JPS61129823A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

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JPS61129823A
JPS61129823A JP25239084A JP25239084A JPS61129823A JP S61129823 A JPS61129823 A JP S61129823A JP 25239084 A JP25239084 A JP 25239084A JP 25239084 A JP25239084 A JP 25239084A JP S61129823 A JPS61129823 A JP S61129823A
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JP
Japan
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heating element
radiation
vapor phase
phase growth
heating
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JP25239084A
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English (en)
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Taisan Goto
後藤 泰山
Takeo Chiba
千葉 武男
Taketoshi Ishikawa
石川 武敏
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Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/0262Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
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    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02524Group 14 semiconducting materials
    • H01L21/02532Silicon, silicon germanium, germanium

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造のためなどに用いられる気
相成長装置に係り、特に多数の基板の処理に適した構造
の気相成長装置に関するものであるO 〔従来の技術〕 気相成長のうちの特にエピタキシャル気相成長装置につ
いて見ると、従来、一般的に使用されているものは、い
わゆる冷壁型の横型、縦型、・くVル型と称するもので
、横型は略水平に配置された長方形の平板状をしたサセ
プタ上に基板をその裏面がほぼ密着するように並べて載
置し、縦型は水平に配置された円板状のサセプタ上に前
記横型と同様に基板を載置し、さらにバレル型は多面の
筒状をしたサセプタの外面に対して前記横型および縦型
と同様に密着させて基板を載置するようになっており、
いずれも高周波誘導棚−エネルギや輻射線dエネルギに
より主としてサセプタを発熱させ、このサセプタにより
基板を加熱するようになっていた。このように主として
サセプタを発熱させることにより基板を加熱する方式は
、高周波誘導加熱用のRFコイルや輻射線加熱用のラン
プに対してサセプタの全体をほぼ均一に対向させる必要
があり、さらにこのサセプタ上に基板を平らに置く必要
があり、このため、基板の配列は横型および縦型のよう
に平面的であり、またバレル型においても多面の筒状の
外面にしか配列できず、−回の処理枚数が比較的少なか
った。
これらに対し、−回の処理枚数を増加させるため、反応
室を路壁として反応室内自身を高温にしたり、また冷壁
型の反応室内にサセプタと同様KRFコイルやランプで
発熱される筒体を設け、前記熱壁型の反応室や発熱する
筒体によって加熱される高温空間内に基板を林立させる
方式の気相成長装置が提案されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、従来提案されている高温空間内に基板を
林立させる方式は、高温空間の外側のみに発熱部がある
ため、該高温空間の断面を大きくすると、全体の熱容量
が大きくなり均熱になるまでに要する時間が増加すると
共に該高温空間の中心部と外方とで温度差を生じ易くな
る。そこで、高温空間の形状や大きさが限定され、処理
枚数の増加に限界があると同時に基板の配列の自由度が
少なく、大径の基板にも適さない等の問題があった。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明は、反応室を形成する石英製の反応容器と、この
