JPS61138356A - 1チツプマイクロコントロ−ラ - Google Patents

1チツプマイクロコントロ−ラ

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JPS61138356A
JPS61138356A JP59261562A JP26156284A JPS61138356A JP S61138356 A JPS61138356 A JP S61138356A JP 59261562 A JP59261562 A JP 59261562A JP 26156284 A JP26156284 A JP 26156284A JP S61138356 A JPS61138356 A JP S61138356A
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JP
Japan
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power supply
supply voltage
clock
circuit
frequency
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Mitsuharu Kato
光治 加藤
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Denso Corp
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NipponDenso Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ・(発明の技術分野) 5 、 この発明は、例えばマイクロコンピュータ、マイク
ロプロセッサ等を、1チツプの半導体集積回路で構成し
た1チツプマイ・クロコントローラに係り、特に・電源
電圧の変動による内部回路素子の誤動作防止を内部で行
なえるように設定したものに関するや (発明の背景技術とその問題点) 従来より、マイクロコンピュータ、マイクロプロセッサ
等を1チツプのC−MO3半導体集積回路で構成した1
チツプマイクロコントローラは、同一半導体基板上にク
ロック発生回路、プログラムメモリ (ROM) 、デ
ータメモリ (RAM)、演算部(AI、U)、入出力
制御部(Ilo)等の回路素子を組込んで構成され、外
部から供給される電源により駆動されるようになされて
いる。
ところで、上記のような従来の1チツプマイクロコント
ローラは、電源電圧の降下時には与えられたクロック周
波数に対して決まる下限動作電圧以下になると上記各部
の動作保証ができなくなるため、外部の電源電圧検出回
路から発生される割込み処理信号およびリセット信号に
より割込み処理によりデータを回避して回路の誤動作を
防止すると共に、内部回路素子部をリセットし、内部状
態の初期化をするようになされている。しかしながら、
このような1チツプマイクロコントローラでは、必然的
に外付けのマイクロコントローラを制御する電源電圧検
出回路が必要となり、また、この電源電圧検出回路から
出力される割込み処理信号およびリセット信号等を入力
するため入力端子も必要となるばかりでなく、内部に複
雑な割込み処理回路が必要となって、内部回路素子部の
構成が複雑になってしまう。
(発明の目的) この発明は上記のような問題を改善するためになされた
もので、電源電圧変動時の制御信号を入力するための端
子を設けることなく、内部で電源電圧の変動による内部
回路素子の誤動作防止を行なうことのでき、さらに内部
に複雑な割込み処理回路を設ける必要のない1チツプマ
イクロコントローラを桿供することを目的とする。
(発明の概要) すなわち、この発明に係る1チツプマイクロコントロー
ラは、半導体基板上にROM、RAM。
ALU、命令デコーダ、プログラムカウンタ、I/Oを
少なくとも有する内部回路素子部をを形成し、この内部
回路素子部に対してクロ・ツク発生回路から第1クロッ
ク周波数か、あるいはより低い周波数の第2クロック周
波数を選択して駆動クロック信号を供給し、上記半導体
基板に対して設けられる電源端子を外部の電源に接続し
、上記電源端子からの電源電圧を第1の電源電圧検出回
路に供給し、この第1の電源電圧検出回路により電源電
圧が上記第1のクロック周波数において、上記内部回路
素子部の安定動作を保証する第1の下限基準電圧Vs以
