JPS61134937A - 光学ヘツド - Google Patents
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- JPS61134937A JPS61134937A JP25693684A JP25693684A JPS61134937A JP S61134937 A JPS61134937 A JP S61134937A JP 25693684 A JP25693684 A JP 25693684A JP 25693684 A JP25693684 A JP 25693684A JP S61134937 A JPS61134937 A JP S61134937A
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- signal
- objective lens
- lens
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明は、たとえば光デイスク装置に用いられる光学
ヘッドに関する。
ヘッドに関する。
[発明の技術的背景]
従来、光学ヘッドにあって、その内部で用いられる対物
レンズは、第14図(a>(b)に示すような、対物レ
ンズ駆動装置によって駆動されるようになっている。す
なわち、対物レンズ71は、2枚の平行板バネ72.7
3で支持されている。
レンズは、第14図(a>(b)に示すような、対物レ
ンズ駆動装置によって駆動されるようになっている。す
なわち、対物レンズ71は、2枚の平行板バネ72.7
3で支持されている。
これらの板バネ72.73は中間支持金具74に固着さ
れ、この中間支持金具74は2枚のダイヤフラムバネ7
5.76で支持されるようになっている。そして、コイ
ル77とマグネット78とにより形成される磁気回路に
より、中間支持金具つまり対物レンズ71が上下方向く
矢印k、1方向)に駆動されることにより、フォー力ツ
シングが行われるようになっている。また、コイル79
と鉄片80とにより構成される磁気回路によって、対物
レンズ71を左右方向(矢印m、n方向)に駆動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。
れ、この中間支持金具74は2枚のダイヤフラムバネ7
5.76で支持されるようになっている。そして、コイ
ル77とマグネット78とにより形成される磁気回路に
より、中間支持金具つまり対物レンズ71が上下方向く
矢印k、1方向)に駆動されることにより、フォー力ツ
シングが行われるようになっている。また、コイル79
と鉄片80とにより構成される磁気回路によって、対物
レンズ71を左右方向(矢印m、n方向)に駆動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。
[背景技術の問題点]
しかしながら、上記のような光学ヘッドでは、光デイス
ク上の所定のトラックにアクセスする時、対物レンズは
自由な状態になっており、高速トラックアクセスを行う
と、その際に生じる慣性力で対物レンズが振動する。こ
のため、その対物レンズの残留撮動が減衰するまで待た
なければ次の動作が行えない。この結果、アクセス時に
、時間がかかるという問題があった。
ク上の所定のトラックにアクセスする時、対物レンズは
自由な状態になっており、高速トラックアクセスを行う
と、その際に生じる慣性力で対物レンズが振動する。こ
のため、その対物レンズの残留撮動が減衰するまで待た
なければ次の動作が行えない。この結果、アクセス時に
、時間がかかるという問題があった。
[発明の目的]
この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、高速移動時に生じる対物レンズの振
動を、短時間で抑え、安定化することができる光学ヘッ
ドを提供することにある。
的とするところは、高速移動時に生じる対物レンズの振
動を、短時間で抑え、安定化することができる光学ヘッ
ドを提供することにある。
[発明の概要]
この発明は、上記目的を達成するために、対物レンズを
保持する保持部材に、この保持部材の移動速度に応じた
起電力が生じる起電力発生手段を設け、この起電力発生
手段の起電力により、上記保持部材の移動位置を検出し
、この検出結果に応じて上記保持部材を移動するように
したものである。
保持する保持部材に、この保持部材の移動速度に応じた
起電力が生じる起電力発生手段を設け、この起電力発生
手段の起電力により、上記保持部材の移動位置を検出し
、この検出結果に応じて上記保持部材を移動するように
したものである。
[発明の実施例]
以下、この発明の一実施例について、図面を参照して説
明する。
明する。
第1図は、この発明の光学ヘッドの概略構成を示すもの
である。すなわち、光ディスク(対象物体)1は、モー
タ(図示しない)によって光学ヘッド3に対して、線速
一定で回転駆動されるようになっている。上記光ディス
ク1は、たとえばガラスあるいはプラスチックスなどで
円形に形成された基板の表面に、テルルあるいはビスマ
スなどの金属被膜層が、ドーナツ形にコーティングされ
ている。上記光ディスク1の裏側には、情報の記憶、再
生を行うための光学ヘッド3が設けられている。この光
学ヘッド3は、半導体レーザ発振器4、凸レンズ5、偏
向ビームスプリッタ6、λ/4板7、対物レンズ8、ハ
ーフミラ−9、集光レンズ10.11、トラックずれ検
出用の光検出器12、焦点ぼけ検出用の光検出器13に
よって構成されている。また、上記ハーフミラ−9と集
光レンズ11との間には、先後出用の遮光板16が設け
られている。上記光検出器12は、集光レンズ10によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル1
2a、12bによって構成されている。これらの光検出
