JPS61182643A

JPS61182643A - 光学ヘツド

Info

Publication number: JPS61182643A
Application number: JP2294485A
Authority: JP
Inventors: Naomasa Takahashi; 直正高橋
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1985-02-08
Filing date: 1985-02-08
Publication date: 1986-08-15

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の技術分野］この発明は、たとえば光デイスク装置に用いられる光学
ヘッドに関する。

［発明の技術的背景］従来、光学ヘッドにあって、その内部で用いられる対物
レンズは、第１１図（ａ）（ｂ）に示すような、対物レ
ンズ駆動装置によって駆動されるようになっている。す
なわち、対物レンズ７１は、２枚の平行板バネ７２．７
３で支持されている。

これらの板バネ７２．７３は中間支持金具７４に固着さ
れ、この中間支持金具７４は２枚のダイヤフラムバネ７
５．７６で支持されるようになっている。そして、コイ
ル７７とマグネット７８とにより形成される磁気回路に
より、中間支持金具つまり対物レンズ７１が上下方向（
矢印ｋ、１方向）に駆動されることにより、フォー力ツ
シングが行われるようになっている。また、コイル７９
と鉄片８０とにより構成される磁気回路によって、対物
レンズ７１を左右方向（矢印ｍ、ｎ方向）に駆動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。

［背景技術の問題点１しかしながら、上記のような光学ヘッドでは、対物レン
ズのフォーカス方向の変位を制限する手段を有していな
い。このため、ディテクターの不調整あるいはごみ等で
、フォーカス方向のデフォーカス検出に失敗したとする
。すると、対物レンズが光ディスクに衝突して光ディス
クに傷をつけたり、対物レンズを痛めたりするという問
題があった。特に、光ディスクに傷を付けてしまった場
合、記録されているデータを破壊する可能性があり、大
変重大な問題となっていた。

［発明の目的］この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、フォーカス制御が外れて対物レンズ
が対象物体に衝突するのを、対物レンズの動きに制限を
加え、防止することができる光学ヘッドを提供すること
にある。

［発明の概要］この発明は、上記目的を達成するために、対物レンズを
固定する保持部材を左右あるいは上下に移動することに
より、対象物体上に適正なビーム光を照射する光学ヘッ
ドにおいて、上記対物レンズが上記対象物体に衝突しな
い位置に上記保持部材に対して制限を加える制限手段を
設けるようにしたものである。

［発明の実施例］以下、この発明の一実施例について、図面を参照して説
明する。

第１図は、この発明の光学ヘッドの概略構成を示すもの
である。すなわち、光ディスク（対象物体）１は、モー
タ（図示しない）によって光学ヘッド３に対して、線速
一定で回転駆動されるようになっている。上記光ディス
ク１は、たとえばガラスあるいはプラスチックスなどで
円形に形成された基板の表面に、テルルあるいはビスマ
スなどの金属被膜層が、ドーナツ形にコーティングされ
ている。上記光ディスク１の裏側には、情報の記憶、再
生を行うための光学ヘッド３が設けられている。この光
学ヘッド３は、半導体レーザ発振器４、凸レンズ５、偏
向ビームスプリッタ６、λ／４板７、対物レンズ８、ハ
ーフミラ−９、集光レンズ１０，１１、トラックずれ検
出用の光検出器１２、焦点ぼけ検出用の光検出器１３に
よって構成されている。また、上記ハーフミラ−９と集
光レンズ１１との間には、先後出用の遮光板１６が設け
られている。上記光検出器１２は、集光レンズ１０によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル１
２ａ、１２ｂによって構成されている。これらの光検出
セル１２ａ、１２ｂによって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。上記光検出器１３は、集光レンズ１１によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル１３ａ、１３
ｂによって構成されている。これらの光検出セル１３ａ
、１３ｂによって出力される信号としては、それぞれα
信号、β信号が出力されるようになっている。

上記対物レンズ８は、第２図から第８図に示す、対物レ
ンズ駆動装置２０によって駆動されるようになっている
。すなわち、基板２１上の上方には、これに垂直な中心
軸を有して、円筒上の保持枠２２が設けられている。こ
の保持枠２２内には、中心軸に沿って支持軸２３が配設
されており、この支持軸２３は圧電樹脂として、後述す
るピエゾ素子（ピエゾ抵抗効果素子）２４ａ、２４ｂ、
２４ｃ、２４ｄによって保持枠２２に支持されている。

