JPH01212352A - 電磁気探傷方法および装置 - Google Patents
電磁気探傷方法および装置Info
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- JPH01212352A JPH01212352A JP3540588A JP3540588A JPH01212352A JP H01212352 A JPH01212352 A JP H01212352A JP 3540588 A JP3540588 A JP 3540588A JP 3540588 A JP3540588 A JP 3540588A JP H01212352 A JPH01212352 A JP H01212352A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は鋼管、棒、平板等の被検体の欠陥を検出する電
磁気探傷方法および装置に関する。
磁気探傷方法および装置に関する。
［従来の技術］
被検体の欠陥を検出する非破壊検査装置として、特開昭
８０−１５２１１３８号公報に記載される磁粉探傷方法
がある。
８０−１５２１１３８号公報に記載される磁粉探傷方法
がある。
上記磁粉探傷方法は、磁粉模様をＩＴＶカメラによって
撮像し、その出力を画像処理するものであり、欠陥の有
無だけでなく、欠陥のパターンを認識することができる
。
撮像し、その出力を画像処理するものであり、欠陥の有
無だけでなく、欠陥のパターンを認識することができる
。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、上記従来の磁粉探傷方法は、以下の問題
点がある。
点がある。
■磁粉供給装置、ブラックライト等を設備する必要があ
り、大がかりな装置が必要となる。
り、大がかりな装置が必要となる。
■被検体の移動時に磁粉が脱落し、検出精度を損なうお
それがある。
それがある。
■欠陥以外の疑似模様を取込み過検出となる。
■画像取込みのためにＩＴＶカメラ等が必要となり、複
雑である。
雑である。
本発明は、簡素な構成により、高精度で、欠陥をパター
ン認識可能とすることを目的とする。
ン認識可能とすることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、被検体の表面に対し探傷プローブを配置し、
被検体の欠陥を検出する電磁気探傷方法において、探傷
プローブを被検体の表面に対し相対移動し、被検体の各
探傷位置における探傷出力を画像処理し、被検体の欠陥
を抽出するようにしたものである。
被検体の欠陥を検出する電磁気探傷方法において、探傷
プローブを被検体の表面に対し相対移動し、被検体の各
探傷位置における探傷出力を画像処理し、被検体の欠陥
を抽出するようにしたものである。
また、本発明は、被検体の表面に対し探傷プローブを配
置し、被検体の欠陥を検出する電磁気探傷装置において
、探傷プローブを被検体の表面まわりに回転する回転装
置と、探傷プローブの被検体に対する回転角度位置を検
出する回転検出器と、探傷プローブの出力と回転検出器
の出力を得て、被検体の各探傷位置における探傷出力を
画像処理し、被検体の欠陥を抽出する画像処理装置とを
有してなるようにしたものである。
置し、被検体の欠陥を検出する電磁気探傷装置において
、探傷プローブを被検体の表面まわりに回転する回転装
置と、探傷プローブの被検体に対する回転角度位置を検
出する回転検出器と、探傷プローブの出力と回転検出器
の出力を得て、被検体の各探傷位置における探傷出力を
画像処理し、被検体の欠陥を抽出する画像処理装置とを
有してなるようにしたものである。
［作用］
本発明は、漏洩磁気探傷プローブもしくは渦流探傷プロ
ーブを用い、被検体の各探傷位置における上記探傷プロ
ーブの探傷出力を画像処理することにより、欠陥の有無
だけでなく、欠陥のパターンを認識することができる。
ーブを用い、被検体の各探傷位置における上記探傷プロ
ーブの探傷出力を画像処理することにより、欠陥の有無
だけでなく、欠陥のパターンを認識することができる。
ここで１本発明によれば、磁粉供給装置、ブラックライ
ト等の大がかりな設備や、ＩＴＶカメラ等の画像取込み
のための複雑な装置が不要となり、構成が簡素となる。
ト等の大がかりな設備や、ＩＴＶカメラ等の画像取込み
のための複雑な装置が不要となり、構成が簡素となる。
さらに、被検体が移動しても探傷精度が低下する要因は
なく、また疑似欠陥を取込むこともなく、検出精度を損
なうおそれがない。
なく、また疑似欠陥を取込むこともなく、検出精度を損
なうおそれがない。
したがって、簡素な構成により、高精度で、欠陥をパタ
ーン認識することができる。
ーン認識することができる。
［実施例］
第１図は本発明の探傷装置の一例を示す模式図、第２図
は探傷装置のヨークおよびプローブ部分を示す正面図、
第３図は第２図の要部正面図である。
は探傷装置のヨークおよびプローブ部分を示す正面図、
第３図は第２図の要部正面図である。
漏洩磁気探傷装置１０は、第２図に示す如く、鋼管１の
パスラインまわりに回動する回転フレーム１１（ＩＩＡ
