JPS59111056A - 渦流探傷装置 - Google Patents

渦流探傷装置

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Publication number
JPS59111056A
JPS59111056A JP22281882A JP22281882A JPS59111056A JP S59111056 A JPS59111056 A JP S59111056A JP 22281882 A JP22281882 A JP 22281882A JP 22281882 A JP22281882 A JP 22281882A JP S59111056 A JPS59111056 A JP S59111056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw
size
color
flaw detection
phase theta
Prior art date
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Pending
Application number
JP22281882A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Hatamoto
畑本 和郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP22281882A priority Critical patent/JPS59111056A/ja
Publication of JPS59111056A publication Critical patent/JPS59111056A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9073Recording measured data

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 a、技術分野 この発明は金属材料の探傷検査に使用される探傷装置に
係り、特に交番磁界中におかれた鋼管や丸棒鋼等の被検
査材に生ずる渦電流の変化を磁気検出器で検出すること
に基づき被検査材の探傷をおこなう渦流探傷装置に関す
る。
b、従来技術及び欠点 従来の渦流探傷装置における傷判定は、オシロスコープ
やアナログレコーダに描かれた傷信号の波形を人間がパ
ターン認識することにより行われていた。
このように記録計に描かれる波形は複雑なものであるた
め、ともすれば誤判定を生ずるという欠点がある。
また、前記記録計の表示では、被検査材のどの部分に傷
があるのかを直ちに判断することができないため、検査
工程の管理上不便であるという欠点があった。
C6発明の目的 この発明は誤判定が生じにくく、また、記録計等の表示
から直ちに傷のある場所が判断できる渦流探傷装置を提
供することを目的としている。
d6発明の特徴 第1図はこの発明の詳細な説明するための図である。す
なわち、この発明は同図(イ)に示す如き被検査材の周
面を同図(四のように画素Cの配列でもって展開して表
示する一方、磁気検出器の検出出力から傷に関連した特
徴量を抽出し、この特微量の値に応じて各画素を色分け
することを特徴としている。
e、実施例の説明 第2図はこの発明に係る渦流探傷装置の実施例における
主要部を略示したブロック図である。
第2図において、1は図示しない磁気検出器の増幅され
た検出出力を与えられ、これを直交する二つの成分X、
Yに分離する手段としての分離回路、2は与えられた成
分X、Yから傷に関連した特微量としての例えば大きさ
r(JP〒V5、位相θ(tan IY/X)を算出す
る演算回路である。
磁気検出器の検出出力は傷の形状、深さ、さらには被検
査材の材質によって、その振幅や位相等を変化させる。
従って、前記演算回路2は成分X。
Yから傷番こ関する情報である特微量を抽出する働きを
する。
3は検出出力の大きさr及び位相θの各データと磁気検
出器の位置情報とを与えられる色分は決定回路である。
この色分は決定回路3は大きさrと位相0の組合せに応
じてそわぞれの色を決定し、所定の色信号を、前記磁気
検出器の位置情報に基づく画素の位置を決定する位置信
号とともに出力する。第3図は色分は決定回路3におい
て行われる色決定を例示した説明図である。例えば、大
きさrが十分さい領域(r<R1)は、位相θにかかわ
らず「緑」を表示することにより、傷が無いことを示す
。そして、傷の種類や大きさに関連して大きさrと位相
0の組み合せ量が定められ、それぞれについて「黄」「
赤」等の色分けが行われる。
そして、前記色信号及び位置信号は例えばCRT4及び
プリンタ5に与えられる。CRT4は探傷面を展開した
状態に対応して配列された各画素を前記両信号に応じて
色分は表示する。そして、このCRT画面は被検査材の
軸方向に対応して順次スクロールされる。
一方、プリンタ5は色信号に応じて、黒化率の異なるパ
ターン(例えば、A、 0、■の如きアルファベット)
を印字することにより、探傷結果を記録用紙に濃淡画像
として表示する。
f0発明の効果 この発明に係る渦流探傷装置は、探傷結果を表示器に色
分けして表わすから、視覚による判別がたいへん行い易
く、そのため、従来装置に比較して誤判定が少くなる。
また、判定の個人差が減少するので品質管理上も都合が
よいものである。
また、この発明によれば傷のある位置を表示画像から直
ちに知ることができるはかりでなく、記録用紙に描かれ
た画像等を見れば傷の分布をも容易に把握することがで
きるのでたいへん便利である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の詳細な説明するための図、第2図は
この発明に係る渦流探傷装置の実施例における主要部を
略示したブロック図、第3図は色分は決定回路3におい
て行われる色決定を例示した説明図である。 1・・・分離回路、2・・・演算回路、3・・・色分は
決定回路、4・・・CRT、5・・・プリンタ。 特許出願人 株式会社島津製作所

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)交番磁界中におかれた被検査材に生ずる渦電流の
    変化を磁気検出器で検出することに基づき探傷する渦流
    探傷装置において、探傷面を画素の配列でもって展開表
    示する一方、磁気検出器の検出出力の特徴量を抽出し、
    この特徴量の値に応じて前記各画素を色分けするように
    構成したことを特徴とする渦流探傷装置。
JP22281882A 1982-12-17 1982-12-17 渦流探傷装置 Pending JPS59111056A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0165761A2 (en) * 1984-06-15 1985-12-27 Westinghouse Electric Corporation Method and apparatus for displaying eddy current detector data
EP0533440A1 (en) * 1991-09-16 1993-03-24 General Electric Company Method for inspecting components having complex geometric shapes
WO1999058967A1 (fr) * 1998-05-12 1999-11-18 Kawasaki Steel Corporation Procede et dispositif d'affichage d'un signal produit par une sonde de mesure
JP2013156088A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流探傷システム及び渦電流探傷方法
JP2020045206A (ja) * 2018-09-18 2020-03-26 Ihi運搬機械株式会社 ベルトコンベヤのベルト損傷監視システム

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0165761A2 (en) * 1984-06-15 1985-12-27 Westinghouse Electric Corporation Method and apparatus for displaying eddy current detector data
EP0165761A3 (en) * 1984-06-15 1988-06-15 Westinghouse Electric Corporation Method and apparatus for displaying eddy current detector data
EP0533440A1 (en) * 1991-09-16 1993-03-24 General Electric Company Method for inspecting components having complex geometric shapes
US5345514A (en) * 1991-09-16 1994-09-06 General Electric Company Method for inspecting components having complex geometric shapes
WO1999058967A1 (fr) * 1998-05-12 1999-11-18 Kawasaki Steel Corporation Procede et dispositif d'affichage d'un signal produit par une sonde de mesure
AU759780B2 (en) * 1998-05-12 2003-05-01 Kawasaki Steel Corporation Method and device for displaying signal generated by measurement probe
US6777931B1 (en) 1998-05-12 2004-08-17 Kawasaki Steel Corporation Method of displaying signal obtained by measuring probe and device therefor
JP2013156088A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流探傷システム及び渦電流探傷方法
JP2020045206A (ja) * 2018-09-18 2020-03-26 Ihi運搬機械株式会社 ベルトコンベヤのベルト損傷監視システム

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