JPS61134099A - 多層厚膜集積回路の製造方法 - Google Patents

多層厚膜集積回路の製造方法

Info

Publication number
JPS61134099A
JPS61134099A JP25575184A JP25575184A JPS61134099A JP S61134099 A JPS61134099 A JP S61134099A JP 25575184 A JP25575184 A JP 25575184A JP 25575184 A JP25575184 A JP 25575184A JP S61134099 A JPS61134099 A JP S61134099A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thick film
conductor
thickness
dielectric
printed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25575184A
Other languages
English (en)
Inventor
大貫 康英
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP25575184A priority Critical patent/JPS61134099A/ja
Publication of JPS61134099A publication Critical patent/JPS61134099A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、多層構造を有する厚膜集積回路の製造方法
に係り、特に各層の界面の平坦化に関するものである。
(従来の技術) 従来、厚膜集積回路の高密度実装方法として同一基板上
に多数の回路を重ねて多層厚膜集積回路を実装する方法
が採用されている。この製造方法の一つとして、焼結さ
れたセラミ、り基板に導体と誘電体とを交互に印刷し、
焼成することを繰シ返して回路を形成する厚膜印刷方法
がある。以下、その構成を図を参照しながら説明する。
第2図(、)乃至(、)は従来の厚膜印刷方法による多
層厚膜集積回路の製造工程を示すものであ、る。
まず、はじめに、第2図(、)に示すアルミナ等のセラ
ミック基板1上に第2図(b)に示すように第1導体2
となる導体ペーストを所望の形状に印刷し、乾燥後焼成
する。次に、第2図(C)に示されるように眉間絶縁膜
となる誘電体3を第1導体1の上から印刷し、焼成する
。次に、第2図(d)に示されるように第2導体4を誘
電体3の上から印刷し、焼成する。必要に応じて、第2
図(、)に示されるように、第1導体2と第2導体4な
どの導体間を電気的に配線する目的・でバイアポスト5
を導体ペーストで形成する。
次に、第2図(e)に示されるように、第2導体4の上
から誘電体6を印刷し、焼成する。
なお、理論上はこのような工程を繰シ返すことによって
、何層もの導体層を有する厚膜回路を製造することも可
能である。この先行技術を開示したものとしては、例え
ば、沖研究開発、第119号、 Vol 50 yAl
 p pp 81〜86−特願昭59−71842号な
どが挙げられる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、前記の厚膜印刷方法によれば、各層を印
刷し、焼成する工程を繰シ返すために、下部の構造によ
る影響が上部に波及し、形成された膜の表面に凹凸が生
じる。即ち、導体を含む部分はこれを含まない部分に比
べて導体と誘電体とが重なるために厚くなってしまうこ
とになる。また、これが基板全体を通じてそのパターン
の作り方が異なっているため下部の導体の重なシ具合に
よって形成された膜は様々な厚さを持つことになる。こ
のことから明らかなように、上層になればなる程、厚膜
の印刷性、つまり、形状、厚み等の再現性が悪化し、は
なはだしい時は引き続き印刷が不可能となることがあっ
た。また、第3図に示されるように、この方法によると
印刷された膜厚の部分において段差が生じる為、積み重
ねた場合段差のニップ部分において回路が切れたシ、ま
た極めて薄くなるなどの原因による断線故障(P)、パ
ターンのショー1− (Q)が生じ、電気的欠陥を招来
し易く、歩留りや信頼性が悪化するといった欠点があっ
たO このような状況に鑑み、本発明は、厚膜印刷方法による
多層厚膜集積回路において、印刷を重ねることによって
生じる各層の表面の凹凸を除去することによって、パタ
ーン精度が高く、かつ電気的な信頼性の高い厚膜集積回
路の製造方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) この発明は、上記問題点を解決するために、配線回路を
多層に重ねた厚膜集積回路の製造方法において、配線回
路部が形成される厚膜の表面に生ずる凹凸を研摩するこ
とによって平坦化し、その平坦化された厚膜上に順次上
層を形成するようにしたものである。
(作用) この発明によれば、以上のように、配線回路部が形成さ
れる厚膜の表面に生ずる凹凸を研摩することによって平
坦化し、その平坦化された厚膜上に順次上層を形成する
ようにしたので、配線回路ツクターンの精度および電気
的な信頼度の高い多層厚膜集積回路を得ることができる
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。
第1図(、)乃至[有])はこの発明の一実施例を示す
多層厚膜集積回路の製造工程図である。
以下、この工程図に従って、製造条件を明らかにすると
ともにデータを併用しながら各製造工程を順を追って説
明する。
まずはじめに、第1図(a)に示されるように、基板1
0(例えば、96%アルミナ、76瓢X76鱈、角0.