下となる状態を検出して上記クロック発生回路に対して
第2のクロック周波数を選択するとともに、プログラム
カウンタの変化を禁止し、命令デコーダの出力を無効命
令(No 0peraTon)化せしめる信号を発生さ
せ、上記電源端子からの電源電圧を第2の電源電圧検出
回路に供給し、この第2の電源電圧検出検出回路により
電源電圧が第2のクロック周波数における上記内部回路
素子部の動作状態保証最低電圧v7よりやや高く動作状
態保持を保証できる第2の下限基準電圧Vr以下となる
状態を検出してリセット信号を発生させ、このリセット
信号の発生に応じて上記内部回路素子部を初期状態に設
定するようにしたものである。
(発明の実施例) 以下、図面を参照してこの発明の一実施例を詳細に説明
する。
第1図はその構成を示すもので、この1チツプマイクロ
コントローラは、Vdd電源11に接続される電源端子
PI、P2、クロック周波数調整用の外付抵抗R1を接
続するためのクロック制御用端子P3.P4を備え、さ
らにテスト信号Stを入力するための端子P5、データ
入力用の端子PAO〜PA6、データ入出力用の端子P
BO〜PB7を有している。
また、この1チップマイクロコントローラは、第1の電
源電圧検出回路12および第2の電源電圧検出回路13
からなり電源電圧監視手段を備えると共に、上記外付抵
抗R1が接続される内臓キャパシタC1、インバータT
nvl、Tnv2、Tnv3よりなる第1のクロック周
波数fOを生成するクロック発生回路14と上記クロッ
ク発生回路14により生成されるクロック周波数fOを
8分周することにより、より低い周波数の第2のクロッ
ク周波数fO/3を生成するクロック分周回路32と、
このクロック発生回路14からのクロック信号fOある
いは、分周回路32からのクロックfO/8のいずれか
がアンドオアゲートGlとインバータ1nv4とにより
構成されるクロック選択回路2Bを経て、2相りロック
発生回路15で駆動用2相クロック信号φa、φbを発
生するようになされている。
そして、この1チツプマイクロコントローラは、上記2
相りロック発生回路15からのクロック信号φa、φb
で駆動される内部回路を備えるもので、この内部回路は
、例えばプログラムカウンタ16、プログラムメモリ(
ROM)17、命令デコーダ(IRQ)1B、アドレス
バッファ19、テストモード制御回路20、演算部(A
LU>211リザルトレジスタ(RR)22.データメ
モリ (RAM)23、アドレスデコーダ24、特殊カ
ウンタ群25、入力ボート(PA)26、入出力ポート
(PB)27で構成され、各ブロックの駆動制御信号は
制御バス2゛9を介して、アドレス信号はアドレスバス
30を介して、データ信号はデータバス31を介して転
送される。このような内部回路は、ダイナミック回路で
構成され、1チツプ化されてなるものである。
ここで、上記第1の電源電圧検出回路12は、前記電源
11の出力電圧Vddが第1クロック周波数fOにおい
て内部回路の安定動作を保証し得る最低電圧Vs(以下
、第1の下限基準電・圧とする)より下がったか否かを
検出するもので、Vdd≦Vsにおいて、0”論理レベ
ルとなるクロック発生停止信号aを発生する。このクロ
ック発生停止信号aは、上記クロック選択回路23のア
ンドオアゲートG1とInv4、プログラムカウンタ1
6の動作を制御しているANDゲート33、および命令
デコーダ18とに供給される。また、第2の電源電圧検
出回路13は、上記電源電圧Vddが第2のクロック周
波数fO/3において内部回路の動作状態を保証し得る
最低電圧Vr(以下、第2の下限基準電圧とする)より
下がったか否かを検出するもので、Vdd≦Vrにおい
て“1”論理レベルとなるリセット信号すを発生ずる。
このリセット信号は、制御バス29を介して上記内部回
路の必要なブロックへ供給される。
そして、上記クロック発生回路14は、インバータIn
vlの理論スレショー、ルド電圧、外付抵抗R1の抵抗
値および内臓キャパシタCIの容量値で周波数が決定さ
れる、CR発振によるクロックを発生するものである。
       −このクロック発生回路14の出力クロ
ックは2相りロック発生回路15に供給される。この2
相りロック発生回路15は、上記発振回路14の出力ク
ロックからオーバーラツプのない2つの内部クロ・ンク
φa、φbを発生するものである。この2つの内部クロ
ックφa、bは、ダイナミック回路構成の内部回路の各