セル12a112bによって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。上記光検出器13は、集光レンズ11によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル13a、13
bによって構成されている。これらの光検出セル13a
、13bによって出力される信号としては、それぞれα
信号、β信号が出力されるようになっている。
である。すなわち、光ディスク(対象物体)1は、モー
タ(図示しない)によって光学ヘッド3に対して、線速
一定で回転駆動されるようになっている。上記光ディス
ク1は、たとえばガラスあるいはプラスチックスなどで
円形に形成された基板の表面に、テルルあるいはビスマ
スなどの金属被膜層が、ドーナツ形にコーティングされ
ている。上記光ディスク1の裏側には、情報の記憶、再
生を行うための光学ヘッド3が設けられている。この光
学ヘッド3は、半導体レーザ発振器4、凸レンズ5、偏
向ビームスプリッタ6、λ/4板7、対物レンズ8、ハ
ーフミラ−9、集光レンズ10.11、トラックずれ検
出用の光検出器12、焦点ぼけ検出用の光検出器13に
よって構成されている。また、上記ハーフミラ−9と集
光レンズ11との間には、先後出用の遮光板16が設け
られている。上記光検出器12は、集光レンズ10によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル1
2a、12bによって構成されている。これらの光検出
セル12a112bによって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。上記光検出器13は、集光レンズ11によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル13a、13
bによって構成されている。これらの光検出セル13a
、13bによって出力される信号としては、それぞれα
信号、β信号が出力されるようになっている。
上記対物レンズ8は、第2図から第7図に示す、対物レ
ンズ駆動装置20によって駆動されるようになっている
。すなわち、基板21上の上方には、これに垂直な中心
軸を有して、円筒上の保持枠22が設けられている。こ
の保持枠22内には、中心軸に沿って支持軸23が配設
されており、この支持軸23は圧電樹脂として、後述す
るピエゾ素子(ピエゾ抵抗効果素子)24a、24b、
24C124dによって保持枠22に支持されている。
ンズ駆動装置20によって駆動されるようになっている
。すなわち、基板21上の上方には、これに垂直な中心
軸を有して、円筒上の保持枠22が設けられている。こ
の保持枠22内には、中心軸に沿って支持軸23が配設
されており、この支持軸23は圧電樹脂として、後述す
るピエゾ素子(ピエゾ抵抗効果素子)24a、24b、
24C124dによって保持枠22に支持されている。
この支持軸23の上下両端部から、後述する圧電樹脂と
してのバイモルフ素子25.26が、互いに平行に同方
向に延出して設けられている。このバイモルフ素子25
.26の先端部には、上記対物レンズ8が保持されてい
るレンズ保持枠27が取付けられている。このレンズ保
持枠27の側面には、内側が空洞の四角柱形のボビン6
0,60が基板21に平行に設けられている。このボビ
ン60にはコイル61が巻回されており、このコイル6
1の上面にはコイル61に対して垂直にコイル62が固
着されている。また、上記基板21上にはコの字形状の
ヨーク63.63が固定されている。このヨーク63.
63の中途部にはそれぞれ四角柱形の永久磁564.6
4が設けられ、この磁石64は上記ボビン60の空洞部
に緩挿されるようになっている。上記ヨーク63の端部
65.66はそれぞれ上記ボビン60の端部に対向する
ようになっている。
してのバイモルフ素子25.26が、互いに平行に同方
向に延出して設けられている。このバイモルフ素子25
.26の先端部には、上記対物レンズ8が保持されてい
るレンズ保持枠27が取付けられている。このレンズ保
持枠27の側面には、内側が空洞の四角柱形のボビン6
0,60が基板21に平行に設けられている。このボビ
ン60にはコイル61が巻回されており、このコイル6
1の上面にはコイル61に対して垂直にコイル62が固
着されている。また、上記基板21上にはコの字形状の
ヨーク63.63が固定されている。このヨーク63.
63の中途部にはそれぞれ四角柱形の永久磁564.6
4が設けられ、この磁石64は上記ボビン60の空洞部
に緩挿されるようになっている。上記ヨーク63の端部
65.66はそれぞれ上記ボビン60の端部に対向する
ようになっている。
これにより、コイル61.62は、共に永久磁石64お
よびヨーク63による磁界Bgの中に位胃している。た
とえば、対物レンズ8が矢印e(゛、f)方向に移動さ
れ、レンズ保持枠26が移動すると、ボビン60がh(
h”)方向に移動する。これにより、コイル62にボビ
ン60の移動速度に応じたGl(01方向の電流が流れ
、この電流値に応じた(正と負の)電圧信号として、ε
信号が出力されるようになっている。また、対物レンズ
8が矢印C(、d)方向に移動され、レンズ保持枠26
が移動すると、ボビン60がj(j′)方向に移動する
。これにより、コイル61にボビン60の移動速度に応
じた1(i=)方向の電流が流れ、この電流値に応じた
(正と負の)電圧信号として、ε信号が出力されるよう
になっている。このように、同一の磁気回路によって対
物レンズ8を上下、左右の2方向の移動にともなった電
圧値を測定できるようになっている。
よびヨーク63による磁界Bgの中に位胃している。た
とえば、対物レンズ8が矢印e(゛、f)方向に移動さ
れ、レンズ保持枠26が移動すると、ボビン60がh(
h”)方向に移動する。これにより、コイル62にボビ
