JPS61108960A - 渦流探傷試験における欠陥信号の抽出方法 - Google Patents
渦流探傷試験における欠陥信号の抽出方法Info
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- JPS61108960A JPS61108960A JP59230971A JP23097184A JPS61108960A JP S61108960 A JPS61108960 A JP S61108960A JP 59230971 A JP59230971 A JP 59230971A JP 23097184 A JP23097184 A JP 23097184A JP S61108960 A JPS61108960 A JP S61108960A
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- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
不発明は、渦流探１易試験にぢける欠陥信号の抽出装置
に関する。
に関する。
管、たとえばボイラ、熱父侯器、化学反応装置等に便用
されている伝熱′ｇに対して渦流探湯試恢を行なう場合
、探傷用の自己比較型コイルが上記伝熱管の長平方向に
沿って走査される。このとき、上記電熱管の欠陥が該管
の支持構造物、たとえばバッフルプレートの近傍に存在
していると、探傷信号として欠陥に基づく信号と上記バ
ッフルプレートに基づく信号とが合成された複合信号が
得られることになる。
されている伝熱′ｇに対して渦流探湯試恢を行なう場合
、探傷用の自己比較型コイルが上記伝熱管の長平方向に
沿って走査される。このとき、上記電熱管の欠陥が該管
の支持構造物、たとえばバッフルプレートの近傍に存在
していると、探傷信号として欠陥に基づく信号と上記バ
ッフルプレートに基づく信号とが合成された複合信号が
得られることになる。
かかる複合信号から直接に欠陥の位置、大きさ、形状等
を評価することは困難であり、そのため上記複合信号Ｄ
・ら上記パンフルプレートに基づく信号（これは予知さ
れる）を差し引く処理を行ない、その処理結果をＣＲＴ
に表示して欠陥の評価を行なう方法が従来から実施され
ている（三菱重工枝線Ｖｏ１．１３ 、 ／Ｋ ３１９
７ｆｉ −５） ｅ〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、上記欠陥に基づくイぎ号（以下、欠陥信号と
いう）は、その種類、形状等に応じて位相用、振幅等が
相違し、また欠陥と上記支持構造物との相対位置関係は
不定である。それ故、上記複合信号の形態は多種多様と
なり、これに伴って欠陥信号に多くの形標が存在するこ
とになる。このため、上記ＣＲＴの画面上から正規の欠
陥信号を確泥するには相当の熟練度と手間を安し、かつ
その確定判断に個人差を生じることが多かった。
を評価することは困難であり、そのため上記複合信号Ｄ
・ら上記パンフルプレートに基づく信号（これは予知さ
れる）を差し引く処理を行ない、その処理結果をＣＲＴ
に表示して欠陥の評価を行なう方法が従来から実施され
ている（三菱重工枝線Ｖｏ１．１３ 、 ／Ｋ ３１９
７ｆｉ −５） ｅ〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、上記欠陥に基づくイぎ号（以下、欠陥信号と
いう）は、その種類、形状等に応じて位相用、振幅等が
相違し、また欠陥と上記支持構造物との相対位置関係は
不定である。それ故、上記複合信号の形態は多種多様と
なり、これに伴って欠陥信号に多くの形標が存在するこ
とになる。このため、上記ＣＲＴの画面上から正規の欠