ブロックを駆動するためのもので、図示しないが各ブロ
ックに供給されるようになされている。
なお、上記プログラムカウンタ16は、ANDゲート3
3を経て入力される上記内部クロックφaによりカウン
タアップするもので、その出力はアドレス信号としてプ
ログラムメモリ17に供給される。このプログラムメそ
り17は、上記アドレス信号に応じて命令内容を指定す
るもので、その出力はI2ピクトからなり、上記4ビツ
トが命令内容として命令デコーダ18を介して制御バス
29に供給され、下位8ビツトがオペランドのアドレス
としてアドレスバッファ19を介してアドレスバス30
を供給される。ここで命令デコーダ18は第1の電圧検
出回路12の出力aが入力されて、Vdd≦Vsにおい
ては、無効命令(N。
Oρearation以下N(1)P命令と略す)を出
力せしめるよう構成されている。また、上記演算部21
は、リザルトレジスタ22と共にいわゆるCPUを構成
するものである。また、上記データメモリ23には特殊
バス32を介して特殊カウンタ25のカウンタ出力が供
給されるようになされている。
上記のような構成において、以下の動作について説明す
る。
一般的にyO8型半導体集積回路の動作周波数と動作型
i#電圧範囲は第2図のようになっている。
すなわち、成る周波数fOにおける最低動作電圧はVm
inであり、Vmin以上では正常に動作するが、Vm
in以下では誤動作してしまう。動作周波数と最低作動
電圧は比例関係にある。
このマイクロコントローラは、クロック周波数fOにお
ける下限安定動作電圧Vminとすると、電源電圧Vd
dがVmin電圧以下となるとき正常な動作を保証する
ことができなくなるので、クロックを周波数fOからf
OZ8に切り替える第1の下限基準電圧レベクをVs、
リセット信号すを発生させる第2の下限基準電圧レベル
をVrとして、Vs>Vmin>Vrに設定することに
より、電源電圧Vddの立ち」二かり時や電圧変動によ
る電圧降下時に発生する誤動作を防止するようにしたも
のである。
すなわち、電源電圧Vddの立ち上がり時において、0
 (V)<Vdd≦Vrの間では、第2の電源型圧検出
回FIfrr13が作動してリセット信号すをプログラ
ムカウンタ16および制御バス29を介して他の必要な
ブロックに供給し、そのプログラムカウンタ16および
各ブロックを初期化する。
このとき、Vdd<Vsであるため、第1の電源電圧検
出回路12がこれを検出してクロック選択信号aを発生
出力しており、このクロック選択信号aが“0”論理レ
ベルであることにより、クロック選択回路28からは電
源電圧が低い領域でも保証できるクロック周波数fO/
8が選択されて、2相クロツクφa、φbが供給される
また、Vr<Vdd≦Vsの間では、上記第2の電源電
圧検出回路13によるリセットが解除されるが、第1の
電源電圧検出回路12が作動してクロック選択信号aが
“0”論理レベルを発生出力しているため、クロック選
択回路28は低い周波数fO/8を選択しており、この
マイクロコントローラは動作状態を保証されている。さ
らに、上記クロック選択信号aがプログラムカウンタ1
6の動作を制御しているANDゲート33に入力されて
いるためプログラムカウンタ16は停止状態となり、さ
らに命令デコーダ18に入力されることによりNOP命
令を出力せしめているので実質的には停止にしているの
と同等である。今の状態では、リセット状態を保持して
いる。
そして、Vdd>Vsとなったとき、上記第1の電源電
圧検出回路12がこれを検出してクロック選択信号aの
出力を“1″論理レベルにするため、クロック選択回v
Pr2Bによりクロック周波数fOが選択される。それ
とともに、プログラムカウンタ16は動作を始め命令デ
コーダ18はプログラムメモリ17に格納されている内
容に対応した命令を出し始める。これによって、このマ
イクロコントローラは完全に動作状態となる。
次に、電源電圧Vdd降下時において、電源電圧Vdd
が降下してVdd≦Vsとなると、第1の電源電圧検出
回路12がこれを検出してクロック発生停止信号aとし
て論理レベル“0″を発生出力し、クロック選択回路2
8により低い周波数f O/8を選択するとともに、プ
ログラムカウンタ16の動作を停止し命令デコーダ18
出力をNop命令とするため、I続して安定的に動作を
続け、低電圧においてもこのマイクロコントローラは動
作していた状態を保証し続ける。
しかる後、Vdd>Vsとなると、その状態から再び動
