JPS61138177A - 複数機器の選択方法 - Google Patents
複数機器の選択方法Info
- Publication number
- JPS61138177A JPS61138177A JP59261481A JP26148184A JPS61138177A JP S61138177 A JPS61138177 A JP S61138177A JP 59261481 A JP59261481 A JP 59261481A JP 26148184 A JP26148184 A JP 26148184A JP S61138177 A JPS61138177 A JP S61138177A
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- Japan
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- devices
- test
- magnetic disk
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の被試験機器を試験装置にいもずる接続
して試験装置が個々の被試験機器を選択して試験を行な
う選択試験方法に関し、特に設定された機番に対応する
デバイスアドレスが与えられることによって選択された
ことを識別する被試験機器の選択方法を改良した選択試
験方法に関する。
して試験装置が個々の被試験機器を選択して試験を行な
う選択試験方法に関し、特に設定された機番に対応する
デバイスアドレスが与えられることによって選択された
ことを識別する被試験機器の選択方法を改良した選択試
験方法に関する。
例えば、磁気ディスク装置等の機器を試験するのに、コ
ンピュータで構成された試験器に複数の機器をいもする
゛接続し、複数の機器を同時に試験することが行なわれ
ている。
ンピュータで構成された試験器に複数の機器をいもする
゛接続し、複数の機器を同時に試験することが行なわれ
ている。
第２図は従来の試験方法の説明図であり、被試験装置で
ある磁気ディスク装置２．３．４．５−・は自己のコネ
クタ２２．３２．４２．５２−を介しコンピュータで構
成−された試験装置１にデータ線ＤＬ及びアドレス線Ａ
Ｌによっていもする接続される。磁気ディスク装置２．
３．４．５−・−には自己の機番を設定するＤＩＰスイ
ッチで構成される機番設定部２０．３０．４０．５０−
と、アドレス線を介して与えられるデバイスアドレスが
設定された自己の機番と一致するか比較し、選択された
ことを識別するための比較部２１．３１．４１．５１・
−が設けられており、実際の使用時にコンピュータに対
していもする接続された際に、機番の設定によりコンピ
ュータが個々の磁気ディスク装置を選択可能としている
。
ある磁気ディスク装置２．３．４．５−・は自己のコネ
クタ２２．３２．４２．５２−を介しコンピュータで構
成−された試験装置１にデータ線ＤＬ及びアドレス線Ａ
Ｌによっていもする接続される。磁気ディスク装置２．
３．４．５−・−には自己の機番を設定するＤＩＰスイ
ッチで構成される機番設定部２０．３０．４０．５０−
と、アドレス線を介して与えられるデバイスアドレスが
設定された自己の機番と一致するか比較し、選択された
ことを識別するための比較部２１．３１．４１．５１・
−が設けられており、実際の使用時にコンピュータに対
していもする接続された際に、機番の設定によりコンピ
ュータが個々の磁気ディスク装置を選択可能としている
。
′このような実際の使用時と同様に試験装置１に複数の
磁気ディスク装置２．３．４．５・−・をいもする接続
し、試験装置１からアドレス線ＡＬにデバイスアドレス
を送出して磁気ディスク装置２．３．４．５・・・を指
定し、データ線ＤＬより試験データを送って動作せしめ
、その結果を得て試験を行う。係る試験は環境条件を変
えて、装置のマージンを試験するのに用いられる。
磁気ディスク装置２．３．４．５・−・をいもする接続
し、試験装置１からアドレス線ＡＬにデバイスアドレス
を送出して磁気ディスク装置２．３．４．５・・・を指
定し、データ線ＤＬより試験データを送って動作せしめ
、その結果を得て試験を行う。係る試験は環境条件を変
えて、装置のマージンを試験するのに用いられる。
この磁気ディスク装置２．３．４．５−・をデバイスア
ドレスで指定して選択するには、各磁気ディスク装置２
．３．４．５−に人手によって機番設定部２０．３０，
４０．５０−・のＤＩＰスイッチを操作して異なる機番
を設定することによって各磁気ディスク装置２．３．４
．５− がデバイスアドレスを認識するようにしてい
る。例えば、磁気ディスク装置２．３．４．５に各々機
