JPH0453270B2 - - Google Patents
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- JPH0453270B2 JPH0453270B2 JP59261481A JP26148184A JPH0453270B2 JP H0453270 B2 JPH0453270 B2 JP H0453270B2 JP 59261481 A JP59261481 A JP 59261481A JP 26148184 A JP26148184 A JP 26148184A JP H0453270 B2 JPH0453270 B2 JP H0453270B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- magnetic disk
- devices
- adapter
- test
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の被試験機器等の第２の機器を
試験装置等の第１の装置にいもずる接続して、第
１の装置が個々の第２の機器を選択して、通信を
行う選択方法に関し、特に第２の機器が設定され
た機番に対応するデバイスアドレスが与えられる
ことによつて、選択されたことを識別する複数機
器の選択方法に関する。
試験装置等の第１の装置にいもずる接続して、第
１の装置が個々の第２の機器を選択して、通信を
行う選択方法に関し、特に第２の機器が設定され
た機番に対応するデバイスアドレスが与えられる
ことによつて、選択されたことを識別する複数機
器の選択方法に関する。
例えば、磁気デイスク装置等の機器を試験する
のに、コンピユータで構成された試験器に複数の
機器をいもずる接続し、複数の機器を同時に試験
することが行なわれている。
のに、コンピユータで構成された試験器に複数の
機器をいもずる接続し、複数の機器を同時に試験
することが行なわれている。
第２図は従来の試験方法の説明図であり、被試
験装置である磁気デイスク装置２，３，４，５…
は自己のコネクタ２２，３２，４２，５２…を介
しコンピユータで構成された試験装置１にデータ
線DL及びアドレス線ALによつていもずる接続さ
れる。磁気デイスク装置２，３，４，５…には自
己の機番を設定するDIPスイツチで構成される機
番設定部２０，３０，４０，５０…と、アドレス
線を介して与えられるデバイスアドレスが設定さ
れた自己の機番と一致するか比較し、選択された
ことを識別するための比較部２１，３１，４１，
５１…が設けられており、実際の使用時にコンピ
ユータに対していもずる接続された際に、機番の
設定によりコンピユータが個々の磁気デイスク装
置を選択可能としている。
験装置である磁気デイスク装置２，３，４，５…
は自己のコネクタ２２，３２，４２，５２…を介
しコンピユータで構成された試験装置１にデータ
線DL及びアドレス線ALによつていもずる接続さ
れる。磁気デイスク装置２，３，４，５…には自
己の機番を設定するDIPスイツチで構成される機
番設定部２０，３０，４０，５０…と、アドレス
線を介して与えられるデバイスアドレスが設定さ
れた自己の機番と一致するか比較し、選択された
ことを識別するための比較部２１，３１，４１，
５１…が設けられており、実際の使用時にコンピ
ユータに対していもずる接続された際に、機番の
設定によりコンピユータが個々の磁気デイスク装
置を選択可能としている。
このような実際の使用時と同様に試験装置１に
複数の磁気デイスク装置２，３，４，５…をいも
ずる接続し、試験装置１からアドレス線ALにデ
バイスアドレスを送出して磁気デイスク装置２，
３，４，５…を指定し、データ線DLより試験デ
ータを送つて動作せしめ、その結果を得て試験を
行う。係る試験は環境条件を変えて、装置のマー
ジンを試験するのに用いられる。
複数の磁気デイスク装置２，３，４，５…をいも
ずる接続し、試験装置１からアドレス線ALにデ
バイスアドレスを送出して磁気デイスク装置２，
３，４，５…を指定し、データ線DLより試験デ
ータを送つて動作せしめ、その結果を得て試験を
行う。係る試験は環境条件を変えて、装置のマー
ジンを試験するのに用いられる。
この磁気デイスク装置２，３，４，５…をデバ
イスアドレスで指定して選択するには、各磁気デ
