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、吊り状態
の電子部品を高能率で自動的に搬送しつつ自動的に検査
・選別・押印を一貫して行うことができ、しかも、搬送
作用1選別作用、押印作用に誤作動が有ったときは自動
的にミスを検出して高い信頼性を保証し得る選別押印装
置を提供しようとするものである。
〔発明の概要〕
上記目的を達成する為、本発明の電子部品選別押印装置
は、フレームから切り離されていない状態の電子部品を
順次に供給する手段と、上記の電子部品付きフレームを
搬送する手段と、該電子部品付きフレームを搬出する手
段とを備え、かつ、前記搬送手段の搬送路に沿って、搬
送方向に順次にフレームの方向を検出する手段、電子部
品のマークを検出する手段、電子部品の電気的性能検査
手段、検査結果のマークの押印手段、及び電子部品のマ
ークを検出する手段を設けたことを特徴とする。
〔発明の実施例〕
次に1本発明の一実施例を第3図乃至第5図について説
明する。
第3図は本発明の選別押印装置の平面図、第4図は同じ
く正面図である。
4は、前述の吊り状態の電子部品(以下、吊部品と略称
する)を搬送するフレームコンベアで、搬送方向は図に
おいて右向きである。
Aは、上記のフレームコンベア4に吊部品を搬入する手
段、Bは同じく搬出する手段である。上記の搬入、搬出
は小部品用のカートリッジ3′を用いて行われる。第5
図は本実施例のカートリッジ3′を示し、従来のカート
リッジ(第2図)を2個並べて連設した構造になってい
る。このように複列のカートリッジを用いると、カート
リッジをハンドリングするサイクルタイムを延長し得る
のでカートリッジ搬送手段の構成が容易になる。
カートリッジ3′は第3図(平面図)に示すように搬入
手段Aにより矢印イ、口の如くフレームコンベア4の始
発点(図において左端)に向けて順次に搬送される。
フレームコンベア4の始発点に達したカートリッジ3′
は第4図(正面図)に示すごとく矢印凸方向にピッチ送
りで上昇せしめられ、上昇の途中で収納している吊部品
(図示省略)を一枚ずつ矢印二の如くフレームコンベア
4に受は渡す。
フレームコンベア4の終着点(図において右端)に対向
せしめて設けた搬出手段Bにおいては、前記搬入手段A
におけると逆順序に、フレームコンベア4から矢印ホの
如く送り出される吊部品(図示省略)を順次カートリッ
ジ3′に収納して搬出する。本実施例の電子部品選別押
印装置は上述のようにして吊部品を順次供給する手段A
と、吊部品を搬送するフレームコンベア4と、吊部品搬
出手段Bとを構成しである。
前記のフレームコンベア4に沿って、その搬送方向(本
図において右向き方向)に、順次に、(i)  搬送さ
れる吊部品の方向を検出する手段5と。
(i) 吊部品に付されCいるマーク認識用センサ6と
、 (止)  吊部品の電気的性能を検査する手段7と、(
iv )  検査の結果を吊部品にマーキングする手段
8と。
(v)  上記のマーキング結果を確認するセンサ9と
を設置する。
前記(i)項の方向検出手段5は、例えばフレーム1の
隅部表面に付された姿勢表示マーク1aを検出して、搬
送中の吊部品の前後方向が逆になっていないか、及び表
裏が逆になっていないかを検知し、異常が有れば警報器
(図示せず)を作動させるとともにフレームコンベア4
を停止させるように構成する。
前記(if)項のマーク認識用センサ6は、前記のマー
キング手段8でマーキングされた検査結果のマークの有
無を検知し、搬送中の吊部品が未検査合格品であるか否
かを判定するように構成する。
この個所は検査合格品が送られてこない筈であるから、
若し検査合格マークが検出されたら何らかの異常(例え
ば検査不良品の選別誤作動)が有ったものと判定し、警
報器(図示せず)を作動させる。
前記(ni)項の電気的検査手段7は、吊り状態の薄形
ICのリードに接触導通する多数のプローブと検査回路
と(共に図示せず)を備えていて、吊・部品の電気的性
能を検査する。検査合格と判定すると次工程のマーキン
グ手段8に合格マークの押印を指令し、検査不合格と判
定すると合格マークの押印をしないように指令する。又
、逆に検査不合格と判定の場合は押印し、合格判定のも
のを押印しないよう指令することも可能である。
前記(V)項のマーキング確認センサ9は上記の検査結
果のマークの有無を検出してマーキング手段8の作動結
果の良否を判定し、かつ押印の無い不合格品をライン外
に排出する指令を発する。又。
不合格品をライン外に出すのでなく、カートリッジに合
格品、不合格品を全部収納したい時は合格品、不合格品
をプリンタにて打ち出すことも出来。
カートリッジ番号ごとに合格品、不合格品がどの位置(
場所)に入っているか一目でわかるようにすることも可
能である。検査合格を確認された吊部品のみが矢印ホの
如く搬出手段Bのカートリッジ3′に収納され、搬出さ
れる。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明の選別押印装置は、吊り状
態の電子部品を高能率で自動的に搬送しつつ自動的に検
査・選別・押印を一貫して行うことができ、しかも、搬
送作用9選別作用、押印作用に誤作動が有ったときは自
動的にミスを検出し得るので、選別、押印機能の信頼性
が高いという優れた実用的効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はフレームから切り離されていない電子部品の一
例を示す斜視図、第2図は上記電子部品搬送用の従来の
カートリッジの一例を示す正面図である。 第3図乃至第5図は本発明の電子部品選別押印装置の一
実施例を示し、第3図は平面図、第4図は正面図、第5
図はカートリッジの正面図である。 1・・・フレーム、1a・・・姿勢表示マーク、3・・
・薄形ICl3,3′・・・カートリッジ、3a・・・
ケーシング、 3b・・・収納溝、4・・・電子部品付
きのフレームを搬送するコンベア、5・・・フレームの
方向検出手段、6・・・マーク認識用センサ、7・−・
電気的性能検査手段、8・・・検査合格マークの押印手
段、9・・・マークを検出する手段。 特許出願人  日立電子エンジニアリング株式会社沖電
気工業株式会社 代理人弁理士 秋  本  正  実 b

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フレームから切り離されていない状態の複数個の電子部
    品を順次に供給する手段と、上記の電子部品付きフレー
    ムを搬送する手段と、該電子部品付きフレームを搬出す
    る手段とを備え、かつ、前記搬送手段の搬送路に沿って
    、搬送方向に順次にフレームの方向を検出する手段、電
    子部品のマークを認識するセンサ、電子部品の電気的性
    能検査手段、検査結果のマークの押印手段、及び電子部
    品のマークを検出する手段を設けたことを特徴とする電
    子部品選別押印装置。
JP26848484A 1984-12-21 1984-12-21 電子部品選別押印装置 Pending JPS61147543A (ja)

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JP26848484A JPS61147543A (ja) 1984-12-21 1984-12-21 電子部品選別押印装置

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JPS61147543A true JPS61147543A (ja) 1986-07-05

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ID=17459133

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JP26848484A Pending JPS61147543A (ja) 1984-12-21 1984-12-21 電子部品選別押印装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6375590A (ja) * 1986-09-18 1988-04-05 Rohm Co Ltd 電子部品パツケ−ジ等のマ−ク検出装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5617028A (en) * 1979-07-20 1981-02-18 Hitachi Ltd Manufacture of semiconductor device

Patent Citations (1)

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JPS5617028A (en) * 1979-07-20 1981-02-18 Hitachi Ltd Manufacture of semiconductor device

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