番＃０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３を設定すれば、各々デバイス
アドレス″００″、“０１″、“１０”、′１１”で各
磁気ディスク装置２．３．４．５の選択が可能となる。
ドレスで指定して選択するには、各磁気ディスク装置２
．３．４．５−に人手によって機番設定部２０．３０，
４０．５０−・のＤＩＰスイッチを操作して異なる機番
を設定することによって各磁気ディスク装置２．３．４
．５− がデバイスアドレスを認識するようにしてい
る。例えば、磁気ディスク装置２．３．４．５に各々機
番＃０、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３を設定すれば、各々デバイス
アドレス″００″、“０１″、“１０”、′１１”で各
磁気ディスク装置２．３．４．５の選択が可能となる。
このような従来の試験方法によれば、被試験装置である
磁気ディスク装置２．３．４．５を人手により接続順に
応じて異なる機番を設定する必要があり、試験前の機番
設定に人手と時間を要するという問題があった。特に１
台の試験装置に何十台という被試験機器を接続する場合
には、接続順に応じて個々の機器に機番設定する作業が
大変であるばかりか、設定ミスも生じ易いという問題も
生じていた。
磁気ディスク装置２．３．４．５を人手により接続順に
応じて異なる機番を設定する必要があり、試験前の機番
設定に人手と時間を要するという問題があった。特に１
台の試験装置に何十台という被試験機器を接続する場合
には、接続順に応じて個々の機器に機番設定する作業が
大変であるばかりか、設定ミスも生じ易いという問題も
生じていた。
本発明は、機番設定を容易として試験を行うことのでき
る複数機器の選択試験方法を提供するにある。このため
、本発明は、複数の被試験機器を試験装置にいもずる接
続しミ試験装置から与えられるデバイスアドレスと該被
試験機器に設定された機番との対応によって該被試験機
器を選択して試験を行う複数機器の選択試験方法におい
て、該複数の被試験機器の各々を該被試験機器を指定し
たデバイスアドレスが同一の機番を示すように変換する
アダプタを介して該試験装置に接続し、同一機番に設定
された各被試験機器を該デバイスアドレスで選択して試
験するようにしたことを特徴としている。
る複数機器の選択試験方法を提供するにある。このため
、本発明は、複数の被試験機器を試験装置にいもずる接
続しミ試験装置から与えられるデバイスアドレスと該被
試験機器に設定された機番との対応によって該被試験機
器を選択して試験を行う複数機器の選択試験方法におい
て、該複数の被試験機器の各々を該被試験機器を指定し
たデバイスアドレスが同一の機番を示すように変換する
アダプタを介して該試験装置に接続し、同一機番に設定
された各被試験機器を該デバイスアドレスで選択して試
験するようにしたことを特徴としている。
本発明では、試験装置と複数の被試験ｔａ器とをアドレ
ス変換用アダプタを介して接続し、このアダプタによっ
て個々の被試験機器を指定するデバイスアドレスを同一
の機番に変換することにより、同一機番に設定された各
被試験機器をデバイスアドレスによって指定選択しうる
ようにし、各被試験機器に異なる機番を設定する手間を
省くようにしている。
ス変換用アダプタを介して接続し、このアダプタによっ
て個々の被試験機器を指定するデバイスアドレスを同一
の機番に変換することにより、同一機番に設定された各
被試験機器をデバイスアドレスによって指定選択しうる
ようにし、各被試験機器に異なる機番を設定する手間を
省くようにしている。
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第１図は本発明の試験方法の一実施例説明図であり、図
中、第１図で示したものと同一のものは同一の記号で示
してあり、１０はアダプタであり、試験装置１と磁気デ
ィスク装置２．３．４．５との間のアドレス線ＡＬに設
けられ、後述する同一機番へのアドレス変換を行うため
のもの、１０’ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０ｄは反転回路
であり、アドレス線ＡＬ上の信号を反転するためのもの
、Ｒ１、Ｒ２は終端抵抗であり、アドレス線ＡＬの終端
にインピーダンス整合用に設けられるものである。
中、第１図で示したものと同一のものは同一の記号で示
してあり、１０はアダプタであり、試験装置１と磁気デ
ィスク装置２．３．４．５との間のアドレス線ＡＬに設
けられ、後述する同一機番へのアドレス変換を行うため
のもの、１０’ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０ｄは反転回路