ン60の移動速度に応じたGl(01方向の電流が流れ
、この電流値に応じた(正と負の)電圧信号として、ε
信号が出力されるようになっている。また、対物レンズ
8が矢印C(、d)方向に移動され、レンズ保持枠26
が移動すると、ボビン60がj(j′)方向に移動する
。これにより、コイル61にボビン60の移動速度に応
じた1(i=)方向の電流が流れ、この電流値に応じた
(正と負の)電圧信号として、ε信号が出力されるよう
になっている。このように、同一の磁気回路によって対
物レンズ8を上下、左右の2方向の移動にともなった電
圧値を測定できるようになっている。
上記バイモルフ素子25.26は、第6図(a)(b)
(C)に示すように、それぞれ2枚のピエゾ素子25a
、25b、26a、26bを上下に貼合わせたものであ
る。これらの、2枚のピエゾ素子の一方が縮み、他方が
伸びるように各ピエゾ素子に電圧を印加することにより
、レンズ保持枠27を上下つまり矢印f、e方向に移動
するようになっている。たとえば、ピエゾ素子25a、
26aを縮め、ピエゾ素子25b、26bが伸ばした場
合、バイモルフ素子25.26が下方に屈曲し、レンズ
保持枠27つまり対物レンズ8は第6図(b)に示すよ
うに、同図(a)の状態から矢印e方向へ移動するよう
になっている。また、ピエゾ素子25a、26aを伸ば
し、ピエゾ素子25b、26bを縮めた場合、バイモル
フ素子25.26が上方に屈曲し、レンズ保持枠27つ
まり対物レンズ8は第6図(C)に示すように、同図(
a)の状態から矢印f方向へ移動するようになっている
。じようき対物レンズ8のe、f方向への移動により、
前記光ディスク1に対するフォー力ッシングが行われる
ようになっている。
(C)に示すように、それぞれ2枚のピエゾ素子25a
、25b、26a、26bを上下に貼合わせたものであ
る。これらの、2枚のピエゾ素子の一方が縮み、他方が
伸びるように各ピエゾ素子に電圧を印加することにより
、レンズ保持枠27を上下つまり矢印f、e方向に移動
するようになっている。たとえば、ピエゾ素子25a、
26aを縮め、ピエゾ素子25b、26bが伸ばした場
合、バイモルフ素子25.26が下方に屈曲し、レンズ
保持枠27つまり対物レンズ8は第6図(b)に示すよ
うに、同図(a)の状態から矢印e方向へ移動するよう
になっている。また、ピエゾ素子25a、26aを伸ば
し、ピエゾ素子25b、26bを縮めた場合、バイモル
フ素子25.26が上方に屈曲し、レンズ保持枠27つ
まり対物レンズ8は第6図(C)に示すように、同図(
a)の状態から矢印f方向へ移動するようになっている
。じようき対物レンズ8のe、f方向への移動により、
前記光ディスク1に対するフォー力ッシングが行われる
ようになっている。
上記支持軸23には、第7図(a)(b)(c)に示す
ように、中心から等角度で設けられている4枚のピエゾ
素子24a、24b、24c、24dが設けられており
、これらのピエゾ素子24a。
ように、中心から等角度で設けられている4枚のピエゾ
素子24a、24b、24c、24dが設けられており
、これらのピエゾ素子24a。
・・・によって支持軸23が保持枠22に支持されてい
る。これにより、ピエゾ素子24a、・・・が印加電圧
の変化により縮んだ場合、第7図(b)に示すように、
同図(a)の状態から矢印a方向に、支持軸23が微少
角度回動するようになっている。
る。これにより、ピエゾ素子24a、・・・が印加電圧
の変化により縮んだ場合、第7図(b)に示すように、
同図(a)の状態から矢印a方向に、支持軸23が微少
角度回動するようになっている。
この回動により、バイモルフ素子25を介してレンズ保
持枠27、つまり対物レンズ8が矢印C方向へ移動する
。また、ピエゾ素子24a1・・・が印加電圧の変化に
より伸びた場合、第7図(C)に示すように、同図(a
)の状態から矢印す方向に、支持軸23が微少角度回動
するようになっている。
持枠27、つまり対物レンズ8が矢印C方向へ移動する
。また、ピエゾ素子24a1・・・が印加電圧の変化に
より伸びた場合、第7図(C)に示すように、同図(a
)の状態から矢印す方向に、支持軸23が微少角度回動
するようになっている。
この回動により、バイモルフ素子25を介してレンズ保
持枠27、つまり対物レンズ8が矢印d方向へ移動する
。上記の場合、支持軸23の回動量は微少であるがバイ
モルフ素子25が一種の、てこの腕として作用し、対物
レンズ8の移動量(変位置)は大きなものとなる。した
がって、上記バイモルフ素子25によって、ピエゾ素子
24の小変位が対物レンズ8の大きな変位となって伝わ
っている。上記対物レンズ8のc、d方向の移動により
、前記光ディスク1に対するトラッキングが行われるよ
うになっている。なお、上記ピエゾ素子24.25は、
たとえば印加電圧が700ボルト変化した場合、10ミ
クロン程度変位するようになっている。
持枠27、つまり対物レンズ8が矢印d方向へ移動する
。上記の場合、支持軸23の回動量は微少であるがバイ
モルフ素子25が一種の、てこの腕として作用し、対物
レンズ8の移動量(変位置)は大きなものとなる。した
がって、上記バイモルフ素子25によって、ピエゾ素子
24の小変位が対物レンズ8の大きな変位となって伝わ
っている。上記対物レンズ8のc、d方向の移動により
、前記光ディスク1に対するトラッキングが行われるよ
うになっている。なお、上記ピエゾ素子24.25は、
たとえば印加電圧が700ボルト変化した場合、10ミ
クロン程度変位するようになっている。
前記光学ヘッド3の出力つまり各光検出セル12a、1
2b、13a、13b(7)出力は、そt’1れ増幅器
30.31.34.35に供給される。
2b、13a、13b(7)出力は、そt’1れ増幅器
30.31.34.35に供給される。
また、前記コイル62.61からの出力つまりε信号、