陥信号を確泥するには相当の熟練度と手間を安し、かつ
その確定判断に個人差を生じることが多かった。
〔問題点を解決するための手段」
不発明では、上記複合信号ρ・ら、該イぎ号π対し順次
時間をずらす態様で仮恢灯の支持構造物についての信号
を減じろ演算を何なう手段と、該演ｊ手段の演Ｘ結果の
ベクトル表不図形ＴＫｇげる各間［ｔ！１ｇの対称性に
ついての判定条件を記憶させた記 。
時間をずらす態様で仮恢灯の支持構造物についての信号
を減じろ演算を何なう手段と、該演ｊ手段の演Ｘ結果の
ベクトル表不図形ＴＫｇげる各間［ｔ！１ｇの対称性に
ついての判定条件を記憶させた記 。
憶手段と、上記各閉曲線の対称性が上記判定条件を満た
しているか否かを判定する＋段とを設け、もって上記従
来の問題点を解決している、〔実施例］ 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
しているか否かを判定する＋段とを設け、もって上記従
来の問題点を解決している、〔実施例］ 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
欠陥信号の一般的な評価方法として泣相屏仇法があり、
この方法は、欠陥信号の傾きから欠陥の深さを、また該
信号の振幅から欠陥の体積を谷々評価するものである。
この方法は、欠陥信号の傾きから欠陥の深さを、また該
信号の振幅から欠陥の体積を谷々評価するものである。
いま第２図に示す如く、ボイラ、熱交換器等の伝熱管１
内で渦訛探湯用の自己比較形コイルを所定速度（たとえ
ば３００ｕ／ ｓｓｃ ）で移動させながら該伝熱−Ｗ
１の探傷な行った場合、上記コイル２によって得られ仝
探傷□＋’ｓ号は、欠陥３に基づく信号と上記伝熱管１
の支持構造物たるパワフルプレート４に基づく信号とが
合成された複合信号となる。そしてこの複合信号は、第
５図に示す如く、欠陥３とパンフルプレート４の相対距
離ｄＬ （第２図参照ンに応じて変化する。なＳ、同図
は上記複合信号を後記するベクトル表示法によって表わ
している。
内で渦訛探湯用の自己比較形コイルを所定速度（たとえ
ば３００ｕ／ ｓｓｃ ）で移動させながら該伝熱−Ｗ
１の探傷な行った場合、上記コイル２によって得られ仝
探傷□＋’ｓ号は、欠陥３に基づく信号と上記伝熱管１
の支持構造物たるパワフルプレート４に基づく信号とが
合成された複合信号となる。そしてこの複合信号は、第
５図に示す如く、欠陥３とパンフルプレート４の相対距
離ｄＬ （第２図参照ンに応じて変化する。なＳ、同図
は上記複合信号を後記するベクトル表示法によって表わ
している。
この複合信号のような歪んだ信号に上記位相解析法を直
接適用して、欠陥３の評価を行なうことは不可能であり
、したがって複合信号から欠陥信号３に基づく信号な抽
出分離し、この分離された欠陥信号に対して位相解析を
行なうことになる。
接適用して、欠陥３の評価を行なうことは不可能であり
、したがって複合信号から欠陥信号３に基づく信号な抽
出分離し、この分離された欠陥信号に対して位相解析を
行なうことになる。
以下、この欠陥信号の分離について簡単に説明する。
一般に一１上記自己比較形コイルを用いた渦流探傷試験
では１時間に対する僅相、振幅（電圧）の２つの情報が
得られる。そしてこれらの１肯報の表示方法には、ベク
トル表示法と時間−脹喝表示法示のＸ成分とＹ成分を時
間変化で示すと、第４図のようになる。
では１時間に対する僅相、振幅（電圧）の２つの情報が
得られる。そしてこれらの１肯報の表示方法には、ベク
トル表示法と時間−脹喝表示法示のＸ成分とＹ成分を時
間変化で示すと、第４図のようになる。
いま、上記欠陥３に基づく信号（以下、欠陥１ぎ号とい
う）をり、上記バックルプレート４に４づく信号（以下