であり、アドレス線ＡＬ上の信号を反転するためのもの
、Ｒ１、Ｒ２は終端抵抗であり、アドレス線ＡＬの終端
にインピーダンス整合用に設けられるものである。
係る構成においては、磁気ディスク装置２は試験装置１
からのデバイスアドレスＤＶＡＯＳＤＶＡ１をそのまま
受け、磁気ディスク装置３は係るデバイスアドレスの内
ＤＶＡＯを反転回路１０ａで反転したアドレスＤＶＡＯ
，ＤＶＡＩを受け、磁気ディスク装置４は係るデバイス
アドレスの内［）ＶＡＯが反転回路１０ａで反転され更
に反転回路１０ｂで反転され、ＤＶＡｌが反転回路１０
ｃで反転されたアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩを受け、磁
気ディスク装置５は係るデバイスアドレスの内ＤＶＡＯ
が反転回路１０ａで反転され、反転回路１０ｂで反転後
更に反転回路１０ｄで反転され、ＤＶＡ １が反転回路
ｔＯＣで反転されたアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩを受け
るようにアダプタ１０を介して接続される。
からのデバイスアドレスＤＶＡＯＳＤＶＡ１をそのまま
受け、磁気ディスク装置３は係るデバイスアドレスの内
ＤＶＡＯを反転回路１０ａで反転したアドレスＤＶＡＯ
，ＤＶＡＩを受け、磁気ディスク装置４は係るデバイス
アドレスの内［）ＶＡＯが反転回路１０ａで反転され更
に反転回路１０ｂで反転され、ＤＶＡｌが反転回路１０
ｃで反転されたアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩを受け、磁
気ディスク装置５は係るデバイスアドレスの内ＤＶＡＯ
が反転回路１０ａで反転され、反転回路１０ｂで反転後
更に反転回路１０ｄで反転され、ＤＶＡ １が反転回路
ｔＯＣで反転されたアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩを受け
るようにアダプタ１０を介して接続される。
従って、各磁気ディスク装置２．３．４．５は与えられ
たデバイスアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩに対してアダプ
タ１０によって変換されたアドレス（ＤＶＡＯｌｌ）Ｖ
Ａ １）、（ＤＶＡＯｌＤＶＡｌ）、（ＤＶＡＯ，ＤＶ
ＡＩ）（ＤＶＡＯｌＤＶＡｌ）を受けるように試験装置
ｌに接続される。
たデバイスアドレスＤＶＡＯ，ＤＶＡＩに対してアダプ
タ１０によって変換されたアドレス（ＤＶＡＯｌｌ）Ｖ
Ａ １）、（ＤＶＡＯｌＤＶＡｌ）、（ＤＶＡＯ，ＤＶ
ＡＩ）（ＤＶＡＯｌＤＶＡｌ）を受けるように試験装置
ｌに接続される。
そして、各磁気ディスク装置２．３．４．５には、同一
の機番（この例では＃０）が各機番設定部２０．３０．
４０．５０より設定される。
の機番（この例では＃０）が各機番設定部２０．３０．
４０．５０より設定される。
このように接続して各磁気ディスク装置２．３．４．５
を選択するには、例えば、試験装置ｌが磁気ディスク装
置２を選択するには、デバイスアドレスとして“ＯＯ″
（ＤＶＡＯ＝Ｏ１ＤＶＡ１＝０）をアドレス線ＡＬに
与えると、各磁気ディスク装置２．３．４、・５には“
００″、“１０″、“０１”、“１１”が入力され、共
通機番＃Ｏに対応する“００”の入力された磁気ディス
ク装置２のみが比較部２１の一致検出で自己が選択され
たことを認識でき、他の磁気ディスク装置３．４．５は
各比較部３１．４１．５１で一致が得られないため自己
の選択でないと認識する。同様にして、磁気ディスク装
置３を選択するには、デバイスアドレスを“１０”とす
ればよく、磁気ディスク装置４を選択するには、デバイ
スアドレスを′０１”とし、磁気ディスク装置５を選択
するには、デバイスアドレスを“１１”とすればよい。
を選択するには、例えば、試験装置ｌが磁気ディスク装
置２を選択するには、デバイスアドレスとして“ＯＯ″
（ＤＶＡＯ＝Ｏ１ＤＶＡ１＝０）をアドレス線ＡＬに
与えると、各磁気ディスク装置２．３．４、・５には“
００″、“１０″、“０１”、“１１”が入力され、共
通機番＃Ｏに対応する“００”の入力された磁気ディス
ク装置２のみが比較部２１の一致検出で自己が選択され
たことを認識でき、他の磁気ディスク装置３．４．５は
各比較部３１．４１．５１で一致が得られないため自己
の選択でないと認識する。同様にして、磁気ディスク装
置３を選択するには、デバイスアドレスを“１０”とす
ればよく、磁気ディスク装置４を選択するには、デバイ
スアドレスを′０１”とし、磁気ディスク装置５を選択
するには、デバイスアドレスを“１１”とすればよい。
この試験装置１からのデバイスアドレスの付与は従来と
同様に行なえ、アダプタ１０によって係る変換が行なわ