は駆動モータ）を設け、この回転フレーム１１の内部に
配設されるヨーク設定枠１２にヨーク支持板１３を位置
調整可能に保持し、このヨーク支持板１３に取付ポル）
１４にて高周波交流磁化ヨーク１５を取着している。ヨ
ーク１５は珪素鋼板を積層した継鉄１６と、継鉄１６に
巻回される磁化コイル１７からなる。このヨーク１５は
鋼管ｌの欠陥に起因して生ずる漏洩磁束を検出する探傷
プローブ１８を備えている。
パスラインまわりに回動する回転フレーム１１（ＩＩＡ
は駆動モータ）を設け、この回転フレーム１１の内部に
配設されるヨーク設定枠１２にヨーク支持板１３を位置
調整可能に保持し、このヨーク支持板１３に取付ポル）
１４にて高周波交流磁化ヨーク１５を取着している。ヨ
ーク１５は珪素鋼板を積層した継鉄１６と、継鉄１６に
巻回される磁化コイル１７からなる。このヨーク１５は
鋼管ｌの欠陥に起因して生ずる漏洩磁束を検出する探傷
プローブ１８を備えている。
探傷プローブ１８は、フェライトコアに巻回されたサー
チコイル１９を内蔵して構成されている。
チコイル１９を内蔵して構成されている。
探傷プローブ１８は不図示のシューにより鋼管１に常に
一定の距離を保つように設定されている。
一定の距離を保つように設定されている。
２０はヨーク支持板１３に設けた取着凹部、２１は磁化
絶縁材である。
絶縁材である。
すなわち、上記漏洩磁気探傷装置１０は、鋼管１がヨー
ク１５の検出領域に入ると、不図示の制御器が転送する
鋼管外径設定信号に応じてヨーク支持板１３を移動させ
、ヨーク１５と鋼管１の表面とを所定の間隔に設定する
。この状態で磁化コイル１７に通電すると、鋼管ｌの表
面に磁束を生ずる。そこで、回転フレーム１１を回転さ
せながら鋼管１を搬送する時、鋼管ｌの表面に欠陥があ
ると、漏洩磁束を生ずる。したがって、探傷プローブ１
８のサーチコイル１９がこの漏洩磁束を捕え、欠陥の存
在を検出、すなわち探傷することとなる。
ク１５の検出領域に入ると、不図示の制御器が転送する
鋼管外径設定信号に応じてヨーク支持板１３を移動させ
、ヨーク１５と鋼管１の表面とを所定の間隔に設定する
。この状態で磁化コイル１７に通電すると、鋼管ｌの表
面に磁束を生ずる。そこで、回転フレーム１１を回転さ
せながら鋼管１を搬送する時、鋼管ｌの表面に欠陥があ
ると、漏洩磁束を生ずる。したがって、探傷プローブ１
８のサーチコイル１９がこの漏洩磁束を捕え、欠陥の存
在を検出、すなわち探傷することとなる。
なお、この探傷装置１０においては、各２セツトのヨー
ク１５（１５Ａ、１５Ｂ）、探傷プローブ１８ （１８
Ａ、１８Ｂ）を、用い、鋼管ｌの直径を通る２位置のそ
れぞれに、上記ヨーク１５Ａ、１５Ｂと探傷プローブ１
８Ａ、１８Ｂを配置している。また、各探傷プローブ１
８Ａ、１８Ｂは、鋼管１の軸方向に沿う複数位置（この
例では６チヤンネル）のそれぞれに、前述のサーチコイ
ル１９を内蔵している。
ク１５（１５Ａ、１５Ｂ）、探傷プローブ１８ （１８
Ａ、１８Ｂ）を、用い、鋼管ｌの直径を通る２位置のそ
れぞれに、上記ヨーク１５Ａ、１５Ｂと探傷プローブ１
８Ａ、１８Ｂを配置している。また、各探傷プローブ１
８Ａ、１８Ｂは、鋼管１の軸方向に沿う複数位置（この
例では６チヤンネル）のそれぞれに、前述のサーチコイ
ル１９を内蔵している。
しかして、この探傷装置１０にあっては、磁化コイル１
７に通電する磁化交流の周波数を高域に設定するととも
に、探傷プローブ１８を構成するサーチコイル１９を小
径化することとしている。
７に通電する磁化交流の周波数を高域に設定するととも
に、探傷プローブ１８を構成するサーチコイル１９を小
径化することとしている。
ここで、各探傷プローブ１８Ａ、１８Ｂは、■それらに
内蔵されるサーチコイル１９の間隔を例えば４１とし、
■一方のプローブ１８Ａと他方のプローブ１８Ｂとを鋼
管１の軸方向に例えば２■ずらし、これにより０両プロ
ーブ１８Ａ、１８Ｂの各サーチコイル１９が検出する鋼
管１の軸方向幅（分解能）を２■とじ、その分解能の向
上を図っている。
内蔵されるサーチコイル１９の間隔を例えば４１とし、
■一方のプローブ１８Ａと他方のプローブ１８Ｂとを鋼
管１の軸方向に例えば２■ずらし、これにより０両プロ
ーブ１８Ａ、１８Ｂの各サーチコイル１９が検出する鋼
管１の軸方向幅（分解能）を２■とじ、その分解能の向
上を図っている。
さらに、探傷装置１０は回転検出器３１を備え、鋼管ｌ
に対して回転フレーム１１、ひいてはヨーク１５および
探傷プローブ１８が回転する回転角度位置を検出可能と
している。
に対して回転フレーム１１、ひいてはヨーク１５および
探傷プローブ１８が回転する回転角度位置を検出可能と
している。
また、探傷装置１０は画像処理装置４１を備えている０
画像処理装置４１は、各探傷プローブ１８に内蔵されて
いる各サーチコイル１９の出力を、回転トランス装置４
２、プローブ信号検出器４３を経て取込み可能としてい
る。また、画像処理装置４１は、回転検出器３１の出力
を、トリガ発生器４４を介して取込み、各プローブ１８
が鋼管ｌに対して例えば１回転する周期を伝達されるよ
うになっている。これにより、画像処理装置４１は、各