、バックルプレート信号という）をＢ、複合信号をＣと
すると、これらは谷々時間の関数Ｄ＝ＦＤ（ｔ）、Ｂ＝
Ｆ８（ｔ）、Ｃ＝ＦＣ（ｔ）と表わすことができ、第６
図（ａｌ 、 ｆｂｌおよびｆａｔはこれらの信号の一
例を示している。、、なお説明を容易πするため同図で
は、自己比較形コイル２によって１与られる信号のＸ成
分とＹ成分のうジＹ成分のみを示している。
う）をり、上記バックルプレート４に４づく信号（以下
、バックルプレート信号という）をＢ、複合信号をＣと
すると、これらは谷々時間の関数Ｄ＝ＦＤ（ｔ）、Ｂ＝
Ｆ８（ｔ）、Ｃ＝ＦＣ（ｔ）と表わすことができ、第６
図（ａｌ 、 ｆｂｌおよびｆａｔはこれらの信号の一
例を示している。、、なお説明を容易πするため同図で
は、自己比較形コイル２によって１与られる信号のＸ成
分とＹ成分のうジＹ成分のみを示している。
同図に示す欠陥信号りとパンフルプレート信号８８間差
Δｔは、前記コイル２の移動速度をＶＬ （一定ンとするど、Δｔ＝菖ｔと衣わされる。それ故、
■＝一定という条件下ＫＮいて、第５図に示した複合信
号の変化は上記時間差Δｔの大小によって生じると解さ
れる。
Δｔは、前記コイル２の移動速度をＶＬ （一定ンとするど、Δｔ＝菖ｔと衣わされる。それ故、
■＝一定という条件下ＫＮいて、第５図に示した複合信
号の変化は上記時間差Δｔの大小によって生じると解さ
れる。
したがってバッフルプレート信号、複合信号Ｃおよび時
間差Δｔが与えられれば、 Ｉ）＝Ｆ’ （ｔ）＝Ｆｃ（ｔ）−ＦＢＣｔ＋Δｔ ）
−・・−（１）なる演算を行なうことにより、欠陥信号
りを複合信号Ｃから分離抽出することができる。
間差Δｔが与えられれば、 Ｉ）＝Ｆ’ （ｔ）＝Ｆｃ（ｔ）−ＦＢＣｔ＋Δｔ ）
−・・−（１）なる演算を行なうことにより、欠陥信号
りを複合信号Ｃから分離抽出することができる。
ところで、上記バッフルグレート信号Ｂは予め知られる
が、上記時間差Δｔは不明である。そこで不発明の実施
例では、以下のよ５Ｋして欠陥信号りの抽出を行ってい
る。
が、上記時間差Δｔは不明である。そこで不発明の実施
例では、以下のよ５Ｋして欠陥信号りの抽出を行ってい
る。
欠陥信号りのベクトル表示図形は、第８図に例示するよ
うに２つの閉曲ｍ Ｌｍ ＋ Ｌｂを有し、これらの曲
ｉＬａ、Ｌｂは対称性についての下記する条件を満足す
る。
うに２つの閉曲ｍ Ｌｍ ＋ Ｌｂを有し、これらの曲
ｉＬａ、Ｌｂは対称性についての下記する条件を満足す
る。
条件Ｉ ； −万の閉曲ｔ１ＭＬ＆’ｊ６よび他方の閉
曲ｌ１ｌＩＩＩＬｂが各々１つの極大点Ｐａ（Ｘｍａｘ
、 Ｙｍａｘ ） Ｍよび極小点Ｐｂ（Ｘｍ１ｎ 、
Ｙｍｌｋ ）を有する。
曲ｌ１ｌＩＩＩＬｂが各々１つの極大点Ｐａ（Ｘｍａｘ
、 Ｙｍａｘ ） Ｍよび極小点Ｐｂ（Ｘｍ１ｎ 、
Ｙｍｌｋ ）を有する。
条件■ ； 閉曲ｆ３ Ｌａ 、 Ｌｂの谷振幅ｖａ
、 ＶｂがＶａキｖｂ 、つ１すｌ Ｘｍａｘ ｌキｌ
Ｘｍ１ｎ ｌ ＋ ｌ Ｙｍａｘｌキｌ Ｙｍｉｎ ｌ
ｎなＳ、振幅Ｖａ 、 Ｖｂは、直＃０ＰＩｋ＋介す
の長さで表わされる。
、 ＶｂがＶａキｖｂ 、つ１すｌ Ｘｍａｘ ｌキｌ
Ｘｍ１ｎ ｌ ＋ ｌ Ｙｍａｘｌキｌ Ｙｍｉｎ ｌ
ｎなＳ、振幅Ｖａ 、 Ｖｂは、直＃０ＰＩｋ＋介す
の長さで表わされる。
条件■ ； 閉曲（Ｈｔ、ａ 、 ｒ＝ｂ ｃｖ頑＠、
つ１り直Ｓ引−，ｔ５ＰｂとＸ＠（またはＹ輔）とのな
す用度θａ、θｂが θキθａキθｂ ただし、θはｔｌｌｒｓＮＰａＰｂがＸ−ＦＩＢ（また
はＹＩＭ）となす用度、 条件■ ； 閉曲＠ｉＬａ で囲でれた面積Ｓａ と
１）曲、嵌Ｌｂ で囲１れた面積ｓｂ とがＳａキＳｂ
。
つ１り直Ｓ引−，ｔ５ＰｂとＸ＠（またはＹ輔）とのな