イスク装置２，３，４，５…に人手によつて機番
設定部２０，３０，４０，５０…のDIPスイツチ
を操作して異なる機番を設定することによつて各
磁気デイスク装置２，３，４，５…がデバイスア
ドレスを認識するようにしている。例えば、磁気
デイスク装置２，３，４，５に各々機番＃０，
＃１，＃２，＃３を設定すれば、各々デバイスア
ドレス“00”、“01”、“10”、“11”で各磁気デイス
ク装置２，３，４，５の選択が可能となる。
イスアドレスで指定して選択するには、各磁気デ
イスク装置２，３，４，５…に人手によつて機番
設定部２０，３０，４０，５０…のDIPスイツチ
を操作して異なる機番を設定することによつて各
磁気デイスク装置２，３，４，５…がデバイスア
ドレスを認識するようにしている。例えば、磁気
デイスク装置２，３，４，５に各々機番＃０，
＃１，＃２，＃３を設定すれば、各々デバイスア
ドレス“00”、“01”、“10”、“11”で各磁気デイス
ク装置２，３，４，５の選択が可能となる。
このような従来の試験等における選択方法によ
れば、被試験装置（第２の機器）である磁気デイ
スク装置２，３，４，５を、人手により接続順に
応じて異なる機番に設定する必要があり、試験前
の機番設定に人手と時間を要するという問題があ
つた。
れば、被試験装置（第２の機器）である磁気デイ
スク装置２，３，４，５を、人手により接続順に
応じて異なる機番に設定する必要があり、試験前
の機番設定に人手と時間を要するという問題があ
つた。
特に、１台の試験装置に何十台という被試験機
器を接続する場合には、接続順に応じて個々の機
器に機番設定する作業が大変であるばかりか、設
定ミスも生じ易いという問題も生じていた。
器を接続する場合には、接続順に応じて個々の機
器に機番設定する作業が大変であるばかりか、設
定ミスも生じ易いという問題も生じていた。
本発明は、機番設定を容易として、複数機器の
選択を可能とする複数機器の選択方法を提供する
にある。
選択を可能とする複数機器の選択方法を提供する
にある。
このため、本発明は、複数の第２の機器を、第
１の装置に、データ線及びアドレス線によつて、
いもずる接続し、該第１の装置から該アドレス線
により与えられるデバイスアドレスを、該第２の
機器が設定された機番と比較し、比較の一致によ
り、選択されたことを認識し、該データ線による
通信を行う複数機器の選択方法において、該各第
２の機器の機番を同一の機番に設定するととも
に、該アドレス線上のデバイスアドレスを、対応
する該第２の機器には、該同一機番に変換して出
力し、対応しない他の第２の機器には、該同一機
番と異なる機番に変換して出力するアダプタを介
して各第２の機器をアドレス線に接続し、該第１
の装置が、該第２の機器に割り当てられたデバイ
スアドレスにより、対応する第２の機器を選択す
るようにしたことを特徴とする。
１の装置に、データ線及びアドレス線によつて、
いもずる接続し、該第１の装置から該アドレス線
により与えられるデバイスアドレスを、該第２の
機器が設定された機番と比較し、比較の一致によ
り、選択されたことを認識し、該データ線による
通信を行う複数機器の選択方法において、該各第
２の機器の機番を同一の機番に設定するととも
に、該アドレス線上のデバイスアドレスを、対応
する該第２の機器には、該同一機番に変換して出
力し、対応しない他の第２の機器には、該同一機
番と異なる機番に変換して出力するアダプタを介
して各第２の機器をアドレス線に接続し、該第１
の装置が、該第２の機器に割り当てられたデバイ
スアドレスにより、対応する第２の機器を選択す
るようにしたことを特徴とする。
本発明では、第１の装置と複数の第２の機器と
をアドレス変換用アダプタを介して接続し、この
アダプタによつて、同一の機番が設定された個々
の第２の機器を指定するデバイスアドレスを対応
する第２の機器に対してのみ当該同一機番に変換
することにより、同一機番に設定された各第２の
機器を、異なるデバイスアドレスによつて指定選
択しうるようにし、各第２の機器に異なる機番を
設定する手間を省くようにしている。
をアドレス変換用アダプタを介して接続し、この
アダプタによつて、同一の機番が設定された個々
の第２の機器を指定するデバイスアドレスを対応
する第２の機器に対してのみ当該同一機番に変換
することにより、同一機番に設定された各第２の