8を京セラ社製、以下、アルミナ基板という。)の表裏
をう、ピングマシンを使ってそれぞれ0.1■程度研摩
する。これはアルミナ基板10が持っている反りを取除
くとともに同一な厚さの平坦な表面を持つ基板を得るた
めである。研摩材としてはカーポランダムまたはダイヤ
モンド(300乃至1000番)を使用する。研摩され
たアルミナ基板10は脱イオン水で超音波洗浄を行った
後、乾燥させる。この乾燥は、例えば、150℃で1時
間行なう。次に、このアルミナ基板10に第1図(b)
に示されるように第1導体20(例えば、導体イースト
5715デユポン社製)を所望の形状にスクリーン印刷
する。これを乾燥(例えば、150℃で15分間)させ
、焼成炉で焼成(例えば、ピークが10分間の60分焼
成グロファイル、ピーク温度850℃)する。焼成後の
印刷膜、つまシ、第1導体20の厚みは最も薄い部分で
10μmである。印刷膜20の厚みは同一基板上であっ
てもその形状、例えば、線幅によって変化し一定ではな
い。例えば、線幅がそれぞれ4fiと0.3 mの場合
、上記条件下で得られた導体ペーストの焼成後の厚みと
線の中央からの距離との関係は第4図(、)および第4
図(b)に示される。さらに、印刷膜の線幅とその線幅
の中央での厚さとの関係は第5図に示される。このよう
に印刷膜の厚みは主として線幅によりて変化することが
明らかである。このようなことから、ここでは線幅0.
3 teaの場合にその中央での厚みが十分な電導度を
有する10μmとなるようにした。次に、第1図(c)
に示されるように、第1導体20の上から誘電体30(
例えば、誘電体ペースト5704デユポン社製)を全面
に印刷し、乾燥後、焼成する。印刷は誘電体の厚みが焼
成後筒1導体20の最小厚み、つまり10μm以上とな
るような条件(例えば、20μm)を選んで行なう。乾
燥、焼成の条件は第1導体2Qの形成時と同一である。
なお、特記しない場合の乾燥、焼成条件はこれと同一で
ある。この条件で得られた焼成後の第1導体20の厚さ
および誘電体30の厚さの関係は第6図に示される。次
に、焼成後の形成膜を2ツビングマシンを使ってアルミ
ナ基板10の界面からの厚さが8μmになるまで研摩す
る。なお、この研摩された状態は第6図において点線の
ように示される。ここで使用する研摩材は前記したと同
様にカーポランダムまたはダイヤモンド(SOO乃至1
000番)である。研摩後ははじめのアルミナ基板10
の研摩時と同一条件で洗く 浄し、乾燥さ本る。なお、特記しない場合には研摩工程
の後には前記と同一条件で洗浄し、乾燥を行うものとす
る。この結果、第1図(d)に示されるように、アルミ
ナ基板10上に全面にわたって8繍の厚さを持つ導体2
0あるいは誘電体3Qからなる厚膜が形成される。ここ
で形成された厚膜を第1層と呼ぶことにする。この第1
層の上に同一方法で第2層あるいは上部の層を形成する
わけであるが、第1図(、)に示されるようにこれらの
各層の導体部を電気的に配線する目的で必要な個所にバ
イアポスト40を上記と同一な導電イーストを珀いて印
刷し、焼成する。一度の印刷によりて形成するバイアポ
ストの厚みは第1層の導体厚みと同一(例えば、10μ
m)か、またはこれ以上の厚さとする。バイア“ポスト
40を形成膜、第1図(f)に示されるように基板全面
に誘電体SO(前記誘電体30と同一のもの)を印刷し
、焼成する。これらの誘電体50の厚さは第1層形成の
場合の誘電体30と同一の厚さであシ、例えば、20μ
mかまたはバイアポスト40の厚み、例えば10μmよ
シ大きくする。バイアポスト4θおよび誘電体50を形
成後、第1図(g)に示されるように、上記と同様な条
件で研摩し、第2層を形成する。ただし、この時の厚膜
の総厚み、つマシ、第1層と第2層の合計の厚みを16
μmとする。この厚みは厚膜全体を通じて一定とする。
次に、第1図(h)に示されるように第2導体21を所
望の形状に印刷し、焼成する。さらに誘電体31をこの
上から印刷し、焼成する。この後、第1図(i)に示さ
れるように、第1層形成時と同様の条件で研摩し、第3
層を形成する。ただし、この時の厚膜の総厚みを24μ
mとする。次に、バイアポスト41およ−び誘電体51
を形成し、研摩工程を経て、第1図(j)に示されるよ
うに第4層を形成する。ただし、この時の厚膜の総厚み
を32μmとする。これらの工程を所望の配線回路が得
られるまで繰シ返し行う。ここでは、第1図(k)に示
