JPS6072278A - シ−ト状物体へのマスク成膜方法 - Google Patents
シ−ト状物体へのマスク成膜方法Info
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- JPS6072278A JPS6072278A JP58181041A JP18104183A JPS6072278A JP S6072278 A JPS6072278 A JP S6072278A JP 58181041 A JP58181041 A JP 58181041A JP 18104183 A JP18104183 A JP 18104183A JP S6072278 A JPS6072278 A JP S6072278A
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- film
- sheet
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- film formation
- mask film
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- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000000059 patterning Methods 0.000 abstract description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/20—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
- H01L31/206—Particular processes or apparatus for continuous treatment of the devices, e.g. roll-to roll processes, multi-chamber deposition
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、例えば太陽電池におけるアモルファ従来例の
構成とその問題点 従来、例えば太陽電池製造におけるシート状41体への
a−8i膜の成膜工程は、第1図にその概念図を示すよ
うにステンレスやポリイミドからなるシート状物体1の
上悌1図−a)に、a −S i膜2を化学気相蒸着(
C,V、D )などにより、成膜した(第1図−b)後
、スクリーン印刷やレジスト塗布、露光、現像といった
フォトリン工程により、レジスト膜3をパターンニング
したく第1図−c)後、エツチング工程で必要のない膜
をエツチングしく第1図−d)、その後レジスト除去工
程でレジスト膜3を取り去り(第1図−e)、膜のパタ
ーンが形成されるのであり、このように、工程が多く、
それぞれの工程に設備が必要であり、コストがかさむ、
また生産リードタイムが多い、生産性が悪いなどの欠点
を有していた。
構成とその問題点 従来、例えば太陽電池製造におけるシート状41体への
a−8i膜の成膜工程は、第1図にその概念図を示すよ
うにステンレスやポリイミドからなるシート状物体1の
上悌1図−a)に、a −S i膜2を化学気相蒸着(
C,V、D )などにより、成膜した(第1図−b)後
、スクリーン印刷やレジスト塗布、露光、現像といった
フォトリン工程により、レジスト膜3をパターンニング
したく第1図−c)後、エツチング工程で必要のない膜
をエツチングしく第1図−d)、その後レジスト除去工
程でレジスト膜3を取り去り(第1図−e)、膜のパタ
ーンが形成されるのであり、このように、工程が多く、
それぞれの工程に設備が必要であり、コストがかさむ、
また生産リードタイムが多い、生産性が悪いなどの欠点
を有していた。
発明の目的
本発明は上記従来の欠点を解消するものであり、発明の
構成 本発明は、成膜すべき形状の穴アキパターンを形成した
マスクフィルムと、成膜すべきシート状物体とをドラム
状のヒータ電極に密着させながら、ドラム状ヒータ電極
に対向した電極よシガスを流しながら、シート状物体へ
マスク成膜を行なうことで、レジスト塗布、パターンニ
ング、レジスト除去といった一連の工程を省き、−挙に
パターン成膜形成が可能であるといった特有の効果を発
揮するものである。
構成 本発明は、成膜すべき形状の穴アキパターンを形成した
マスクフィルムと、成膜すべきシート状物体とをドラム
状のヒータ電極に密着させながら、ドラム状ヒータ電極
に対向した電極よシガスを流しながら、シート状物体へ
マスク成膜を行なうことで、レジスト塗布、パターンニ