この支持軸２３の上下両端部から、後述する圧電樹脂と
してのバイモルフ素子２５．２６が、互いに平行に同方
向に延出して設けられている。このバイモルフ素子２５
．２６の先端部には、上記対物レンズ８が保持されてい
るレンズ保持枠２７が取付けられている。このレンズ保
持枠２７の側面には、内側が空洞の四角柱形のボビン６
０，６０が基板２１に平行に設けられている。このボビ
ン６０にはコイル６１が巻回されており、このコイル６
１の上面にはコイル６１に対して垂直にコイル６２が固
着されている。また、上記基板２１上にはコの字形状の
ヨーク６３．６３が固定されている。このヨーク６３．
６３の中途部にはそれぞれ四角柱形の永久磁石６４．６
４が設けられ、この磁石６４は上記ボビン６０の空洞部
に緩挿されるようになっている。上記ヨーク６３の端部
６５．６６はそれぞれ上記ボビン６０の端部に対向する
ようになっている。

これにより、コイル６１．６２は、共に永久磁石６４お
よびヨーク６３による磁界ＢＱの中に位置している。た
とえば、第５図に示すように、コイル６２にｑ方向の電
流を流すと、コイル６２はｈ方向に力を受け、この力が
ボビン６０を介してレンズ保持枠２７に伝えられる。こ
の結果、対物レンズ８は矢印ｅ、ｆ方向に移動されるこ
とにより、フォー力ツシングが行われるようになってい
る。また、第４図に示すように、コイル６１にｉ方向の
電流を流すと、コイル６１はｊ方向に力を受け、この力
がボビン６０を介してレンズ保持枠２７に伝えられる。

この結果、対物レンズ８は矢印ｃ、ｄ方向に移動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。このように、同一の磁気回路によって対物レンズ８を
上下、左右の２方向へ駆動できるようになっている。

上記基板２１上には、第６図に示すように、光学ヘッド
３全体をカバーするとともに、光ディスク１と対物レン
ズ８との衝突を防止する衝突防止カバー２８が設けられ
ている。この衝突防止カバー２８は、上記レンズ保持枠
２７の上部２７ａとぶつかることにより、対物レンズ８
が光ディスク１に衝突するのを防止するようになってい
る。上記衝突防止カバー２８には、対物レンズ８が突没
する穴２８ａが開いている。上記光ディスク１がブレ（
０，２ｍｍ）により最下部１ａに位置し、対物レンズ８
がフォー力ッシングにより最上部に位置している場合、
光ディスク１と対物レンズ８の上面との間隔が０１４ｍ
ｍで、レンズ保持枠２７の上面と衝突防止カバー２８と
の間隔が０．１ｍｍとなっている。上記光ディスク１が
面振れ（面振れ量：Ｏ１２ｍｍ）により最上部１ｂに位
置し、対物レンズ８がフォー力ツシングにより最上部に
位置している場合、光ディスク１と対物レンズ８の上面
との間隔が０．６ｍｍで、レンズ保持枠２７の上面と衝
突防止カバー２８との間隔が０１１ｍｍとなっている。

また、対物レンズ８が光ディスク１の方向に暴走し、光
ディスク１が最下部１ａに位置していたとしても、レン
ズ保持枠２７の上面が衝突防止カバー２８に当接し、光
ディスク１と対物レンズ８の上面との間隔が０１３ｍｍ
あり、衝突を防止するようになっている。したがって、
衝突防止カバー２８は、対物レンズ８が光ディスク１の
最大面振れ量より大きく動ける位置で、しかも対物レン
ズ８が光ディスク１に衝突しない位置に設けられている
。