プローブ１８の各サーチコイル１９が連続的に検出して
いる。鋼管ｌの各探傷位置における探傷出力を例えば２
値画像処理し、鋼管ｌの欠陥を抽出する。すなわち１画
像処理装置４１は、各サーチコイル１９のプローブ信号
を、回転検出器３１の回転角度位置信号をトリガとして
走査線表示する。この実施例における如く複数のサーチ
コイル１９を用いる場合には、各サーチコイル１９の上
記走査線表示を一度に構成することとなる。
画像処理装置４１は、各探傷プローブ１８に内蔵されて
いる各サーチコイル１９の出力を、回転トランス装置４
２、プローブ信号検出器４３を経て取込み可能としてい
る。また、画像処理装置４１は、回転検出器３１の出力
を、トリガ発生器４４を介して取込み、各プローブ１８
が鋼管ｌに対して例えば１回転する周期を伝達されるよ
うになっている。これにより、画像処理装置４１は、各
プローブ１８の各サーチコイル１９が連続的に検出して
いる。鋼管ｌの各探傷位置における探傷出力を例えば２
値画像処理し、鋼管ｌの欠陥を抽出する。すなわち１画
像処理装置４１は、各サーチコイル１９のプローブ信号
を、回転検出器３１の回転角度位置信号をトリガとして
走査線表示する。この実施例における如く複数のサーチ
コイル１９を用いる場合には、各サーチコイル１９の上
記走査線表示を一度に構成することとなる。
画像処理装置４１の画像処理結果は表示器４５に表示さ
れる他、必要に応じて格納器４６に記録される。
れる他、必要に応じて格納器４６に記録される。
これにより、画像処理装置４１は、鋼管１の各領域にお
ける欠陥発生状態、およびその欠陥パタンを抽出でき、
欠陥の有害度の判断データを提供することもできる。こ
の結果、一定の有害度の欠陥をもつ被検体を自動判別す
ることもできる。
ける欠陥発生状態、およびその欠陥パタンを抽出でき、
欠陥の有害度の判断データを提供することもできる。こ
の結果、一定の有害度の欠陥をもつ被検体を自動判別す
ることもできる。
次に、上記実施例の作用について説明する。
上記探傷装置１０は、漏洩磁気探傷プローブ１８を用い
、被検体としての鋼管１の各探傷位置における上記探傷
プローブ１８の探傷出力を画像処理することにより、欠
陥の有無だけでなく、欠陥のパターンを認識することが
できる。
、被検体としての鋼管１の各探傷位置における上記探傷
プローブ１８の探傷出力を画像処理することにより、欠
陥の有無だけでなく、欠陥のパターンを認識することが
できる。
ここで、上記実施例によれば、磁粉供給装置、ブラック
ライト等の大がかりな設備や、ＩＴＶカメラ等の画像取
込みのための複雑な装置が不要となり、構成が簡素とな
る。
ライト等の大がかりな設備や、ＩＴＶカメラ等の画像取
込みのための複雑な装置が不要となり、構成が簡素とな
る。
さらに、被検体が移動しても探傷精度が低下する要因は
なく、また疑似欠陥を取込むこともなく、検出精度を損
なうおそれがない。
なく、また疑似欠陥を取込むこともなく、検出精度を損
なうおそれがない。
したがって、簡素な構成により、高精度で、欠陥をパタ
ーン認識することができる。
ーン認識することができる。
なお、本発明は、渦流探傷方式による探傷方法および装
置にも適用できる。
置にも適用できる。
［発明の効果］
以上のように、本発明によれば、簡素な構成により、高
精度で、欠陥をパターン認識することができる。
精度で、欠陥をパターン認識することができる。
第１図は本発明の探傷装置の一例を示す模式図、第２図
は探傷装置のヨークおよびプローブ部分を示す正面図、
第３図は第２図の要部正面図である。 ｌＯ・・・探傷装置、 １１・・・回転フレーム（回転装置）、１５・・・ヨー
ク、 １８．１８Ａ、１８Ｂ・・・探傷プローブ、１９・・・
サーチコイル、 ３１・・・回転検出器、 ４１・・・画像処理装置。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第１図 ｎ 第２ 図 第３ 図
は探傷装置のヨークおよびプローブ部分を示す正面図、
第３図は第２図の要部正面図である。 ｌＯ・・・探傷装置、 １１・・・回転フレーム（回転装置）、１５・・・ヨー
ク、 １８．１８Ａ、１８Ｂ・・・探傷プローブ、１９・・・
サーチコイル、 ３１・・・回転検出器、 ４１・・・画像処理装置。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第１図 ｎ 第２ 図 第３ 図
Claims (4)
- （１）被検体の表面に対し探傷プローブを配置し、被検
体の欠陥を検出する電磁気探傷方法において、探傷プロ
ーブを被検体の表面に対し相対移動し、被検体の各探傷
位置における探傷出力を画像処理し、被検体の欠陥を抽
出することを特徴とする電磁気探傷方法。 - （２）請求項１において、被検体は高周波交流磁化ヨー
クにて磁化され、探傷プローブは被検体の欠陥に起因し
て生ずる漏洩磁束を検出する電磁気探傷方法。 - （３）被検体の表面に対し探傷プローブを配置し、被検
体の欠陥を検出する電磁気探傷装置において、探傷プロ
ーブを被検体の表面まわりに回転する回転装置と、探傷
プローブの被検体に対する回転角度位置を検出する回転