す用度θａ、θｂが θキθａキθｂ ただし、θはｔｌｌｒｓＮＰａＰｂがＸ−ＦＩＢ（また
はＹＩＭ）となす用度、 条件■ ； 閉曲＠ｉＬａ で囲でれた面積Ｓａ と
１）曲、嵌Ｌｂ で囲１れた面積ｓｂ とがＳａキＳｂ
。
条件Ｖ ； 閉［ＩＭ Ｌａ 、Ｌｂの長さｉａ、ｌｂ
が！ａ−８：ｌｂ 第１図は、上記各条件に基づいて機会イ百号つ・ら欠陥
信号を抽出する処理＋唄の一ガをボ１゛０この＋１ｌｉ
ｌｌハ”ｆ（／口・プロセッサ（以下ＣＰＵという）５
、上記条件蓋〜ＶｊｃＴよびノくツフル・グレート信号
Ｂを格納したメモリ６、複合信号Ｃを格納するためのメ
モリ７等を備えた第９図に示す抽出装置によって以下に
示す様に実行される。
が！ａ−８：ｌｂ 第１図は、上記各条件に基づいて機会イ百号つ・ら欠陥
信号を抽出する処理＋唄の一ガをボ１゛０この＋１ｌｉ
ｌｌハ”ｆ（／口・プロセッサ（以下ＣＰＵという）５
、上記条件蓋〜ＶｊｃＴよびノくツフル・グレート信号
Ｂを格納したメモリ６、複合信号Ｃを格納するためのメ
モリ７等を備えた第９図に示す抽出装置によって以下に
示す様に実行される。
すなわち、第７図に示すサンプリング期間Ｔ。
〜ＴＮにおいて、図示していない渦流探Ｓ器によって同
図（ａｌに示すような複合信号Ｃが得られたとすると、
この複合信号は、Ａ／Ｄ 変僕器８を介して、上記メモ
リ７に格納される。そして、ＣＰＵ ５によって、ます
前記（１）式に示した時間ΔＴがΔＴ＝０に初期設定さ
れ（ステップ１００］、ついでΔＴがΔＴ≧Ｅ である
か否かの判定が実行される−（ステップ１０１）。なお
、ステップ１０１に示したｉｌｌ Ｅは、サンプリング
肋間（ＴＮ−Ｔｏ）からバッフルグレート信号の時間幅
を減じた時間を示す。
図（ａｌに示すような複合信号Ｃが得られたとすると、
この複合信号は、Ａ／Ｄ 変僕器８を介して、上記メモ
リ７に格納される。そして、ＣＰＵ ５によって、ます
前記（１）式に示した時間ΔＴがΔＴ＝０に初期設定さ
れ（ステップ１００］、ついでΔＴがΔＴ≧Ｅ である
か否かの判定が実行される−（ステップ１０１）。なお
、ステップ１０１に示したｉｌｌ Ｅは、サンプリング
肋間（ＴＮ−Ｔｏ）からバッフルグレート信号の時間幅
を減じた時間を示す。
ΔＴ＝Ｏではステップ１０１０刊定結果はＮＯである。
したがって、ΔＴ＝Ｏとした場合の（１）式の演算、つ
まり第７図１ｍｌの複合信号から上記メモＩ）６に予め
格納されるＩＴｆＵ図（ｂｌに示すバッフル・グレート
信号を減算する演算がＣＰｏ ５ Ｋよって実行される
（ステップ１０２ ） − 次に減昇陵の信号（前記式１）１のＤ）かｌ）：：Ｑで
あるかどうか判定される（ステラｆ１０３）。そしてＤ
中００場合は、複合信号中に欠陥イｇ号が入っていない
こ謔輪るので、ＣＰＵ５の処理はステップ１）０に移隼
行され、ここで欠陥の不存在が記録手段に記録される。
まり第７図１ｍｌの複合信号から上記メモＩ）６に予め
格納されるＩＴｆＵ図（ｂｌに示すバッフル・グレート
信号を減算する演算がＣＰｏ ５ Ｋよって実行される
（ステップ１０２ ） − 次に減昇陵の信号（前記式１）１のＤ）かｌ）：：Ｑで
あるかどうか判定される（ステラｆ１０３）。そしてＤ
中００場合は、複合信号中に欠陥イｇ号が入っていない
こ謔輪るので、ＣＰＵ５の処理はステップ１）０に移隼
行され、ここで欠陥の不存在が記録手段に記録される。
−万、ステップ１０３にぢいてＤ中Ｏでないと判定され
た場合は、減算陵の信号のベクトル表示図形がメモリ６
に格納されている前記各条件１−Ｖを満足しているか否
かの＋」断がＣＰＵ ５ Ｋ−Ｍいて実行される。、（
ステップ１０４〜ΔＴ＝Ｏでの上記ベクトル表示図形が
ステップ１０４〜１０８に示した条件のいずれかを満足