ング、レジスト除去といった一連の工程を省き、−挙に
パターン成膜形成が可能であるといった特有の効果を発
揮するものである。
実施例の説明
以下に本発明の一実施例について第2図及び第3図にも
とづいて説明する。第2図及び第3図において、4はス
テンレスやポリイミドからなる成膜すべきシート状物体
で、巻出軸5−(1)から送り出され、反応室6及び予
備加熱¥7を経て巻取軸5−(2)から送り出され、反
応室6及び予備加熱室7を経て巻取軸5−(2)に巻取
られる。11はドラム状のヒータ電極で、これに対向し
て多数のガス供給口12を有した電極13が配置され、
反応室6を構成している。14は予熱ドラムで反応室6
と反応室e−(1)の間に配置し、予備加熱室γを構成
している。以上のような構成であり、以下動作について
説明する。成膜すべきシート状物体4は巻出軸6−(1
)より送り出され、同時に成膜すべき形状の穴アキパタ
ーン1oを形成したマスクフィルム9が巻出軸5−(2
)より送り出される11反応室6に送シ出されたシート
状物体4と穴アキパターン10を形成したマスクフィル
ム9はドラム状のヒータ電極11上で互いに密着した状
態とカリ、この状態でプラズマ反応が行なわれる。すな
わち、反応室6は図示されていない真空排気装置で真空
に引かれ(例えばI Torr程度)この状態でシラン
を主成分とした反応ガスが多数のガス供給口12より導
入され、電極13とヒータ電極11の間に高周波電源を
印加することによりプラズマ反応を引き起こし、ヒータ
電極11で熱せられたノート状物体4上にa −S i
膜15を堆積する。さらにマスクフィルム9を密着した
状態のシート状物体4は予備加熱室7の予熱ドラム14
で一定の温度に保ちつつ、次の反応室e−(1)で前記
したと同様のプラズマ反応によりシート状物体4上に不
純物をドーピングしたa −S i膜15を堆積するこ
とが可能である。a −S i膜15を少なくとも1層
堆積したシート状物体4は巻取軸8−(1)に巻取られ
、この時点でマスクフィルム9は巻取軸8−(2)に巻
取られ分離する。以上のように本実施例によれば、成膜
すべきシート状物体に、成膜すべき形成の穴アキパター
ンを形成したマスクフィルムをドラム状のヒータ電極及
び予熱ドラム上で密着せしめ、プラズマ反応により、a
−3i膜を少くとも1層以上成膜することにより、シー
ト状物体上にパターン形成しだ成膜を行なうことができ
る。
とづいて説明する。第2図及び第3図において、4はス
テンレスやポリイミドからなる成膜すべきシート状物体
で、巻出軸5−(1)から送り出され、反応室6及び予
備加熱¥7を経て巻取軸5−(2)から送り出され、反
応室6及び予備加熱室7を経て巻取軸5−(2)に巻取
られる。11はドラム状のヒータ電極で、これに対向し
て多数のガス供給口12を有した電極13が配置され、
反応室6を構成している。14は予熱ドラムで反応室6
と反応室e−(1)の間に配置し、予備加熱室γを構成
している。以上のような構成であり、以下動作について
説明する。成膜すべきシート状物体4は巻出軸6−(1
)より送り出され、同時に成膜すべき形状の穴アキパタ
ーン1oを形成したマスクフィルム9が巻出軸5−(2
)より送り出される11反応室6に送シ出されたシート
状物体4と穴アキパターン10を形成したマスクフィル
ム9はドラム状のヒータ電極11上で互いに密着した状
態とカリ、この状態でプラズマ反応が行なわれる。すな
わち、反応室6は図示されていない真空排気装置で真空
に引かれ(例えばI Torr程度)この状態でシラン
を主成分とした反応ガスが多数のガス供給口12より導
入され、電極13とヒータ電極11の間に高周波電源を
印加することによりプラズマ反応を引き起こし、ヒータ
電極11で熱せられたノート状物体4上にa −S i
膜15を堆積する。さらにマスクフィルム9を密着した
状態のシート状物体4は予備加熱室7の予熱ドラム14
で一定の温度に保ちつつ、次の反応室e−(1)で前記
したと同様のプラズマ反応によりシート状物体4上に不
純物をドーピングしたa −S i膜15を堆積するこ
とが可能である。a −S i膜15を少なくとも1層
堆積したシート状物体4は巻取軸8−(1)に巻取られ
、この時点でマスクフィルム9は巻取軸8−(2)に巻
取られ分離する。以上のように本実施例によれば、成膜
すべきシート状物体に、成膜すべき形成の穴アキパター
ンを形成したマスクフィルムをドラム状のヒータ電極及
び予熱ドラム上で密着せしめ、プラズマ反応により、a
−3i膜を少くとも1層以上成膜することにより、シー
ト状物体上にパターン形成しだ成膜を行なうことができ
る。
なお実施例で形成する膜はa −S i膜としたが、S