機器を、異なるデバイスアドレスによつて指定選
択しうるようにし、各第２の機器に異なる機番を
設定する手間を省くようにしている。
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第１図は本発明の試験方法の一実施例説明図で
あり、図中、第２図で示したものと同一のものは
同一の記号で示してあり、１０はアダプタであ
り、試験装置１と磁気デイスク装置２，３，４，
５との間のアドレス線ALに設けられ、後述する
同一機番へのアドレス変換を行うためのもの、１
０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄは反転回路であ
り、アドレス線AL上の信号を反転するためのも
の、Ｒ１，Ｒ２は終端抵抗であり、アドレス線
ALの終端にインピーダンス整合用に設けられる
ものである。
あり、図中、第２図で示したものと同一のものは
同一の記号で示してあり、１０はアダプタであ
り、試験装置１と磁気デイスク装置２，３，４，
５との間のアドレス線ALに設けられ、後述する
同一機番へのアドレス変換を行うためのもの、１
０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄは反転回路であ
り、アドレス線AL上の信号を反転するためのも
の、Ｒ１，Ｒ２は終端抵抗であり、アドレス線
ALの終端にインピーダンス整合用に設けられる
ものである。
係る構成においては、磁気デイスク装置２は試
験装置１からのデバイスアドレスDVA０，DVA
１をそのまま受け、磁気デイスク装置３は係るデ
バイスアドレスの内DVA０を反転回路１０ａで
反転したアドレス０，DVA１を受け、磁気
デイスク装置４は係るデバイスアドレスの内
DVA０が反転回路１０ａで反転され更に反転回
路１０ｂで反転され、DVA１が反転回路１０ｃ
で反転されたアドレスDVA０，１を受け、
磁気デイスク装置５は係るデバイスアドレスの内
DVA０が反転回路１０ａで反転され、反転回路
１０ｂで反転後更に反転回路１０ｄで反転され、
DVA１が反転回路１０ｃで反転されたアドレス
DVA０，１を受けるようにアダプタ１０を
介して接続される。
験装置１からのデバイスアドレスDVA０，DVA
１をそのまま受け、磁気デイスク装置３は係るデ
バイスアドレスの内DVA０を反転回路１０ａで
反転したアドレス０，DVA１を受け、磁気
デイスク装置４は係るデバイスアドレスの内
DVA０が反転回路１０ａで反転され更に反転回
路１０ｂで反転され、DVA１が反転回路１０ｃ
で反転されたアドレスDVA０，１を受け、
磁気デイスク装置５は係るデバイスアドレスの内
DVA０が反転回路１０ａで反転され、反転回路
１０ｂで反転後更に反転回路１０ｄで反転され、
DVA１が反転回路１０ｃで反転されたアドレス
DVA０，１を受けるようにアダプタ１０を
介して接続される。
従つて、各磁気デイスク装置２，３，４，５は
与えられたデバイスアドレスDVA０，DVA１に
対してアダプタ１０によつて変換されたアドレス
DVA０，DVA１，０，DVA１，DVA０，
DVA１，０，１を受けるように試験
装置１に接続される。
与えられたデバイスアドレスDVA０，DVA１に
対してアダプタ１０によつて変換されたアドレス
DVA０，DVA１，０，DVA１，DVA０，
DVA１，０，１を受けるように試験
装置１に接続される。
そして、各磁気デイスク装置２，３，４，５に
は、同一の機番（この例では＃０）が各機番設定
部２０，３０，４０，５０より設定される。
は、同一の機番（この例では＃０）が各機番設定
部２０，３０，４０，５０より設定される。
このように接続して各磁気デイスク装置２，
３，４，５を選択するには、例えば、試験装置１
が磁気デイスク装置２を選択するには、デバイス
アドレスとして“00”（DVA０＝０、DVA１＝
０）をアドレス線ALに与えると、各磁気デイス
ク装置２，３，４，５には“00”、“10”、“01”、
“11”が入力され、共通機番＃０に対応する“00”
の入力された磁気デイスク装置２のみが比較部２
１の一致検出で自己が選択されたことを認識で
き、他の磁気デイスク装置３，４，５は各比較部
３１，４１，５１で一致が得られないため自己の
選択でないと認識する。同様にして、磁気デイス
ク装置３を選択するには、デバイスアドレスを