ε信号は、それぞれ電流−電圧変換回路32.33に供
給される。これらの電流−電圧変換回路32.33は、
それぞれ供給される電流信号を速度信号としての電圧値
に変換するものである。
ε信号は、それぞれ電流−電圧変換回路32.33に供
給される。これらの電流−電圧変換回路32.33は、
それぞれ供給される電流信号を速度信号としての電圧値
に変換するものである。
この電流−電圧変換回路32の出力は、減算回路36お
よび積分回路52に供給される。上記電流−電圧変換回
路33の出力は、減算回路36および積分回路53に供
給される。上記積分回路52.53は、それぞれ電流−
電圧変換回路32.33から供給される速度信号として
の電圧値を積分することにより、位1信号に変換して波
形整形回路51.54に出力するものである。上記増幅
器30.31の出力は、それぞ・れ減算回路36、加算
回路37に供給される。上記増幅器34.35の出力は
、それぞれ減算回路39、加算回路40に供給される。
よび積分回路52に供給される。上記電流−電圧変換回
路33の出力は、減算回路36および積分回路53に供
給される。上記積分回路52.53は、それぞれ電流−
電圧変換回路32.33から供給される速度信号として
の電圧値を積分することにより、位1信号に変換して波
形整形回路51.54に出力するものである。上記増幅
器30.31の出力は、それぞ・れ減算回路36、加算
回路37に供給される。上記増幅器34.35の出力は
、それぞれ減算回路39、加算回路40に供給される。
上記減算回路36は、光検出セル12a、12bからの
検出信号の差(γ信号−δ信号)と、:】イル62から
の速度信号(A信号)との差を取ることにより、通常の
トラッキング時のトラックずれに応じた信号を出力する
ものである。
検出信号の差(γ信号−δ信号)と、:】イル62から
の速度信号(A信号)との差を取ることにより、通常の
トラッキング時のトラックずれに応じた信号を出力する
ものである。
上記加算回路37は、光検出セル12a、12bからの
検出信号の和を取ることにより、読取信号として出力す
るものである。上記減算回路39は、光検出セル13a
、13bからの検出信号の差(α信号−β信号)と、コ
イル61からの速度信号(β信号)との差を取ることに
より、焦点ぼけに応じた信号を出力するものである。上
記加算回路40は、光検出セル13a、13bからの検
出信号の和を取ることにより、読取信号として出力する
ものである。
検出信号の和を取ることにより、読取信号として出力す
るものである。上記減算回路39は、光検出セル13a
、13bからの検出信号の差(α信号−β信号)と、コ
イル61からの速度信号(β信号)との差を取ることに
より、焦点ぼけに応じた信号を出力するものである。上
記加算回路40は、光検出セル13a、13bからの検
出信号の和を取ることにより、読取信号として出力する
ものである。
上記減算回路36.39の出力および加算回路37.4
0の出力は、CPU41に供給される。
0の出力は、CPU41に供給される。
このCPU41は、光ディスク1全体を制御するもので
ある。このCPtJ41は、イニシャル時、スイッチン
グ回路42に対してイニシャル引込信号を出力するとと
もに、スイッチング回路42を切換え、そのイニシャル
引込信号が出力されるようにするものである。また、C
PU41は、高速アクセスを判断している時、スイッチ
ング回路42.43に対して切換信号を出力するように
なっている。上記減算回路39の出力は、波形整形回路
44で整形され、上記スイッチング回路42に供給され
る。上記積分回路53の出力は、波形整形回路54で整
形され、上記スイッチング回路42に供給される。上記
減算回路36の出力は、波形整形回路45で整形され、
上記スイッチング回路43に供給される。上記積分回路
52の出力は、波形整形回路51で整形され、上記スイ
ッチング回路43に供給される。これにより、スイッチ
ング回路42は、CPU41からの切換信号により、イ
ニシャル時、CPU41から供給されるイニシャル引込
信号を、駆動回路46へ出力し、通常時、波形整形回路
44から供給される信号を、駆動回路46へ出力し、高
速アクセス時、波形整形回路54からの信号を駆動回路
46へ出力するようになっている。また、スイッチング
回路43は、通常時、上記波形整形回路45から供給さ
れる信号を、駆動回路47へ出力し、上記CPU41か
ら切換信号が供給されている時(高速アクセス時)、上
記波形整形回路51から供給される信号を、駆動回路4
7へ出力するようになっている。
ある。このCPtJ41は、イニシャル時、スイッチン
グ回路42に対してイニシャル引込信号を出力するとと
もに、スイッチング回路42を切換え、そのイニシャル
引込信号が出力されるようにするものである。また、C
PU41は、高速アクセスを判断している時、スイッチ
ング回路42.43に対して切換信号を出力するように
なっている。上記減算回路39の出力は、波形整形回路
44で整形され、上記スイッチング回路42に供給され
る。上記積分回路53の出力は、波形整形回路54で整
形され、上記スイッチング回路42に供給される。上記
減算回路36の出力は、波形整形回路45で整形され、
上記スイッチング回路43に供給される。上記積分回路
52の出力は、波形整形回路51で整形され、上記スイ
ッチング回路43に供給される。これにより、スイッチ
ング回路42は、CPU41からの切換信号により、イ
ニシャル時、CPU41から供給されるイニシャル引込
信号を、駆動回路46へ出力し、通常時、波形整形回路
44から供給される信号を、駆動回路46へ出力し、高
速アクセス時、波形整形回路54からの信号を駆動回路
46へ出力するようになっている。また、スイッチング
回路43は、通常時、上記波形整形回路45から供給さ
れる信号を、駆動回路47へ出力し、上記CPU41か