作を開始するようになる。このようにして、短時間の電
源電圧降下に対しては、実用上全く問題ない動作を行な
う。そして、電源電圧VddがVdd≦Vrまで降下す
ると、第2の電源電圧検出回路13がこれを検出してリ
セット信号すを発生出力するようになり、これによって
信号すを発生出力するようになり、これによってマイク
ロコントローラは初期化されるようになる。
ここで、上記第1の電源電圧検出回路12は、D型■フ
リソブフロンプFFなどでクロック発生回路14からの
クロックに同期して駆動することにより、このマイクロ
コントローラがVdd>VSで正常に動作しているとき
に不意にVdd≦VSとなった場合に、無条件にクロッ
クを切り替えるのではなく、現状の命令実行を終えて次
のクロックサイクルに移るときにクロックを停止させる
ようになされている。これにより、命令実行に必要な最
少クロック時間幅を常に確保している。
このような本来の動作時のクロック周波数fOにおける
電源電圧Vddに関する動作保証の下限は一般的にはV
minレベルであるが、上記マイクロコントローラでは
自動的にクロック低下させ状態保証させることにより、
見掛は上大幅に低く設定することができ、第2の下限基
準電圧Vrレベルまで動作を保証することができるもの
である。
さらに、上記実施例について具体的な数値を用いて説明
する。
第1の下限基準電圧Vsは約4.0(V)、第2の下限
基準電圧Vrは約2.0(V)と設定しである。また、
リセットが実際に働く動作状態保証最低電圧Vrは、約
1.5(V)である。またP5端子に外部からテスト信
号を印加して第2の電源電圧検出回路12の作動を禁止
した状態でクロック周波数fOで動作させる場合の下限
安定動作電圧Vminは3.5(V)であり、上限安定
動作電圧6.0(V)である。第3図にその動作可能範
囲を示す。
すなわち、この場合のマイクロコントローラは、クロッ
ク周波数fOの場合に完全に動作する3、5〜6.0 
〔v〕に加えて、2.0〜4.0  (V)の間はクロ
ックが自動的に低下してそのときの内部状態を実質的に
保持するため、電源電圧Vddの不意の降下時に動作を
保証し得る範囲2.0〜6.0(V)と低電圧側を大幅
に改善することができる。また、電源電圧Vddが2.
0(V)まで降下した場合には、完全に初期化されるた
め、実質的な動作範囲2.0〜6.0(V)となる。
このように、このマイクロコントローラは、電源電圧V
ddの立ち上がりや動作状態において、電圧Vddが急
激に変動する場合においても、暴走することなく安定に
動作することができるものである。これは、Vmin<
Vsとしてクロック周波*roにおける動作可能範囲左
、クロック周波数fO/8の周波数における動作電圧範
囲をオーバーラツプさせたこと、クロック周波数fo/
8の低周波数における動作電圧範囲とリセット範囲をオ
ーバーラツプさせたこと、および実質的な動作保持が共
に保証できない空白な領域を無くしたこと等によるもの
である。
したがって、上記のように構成した1チツプマイクロコ
ントローラは、従来のように電源電圧変動等の制御信竺
を入力するための□端子を4□けることなく、内部で電
源電圧の変動に(る内部回路の′5 。
誤動作を防止することができ、さらに内部に複雑1、′
な割込み処理回路を設ける必iな天、動作を保証゛ □
する下限電圧レベルを大幅に低く1設定することができ
るようになる。これによっ□て、特に外部から  。
の電波障害や、自動車電装品に到□来するイグニソ” 
□  。
シラン雑音のような高電波・高電圧雑音により、電源電
圧が不安定になる場合に、極めて有効なものとすること
ができる。
を得るのに第1のクロック周波数は、精度はそれ程要し
ないため、よく知られて、いるリングオシレ−タや第1
図のCR発振器14に”頻僚な回路を半″″″′7”′
””=* c= k“9“1”°′″I #Ik G町
′1゜立してもよい。
この場合、リングオシレータを用いれば、マイクロコン
トローラの動作速度が電源電圧の降下に伴なって遅くな
る程度とリングオシレータの周波数が遅くなる程度が同
じであるため、本発明の主旨が発揮できる。パ   なお、本発明でiよ電源電圧が低下して場合に選択
信号によりクロックを低周波数に切り替えて動作状態の
保持を行なっているが、回路構成を完全にダイナミック
回路ではなく、ハーフダイナミツ□回路0.すわ。よ0
.よ9、’)Oyoを停止、7状態保持を行なう方法も
考えられる。すなわち、状・1保持をしたい回路便分を
