JPS6073234U - 半導体ウエハ−の処理装置 - Google Patents

半導体ウエハ−の処理装置

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JPS6073234U
JPS6073234U JP16437983U JP16437983U JPS6073234U JP S6073234 U JPS6073234 U JP S6073234U JP 16437983 U JP16437983 U JP 16437983U JP 16437983 U JP16437983 U JP 16437983U JP S6073234 U JPS6073234 U JP S6073234U
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JP
Japan
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wafer processing
tank
semiconductor wafer
nitrogen gas
processing equipment
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JP16437983U
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JPH027465Y2 (ja
Inventor
相合 征一郎
Original Assignee
黒谷 巌
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一例による半導体ウェハーの処理装置
の縦断面図、第2図はその装置の一部を構成する槽の平
面図、第3図は他の実施例の要部を示す縦断面図、第4
図はさらに他の実施例を示す断面図、そして第5図は別
の実施例の側面図である。 図中、1・・・処理液のタンク、2・・・窒素ガスの源
、3・・・管、10・・・槽、11・・・通路、16・
・・とよ、16a・・・とよの周壁、17・・・流出管
、20・・・チャック。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体ウェハーの片面に半導体回路を形成するようにそ
    の片面に現像またはエツチング等を行なうため底部に処
    理液導入用の通路が備えられたカップ状の槽と、前記槽
    の上方に設置され且つ前記ウェハーを真空により吸着し
    て前記槽の上に支持するチャックを含み、前記チャック
    にはウェハーの処理中その周囲に窒素ガスを流出する通
    路が設けられ、且つ前記槽の外周には槽の頂部を越えて
    流出した処理液を受けるとよが備えられ、前記とよは流
    出管により処理液のタンクに連通ずるウェハーの処理装
    置において、前記とよの周壁の頂部は前記槽の頂部とほ
    ぼ同じ高さであり、前記タンクの上部は管により前記窒
    素ガスの源に連通し、それにより前記タンク内の上部に
    満たされた窒素ガスは前記流出管を逆上して前記とよか
    ら放出されることを特徴とする半導体ウェハーの処理装
    置。
JP16437983U 1983-10-24 1983-10-24 半導体ウエハ−の処理装置 Granted JPS6073234U (ja)

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JP16437983U JPS6073234U (ja) 1983-10-24 1983-10-24 半導体ウエハ−の処理装置

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JPS6073234U true JPS6073234U (ja) 1985-05-23
JPH027465Y2 JPH027465Y2 (ja) 1990-02-22

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57159029A (en) * 1981-03-25 1982-10-01 Seiichiro Sogo Oxidized film etching device for semiconductor wafer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57159029A (en) * 1981-03-25 1982-10-01 Seiichiro Sogo Oxidized film etching device for semiconductor wafer

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JPH027465Y2 (ja) 1990-02-22

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