ら切換信号が供給されている時(高速アクセス時)、上
記波形整形回路51から供給される信号を、駆動回路4
7へ出力するようになっている。
上記駆動回路46は、スイッチング回路42から供給さ
れる信号に応じて、前記バイモルフ素子25.26の各
ピエゾ素子25a、25b、26a、26bに対応する
電圧を印加するようになっている。上記駆動回路47は
、スイッチング回路43から供給される信号に応じて、
前記ピエゾ素子24a、24b124c、24dに対応
t61f圧を印加するようになっている。
れる信号に応じて、前記バイモルフ素子25.26の各
ピエゾ素子25a、25b、26a、26bに対応する
電圧を印加するようになっている。上記駆動回路47は
、スイッチング回路43から供給される信号に応じて、
前記ピエゾ素子24a、24b124c、24dに対応
t61f圧を印加するようになっている。
次に、このような構成において動作を説明する。
たとえば今、半導体レーザ発振器4から発せられるレー
ザ光束は、凸レンズ5によって平行光束にされ、偏向ビ
ームスプリッタ6に導かれる。この偏向ビームスプリッ
タ6に導かれた光束は、反射されたのち、λ/4板7を
介して対物レンズ8に入射され、この対物レンズ8によ
って光デイスク1上に集束される。この状態において、
情報の記憶を行う際には、強光度のレーザ光束(記憶ビ
ーム光)の照射によって、光デイスク1上のトラックに
ビットが形成され、情報の再生を行う際には、弱光度の
レーザ光束(再生ビーム光)が照射される。この再生ビ
ーム光に対する光ディスク1からの反射光は、対物レン
ズ8によって平行光束に変換され、λ/4板7を介して
偏向ビームスプリッタ6に導かれる。このとき、偏向ビ
ームスプリッタ6に導かれたレーザ光束は、λ/4板7
を往復しており、偏向ビームスプリッタ6で反射された
際に比べて偏波面が90度回転している。これにより、
そのレーザ光束は、偏向ビームスプリッタ6で反射され
ずに通過し、ハーフミラ−9に導かれる。このハーフミ
ラ−9を通過するレーザ光束は、集光レンズ10を介し
て光検出器12、つまり光検出セル12a、12bに照
射され、また三角プリズム14を介して光検出器15、
つまり光検出セル15a、15bに照射される。また、
上記ハーフミラ−9で反射されたレーザ光束は、集光レ
ンズ11を介して光検出器13つまり光検出セル13a
、13bに照射される。したがって、光検出セル12a
、12b、13a、13bから照射光に応じた信号が出
力され、それらの信号はそれぞれ増幅器30.3L 3
4.35を介して出力される。これにより、加算回路3
7は、光検出セル12a、12bからの検出信号の和を
取ることにより、読取信号としてCPLI41へ出力す
る。この結果、CPU41は、加算回路37からの読取
信号によりデータの読取を行うようになっている。
ザ光束は、凸レンズ5によって平行光束にされ、偏向ビ
ームスプリッタ6に導かれる。この偏向ビームスプリッ
タ6に導かれた光束は、反射されたのち、λ/4板7を
介して対物レンズ8に入射され、この対物レンズ8によ
って光デイスク1上に集束される。この状態において、
情報の記憶を行う際には、強光度のレーザ光束(記憶ビ
ーム光)の照射によって、光デイスク1上のトラックに
ビットが形成され、情報の再生を行う際には、弱光度の
レーザ光束(再生ビーム光)が照射される。この再生ビ
ーム光に対する光ディスク1からの反射光は、対物レン
ズ8によって平行光束に変換され、λ/4板7を介して
偏向ビームスプリッタ6に導かれる。このとき、偏向ビ
ームスプリッタ6に導かれたレーザ光束は、λ/4板7
を往復しており、偏向ビームスプリッタ6で反射された
際に比べて偏波面が90度回転している。これにより、
そのレーザ光束は、偏向ビームスプリッタ6で反射され
ずに通過し、ハーフミラ−9に導かれる。このハーフミ
ラ−9を通過するレーザ光束は、集光レンズ10を介し
て光検出器12、つまり光検出セル12a、12bに照
射され、また三角プリズム14を介して光検出器15、
つまり光検出セル15a、15bに照射される。また、
上記ハーフミラ−9で反射されたレーザ光束は、集光レ
ンズ11を介して光検出器13つまり光検出セル13a
、13bに照射される。したがって、光検出セル12a
、12b、13a、13bから照射光に応じた信号が出
力され、それらの信号はそれぞれ増幅器30.3L 3
4.35を介して出力される。これにより、加算回路3
7は、光検出セル12a、12bからの検出信号の和を
取ることにより、読取信号としてCPLI41へ出力す
る。この結果、CPU41は、加算回路37からの読取
信号によりデータの読取を行うようになっている。
上記のような状態において、フォー力ツシング動作につ
いて説明する。すなわち、イニシャル時、CPU41は
、イニシャル引込信号をスイッチング回路42を介して
駆動回路46に供給する。これにより、I!命回路46
はバイモルフ素子25.26の各ピエゾ素子に所定の電
圧を印加し、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8をe
あるいはで方向へ移動する。そして、CPU41は、減
算回路36の減算結果が「±0」となったとき、対物レ
ンズ8が適正焦点位置に対応したと判断し、スイッチン
グ回路42を切換える。これにより、減算回路39から
出力される焦点ぼけに応じた信号、つまり光検出セル1
3a、13bからの検出信号の差と、コイル61からの
速度信号との差を取ることにより得られる信号が、波形
整形回路44、及びスイッチング回1142を介して、
駆動回路46に供給される。これにより、駆動回路46
は、波形整形回路44からの信号に応じてバイモルフ素
子25.26の各ピエゾ素子に対応する電圧を印加し、
レンズ保持枠27つまり対物レンズ8をeあるいはf方
向へ移動し、通常のフォー力ッシングを行う。