しない場合には、ΔＴをΔ’ｌ’＋ａ（ａは時間Ｔ。−
ＴＮ に比して十分小さく設定される）にする処理が実
行され（ステップ１）１）、そののちステップ１０２で
Δτ十ａのときＶＣ３ける（１）式の演磨ニが実作され
る一つ筐り一第７図（ａｌの複合信号より同図ｔｂｌの
バッフル・プレート信号を時間ａだけずらした同図ｉｃ
ｌに示″ｆｇ７に号を引く演算が実行される。そして、
七の判定され、ＤキＯ″′Ｃ″あれば、つ１り欠陥信号
が含まれないと判定された場合には先に述べた様にステ
ラ’；’１）０にジャンプする。またＤ中Ｏでなく、か
つその演ＪＬ結果に基づく波形がステップ１０４〜１０
８に示した谷粂件の全てを満足する場合、その波形は、
欠陥信号と判定される。そしてこの場合、欠陥４Ｎ号の
評価がステップ１０９で実施され、その結果が記録手段
に記録される（ステップ１）Ｏ）。
た場合は、減算陵の信号のベクトル表示図形がメモリ６
に格納されている前記各条件１−Ｖを満足しているか否
かの＋」断がＣＰＵ ５ Ｋ−Ｍいて実行される。、（
ステップ１０４〜ΔＴ＝Ｏでの上記ベクトル表示図形が
ステップ１０４〜１０８に示した条件のいずれかを満足
しない場合には、ΔＴをΔ’ｌ’＋ａ（ａは時間Ｔ。−
ＴＮ に比して十分小さく設定される）にする処理が実
行され（ステップ１）１）、そののちステップ１０２で
Δτ十ａのときＶＣ３ける（１）式の演磨ニが実作され
る一つ筐り一第７図（ａｌの複合信号より同図ｔｂｌの
バッフル・プレート信号を時間ａだけずらした同図ｉｃ
ｌに示″ｆｇ７に号を引く演算が実行される。そして、
七の判定され、ＤキＯ″′Ｃ″あれば、つ１り欠陥信号
が含まれないと判定された場合には先に述べた様にステ
ラ’；’１）０にジャンプする。またＤ中Ｏでなく、か
つその演ＪＬ結果に基づく波形がステップ１０４〜１０
８に示した谷粂件の全てを満足する場合、その波形は、
欠陥信号と判定される。そしてこの場合、欠陥４Ｎ号の
評価がステップ１０９で実施され、その結果が記録手段
に記録される（ステップ１）Ｏ）。
−万、ΔＴ＝ΔＴ−ｆ−ｅｘ ＶＣＭＩｔｆろベクト
ル表示パターンがステップ１０４〜１０８の各条件のい
ずれか１つでも満たしていない場合には、ステップ１）
１にだいてΔＴがΔＴ＋α＝２ａに設定され、前述した
処理が実施される。以凌、ステップ１）１を通過する毎
にΔＴの値がａだげそして、ステップ１０３０条件が満
たされるか、あるいはステップ１０４〜１０８の条件が
同時に満たされるΔＴが求まるまで、上記の処理はくり
返される。
ル表示パターンがステップ１０４〜１０８の各条件のい
ずれか１つでも満たしていない場合には、ステップ１）
１にだいてΔＴがΔＴ＋α＝２ａに設定され、前述した
処理が実施される。以凌、ステップ１）１を通過する毎
にΔＴの値がａだげそして、ステップ１０３０条件が満
たされるか、あるいはステップ１０４〜１０８の条件が
同時に満たされるΔＴが求まるまで、上記の処理はくり
返される。
なＳ、ΔＴをαずつ増加させていった結果、ステップ１
０１の条件７ｊＥ ＹＥＳになったとすると、これはこ
の処理方法では欠陥信号が抽出されなかつたことを示唆
する。そこで処理はステップ１）０ヘジヤンプされ、そ
のさいこのステップ１）０にＳいては複雑な欠陥信号で
あるため欠陥信号の抽出が不可能であることが適当な記
録＋段に表示されろ。
０１の条件７ｊＥ ＹＥＳになったとすると、これはこ
の処理方法では欠陥信号が抽出されなかつたことを示唆
する。そこで処理はステップ１）０ヘジヤンプされ、そ
のさいこのステップ１）０にＳいては複雑な欠陥信号で
あるため欠陥信号の抽出が不可能であることが適当な記
録＋段に表示されろ。
かくして、この実′ＩＭ例によれば、渦流探湯試憾によ
って優られる複合信号から、人手を喪することなく、欠