反応容器の外側に設けられ反応室内に輻射線を照射する
加熱源と、反応室内にあって加熱源に近い側に位置し輻
射線に対し半透過性の物質で形成された第1発熱体と、
同じく反応室内にあって第1発熱体より加熱源から遠く
なる側に位置し輻射線に対し透過性が低いないしは不透
過性の物質で形成された第2発熱体と、第1.第2発熱
体の間の空間内に位置する基板支持体と、前記空間内に
反応ガスを通す反応ガス給排手段とからなる気相成長装
置にある。
〔作 用〕
本発明の気相成長装置は、石英製の反応容器外に設けら
れた加熱源からの輻射線を、反応容器内に設けられた第
1発熱体がまず吸収して発熱する。この第1発熱体は、
輻射線に対して半透過性であるため、一部の輻射線は第
1発熱体を透過して第2発熱体に吸収され、この第2発
熱体をも発熱させる。この第1.第2発熱体の発熱割合
は、前者の材料固有の輻射線透過率が適宜なものを選定
すると共に、その厚さを変化させることによって適宜に
設定し得る。基板は基板支持体によって第1.第2発熱
体の間の高温空間内に置かれて気相成長を施されるが、
この高温空間は第1.第2発熱体の両方から加熱される
ため、内部がより均一に加熱され、かつ均一に加熱でき
る高温空間を広く取ることができる。
〔実施例〕
以下本発明の一実施例を示す第1図ないし第4図につい
て説明する。第1図において、1はベースプレートで、
図示しない昇降装置によって昇降可能に取付けられてい
る。ベースプレート1の上方には、ガスリング2が図示
しない装置フレームに支持されて設けられている。ガス
リング2の上には、0リング3を介して石英製のベルジ
ャ型の反応容器4が設けられている。前記ベースプレー
ト1は、0リング5を介してガスリング2の下端を閉じ
るようになっており、該ペースプV−ト1、ガスリング
2ならびに反応容器4によって反応室6を形成するよう
になっている。
反応容器4の外側には、これを取り囲むように加熱源で
あるう/プ7が多数配列されており、輻射線(赤外光)
を石英製の反応容器4を通して反応室6内に照射するよ
うになっている。なお、6は反射板である。
反応室6に:id、ランプ7に対向する部分の反応容器
4の内壁に浴うように形成した筒状の第1発熱体9が設
けられている。この第1発熱体9は、約1〜15μmの
波長の輻射線を約50〜55チ透過する性質を有するS
iによって形成され、好ましくはその表面にSiC被覆
を施こしたもので’h 6 。
第1発熱体9は、上端に外方へ向かう突起9aが第2図
に示すように複数段けられ、反応容器4の内壁に設けら
れて第2図に示すように、前記突起9aが通過可能な凹
部+Oaを有するつげ10に支持され得るようになって
いる(第4図参照)。
ベースプレート1には、その下方に取付けたモータII
によりギヤ12.13を介して回転を与えられる中空回
転軸14が取付けられている。
この中空回転軸14は、ベースプレート1を貫通して反
応室6内に伸び、その上端に基板支持体15が取付けら
れている。この基板支持体15は、第3図に示すように
、複数の穴17を有するグレート16と、このプレート
16上に立設された複数のポール18と、これらのボー
ル18に連結片+9fC介して取付けられた3つのリン
グ20(第2図参照)とからなり、これらのリング20
に設けた溝に基板21をはめ込むことにより、第1図お
よび冨2図に示すように、反応容器4の中心に対し多数
の基板21を放射状に林立させて支持するようになって
いる。
プレート16は、第1図に示すように反応室6を閉じた
とき、第1発熱体9tl一つば10から持ち上げて支持
すると共に、中央に小径の筒状をした第2発熱体22が
設置されている。この第2発熱体22は、第1発熱体9
とにより前記基板支持体15に支持された基板21を収
容する環状空間6aを形成するようになっている。この
第2発熱体22は、う/プ7からの輻射線に対して不透
過性すなわち輻射線を実質的KIOCI吸収するカーボ
ンで形成され、その表面にSiC被覆を施こしたもので
ある。
中空回転軸14および第2発熱体22内には、ベースプ
レート1の下方から伸びるノズル23が設けられ、反応
ガス、パージガス、工、チングガスなどの気相成長プロ
セスに必要な各種のガスを反応室6内の上方に向けて吹
き出すようになっている。また、ガスリング2には複数
の排気管24が設けられると共に、反応容器4の内壁と
第1発熱体9との間にN2とN2のパージガスを供給す
る複数のパージガスノズル25が設けられている。
次いで本装置の作用について説明する。第4図に示すよ
うに、反応容器4およびガスリング2に対してペースグ
レート1を下降させ、基板支持体15のリング20の溝
に基板21をはめ込んで基板21の装填を行ない、第1
図に示すように、ベースプレート1を上昇させて、反応
室6を閉じる。
次いで、ノズル23およびパージガスノズル25からN
2ガスを供給すると共に排気管24から排気して反応室
6内の空気をN2ガスに置換し、次いで両ノズル23.