いて説明する。すなわち、イニシャル時、CPU41は
、イニシャル引込信号をスイッチング回路42を介して
駆動回路46に供給する。これにより、I!命回路46
はバイモルフ素子25.26の各ピエゾ素子に所定の電
圧を印加し、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8をe
あるいはで方向へ移動する。そして、CPU41は、減
算回路36の減算結果が「±0」となったとき、対物レ
ンズ8が適正焦点位置に対応したと判断し、スイッチン
グ回路42を切換える。これにより、減算回路39から
出力される焦点ぼけに応じた信号、つまり光検出セル1
3a、13bからの検出信号の差と、コイル61からの
速度信号との差を取ることにより得られる信号が、波形
整形回路44、及びスイッチング回1142を介して、
駆動回路46に供給される。これにより、駆動回路46
は、波形整形回路44からの信号に応じてバイモルフ素
子25.26の各ピエゾ素子に対応する電圧を印加し、
レンズ保持枠27つまり対物レンズ8をeあるいはf方
向へ移動し、通常のフォー力ッシングを行う。
ついで、トラッキング動作について説明する。
すなわち、減算回路36からの通常のトラッキング時の
トラックずれに応じた信号、つまり光検出セル12a、
12bからの検出信号の差と、フィル61からの速度信
号との差を取ることにより得られる信号が、波形整形回
路45およびスイッチング回路43を介して駆動回路4
7に供給される。
トラックずれに応じた信号、つまり光検出セル12a、
12bからの検出信号の差と、フィル61からの速度信
号との差を取ることにより得られる信号が、波形整形回
路45およびスイッチング回路43を介して駆動回路4
7に供給される。
これにより、駆動回路47は、波形整形回路45からの
信号に応じて各ピエゾ素子24a、24b、24C12
4dに対応する電圧を印加し、レンズ保持枠27つまり
対物レンズ8がCあるいはd方向へ移動され、通常のト
ラッキングが行われる。
信号に応じて各ピエゾ素子24a、24b、24C12
4dに対応する電圧を印加し、レンズ保持枠27つまり
対物レンズ8がCあるいはd方向へ移動され、通常のト
ラッキングが行われる。
ついで、高速アクセス時の動作について説明する。すな
わち、CPLJ41により高速アクセスが判断された場
合、C;PIJ 41は、スイッチング回路43を切換
える。これにより、波形整形回路51からの対物レンズ
8の位置ずれ(c、d方向)に応じた信号、つまりコイ
ル62から得られる電流値の変化に応じた積分回路52
からの位置信号が、スイッチング回路43を介して駆動
回路47に供給される。これにより、駆動回路47は、
積分回路52からの信号に応じて、各ピエゾ素子24a
、24b、24c、24d1.:対応ず61圧!印加し
、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8を、定位習とな
るようにCあるいはd方向へ移動する。
わち、CPLJ41により高速アクセスが判断された場
合、C;PIJ 41は、スイッチング回路43を切換
える。これにより、波形整形回路51からの対物レンズ
8の位置ずれ(c、d方向)に応じた信号、つまりコイ
ル62から得られる電流値の変化に応じた積分回路52
からの位置信号が、スイッチング回路43を介して駆動
回路47に供給される。これにより、駆動回路47は、
積分回路52からの信号に応じて、各ピエゾ素子24a
、24b、24c、24d1.:対応ず61圧!印加し
、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8を、定位習とな
るようにCあるいはd方向へ移動する。
たとえば積分回路52の出力が正のとき、レンズ保持枠
27をC方向に移動し、積分回路52の出力が負のとき
、レンズ保持枠27をd方向に移動する。
27をC方向に移動し、積分回路52の出力が負のとき
、レンズ保持枠27をd方向に移動する。
また、CPU41により高速アクセスが判断された場合
、CPtJ41は、スイッチング回路42を切換える。
、CPtJ41は、スイッチング回路42を切換える。
これにより、波形整形回路54からの対物レンズ8の位
置ずれ(e、f方向)に応じた信号、つまりコイル62
から得られる電流値の変化に応じた積分回路52からの
位置信号が、スイッチング回路42を介して駆動回路4
6に供給される。これにより、駆動回路46は、積分回
路53からD信号に応じてバイモルフ素子25.26の
各ピエゾ素子に対応する電圧を印加し、レンズ保持枠2
7つまり対物レンズ8を、定位置となるようにeあるい
はf方向へ移動する。たとえば積分回路53の出力が正
のとき、レンズ保持枠27をe方向に移動し、積分回路
53の出力が負のとき、レンズ保持枠27をf方向に移
動する。
置ずれ(e、f方向)に応じた信号、つまりコイル62
から得られる電流値の変化に応じた積分回路52からの
位置信号が、スイッチング回路42を介して駆動回路4
6に供給される。これにより、駆動回路46は、積分回
路53からD信号に応じてバイモルフ素子25.26の
各ピエゾ素子に対応する電圧を印加し、レンズ保持枠2
7つまり対物レンズ8を、定位置となるようにeあるい
はf方向へ移動する。たとえば積分回路53の出力が正
のとき、レンズ保持枠27をe方向に移動し、積分回路
53の出力が負のとき、レンズ保持枠27をf方向に移
動する。
したがって、高速アクセス時に、レンズ保持枠27つま
り対物レンズ8が振動している場合、その対物レンズ8
に対する適正位置への移動制御(c、d方向、e、f方
向)が行われる。つまり、トラックジャンプによる残留
振動を短armで減衰(安定化)させることができる。
り対物レンズ8が振動している場合、その対物レンズ8
に対する適正位置への移動制御(c、d方向、e、f方
