JPS61106453A - 磁器組成物 - Google Patents

磁器組成物

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JPS61106453A
JPS61106453A JP59225169A JP22516984A JPS61106453A JP S61106453 A JPS61106453 A JP S61106453A JP 59225169 A JP59225169 A JP 59225169A JP 22516984 A JP22516984 A JP 22516984A JP S61106453 A JPS61106453 A JP S61106453A
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magnetic
metal
film
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ceramic composition
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JP59225169A
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剛 山口
直美 長沢
英雅 田村
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Sony Corp
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Sony Corp
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属薄膜の基体として使用される磁器組成物に
関するものであり、さらに詳細にはその熱膨張率の改良
に関するものである。
〔従来の技術〕
例えば磁気記録の分野においては、記録信号の高密度化
や高周波数化等が進められており、この高密度記録化に
対応して磁気記録媒体として磁性粉にFe、Co、Ni
等の強磁性金属の粉末を用いたいわゆるメタルテープや
強磁性金属材料を蒸着によりベースフィルム上に被着し
たいわゆる蒸着テープ等が使用されるようになっている
。したがって、記録再生に用いられる磁気ヘッドのヘッ
ド材料には高い飽和磁束密度Bsを有することが要求さ
れている。
あるいは、上述の高密度記録化に伴って、磁気記録媒体
に記録される磁気パターンのトラック幅の狭小化も進め
られており、磁気ヘッドのトラック幅も極めて狭いもの
が要求されている。
そこで従来、前述の要求に応えて、例えば非磁性支持体
と磁気コアとなる金属磁性薄膜とを積層しこの磁性薄膜
部分をトラック部としたいわゆる複合型磁気ヘッドや、
非磁性基板上に金属磁性薄膜や導体金属薄膜を絶縁薄膜
を介して多層に積層した薄膜磁気ヘッド等が提案されて
おり、このように上記磁気記録の分野においては、金属
薄膜の応用が進展している。
ところで、上記金属薄膜を磁気ヘッド等に使用・する場
合には、その支持体として通常セラミック基板が用いら
れているが、従来のセラミ”/り基板では金属材料より
もかなり熱膨張が小さいために、熱処理時に上記金属薄
膜が上記セラミック基板から剥離し易いという欠点を有
している0例えば薄膜磁気ヘッドに用いられるパーマロ
イ、センダスト等の線膨張係数αは130〜160X1
0−/l:であるのに対し、従来用いられているセラミ
ック基板はBaTi01系セラミツクで90〜100X
IO−’/ ’C、CaTi01系セラミツクで100
〜120X10−″/℃程度とかなり小さい。
さらに、完全に零でない磁歪を有する金属材料(磁性材
料)の特に薄膜磁気ヘッドへの応用を考えた場合、上記
線膨張係数の差に起因してl[膜形成時あるいは熱処理
後の冷却時等に歪が導入され、この歪により磁歪を通じ
て上記金属材料に磁気異方性が導入され透磁率の劣化が
生ずる虞れもある。
したがって、上記金属薄膜と同程度の線膨張係数を有す
るセラミック基板が要望されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
そこで本発明は、当該技術分野の前記要望に応えて提案
されたものであって、金属i膜と同等の熱膨張を示す新
規な組成を有する磁器組成物を提供することを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は上述の目的を達成せんものと長期に亘り鋭
意研究の結果、N a2OT a、O+;系磁器組成物
においてその組成範囲を特定することにより線膨張率を
制御できる事を見出し本発明を完成するに至りたちので
あって、 一般式x N a、LO−yT a、O,r
表される組成を有し、その組成範囲が0.85≦x/y
<1.G。
であることを特徴とするものである。
本発明の磁器組成物においてはその組成範囲が重要であ
って、上記x/y<0.85では線膨張係数α<130
X10/lと金属WI#膜に比べて小さくなりすぎ、ま
たx/y≧1.OOでは線膨張係数αは大きいものの焼
結不良を起こし良質な磁器組成物が得られない。
〔作用〕
このように、一般式x N a、o ・y T a、L
?Dc、T表される磁器組成物の組成範囲を0.85≦
xly<1.00に設定することにより、線膨張係数α
が130〜170X10−/’C程度に制御される。
〔実施例〕
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明がこの実施例に限定されるものでないことは言うま
でもない。
実施例。
純度99.9%以上のNa、LCOl及びT a、0.
17)各原料粉末を用意した。
次にこれら各原料粉末をそれぞれ所定の組成となるよう
に秤量し、エタノールを混合溶媒として中 ボールミで混合処理した後、加熱しエタノールを除去し
た。
続いて、1000kg/−の圧力で加圧成形し、この成
形したものを900℃で3時間、空気中で仮焼した。
さらにこの仮焼物を乳鉢で粉砕し、再びエタノールを混
合媒体としてボールミルで混合処理した後、エタノール
を加熱除去した。その後1500に、 / C111の
圧力で加圧成形し、1350℃〜1500℃で3時間、
空気中で−成し、磁器組成物を得た。
上記N a、Cへ及びT a、LOcJ)割合を変え、
得られた各磁器組成物の密度を測定し、さらに角柱状に
加工した衾、それぞれ線膨張針で40〜600℃の温度