されるように、第3導体層22が得られるまで行って厚
膜の総厚み40μmのものを製造した。
このように、多数の導体層およびこれらを結線するバイ
アポスト、さらに眉間絶縁膜の誘電体から成る平坦化・
された界面を持つ多層厚膜集積回路を製造することがで
きる。
ところで、上記した製造工程を次のように変更して実施
することができる。即ち、第7図(1)に示されるよう
にアルミナ基板10を研摩しく第1図(、)と同様)、
このアルミナ基板10上に第7図(b)に示されるよう
に第1導体20を形成しく第1図(b)と同様)、その
後、第7図(c)に示されるように、この第1導体20
上にバイアポスト4Qを形成し、その後、第7 a (
d)に示されるように、これらの上から誘電体50を印
刷し、焼成する。その後、研摩工程を行ない、第7図(
、)に示されるように、平坦化された界面を得るように
する。この方法では、誘電体5θの厚さは第1導体20
とバイアポスト40の厚さの合計より大きくなるように
する。また、第1導体20を印刷し、乾燥した後に行な
う焼成工程は省略して、誘電体50全印刷し、乾燥後、
第1導体20と誘電体50を一度に焼成し、これを研摩
して平坦化された厚膜を得るようにしてもよい。さらに
、途中の焼成工程をすべて省略し、最後に一回だけ焼成
するようにしても良い。
上記の実施例では導体および誘電体の二種類のペースト
を使用しているが、必要に応じて、導体ペーストの一部
または全部を抵抗体ペーストに代えることができる。ま
た、同一の層に導体と抵抗体とをそれぞれ形成すること
も可能である。
(発明の効果) 以上のように、本発明の製造方法によれば、形成される
各層の厚膜の界面を研摩し、その界面を平坦化している
ために多層厚膜集積回路の欠点であった各層の導体部付
近に生じる段差をなくすことができる。このために多層
厚膜集積回路の断線やショートなどの欠点をなくすこと
ができ、歩留りや信頼性を著しく向上させることができ
る。また、平坦化された表面に導体、抵抗体あるいはバ
イアポストを印刷することができるため、その印刷にあ
たりては常に高いパターン精度を得ることができる。従
って、密度の高い微細配線を行うことができ、抵抗体に
あってはその抵抗値の精度を高めることができるといっ
た効果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る多層厚膜集積回路の製造工程図、
第2図は従来の多層厚膜集積回路の製造工程図、第3図
は従来の製造方法による問題点説明図、第4図は印刷膜
の線幅と厚みとの関係を示す特性図、第5図は印刷膜の
線幅とその中央の厚さとの関係を示す特性図、第6図は
導体の厚さと誘電体の厚さとの関係を示す説明図、第7
図は他の実施例を示す製造工程図である。 10・・・基板、20・・・第1導体(印刷膜)、2ノ
・・・第2導体(印刷膜)、22・・・第3導体(印刷
膜)、30.31,32,5θ、5ノ・・・誘電体(絶
縁膜)、40.41・・・バイアポスト。 第1図 、夢、発明トイ系う多層々1叉集積目昌1蛛遺工程の第
2図     第3図 従来、多−148更1+I囚路シixn国第4図  印
III暖、縁幅・4h、・FIli係をネT将・ト11
縄幅(mm) 印希111[#1に!に暢と←中央□’48fr閏イ基
をネす特4・1回第6図 填体−1a−FJ電体4sa馴休をホ[既明図第7図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)配線回路を多層に重ねた厚膜集積回路の製造方法
    であって、配線回路部が形成される厚膜の表面に生ずる
    凹凸を研摩することによって平坦化し、その平坦化され
    た厚膜上に順次上層を形成することを特徴とする多層厚
    膜集積回路の製造方法。
  2. (2)前記厚膜は導体および/または抵抗体から成る配
    線回路部と誘電体とから形成されることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の多層厚膜集積回路の製造方法