向)が行われる。つまり、トラックジャンプによる残留
振動を短armで減衰(安定化)させることができる。
上記したように、レンズ保持枠27の移動速度に応じて
コイル61.62に生じる起電力の変化に応じて、レン
ズ保持枠27つまり対物レンズ8の移動位置に応じた信
号を検出し、この検出結果に応じて対物レンズ8を移動
させるようにしたものである。これにより、高速アクセ
ス時に、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8が撮動し
ている場合、その対物し〕/ズ8に対する上下、左右方
向の適正位置への移all Ill 10を行うことが
でき、トラックジャンプによる残留撮動を短時間で減衰
(安定化)させることができる。また、通常のフォー力
ツシング時、およびトラッキング時に、上記速度信号に
よりダンピングを増すつまり共振ピーク層を減らすこと
ができ、制御系を安定にし、かつ外乱に対して強くする
ことができる。
コイル61.62に生じる起電力の変化に応じて、レン
ズ保持枠27つまり対物レンズ8の移動位置に応じた信
号を検出し、この検出結果に応じて対物レンズ8を移動
させるようにしたものである。これにより、高速アクセ
ス時に、レンズ保持枠27つまり対物レンズ8が撮動し
ている場合、その対物し〕/ズ8に対する上下、左右方
向の適正位置への移all Ill 10を行うことが
でき、トラックジャンプによる残留撮動を短時間で減衰
(安定化)させることができる。また、通常のフォー力
ツシング時、およびトラッキング時に、上記速度信号に
よりダンピングを増すつまり共振ピーク層を減らすこと
ができ、制御系を安定にし、かつ外乱に対して強くする
ことができる。
なお、館記実施例では、コイルが巻回されているボビン
がレンズ保持枠に固定され、ヨークに永久磁石が固定さ
れている場合について説明したが、これに限らず、ヨー
クにボビンが固定され、レンズ保持枠に永久磁石が固定
されるように構成しても同様に実施できる。
がレンズ保持枠に固定され、ヨークに永久磁石が固定さ
れている場合について説明したが、これに限らず、ヨー
クにボビンが固定され、レンズ保持枠に永久磁石が固定
されるように構成しても同様に実施できる。
また、支持軸を保持枠に支持するピエゾ素子が4枚であ
ったが、これに限らず、他の枚数であっても良い。また
、支持軸を保持枠に支持するピエゾ素子が棒状であった
が、これに限らず、第8図(a)(b)に示すように、
台形等信の形状のピエゾ素子81を用いたり、第9図(
a)(b)に示すように、ピエゾ素子82とゴム等の弾
性材83からなる構成とする、あるいは第10図(a)
(b)(c)に示すように、複数のピエゾ素子84、・
・・が重なって棒状となっているようにしても良い。こ
のように、弾性材を用いた場合、変位量を大きくするこ
とができる。さらに、左右方向への移動をピエゾ素子で
行ったが、これに限らず、第11図(a)(b)(c)
、第12図(a)(b)(C)および第13図(a)(
b)に示tように、種々の形状のバイモルフ素子85を
用いるようにしても良い。さらにまた、上下方向の移動
をバイモルフ素子で行ったが、ピエゾ素子を用いるよう
にしても良い。さらに、フォー力ツシングを層面に行わ
ない場合、バイモルフ素子の代わりに板ばねを用いても
良い。
ったが、これに限らず、他の枚数であっても良い。また
、支持軸を保持枠に支持するピエゾ素子が棒状であった
が、これに限らず、第8図(a)(b)に示すように、
台形等信の形状のピエゾ素子81を用いたり、第9図(
a)(b)に示すように、ピエゾ素子82とゴム等の弾
性材83からなる構成とする、あるいは第10図(a)
(b)(c)に示すように、複数のピエゾ素子84、・
・・が重なって棒状となっているようにしても良い。こ
のように、弾性材を用いた場合、変位量を大きくするこ
とができる。さらに、左右方向への移動をピエゾ素子で
行ったが、これに限らず、第11図(a)(b)(c)
、第12図(a)(b)(C)および第13図(a)(
b)に示tように、種々の形状のバイモルフ素子85を
用いるようにしても良い。さらにまた、上下方向の移動
をバイモルフ素子で行ったが、ピエゾ素子を用いるよう
にしても良い。さらに、フォー力ツシングを層面に行わ
ない場合、バイモルフ素子の代わりに板ばねを用いても
良い。
[発明の効果]
以上詳述したようにこの発明によれば、高速移動時に生
じる対物レンズの振動を、短時間で抑え、安定化するこ
とができる光学ヘッドを提供できる。
じる対物レンズの振動を、短時間で抑え、安定化するこ
とができる光学ヘッドを提供できる。
第1図から第7図はこの発明の一実施例を示すもので、
第1図は光学ヘッドの概略構成図、第2図から第4図は
対物レンズ駆1lII装置の構成を示す斜視図、第5図
はレンズ保持枠の移動方向を説明するためのボビンの側
面因、第6vgUはバイモルフ素子と対物レンズとの関
係を示す図・第7図はビ 1成例を示す図であり、
第14図は従来の対物レンズ駆動装胃を示す図である。 1・・・光ディスク、3・・・光学ヘッド、6・・・偏
向ビームスブリフタ、7・・・λ/4板、8・・・対物
レンズ、9・・・ハーフミラ−110,11・・・集光
レンズ、12.13.・・・光検出器、12a、12b
、13a、13b・・・光検出セル、20・・・対物レ
ンズ駆動装置、21・・・基板、22・・・保持枠、2
3・・・支持軸、24a、24D、24C124d−・
・ピエゾ素子、25.26 ・・・バイモルフ素子、2
5a、25b、26a、26b・・・ピエゾ素子、27
・・・レンズ保持枠、36.38.39・・・減算回路
、32.33・・・電流−電圧変換回路、37.40・
・・加・算回路、41・・−CPU、42.43・・・
スイッチング回路、44.45.51.54・・・波形
整形回路、46・・・駆動回路、47・・・駆動回路、
52.53・・・積分回路、60・・・ボビン、61.