“10”とすればよく、磁気デイスク装置４を選択
するには、デバイスアドレスを“01”とし、磁気
デイスク装置５を選択するには、デバイスアドレ
スを“11”とすればよい。この試験装置１からの
デバイスアドレスの付与は従来と同様に行なえ、
アダプタ１０によつて係る変換が行なわれ、各磁
気デイスク装置２，３，４，５を同一機番に設定
しても、各磁気デイスク装置２，３，４，５の選
択を可能とする。
３，４，５を選択するには、例えば、試験装置１
が磁気デイスク装置２を選択するには、デバイス
アドレスとして“00”（DVA０＝０、DVA１＝
０）をアドレス線ALに与えると、各磁気デイス
ク装置２，３，４，５には“00”、“10”、“01”、
“11”が入力され、共通機番＃０に対応する“00”
の入力された磁気デイスク装置２のみが比較部２
１の一致検出で自己が選択されたことを認識で
き、他の磁気デイスク装置３，４，５は各比較部
３１，４１，５１で一致が得られないため自己の
選択でないと認識する。同様にして、磁気デイス
ク装置３を選択するには、デバイスアドレスを
“10”とすればよく、磁気デイスク装置４を選択
するには、デバイスアドレスを“01”とし、磁気
デイスク装置５を選択するには、デバイスアドレ
スを“11”とすればよい。この試験装置１からの
デバイスアドレスの付与は従来と同様に行なえ、
アダプタ１０によつて係る変換が行なわれ、各磁
気デイスク装置２，３，４，５を同一機番に設定
しても、各磁気デイスク装置２，３，４，５の選
択を可能とする。
尚、アダプタ１０に終端抵抗Ｒ１，Ｒ２を設け
ておけば、アドレス線ALの終端に位置する磁気
デイスク装置５に特別に終端抵抗を設けなくても
よく、単にアダプタとの接続のみで済むという利
点が得られる。
ておけば、アドレス線ALの終端に位置する磁気
デイスク装置５に特別に終端抵抗を設けなくても
よく、単にアダプタとの接続のみで済むという利
点が得られる。
上述の実施例においては、アドレス線AL上に
アダプタ１０を設けているが、共通のアダプタ線
ALが各磁気デイスク装置２，３，４，５に分岐
する線上にアダプタを設けてもよく、例えば磁気
デイスク装置３のコネクタ３２の入力側にDVA
０の反転回路を、磁気デイスク装置４のコネクタ
４２の入力側にDVA１の反転回路を、磁気デイ
スク装置５のコネクタ５２の入力側にDVA０，
DVA１の反転回路を設ければよい。
アダプタ１０を設けているが、共通のアダプタ線
ALが各磁気デイスク装置２，３，４，５に分岐
する線上にアダプタを設けてもよく、例えば磁気
デイスク装置３のコネクタ３２の入力側にDVA
０の反転回路を、磁気デイスク装置４のコネクタ
４２の入力側にDVA１の反転回路を、磁気デイ
スク装置５のコネクタ５２の入力側にDVA０，
DVA１の反転回路を設ければよい。
又、被試験装置を磁気デイスク装置を例に説明
したが、プリンタ装置やデイスプレイ装置、パー
ソナルコンピユータ等の他の周知の機器にも適用
できる。
したが、プリンタ装置やデイスプレイ装置、パー
ソナルコンピユータ等の他の周知の機器にも適用
できる。
以上本発明を一実施例により説明したが、本発
明は本発明の主旨に従い種々の変形が可能であ
り、本発明からこれらを排除するものではない。
明は本発明の主旨に従い種々の変形が可能であ
り、本発明からこれらを排除するものではない。
以上説明した様に、本発明によれば、次の効果
を奏する。
を奏する。
機番が設定され、与えられたデバイスアドレ
スと機番との一致により、自己が選択されたこ
とを認識する第２の機器に対し、同一機番を設
定しても、各第２の機器の選択が、デバイスア
ドレスにより可能となり、試験等のための機番
設定が容易となり、第２の機器が多数でも試験
等のための接続作業を短時間に且つ少人数で行
うことができる。
スと機番との一致により、自己が選択されたこ
とを認識する第２の機器に対し、同一機番を設
定しても、各第２の機器の選択が、デバイスア
ドレスにより可能となり、試験等のための機番
設定が容易となり、第２の機器が多数でも試験
等のための接続作業を短時間に且つ少人数で行
うことができる。
又、一般に機番は機器製造時に一定のものに
セツトされているので、これを利用して機番設
定作業を省くこともできる。
セツトされているので、これを利用して機番設
定作業を省くこともできる。
更に、アダプタを介して接続するだけで実現