上記バイモルフ素子２５．２６は、第７図（ａ）（ｂ）
（ｃ）に示すように、それぞれ２枚のピエゾ素子２５ａ
、２５ｂ、２６ａ、２６ｂを上下に貼合わせたものであ
り、２枚のピエゾ素子の一方が縮み、他方が伸びること
により、レンズ保持枠２７が上下つまり矢印ｅ、ｆ方向
に移動するのに追従できるよ−Ｓになっτいる−たとλ
ば−レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８が第７図（ｂ
）に示すように、同図（ａ＞の状態からｅ方向へ移動す
ることによりバイモルフ素子２５．２６が下方に屈曲し
、ピエゾ素子２５ａ、２６ａが縮み、ピエゾ素子２５ｂ
、２６ｂが伸びるようになっている。また、レンズ保持
枠２７つまり対物レンズ８が第７図（Ｃ）に示すように
、同図（ａ）の状態からｆ方向へ移動することにより、
バイモルフ素子２５．２６が上方に屈曲し、ピエゾ素子
２５ａ。

２６ａが伸び、ピエゾ素子２５ｂ、２６ｂが縮むように
なっている。

これにより、上記バイモルフ素子２５の上側のピエゾ素
子２５ａ、２６ａ、下側のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂの
電圧値を出力することにより、レ　　゛ンズ保持枠２７
のｅ、ｆ方向の移動位置つまり対物レンズ８の移動位置
に応じた検出信号を出力するものである。これらの上側
のピエゾ素子２５ａ。

２６ａ１下側のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂによって出力
される信号としては、それぞれη信号、θ信号が出力さ
れるようになっている。

このような構成すると、レンズ保持枠２７が適正な位置
、つまり上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエ
ゾ素子２５ｂ、２６ｂとが基板２１に対して平行に位置
する場合、上記上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側
のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂとからそれぞれ同じ値のη
信号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７が
適正な位置より下側にずれている場合、上記上側のピエ
ゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５ｂ、２６
ｂとからそれぞれ「η信号〈ε信号」という関係のη信
号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７が適
正な位置より上側にずれている場合、上記上側のピエゾ
素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂ
とからそれぞれ「η信号〉ε信号」という関係のη信号
、ε信号が、出力される。

上記支持軸２３には、第８図（ａ）（ｂ）（Ｃ）に示す
ように、中心から等角度で設けられている４枚のピエゾ
素子２４ａ１２４ｂ、２４ｃ、２４ｄが設けられており
、これらのピエゾ素子２４ａ１・・・によって支持軸２
３が保持枠２２に支持されている。これにより、ピエゾ
素子２４ａ１・・・がレンズ保持枠２７、つまり対物レ
ンズ８が矢印Ｃ方向へ移動することにより縮んだ場合、
第８図（ｂ）に示すように、同図（ａ）の状態から矢印
ａ方向に、支持軸２３が微少角度回動するようになって
いる。この回動により、ピエゾ素子２４ａ、・・・から
その移動量に応じた電圧信号つまりε信号が出力される
ようになっている。また、ピエゾ素子２４ａ、・・・が
レンズ保持枠２７、つまり対物レンズ８が矢印ｄ方向へ
移動することにより、伸びた場合、第８図（Ｃ）に示す
ように、同図（ａ）の状態から矢印す方向に、支持軸２
３が微少角度回動するようになっている。上記の場合、
対物レンズ８の移動量（変位量）は大きなものであるが
バイモルフ素子２５が一種の、てこの腕として作用し、
支持軸２３の回動量は微少となる。したがって、上記バ
イモルフ素子２５によって、対物レンズ８の大きな変位
がピエゾ素子２４の小変位となって伝わっている。上記
ピエゾ素子２４ａ・・・のａＳｂ方向の移動により、前
記光ディスク１に対するトラッキング方向の移動が検出
されるようになっている。これにより、上記ピエゾ素子
２４ａ１・・・の電圧値を出力することにより、レンズ
保持枠２７のｃ、ｄ方向の移動位置つまり対物レンズ８
の移動位置に応じた検出信号を出力するものである。

なお、上記ピエゾ素子２４　ａ−・・、２５ａ、２５ｂ
。

２６ａ１２６ｂは、たとえば１０ミクロン程度変位した
場合、その電圧が７００ボルト変化するようになってい
る。

前記光学ヘッド３の出力つまり各光検出セル１２ａ、１
２ｂ、１３ａ、１３ｂの出力は、それぞれ増幅器３０．
３１．３４．３５に供給される。

また、前記バイモルフ素子２５．２６の各ピエゾ素子２
５ａ１２６ａと２５ｂ、２６ｂの出力は、それぞれ増幅
器３２．３３に供給される。さらに、前記ピエゾ素子２
４ａ・・・の出力は増幅器５２に供給される。上記増幅
器３０．３１の出力は、それぞれ減算回路３６、加算回
路３７に供給される。