25からN2ガスを供給し、反応室6内をN2ガスに置
換し、さらにN2ガスを流しつつモータ11により中空
回転軸14を低速で回転させ、かつう/ブ7に給電して
加熱を開始する。
ラップ7から放射された輻射線は、石英製の反応容器4
を透過して、まず第1発熱体9に当たる。第1発熱体9
はSi製であるだめ、反応容器4を透過してきた輻射線
の一部を吸収して発熱すれまた、第1発熱体9を透過し
た輻射線は第2発熱体22に当たる。第2発熱体22は
カーボytlであるため、第1発熱体9を透過してきた
輻射線をほとんど100%吸収して発熱する。
なお、反応容器4を形成している石英の輻射線の透過率
は、約0.6〜3mmの波長の輻射線に対して約95俤
であり、約0.25μm以下と約3.5μm以上の波長
の輻射線に対しては透過率が80%以下に低下する性質
を有している。また、第1発熱体9を形成している3i
は、約1〜15μmの波長の輻射線に対し50〜55チ
の透過率を有している。
そこで、ランプ7を主波長領域が0.6〜3μmである
ような輻射線を発生するものに選定することにより、反
応容器4による輻射線の吸収を低く押えて第1発熱体9
と第2発熱体22を略等しい温度にまで発熱させること
ができる。
なお、輻射線の透過の割合は次式で表わされる。
ただし、■o二人射輻射線強度、工:透過輻射線強度、
α:透過率、d:板厚(へ)である。そこで、例えば第
1発熱体9の厚さを2倍にすると、輻射線が実際に透過
する量は約1/2.7となり、第1発熱体9の厚さを変
化させることKより透過量を制御できるものである。
前記基板支持体15のプレート16は、輻射線が環状空
間6a外へ逃げることを少なく押えるため、カーボンで
あることが好ましく、またボール1g、連結片19、リ
ング20は前記ランプ7からの輻射線に対し透過性のよ
い石英製とすることが好ましい。
前記のように第1.第2発熱体9,22の発熱により、
これらの間の環状空間6aが高温になると共に、第1 
、第2発熱体9.22が輻射線を生じ、さらに第1発熱
体9を透過した輻射線が環状空間6a内に散乱するため
、これらの間に置かれた基板21は加熱される。この基
板21の加熱は、第1発熱体9によって外側から行なわ
れるのみでなく、第2発熱体22により内側からも行な
われるため、より均一に行なわれる。
まだ、第2図に示すように、基板21を第1゜第2発熱
体9.22の間に放射状に配置すれば、すべての基板2
1が同様に加熱されるのみならず、基板21の表面と裏
面が等しく加熱されるため、基板21内に生ずる熱応力
の発生は小さく押えら″れ、気相成長において問題とな
るスリ、プの発生が押えられる。
こうして基板21が気相成長温度に加熱されたならば、
すでにノズル23から供給しているH2ガス中にエツチ
ングガスを混入して基板21の表面を清浄にし、次いで
前記H2ガス中に反応ガスを混入し、気相成長を開始す
る。ノズル23から供給された反応ガスは、反応室6の
上方へ吹き上げられた後、環状空間らa中を下降し、こ
の間に基板21に気相成長膜を形成し、プv−ト16に
設けた穴17を通ってガスリング2に設けた複数本の排
気管24から排気される。
第5図は本発明の他の実施例を示すもので、前述した実
施例と同一部分には同一符号を用い、説明を省略する。
この装置は、反応容器として上方を開放した反応管30
を用い、この反応管30の上端にOリング31を介して
ガスリング32を設置すると共に、ガスリング32の上
端をOリング33を介してトッププレート34により開
閉可能にしたものである。基板支持体35は、前述した
基板支持体15とほぼ同様に構成され、トップブレー)
 341111に取付けられて反応室6内に伸びている
回転軸36に支持されている。第1.第2発熱体37.