範囲における線膨張係数αを測定した。
結果を第1図及び第2図に示す。
第1図は、上記磁器組成物をxNa、C1yTa1LO
鍔表した時のx/yに対する線膨張係数αをプロットし
たものである。
この第1図より、N a2Oの割合の増加とともに得ら
れる磁器組成物の線膨張係数αが増加し、特にx/yの
値が0.85を越えると、上記線膨張係数αが金属の線
膨張係数と同程度の130〜170X10−ン℃となる
ことが分かる。
第2図は、同一焼成条件下で得られる磁器組成物をX 
N azo ・yT allor、で表した時のx/y
の値に対する密度をプロットしたものである。
この第2図より、x/yの値が1.0を越えると密度が
急激に下がり、焼結性が悪くなることが分かる。
次に本発明に係る磁器組成物を磁気ヘッドに通用した応
用例について説明する。
応用例16 第3図に本発明の磁器組成物を非磁性基板として用いた
薄膜磁気ヘッドの一例を示す。
この例においては、先の実施例で作成された磁器組成物
を非磁性基板1とし、この非磁性基板1上に磁路を構成
する一方の磁性膜である下部磁性膜2が例えばセンダス
ト系合金膜等で形成されている。
また、上記下部磁性111!2上には、S i02等に
より形成される絶縁層3を介して信号導体4が形成され
ている。この信号導体4は、例えばスパッタリング等の
手法により被着形成される銅薄膜等をエツチングするこ
とにより形成され、上記下部磁性膜2や後述の上部磁性
膜により構成される閉磁路中に記録再生信号を供給す茗
ように配設されている。
さらに上記信号導体4上には、第2の絶縁層5を介して
センダスト等よりなる上部磁性膜6が形成されており、
この上部磁性膜6の後端部6aが上記下部磁性膜2と接
続されパックギャップを構成するとともに、前端部にお
いて先の絶縁層3を介して下部磁性膜2と対向し作動ギ
ャップを構成するようになっている。 このように構成
される薄膜磁気ヘッドには、さらにS i OJの保護
膜7が設けられ、融着ガラス8によって非磁性保護板9
が貼り付けられている。なお、この非磁性保護板9は、
上記非磁性基板1と同様に先の実施例で作成された磁器
組成物が使用される。
このように構成される薄膜磁気ヘッドにおいては、非磁
性基板lの熱膨張率と下部磁性膜2の熱膨張率がほぼ等
しいために、例えば金属磁性薄膜の磁気特性を向上する
ための熱処理や、ガラス融着、ガラスボンディング等の
製造1程上の熱処理等を加えても上記下部磁性膜2の剥
離はみられなかった。また、これらの熱処理を加えても
、上記下部磁性膜2には透磁率の低下は見られなかった
応用例2゜ 次に、第4図に本発明の磁器組成物を複合型の磁気ヘッ
ドに適用した一例を示す。
この磁気ヘッドは、金属磁性層11.12がそれぞれ非
磁性ガード材13.14あるいは15゜16によって挟
み付けられ、これら金属磁性層11.12の突き合わせ
面がこれら金属磁性層11゜12の厚さをトランク幅と
する作動ギャップ17となるように構成されている。
また、上記磁気ヘッドには巻線1JS18が設けられ、
この巻線溝18内に導体コイルを巻回するこ・とによっ
て上記金属磁性層11.12に記録再生゛信号を供給す
るようになっている。
ここで上記金属磁性1’1ill、12は、薄帯状のセ
ンダスト系合金あるいは非晶質合金等、通常この種の磁
気ヘッドに用いられる金属磁性層をラミネートする手法
や、強磁性金泥材料をスパッタや蒸着する等の真空薄膜
形成手段等により形成される。
、一方、上記非磁性ガード材13.14及び非磁性ガー
ド材15.16は、先の実施例で作成されるように、上
記金属磁性層11.12と同程度の線膨張係数αを有す
る磁器組成物により形成されており、したがって先の応
用例1と同様に熱膨張率の違いに起因する金属磁性層1
1.12の剥離が生ずることはなかった。
〔発明の効果〕
上述の説明からも明らかなように、本発明においてはN
 aiLO−T a2O+;系磁器組成物の組成範囲を
一般式x N a、O−y T a、LO鍔表した時の
x/yの値が0.85≦x/y<1.00となるように
設定しているので、線膨張係数αが130−170x、
107℃と金属薄膜とほぼ同等の熱膨張を示す磁器組成
物が得られる。
したがって、例えば磁気ヘッドに適用した場合に、金属
薄膜と非磁性支持体との剥離の生ずることがなく、また
金属薄膜に透磁率等の磁気特性の低下を生ずることのな
い信頼性の高い磁気ヘッドを提供することが可能となる
【図面の簡単な説明】
第1図はx N azo ・y T azOCT:表さ
れる磁器組成物のx/yの値と線膨張係数αの関係を示
す特性図であり、第2図はxNa20・yTa、LO<
i?表される磁器組成物のx/yの値と密度(同一焼成
条件)の関係を示す特性図である。 第3図は本発明の磁器組成物を非磁性基板として使用し
た薄膜磁気ヘッドの一例を示す断面図であり、第4図は
本発明の磁゛器組成物を非磁性支持体として使用した複
合型の磁気ヘッドの一例を示す外観斜視図である。 1・・・非磁性基板 2・・・下部磁性膜 6・・・上部磁性膜 11.12・・・金属磁性層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 一般式xNa_2O・yTa_2O_5で表される組成
    を有し、その組成範囲が 0.85≦x/y<1.00 であることを特徴とする磁器組成物。
JP59225169A 1984-10-26 1984-10-26 磁器組成物 Pending JPS61106453A (ja)

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JP59225169A JPS61106453A (ja) 1984-10-26 1984-10-26 磁器組成物
US06/788,147 US4650726A (en) 1984-10-26 1985-10-16 Ceramic substrate of Na2 O and Ta2 O5 for thin film magnetic head
DE8585113551T DE3575712D1 (de) 1984-10-26 1985-10-24 Keramikzusammensetzung.
EP85113551A EP0179479B1 (en) 1984-10-26 1985-10-24 Ceramic composition

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