μｌｋＭ嬰りり　１り小…ｈけ髪箇ｎ覧りｑＬ−檄給さ
れる。上記増幅器３４．３５の出力は、それぞれ減算回
路３９、加算回路４０に供給される。

上記増幅器５２の出力は、比較回路５３に供給される。

上記減算回路３６は、光検出セル１２ａ１１２ｂからの
検出信号の差（γ信号−δ信号）を取ることにより、通
常のトラッキング時のトラックずれに応じた信号を出力
するものである。上記加算回路３７は、光検出セル１２
ａ、１２ｂからの検出信号の和を取ることにより、読取
信号として出力するものである。上記減算回路３８は、
ピエゾ素子２５ａ、　２６ａと２５ｂ、２６ｂからの検
出信号の差（η信号−θ信号）を取ることにより、高速
アクセス時における対物レンズ８の位置ずれ（ｅ、ｆ方
向）に応じた信号を出力するものである。上記比較回路
５３は、増幅器５２からの値が所定値より大か小かに応
じて、対物レンズ８の位置ずれ（ｃ、ｄ方向）に応じた
信号を出力するものである。この所定値は、対物レンズ
８が定位置となっている際に、増幅器５２から得られる
値と等しいものとなっている。上記減算回路３９は、光
検出セル１３ａ、１３ｂからの検出信号の差（α信号−
β信号）を取ることにより、焦点ぼけに応じた信号を出
力するものである。上記加算回路４０は、光検出セル１
３ａ、１３ｂからの検出信号の和を取ることにより、読
取信号として出力するものである。

上記減算回路３６．３９の出力および加算回路３７．４
ｏの出力は、ＣＰＵ４１に供給される。

このＣＰＵ４１は、光ディスク１全体を制御するもので
ある。このＣＰＵ４１は、イニシャル時、スイッチング
回路４２に対してイニシャル引込信号を出力するととも
に、スイッチング回路４２を切換え、そのイニシャル引
込信号が出力されるようにするものである。また、ＣＰ
Ｕ４１は、高速アクセスを判断している時、スイッチン
グ回路４２．４３に対して切換信号を出力するようにな
っている。上記減算回路３９の出力は、波形整形回路４
４で整形され、上記スイッチング回路４２に供給される
。上記減算回路３９の出力は、波形整形回路５４で整形
され、上記スイッチング回路４２に供給される。上記減
算回路３６の出力は、波形整形回路４５で整形され、上
記スイッチング回路４３に供給される。上記比較回路５
３の出力は、波形整形回路５１で整形され、上記スイッ
チング回路４３に供給される。これにより、スイッチン
グ回路４２は、ＣＰＵ４１からの切換信号により、イニ
シャル時、ＣＰＵ４１から供給されるイニシャル引込信
号を、駆動回路４６へ出力し、通常時、波形整形回路４
４から供給される信号を、駆動回路４６へ出力し、高速
アクセス時、波形整形回路５４からの信号を駆動回路４
６へ出力するようになっている。また、スイッチング回
路４３は、通常時、上記波形整形回路４５から供給され
る信号を、駆動回路４７へ出力し、上記ＣＰＬＩ４１か
ら切換信号が供給されている時（高速アクセス時）、上
記波形整形回路５１から供給される信号を、駆動回路４
７へ出力するようになっている。