検出器と、探傷プローブの出力と回転検出器の出力を得
て、被検体の各探傷位置における探傷出力を画像処理し
、被検体の欠陥を抽出する画像処理装置とを有してなる
ことを特徴とする電磁気探傷装置。 - （４）請求項３において、被検体を磁化する高周波交流
磁化ヨークを備えるとともに、探傷プローブが被検体の
欠陥に起因して生ずる漏洩磁束を検出するサーチコイル
からなる電磁気探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3540588A JPH01212352A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電磁気探傷方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3540588A JPH01212352A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電磁気探傷方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01212352A true JPH01212352A (ja) | 1989-08-25 |
Family
ID=12440988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3540588A Pending JPH01212352A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電磁気探傷方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01212352A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11230945A (ja) * | 1998-02-09 | 1999-08-27 | Hitachi Building Systems Co Ltd | ワイヤーロープの磁気探傷装置 |
| KR100820304B1 (ko) * | 2006-04-28 | 2008-04-08 | (주)레이나 | Ｎｄｔ설비를 이용한 백피봉강의 결함 검출 장치와 이를이용한 방법 |
| JP2009507220A (ja) * | 2005-09-05 | 2009-02-19 | スカニア シーブイ アクチボラグ（パブル） | 磁気バルクハウゼン・ノイズによる硬さ推定に基づいて鋳鉄製の構成部材を処理する方法 |
| JP2009236758A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Honda Motor Co Ltd | 鋼製ワークの検査装置 |
| JP2009236755A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Honda Motor Co Ltd | センサー及び計測装置 |
| JP2011002409A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Hara Denshi Sokki Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
| JP2011516894A (ja) * | 2008-04-16 | 2011-05-26 | インスティトゥート ドクター フェルスター ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー | 漏洩磁束測定によって表面近傍の欠陥を検出するための方法および装置 |
| CN103091646A (zh) * | 2012-10-31 | 2013-05-08 | 吴江市宏达探伤器材有限公司 | 旋转磁场探头 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59217159A (ja) * | 1983-05-26 | 1984-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | 欠陥検出装置 |
-
1988
- 1988-02-19 JP JP3540588A patent/JPH01212352A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2009236758A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Honda Motor Co Ltd | 鋼製ワークの検査装置 |
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| CN103091646B (zh) * | 2012-10-31 | 2015-09-30 | 吴江市宏达探伤器材有限公司 | 旋转磁场探头 |
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