陥信号を適確に分離、抽出することができる。
って優られる複合信号から、人手を喪することなく、欠
陥信号を適確に分離、抽出することができる。
上記のようにして、欠陥信号が抽出されると、標準試験
片を用いて予め求めである欠陥信号の位相角（信号の傾
＠）と欠陥体積の関係に基づき、上記ＣＰＵ ５によっ
て欠陥の深さ、体積が評価され。
片を用いて予め求めである欠陥信号の位相角（信号の傾
＠）と欠陥体積の関係に基づき、上記ＣＰＵ ５によっ
て欠陥の深さ、体積が評価され。
その評価結果は凌述するように伝熱管σ力ｄｉ面画像と
してＣＲＴ ９に表示され、力・つ記録紙等に記′Ｘ★
される。なＳ、欠陥とバッフル・プレートの相対位置は
、前記ステップ１０８で記録された時間ΔＴから特定さ
れる。
してＣＲＴ ９に表示され、力・つ記録紙等に記′Ｘ★
される。なＳ、欠陥とバッフル・プレートの相対位置は
、前記ステップ１０８で記録された時間ΔＴから特定さ
れる。
い１．第１０図〜１３図の（ａｔに例示する。にうな複
合信号が得られた場合、上記の処理中ｌｌｌ！ＩＫ基づ
いてそれらの複合店号から向合ｍ ｔｂ＋に示すような
欠陥信号が抽出され、かつそれらの欠陥信号に基づいて
、向合図ｔｅｌに＠面像として示す評価結果が優られる
。
合信号が得られた場合、上記の処理中ｌｌｌ！ＩＫ基づ
いてそれらの複合店号から向合ｍ ｔｂ＋に示すような
欠陥信号が抽出され、かつそれらの欠陥信号に基づいて
、向合図ｔｅｌに＠面像として示す評価結果が優られる
。
第１（）図（ｃｌでは欠陥が２１）１）φの貫通穴であ
ると評価され、第１）図ｉｃｌではχ陥が伝熱管の外周
面に発生した外面減肉（深さ５０憾］であると評価され
ている。、１だ第１２図ｔｅｌでは、欠陥が外面減肉（
条さ１５憾）と評価され、第１３図（ｃｌでは欠陥が伝
熱管の外周面からの押圧溝（打さず］であると評価され
ている。
ると評価され、第１）図ｉｃｌではχ陥が伝熱管の外周
面に発生した外面減肉（深さ５０憾］であると評価され
ている。、１だ第１２図ｔｅｌでは、欠陥が外面減肉（
条さ１５憾）と評価され、第１３図（ｃｌでは欠陥が伝
熱管の外周面からの押圧溝（打さず］であると評価され
ている。
なＳ、不発明は、伝熱管にバッフルプレート４以外の支
持構遺物が付設されている場合、Ｓよび伝熱管の一部が
他の部分に比して特異な形状をしている場合等にも有効
に通用しつる。また伝熱・ｇ以外の被検材に対しても有
効である。
持構遺物が付設されている場合、Ｓよび伝熱管の一部が
他の部分に比して特異な形状をしている場合等にも有効
に通用しつる。また伝熱・ｇ以外の被検材に対しても有
効である。
不発明によれば、人手を要することなく、ρ・つ′４嗜
に１友合（ｇ号Ｄ・ら欠陥信号を分離抽出することが′
ｔ″き、これによって狗流探傷試験の効率化と省力化を
図ることができる。
に１友合（ｇ号Ｄ・ら欠陥信号を分離抽出することが′
ｔ″き、これによって狗流探傷試験の効率化と省力化を
図ることができる。
第１歯は、不発明忙係る欠陥１ｇ号佃出牛１唄の一例を
示したフローチャート、嘱２図は伝熱管に対するバッフ
ルプレートの配直頭僚Ｚよび検出コイルの移動態様を示
した概念図、累３図２よび第４因は各々検出コイルの移
動に伴って変化する信号のベクトル表示図形Ｈよび時開
−振幅波形を例示したグラフ、第５図は欠陥とバッフル
グレートの相対距離に応じて榎会イ百号が変化する態様
を示した図、第６図は欠陥ＩＮ号、バッフルグレート信
号Ｓよび複合信号の一例を示した彼形図、第７図は複合
信号からバッフルプレートａ号を鵡じる場合のバッフル
グレート信号の時間シフトの態様を例示した成形間、第
８図は真の欠陥４ご号を抽出するための判定条件を説明