38は、基板支持体35のプv −139上に設置され
、トッププレート34の開放により基板支持体35と共
に反応室6外へ上昇するようになっている。なお、前記
第1発熱体37は、前述した実施例と同様に反応管30
側に支持させるようにし、かつプレート39を第1発熱
体37の内径より小さく形成し、基板支持体35を上昇
させるとき、第1発熱体37を反応室6内に残すように
すれば、基板21の装填、取出しが容易になる。40は
リング状のノズル、41は排気口である。この装置にお
いても、前述した実施例と同様の効果が得られる。
第6図は基板支持体15の他の実施例を示すもので、基
板21を第7図または第8図に示すような石英製の支持
板42.43に裏面を密着させて装填し、この支持板4
2または43をリング20上に配列するようにしたもの
である。このように支持板42.43を用いれば、支持
板42゜43が有する熱容量により、反応ガスの流れの
変化などによる基板21の温度変動を押えることができ
る。
また、第9図は、基板210表面側21aを反応ガスが
流れてくる方向に向けるように斜めに配列し、気相成長
膜が裏面より表面側21aにより多く形成されるように
した例を示したものである。
第10図は、第1発熱体9の他の実施例を示すもので、
石英製の2重管91の内部にSiの粉体92を充填した
ものである。このようにすれば、第1発熱体9が大形の
場合でも十分対処できる。
前述した実施例は、反応容器4.30が縦型の場合を示
したが、横型の反応容器でもよく、まだ第1発熱体はS
iに限らず輻射線に対して半透過性の物質でちればよ(
、Si化合物+Geおよびその化合物さらにはAI!化
合物など適宜に選択して使用することができ、さらにま
た第1.第2発熱体は筒状に限らず平板状でもよく、さ
らにまた基板21の配列も第1.第2発熱体の間に形成
される高温空間の形状に応じて適宜に定めればよい等、
種々変更可能である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、反応容器外から照射
される輻射線に対し透過率の異なる第1、第2発熱体を
用い、これらの間に基板を配列して気相成長を施すよう
にしたため、多数の基板をより均一に加熱できると共に
、均一に加熱できる空間をより広く取ることができ、気
相成長の量産化にとって非常に大きな効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概要断面図、第2図は
第1図のIt−II線による断面図、第3図は第1図の
■−■線による断面図で第1.第2発熱体と基板支持体
の部分を示す図、第4図は第1図に対しベースプレート
を下降させた状態を示す図、第5図は本発明の他の実施
例を示す概要断面図、第6図は基板支持体の他の実施例
を示す平面図、第7図および第6図は第6図に示した基
板支持体における基板支持部のそれぞれ異なる例を示す
側面図、第9図は基板の配列の他の例を示す側面図であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、反応室を形成する石英製の反応容器と、同反応容器
    の外側に設けられ反応室内に輻射線を照射する加熱源と
    、反応室内にあって前記加熱源に近い側に位置し前記輻
    射線に対し半透過性の物質で形成された第1発熱体と、
    同じく反応室内にあって前記第1発熱体より加熱源から
    遠くなる側に位置し前記輻射線に対し透過性が低いない
    しは不透過性の物質で形成された第2発熱体と、前記第
    1、第2発熱体の間の空間内に位置する基板支持体と、
    該空間内に反応ガスを通す反応ガス給排手段とからなる
    気相成長装置。 2、第1発熱体がSiで形成され、第2発熱体がSiC
    で被覆したカーボンで形成されていることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の気相成長装置。 3、基板支持体が第1、第2発熱体の間の空間に基板を
    林立させて支持するように形成されていることを特徴と
    する特許請求の範囲第1または2項記載の気相成長装置
    。 4、反応容器が一端を開閉可能になされかつ縦型に配置
    された反応容器であり、加熱源が前記反応容器の外周を
    取り囲むように設けられ、第1発熱体が前記反応容器の
    内壁に沿う筒状に形成されると共に第2発熱体が反応容
    器の中央部に位置する小径の筒状体に形成され、基板支
    持体が第1、第2発熱体の間の環状空間内に基板を放射
    状に林立させるように構成したことを特徴とする特許請
    求の範囲第1または2項記載の気相成長装置。 5、第1発熱体が反応容器側に支持可能になされている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の気相成長
    装置。 6、第2発熱体が基板支持体側に支持されていることを
    特徴とする特許請求の範囲第4または5項記載の気相成
    長装置。 7、反応容器が下端側を開放しベースプレートによって
    開閉可能になされたベルジャ型であることを特徴とする
    特許請求の範囲第4項記載の気相成長装置。 8、反応容器が上端側を開放しトッププレートによって
    開閉可能になされていることを特徴とする特許請求の範
    囲第4項記載の気相成長装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017163314A1 (ja) * 2016-03-22 2017-09-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法および記録媒体

Cited By (2)

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WO2017163314A1 (ja) * 2016-03-22 2017-09-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法および記録媒体
JPWO2017163314A1 (ja) * 2016-03-22 2019-05-16 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法および記録媒体

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