一部のクロック位相においてスタテイ・シフ状態にして
、このクロックを、 停止する方法である。但し、この
場は回路がより複雑になる。 ゛ ′(発明の効果) ” 以上詳述したようにこの発明によれば、電源電圧変
動時の制御信号を入力するための端子を設けることなく
、内部で電源電圧の変動による内部回、′ 、路素子の誤動作防止を行なうことのでき、さらに内部
に複雑な割込み処理回路を設ける必要のない1チツプマ
イクロコントローラを堤供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る1チツプマイクロコントローラ
の一実施例を示すブロック回路図、第2図は一ヒ記実施
例の具体的な動作周波数とマイクロコントローラとして
の動作電圧範囲を示した図、第3図は上記実施例の具体
的な動作範囲を説明するための図である。 11・・・Vdd電源、12・・・第1の電源電圧検出
回路、13・・・第2の電源電圧検出回路、14・・・
クロック発生回路、15・・・2相りロック発生回路、
29・・・制?l ハス、30・・・アドレスバス、3
1・・・データバス、Pl、P2・・・電源端子、P3
.P4・・・クロック制御用端子、Vs・・・第1の下
限基準電圧、Vr・・・第2の下限基準電圧、Vmin
・・・下限安定動作電圧、Vr・・・動作保証最低電圧
、a・・・クロック発生停止信号、b・・・リセット信
号、28・・・クロック周波数選択回路、32・・・ク
ロック分周回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上にROM、RAM、ALU、命令デコー
    ダ、プログラムカウンタ、I/Oを少なくとも有する内
    部回路素子部と、この内部回路素子部に対して駆動クロ
    ック信号として、第1のクロック周波数か或いはより周
    波数の低い第2のクロック周波数を選択して供給するク
    ロック発生回路と、上記半導体基板に対して設けられた
    外部の電源に対して接続される電源端子と、この電源端
    子からの電源電圧が供給されこの電源電圧が上記第1の
    クロック周波数において、上記内部回路素子の安定動作
    を保証する第1の下限基準電圧Vs以下となる状態を検
    出して上記クロック発生回路に対して、上記第2のクロ
    ック周波数を選択するとともに、プログラムカウンタの
    変化を禁止し、命令デコーダの出力を無効命令化せしめ
    る信号を発生する第1の電源電圧検出回路と、上記電源
    端子からの電源電圧が供給されこの電源電圧が上記第2
    のクロック周波数における上記内部回路素子部の動作状
    態保証電圧Vtよりやや高くその動作状態保持を保証で
    きる第2の下限基準電圧Vr以下となる状態を検出して
    リセット信号を発生する第2の電源電圧検出回路と、上
    記リセット信号の発生に応じて上記内部回路素子部を初
    期状態に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
    る1チップマイクロコントローラ。
JP59261562A 1984-04-19 1984-12-10 1チツプマイクロコントロ−ラ Granted JPS61138356A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0248720A (ja) * 1988-08-10 1990-02-19 Sanyo Electric Co Ltd ワンチップマイクロコンピュータ
JPH04251312A (ja) * 1991-01-08 1992-09-07 Hitachi Ltd クロツク供給方式
JPH06138983A (ja) * 1992-04-28 1994-05-20 American Teleph & Telegr Co <Att> バッテリ式電子デバイス用装置
KR100442290B1 (ko) * 2001-09-19 2004-07-30 주식회사 하이닉스반도체 프로그램 카운터 제어회로
JP2017058911A (ja) * 2015-09-16 2017-03-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

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