れ、各磁気ディスク装置２．３．４．５を同一機番に設
定しても、各磁気ディスク装置２．３．４．５の選択を
可能とする。
同様に行なえ、アダプタ１０によって係る変換が行なわ
れ、各磁気ディスク装置２．３．４．５を同一機番に設
定しても、各磁気ディスク装置２．３．４．５の選択を
可能とする。
尚、アダプタ１０に終端抵抗Ｒ１、Ｒ２を設けておけば
、アドレス線ＡＬの終端に位置する磁気ディスク装置５
に特別に終端抵抗を設けなくてもよ（、単にアダプタと
の接続のみで済むという利点が得られる。
、アドレス線ＡＬの終端に位置する磁気ディスク装置５
に特別に終端抵抗を設けなくてもよ（、単にアダプタと
の接続のみで済むという利点が得られる。
上述の実施例においては、アドレス線ＡＬ上にアダプタ
１０を設けているが、共通のアダプタ線ＡＬが各磁気デ
ィスク装置２．３．４．５に分岐する線上にアダプタを
設けてもよ（、例えば磁気ディスク装置３のコネクタ３
２の入力側にＤＶＡＯの反転回路を、磁気ディスク装置
４のコネクタ４２の入力側にＤＶＡＩの反転回路を、磁
気ディスク装置５のコネクタ５２の入力側にＤＶＡＯｌ
ＤＶＡＬの反転回路を設ければよい。
１０を設けているが、共通のアダプタ線ＡＬが各磁気デ
ィスク装置２．３．４．５に分岐する線上にアダプタを
設けてもよ（、例えば磁気ディスク装置３のコネクタ３
２の入力側にＤＶＡＯの反転回路を、磁気ディスク装置
４のコネクタ４２の入力側にＤＶＡＩの反転回路を、磁
気ディスク装置５のコネクタ５２の入力側にＤＶＡＯｌ
ＤＶＡＬの反転回路を設ければよい。
又、被試験装置を磁気ディスク装置を例に説明したが、
プリンタ装置やディスプレイ装置、パーソナルコンピュ
ータ等の他の周知の機器にも適用できる。
プリンタ装置やディスプレイ装置、パーソナルコンピュ
ータ等の他の周知の機器にも適用できる。
以上本発明を一実施例により説明したが、本発明は本発
明の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこ
れらを排除するものではない。
明の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこ
れらを排除するものではない。
以上説明した様に、本発明によれば、複数の被試験機器
を試験装置にいもずる接続し、試験装置から与えられる
デバイスアドレスと該被試験機器′ に設定された機番
との対応によって該被試験機器を選択して試験を行う複
数機器の選択試験方法において、該複数の被試験機器の
各々を該被試験機器を指定したデバイスアドレスが同一
の機番を示すように変換するアダプタを介して該試験装
置に接続し、同一機番に設定された各被試験機器を該デ
バイスアドレスで選択して試験するようにしたことを特
徴としているので、機番が設定され、与えられたデバイ
スアドレスと機番との一致により自己が選択されたこと
を認識する被試験機器に対し同一機番を設定しても各試
験機器の選択が可能となり、試験のための機番設定作業
が容易となるという効果を奏し、被試験機器が多数でも
試験のための接続作業を短時間に且つ少人数で行なうこ
とができる。又、一般に機番は機器製造時に一定のもの
にセットされているので、これを利用して機番設定作業
を省くこともできるという大きな効果も奏する。更に、
アダプタを介して接続するだけで実現できるので、容易
にしかも簡単に実現しうるという実用上滑れた効果も奏
する。
を試験装置にいもずる接続し、試験装置から与えられる
デバイスアドレスと該被試験機器′ に設定された機番
との対応によって該被試験機器を選択して試験を行う複
数機器の選択試験方法において、該複数の被試験機器の
各々を該被試験機器を指定したデバイスアドレスが同一
の機番を示すように変換するアダプタを介して該試験装
置に接続し、同一機番に設定された各被試験機器を該デ
バイスアドレスで選択して試験するようにしたことを特
徴としているので、機番が設定され、与えられたデバイ
スアドレスと機番との一致により自己が選択されたこと
を認識する被試験機器に対し同一機番を設定しても各試
験機器の選択が可能となり、試験のための機番設定作業
が容易となるという効果を奏し、被試験機器が多数でも
試験のための接続作業を短時間に且つ少人数で行なうこ
とができる。又、一般に機番は機器製造時に一定のもの
にセットされているので、これを利用して機番設定作業
を省くこともできるという大きな効果も奏する。更に、
アダプタを介して接続するだけで実現できるので、容易
にしかも簡単に実現しうるという実用上滑れた効果も奏
する。
第１図は本発明方法の一実施例説明図、第２図は従来の
方法の説明図である。 図中、１−試験装置、２．３．４．５−磁気ディスク装