JP25575184A 1984-12-05 1984-12-05 多層厚膜集積回路の製造方法 Pending JPS61134099A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25575184A JPS61134099A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 多層厚膜集積回路の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25575184A JPS61134099A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 多層厚膜集積回路の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61134099A true JPS61134099A (ja) 1986-06-21

Family

ID=17283121

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25575184A Pending JPS61134099A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 多層厚膜集積回路の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61134099A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6057997A (ja) * 1983-09-09 1985-04-03 株式会社日立製作所 多層配線基板の製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6057997A (ja) * 1983-09-09 1985-04-03 株式会社日立製作所 多層配線基板の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4204107A (en) Thick-film thermal printing head and method of manufacturing the same
US4689638A (en) Thermal recording head and process for manufacturing wiring substrate therefor
US5721453A (en) Integrated circuit package
US5162191A (en) High-density circuit and method of its manufacture
US4897676A (en) High-density circuit and method of its manufacture
JPS61134099A (ja) 多層厚膜集積回路の製造方法
US4632845A (en) Process for the fabrication of thermal printing boards in multilayer thick-film technology
US5314788A (en) Matrix printed board and process of forming the same
US3584376A (en) Microstrip delay line and a method of manufacturing same
JPH08316643A (ja) 配線基板
JPH0795483B2 (ja) 厚膜抵抗素子の製造方法
JPH0945570A (ja) 電子部品およびその製造方法
JPH0832239A (ja) 多層配線基板の製造方法
JPH04221886A (ja) 厚膜多層回路基板及びその製造方法
JP2822793B2 (ja) 磁気抵抗効果素子及びその製造方法
JPS60201688A (ja) 厚膜薄膜混成集積回路用基板
JPS6149491A (ja) セラミツク多層配線基板
JPS60102763A (ja) 多層厚膜混成集積回路基板
JPH0537156A (ja) 多層回路基板及びその製造方法
JPH0239878B2 (ja)
JPH0727989B2 (ja) セラミックパッケージ型半導体装置の製造方法
JPS62169301A (ja) 厚膜抵抗体の温度係数調整方法
JPS58171896A (ja) 湿式多層セラミツク基板およびその製造方法
JP2710430B2 (ja) パターン形成方法
JPH09186004A (ja) C−r複合電子部品