62・・・コイル、63・・・ヨーク、64・・・永久
磁石、65,66・・・ヨークの端部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 第4図 is図 第7図 (a) (b) (c) 第8 (a) 第9 (a) (b) 図 (b) 第14図 (a) (b) 手続補正書 @m JOolyl・−G。 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 特願昭59−256936号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 4、代理人 5、自発補正 7、補正の内容 (1) 明細書の第7頁第12行目にrh(h’)方
向に」とあるをlh’(h)方向に」と訂正する。 (2) 同頁筒14行目にrg(g’)方向の」とあ
るをrg’(g)方向の」と訂正する。 (3ン 同頁第20行目にri(i’)方向の」とあ
るをri’(i)方向の」と訂正する。 (4) 明細書の第8頁第13行目から第15行目に
わたって、「ピエゾ素子25a、25bを縮エゾ素子2
5b、26bを縮めた場合、」と訂正する。 (5) 同頁第18行目から第20行目にわたって、
「ピエゾ素子25m、 25bを伸はし、ピエゾ素子2
5b、26bを縮めた場合、」とあるを「ピエゾ素子2
5a、 25bを縮め、ピエゾ素子25b、26bを伸
ばした場合、」と訂正する。 (6) 明細書の第9頁第4行目に「しょうき対物レ
ンズ8の」とあるを「上記対物レンズ8の」と訂正する
。
第1図は光学ヘッドの概略構成図、第2図から第4図は
対物レンズ駆1lII装置の構成を示す斜視図、第5図
はレンズ保持枠の移動方向を説明するためのボビンの側
面因、第6vgUはバイモルフ素子と対物レンズとの関
係を示す図・第7図はビ 1成例を示す図であり、
第14図は従来の対物レンズ駆動装胃を示す図である。 1・・・光ディスク、3・・・光学ヘッド、6・・・偏
向ビームスブリフタ、7・・・λ/4板、8・・・対物
レンズ、9・・・ハーフミラ−110,11・・・集光
レンズ、12.13.・・・光検出器、12a、12b
、13a、13b・・・光検出セル、20・・・対物レ
ンズ駆動装置、21・・・基板、22・・・保持枠、2
3・・・支持軸、24a、24D、24C124d−・
・ピエゾ素子、25.26 ・・・バイモルフ素子、2
5a、25b、26a、26b・・・ピエゾ素子、27
・・・レンズ保持枠、36.38.39・・・減算回路
、32.33・・・電流−電圧変換回路、37.40・
・・加・算回路、41・・−CPU、42.43・・・
スイッチング回路、44.45.51.54・・・波形
整形回路、46・・・駆動回路、47・・・駆動回路、
52.53・・・積分回路、60・・・ボビン、61.
62・・・コイル、63・・・ヨーク、64・・・永久
磁石、65,66・・・ヨークの端部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 第4図 is図 第7図 (a) (b) (c) 第8 (a) 第9 (a) (b) 図 (b) 第14図 (a) (b) 手続補正書 @m JOolyl・−G。 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 特願昭59−256936号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 4、代理人 5、自発補正 7、補正の内容 (1) 明細書の第7頁第12行目にrh(h’)方
向に」とあるをlh’(h)方向に」と訂正する。 (2) 同頁筒14行目にrg(g’)方向の」とあ
るをrg’(g)方向の」と訂正する。 (3ン 同頁第20行目にri(i’)方向の」とあ
るをri’(i)方向の」と訂正する。 (4) 明細書の第8頁第13行目から第15行目に
わたって、「ピエゾ素子25a、25bを縮エゾ素子2
5b、26bを縮めた場合、」と訂正する。 (5) 同頁第18行目から第20行目にわたって、
「ピエゾ素子25m、 25bを伸はし、ピエゾ素子2
5b、26bを縮めた場合、」とあるを「ピエゾ素子2
5a、 25bを縮め、ピエゾ素子25b、26bを伸
ばした場合、」と訂正する。 (6) 明細書の第9頁第4行目に「しょうき対物レ
ンズ8の」とあるを「上記対物レンズ8の」と訂正する
。
Claims (4)
- (1)対物レンズを固定する保持部材を左右あるいは上
下に移動することにより、対象物体上に適正なビーム光
を照射する光学ヘッドにおいて、前記保持部材の移動速
度に応じた起電力が生じる起電力発生手段を設け、この
起電力発生手段の起電力により、前記保持部材の移動を
検出する検出手段と、この検出手段の検出結果に応じて
前記保持部材を移動する移動手段とを具備したことを特
徴とする光学ヘッド。 - (2)前記起電力発生手段が、コイルで構成されること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学ヘッド。 - (3)前記検出手段が保持部材の上下あるいは左右方向
への移動を検出し、この検出結果に応じて前記移動手段
が保持部材を上下あるいは左右方向へ移動することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学ヘッド。 - (4)前記保持部材が、圧電樹脂で支持されている構成
としたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25693684A JPS61134937A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25693684A JPS61134937A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 光学ヘツド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61134937A true JPS61134937A (ja) | 1986-06-23 |
Family
ID=17299423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25693684A Pending JPS61134937A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61134937A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63304434A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-12-12 | イーストマン・コダック・カンパニー | 可変インダクタンス式レンズ位置変換器 |
-
1984
- 1984-12-05 JP JP25693684A patent/JPS61134937A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63304434A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-12-12 | イーストマン・コダック・カンパニー | 可変インダクタンス式レンズ位置変換器 |
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