できるので、容易にしかも簡単に実現できる。
できるので、容易にしかも簡単に実現できる。
第１図は本発明方法の一実施例説明図、第２図
は従来の方法の説明図である。 図中、１……試験装置、２，３，４，５……磁
気デイスク装置（被試験機器）、１０……アダプ
タ、２０，３０，４０，５０……機番設定部。
は従来の方法の説明図である。 図中、１……試験装置、２，３，４，５……磁
気デイスク装置（被試験機器）、１０……アダプ
タ、２０，３０，４０，５０……機番設定部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の第２の機器を、第１の装置に、データ
線及びアドレス線によつて、いもずる接続し、該
第１の装置から該アドレス線により与えられるデ
バイスアドレスを、該第２の機器が設定された機
番と比較し、比較の一致により、選択されたこと
を認識し、該データ線による通信を行う複数機器
の選択方法において、 該各第２の機器の機番を同一の機番に設定する
とともに、 該アドレス線上のデバイスアドレスを、対応す
る該第２の機器には、該同一機番に変換して出力
し、対応しない他の第２の機器には、該同一機番
と異なる機番に変換して出力するアダプタを介し
て各第２の機器をアドレス線に接続し、 該第１の装置が、該第２の機器に割り当てられ
たデバイスアドレスにより、対応する第２の機器
を選択するようにしたことを特徴とする複数機器
の選択方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261481A JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59261481A JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61138177A JPS61138177A (ja) | 1986-06-25 |
| JPH0453270B2 true JPH0453270B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=17362502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59261481A Granted JPS61138177A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 複数機器の選択方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61138177A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR920009635B1 (ko) * | 1988-06-22 | 1992-10-22 | 가부시키가이샤 도시바 | 논리회로블럭의 자기진단회로 |
| JPH08153168A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Iwaki Electron Corp Ltd | 複数カード試験方法 |
| JP2001175584A (ja) * | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Ricoh Co Ltd | オプション機器の制御方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49134375A (ja) * | 1973-04-26 | 1974-12-24 |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP59261481A patent/JPS61138177A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49134375A (ja) * | 1973-04-26 | 1974-12-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61138177A (ja) | 1986-06-25 |
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