上記駆動回路４６は、スイッチング回路４２から供給さ
れる信号に応じて、前記コイル６２・・・に対応する電
流を供給するようになっている。上記駆動回路４７は、
スイッチング回路４３から供給される信号に応じて、前
記コイル６１・・・に対応する電流を供給するようにな
っている。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、半導体レーザ発振器４から発せられるレー
ザ光束は、凸レンズ５によって平行光束にされ、偏向ビ
ームスプリッタ６に導かれる。この偏向ビームスプリッ
タ６に導かれた光束は、反射されたのち、λ／４板７を
介して対物レンズ８に入射され、この対物レンズ８によ
って光デイスク１上に集束される。この状態において、
情報の記憶を行う際には、強光度のレーザ光束（記憶ビ
ーム光）の照射によって、光デイスク１上のトラックに
ビットが形成され、情報の再生を行う際には、弱光度の
レーザ光束〈再生ビーム光）が照射される。この再生ビ
ーム光に対する光ディスク１からの反射光は、対物レン
ズ８によって平行光束に変換され、λ／４板７を介して
偏向ビームスプリッタ６に導かれる。このとき、偏向ビ
ームスプリッタ６に導かれたレーザ光束は、λ／４板７
を往復しており、偏向ビームスプリッタ６で反射された
際に比べて偏波面が９０度回転している。これにより、
そのレーザ光束は、偏向ビームスプリッタ６で反射され
ずに通過し、ハーフミラ−９に導かれる。このハーフミ
ラ−９を通過するレーザ光束は、集光レンズ１０を介し
て光検出器１２、つまり光検出セル１２ａ１１２ｂに照
射され、また三角プリズム１４を介して光検出器１５、
つまり光検出セル１５ａ、１５ｂに照射される。また、
上記ハーフミラ−９で反射されたレーザ光束は、集光レ
ンズ１１を介して光検出器１３つまり光検出セル１３ａ
、１３ｂに照射される。したがって、光検出セル１２ａ
、１２ｂ、１３ａ、１３ｂから照射光に応じた信号が出
力され、それらの信号はそれぞれ増幅器３０，３１．３
４．３５を介して出力される。これにより、加算回路３
７は、光検出セル１２ａ、１２ｂからの検出信号の和を
取ることにより、読取信号としてＣＰＵ４１へ出力する
。この結果、ＣＰＵ４１は、加算回路３７からの読取信
号によりデータの読取を行うようになつている。

上記のような状態において、フォー力ツシング動作につ
いて説明する。すなわち、イニシャル時、ｃ　Ｐ’Ｕ　
４１は、イニシャル引込信号をスイッチング回路４２を
介して駆動回路４６に供給する。これにより、駆動回路
４６はコイル６２に所定の電流を供給し、レンズ保持枠
２７つまり対物レンズ８をｅあるいはｆ方向へ移動する
。そして、ＣＰＬＩ４１は、減算回路３６の減算結果が
「±Ｏ」となったとき、対物レンズ８が適正焦点位置に
対応したと判断し、スイッチング回路４２を切換える。

これにより、減算回路３９から出力される焦点ぼけに応
じた信号、つまり光検出セル１３ａ、１３ｂからの検出
信号の差を取ることにより得られる信号が、波形整形回
路４４、及びスイッチング回路４２を介して、駆動回路
４６に供給される。これにより、駆動回路４６は、波形
整形回路４４からの信号に応じてコイル６２に所定の電
流を供給し、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８をｅ
あるいはｆ方向へ移動し、通常のフォー力ツシングを行
う。

ついで、トラッキング動作について説明する。

すなわち、減算回路３６からの通常のトラッキング時の
トラックずれに応じた信号、つまり光検出セル１２ａ、
１２ｂからの検出信号の差を取ることにより得られる信
号が、波形整形回路４５およびスイッチング回路４３を
介して駆動回路４７に供給される。これにより、駆動回
路４７は、波形整形回路４５からの信号に応じてコイル
６１に対応する電流を供給し、レンズ保持枠２７つまり
対物レンズ８がＣあるいはｄ方向へ移動され、通常のト
ラッキングが行われる。

ついで、高速アクセス時の動作について説明する。すな
わち、ＣＰＵ４１により高速アクセスが判断された場合
１．゛・ＣＰＬＪ４１は、スイッチング回路４３を切換
える。これにより、比較回路５３からの対物レンズ８の
位置ずれ（ｃ、ｄ方向）に応じた信号、つまりピエゾ素
子２４ａ１・・・からの得られる信号が所定値よりも大
か小かに応じた信号が、スイッチング回路４３を介して
駆動回路４７に供給される。これにより、駆動回路４７
は、比較回路５３からの信号に応じてコイル６１に対応
する電流を供給し、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ
８を、定位置となるようにＣあるいはｄ方向へ移動する
。たとえば比較回路５３の出力が正のとき、レンズ保持
枠２７をＣ方向に移動し、比較回路５３の出力が負のと
き、レンズ保持枠２７をｄ方向に移動する。