置（被試験機器）、１０−アダプタ、２０．３０．４０
．５０・・−機番設定部。
方法の説明図である。 図中、１−試験装置、２．３．４．５−磁気ディスク装
置（被試験機器）、１０−アダプタ、２０．３０．４０
．５０・・−機番設定部。
Claims (1)
- 複数の被試験機器を試験装置にいもずる接続し、試験装
置から与えられるデバイスアドレスと該被試験機器に設
定された機番との対応によって該被試験機器を選択して
試験を行う複数機器の選択試験方法において、該複数の
被試験機器の各々を該被試験機器を指定したデバイスア
ドレスが同一の機番を示すように変換するアダプタを介
して該試験装置に接続し、同一機番に設定された各被試
験機器を該デバイスアドレスで選択して試験するように
したことを特徴とする複数機器の選択試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261481A JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261481A JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61138177A true JPS61138177A (ja) | 1986-06-25 |
| JPH0453270B2 JPH0453270B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=17362502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59261481A Granted JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61138177A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0277849A (ja) * | 1988-06-22 | 1990-03-16 | Toshiba Corp | 論理回路ブロックの自己診断回路 |
| JPH08153168A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Iwaki Electron Corp Ltd | 複数カード試験方法 |
| US6823400B2 (en) * | 1999-12-16 | 2004-11-23 | Ricoh Company, Ltd. | Method and apparatus for serial communications between a host apparatus and optional equipment having unique identification values |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49134375A (ja) * | 1973-04-26 | 1974-12-24 |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP59261481A patent/JPS61138177A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49134375A (ja) * | 1973-04-26 | 1974-12-24 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0277849A (ja) * | 1988-06-22 | 1990-03-16 | Toshiba Corp | 論理回路ブロックの自己診断回路 |
| JPH08153168A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Iwaki Electron Corp Ltd | 複数カード試験方法 |
| US6823400B2 (en) * | 1999-12-16 | 2004-11-23 | Ricoh Company, Ltd. | Method and apparatus for serial communications between a host apparatus and optional equipment having unique identification values |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0453270B2 (ja) | 1992-08-26 |
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