する図、第９図は第１図に示した＋ｌ１ｌｉｌを実行す
る本発明に１承る欠陥抽出装置の一実施例を概念的に示
したブロック図、第１０図ないし第１３図は各々榎合侶
号と抽出さ７″Ｌ、た人陥イぎ号Ｓよびその欠陥信号の
評価結果を例示した図である。 １・・・伝熱管、２・・・渦流探傷用検出コイル、３・
・・欠１ｉ、 ４・・・バッフルプレート、５・・・Ｃ
ＰＵ、 ６ 、７・・・メモリ。 ｄＬ＝＋Ｉ５ ｄＬ＝＋１７．５
ｄＬ”化０ｄＬ＝＋５
ｄＬ＝＋７．５ ｄＬ：＋ｉ
。 ＾ く
＋り ＋ｏｇ 味
示したフローチャート、嘱２図は伝熱管に対するバッフ
ルプレートの配直頭僚Ｚよび検出コイルの移動態様を示
した概念図、累３図２よび第４因は各々検出コイルの移
動に伴って変化する信号のベクトル表示図形Ｈよび時開
−振幅波形を例示したグラフ、第５図は欠陥とバッフル
グレートの相対距離に応じて榎会イ百号が変化する態様
を示した図、第６図は欠陥ＩＮ号、バッフルグレート信
号Ｓよび複合信号の一例を示した彼形図、第７図は複合
信号からバッフルプレートａ号を鵡じる場合のバッフル
グレート信号の時間シフトの態様を例示した成形間、第
８図は真の欠陥４ご号を抽出するための判定条件を説明
する図、第９図は第１図に示した＋ｌ１ｌｉｌを実行す
る本発明に１承る欠陥抽出装置の一実施例を概念的に示
したブロック図、第１０図ないし第１３図は各々榎合侶
号と抽出さ７″Ｌ、た人陥イぎ号Ｓよびその欠陥信号の
評価結果を例示した図である。 １・・・伝熱管、２・・・渦流探傷用検出コイル、３・
・・欠１ｉ、 ４・・・バッフルプレート、５・・・Ｃ
ＰＵ、 ６ 、７・・・メモリ。 ｄＬ＝＋Ｉ５ ｄＬ＝＋１７．５
ｄＬ”化０ｄＬ＝＋５
ｄＬ＝＋７．５ ｄＬ：＋ｉ
。 ＾ く
＋り ＋ｏｇ 味
Claims (2)
- （１）渦流探傷によつて得られる複合信号から、該信号
に対し順次時間をずらす態様で被検材の支持構造物につ
いての信号を減じる演算手段と、該演算手段の演算結果
のベクトル表示図形における各閉曲線Ｌａ、Ｌｂの対称
性についての判定条件を記憶させた記憶手段と、上記各
曲線Ｌａ、Ｌｂの対称性が上記判定条件を満たしている
か否かを判定する手段とを備えてなる渦流探傷試験にお
ける欠陥信号の抽出装置。 - （２）上記判定条件が下記に列挙する内容である特許請
求の範囲第（１）項記載の渦流探傷試験における欠陥信
号の抽出装置。 条件 I ；上記閉曲線Ｌａ、Ｌｂが各々１つの極大点Ｐ
ａ、極小点Ｐｂを有する 条件II；上記閉曲線Ｌａ、Ｌｂの各振幅Ｖａ、ＶｂがＶ
ａ≒Ｖｂ 条件III；上記閉曲線Ｌａ、Ｌｂの傾きθａ、θｂがθ
ａ≒θｂ 条件IV；上記閉曲線Ｌａ、Ｌｂの囲む面積Ｓａ、Ｓｂが
Ｓａ≒Ｓｂ 条件Ｖ；上記閉曲線Ｌａ、Ｌｂの長さｌａ、ｌｂがｌａ
≒ｌｂ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59230971A JPS61108960A (ja) | 1984-11-01 | 1984-11-01 | 渦流探傷試験における欠陥信号の抽出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59230971A JPS61108960A (ja) | 1984-11-01 | 1984-11-01 | 渦流探傷試験における欠陥信号の抽出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61108960A true JPS61108960A (ja) | 1986-05-27 |
| JPH0342789B2 JPH0342789B2 (ja) | 1991-06-28 |
Family
ID=16916189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59230971A Granted JPS61108960A (ja) | 1984-11-01 | 1984-11-01 | 渦流探傷試験における欠陥信号の抽出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61108960A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02269935A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Hitachi Ltd | 光検出電気泳動装置 |
| JP2012047710A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | East Japan Railway Co | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 |
| CN108169323A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-06-15 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种异形结构工件涡流信号的处理方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5492296A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-21 | Babcock & Wilcox Co | Detecting of injury within tube near adjacent element |
-
1984
- 1984-11-01 JP JP59230971A patent/JPS61108960A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5492296A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-21 | Babcock & Wilcox Co | Detecting of injury within tube near adjacent element |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02269935A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Hitachi Ltd | 光検出電気泳動装置 |
| JP2012047710A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | East Japan Railway Co | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 |
| CN108169323A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-06-15 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种异形结构工件涡流信号的处理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0342789B2 (ja) | 1991-06-28 |
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