また、ＣＰＵ４１により高速アクセスが判断された場合
、ＣＰＬＪ４１は、スイッチング回路４２を切換える。

これにより、波形整形回路５４からの対物レンズ８の位
置ずれ（ｅ、ｆ方向）に応じた信号、つまりバイモルフ
素子２５．２６のピエゾ素子２５ａ、２６ａ１と２５ｂ
１２６ｂとの差を取ることにより得られる信号が、スイ
ッチング回路４２を介して駆動回路４６に供給される。

これにより、駆動回路４６は、波形整形回路５４からの
信号に応じてコイル６２に対応する電流を供給し、レン
ズ保持枠２７つまり対物レンズ８を、定位置となるよう
にｅあるいはｆ方向へ移動する。

たとえば波形整形回路５４の出力が大のとき、レンズ保
持枠２７をｆ方向に移動し、波形整形回路５４の出力が
小のとき、レンズ保持枠２７をＣ方向に移動する。

したがって、高速アクセス時に、レンズ保持枠２７つま
り対物レンズ８が振動している場合、その対物レンズ８
に対する適正位置への移動副部（ｃ、ｄ方向、ｅ、ｆ方
向）が行われる。つまり、トラックジャンプによる残留
振動を短時間で減衰（安定化）させることができる。

上記したように、衝突防止カバーによりレンズ保持枠の
上部とぶつかることにより、対物レンズが光ディスクに
衝突するのを防止するようにしたものである。

なお、前記実施例では、コイルが巻回されているボビン
がレンズ保持枠に固定され、対物レンズが光ディスクに
衝突するのを全体をカバーする衝突防止カバーで防止し
たが、これに限らず、たとえば第９図、第１０図に示す
ように、基板２１あるいはヨーク６３の上面に設けられ
ているストツバーＡで衝突を防止するようにしても良い
。

［発明の効果］以上詳述したようにこの発明によれば、フォーカス制御
が外れて対物レンズが対象物体に衝突するのを、対物レ
ンズの動きに制限を加え、防止することができる光学ヘ
ッドを提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図から第８図はこの発明の一実施例を示すもので、
第１図は光学ヘッドの概略構成図、第２図から第４図は
対物レンズ駆動装置の構成を示す斜視図、第５図はレン
ズ保持枠の移動方向を説明するためのボビンの側面図、
第６図は光ディスクの下面と対物レンズの上面と衝突防
止カバーとの関係を説明するための図、第７図はバイモ
ルフ素子と対物レンズとの関係を示す図、第８図はピエ
ゾ素子と支持軸との関係を示す図であり、第９図および
第１０図は他の実施例における検出部の構成例を示す図
であり、第１１図は従来の対物レンズ駆動装置を示す図
である。１・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、６・・・偏
向ビームスプリッタ、７・・・λ／４板、８・・・対物
レンズ、９・・・ハーフミラ−１１０，１１・・・集光
レンズ、１２．１３、−・・光検出器、１２ａ、１２ｂ
、１３ａ、１３ｂ・・・光検出セル、２０・・・対物レ
ンズ駆動装置、２１・・・基板、２２・・・保持枠、２
３・・・支持軸、２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄ・・
・ピエゾ素、子、、２５．２６　・・・バイモルフ素子
、２５ａ、２５ｂ、２６ａ。２６ｂ・・・ピエゾ素子、２７・・・レンズ保持枠、２
８・・・衝突防止カバー、２８ａ・・・衝突防止カバー
の穴。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦Ｎ２図第３因第４図第６図第８図（ａ）（ｂ）　　　　　　　　　　　　　　　（ｃ）第９図第１０図第１１図（ａ）（ｂ）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）対物レンズを固定する保持部材を左右あるいは上
下に移動することにより、対象物体上に適正なビーム光
を照射する光学ヘッドにおいて、前記対物レンズが前記
対象物体に衝突しない位置に前記保持部材に対して制限
を加える制限手段を設けたことを特徴とする光学ヘッド
。
（２）前記制限手段が、全体を保護するカバーによつて
構成されることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の光学ヘッド。
（３）前記制限手段が設けられる位置が、対物レンズが
対象物体の最大面振れ量より大きく動ける位置で、しか
も対物レンズが対象物体に衝突しない位置であることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学ヘッド。
（４）前記対象物体が、光ディスクであることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の光学ヘッド。