1膜、SiN膜、polysi膜、5IQ2膜々どの膜
でもよく、また膜の形成法はプラズマC,V、Dとしだ
が、常−圧C8V、Dや減圧C,V、Dなどの方法をと
ってもよいことは言うまでもない。
1膜、SiN膜、polysi膜、5IQ2膜々どの膜
でもよく、また膜の形成法はプラズマC,V、Dとしだ
が、常−圧C8V、Dや減圧C,V、Dなどの方法をと
ってもよいことは言うまでもない。
発明の効果
以上のように本発明は、成膜すべき形状の穴アキパター
ンを形成したマスクフィルムと、成膜すべきシート状物
体とをドラム状のヒータ電極上で密着させなから成膜を
行なうことで、レジスト塗布、パターンニング、レジス
ト除去といった一連の工程を省き、−挙にパターン成膜
が可能で、工程短縮、リードタイム短縮と共に生産性が
上がるという効果を発揮するものである。
ンを形成したマスクフィルムと、成膜すべきシート状物
体とをドラム状のヒータ電極上で密着させなから成膜を
行なうことで、レジスト塗布、パターンニング、レジス
ト除去といった一連の工程を省き、−挙にパターン成膜
が可能で、工程短縮、リードタイム短縮と共に生産性が
上がるという効果を発揮するものである。
第1図は従来の成膜工程を示す工程概念図、第2図は本
発明の一実施例における成膜装置の概略図、第3図は本
発明の一実施例における成膜工程を示す工程概念図であ
る。 1.4・・・・・・シート状物体、13・・・・・・電
極、2゜15・・・・・a−3i膜、14・・・・・・
予熱ドラム、3・・・・・・レジスト膜、5・・・・・
・巻出軸、6・・・・・・反応室、7・・・・・・予備
加熱室、8・・・・・・巻取軸、9・・・・・・マスク
フィルム、10・・・・・・穴アキパターン、11・・
・・・・ドラム状ヒータ電極、12・・・・・・ガス供
給口。
発明の一実施例における成膜装置の概略図、第3図は本
発明の一実施例における成膜工程を示す工程概念図であ
る。 1.4・・・・・・シート状物体、13・・・・・・電
極、2゜15・・・・・a−3i膜、14・・・・・・
予熱ドラム、3・・・・・・レジスト膜、5・・・・・
・巻出軸、6・・・・・・反応室、7・・・・・・予備
加熱室、8・・・・・・巻取軸、9・・・・・・マスク
フィルム、10・・・・・・穴アキパターン、11・・
・・・・ドラム状ヒータ電極、12・・・・・・ガス供
給口。
Claims (2)
- (1)成膜すべき形状の穴アキパターンを形成したマス
クフィルムと、成膜すべきシート状物体とをドラム状の
ヒータ電極に密着させながら、前記ドラム状のヒータ電
極に対向して配置した多数のガス供給孔を有する電極と
前記ドラム状ヒータ電極間で、成膜を行なうシート状物
体へのマスク成膜方法。 - (2) ドラム状ヒータ電極及びガス供給孔を有する電
極とで構成された反応室を少なくとも2つ以上有し、前
記反応室と反応室との間に予熱ドラムを有し、シート状
物体に多層の成膜形成をするようにした特許請求の範囲
第1項記載のシート状物体へのマスク成膜方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58181041A JPS6072278A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | シ−ト状物体へのマスク成膜方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58181041A JPS6072278A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | シ−ト状物体へのマスク成膜方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6072278A true JPS6072278A (ja) | 1985-04-24 |
Family
ID=16093727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58181041A Pending JPS6072278A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | シ−ト状物体へのマスク成膜方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6072278A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62259427A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-11-11 | Teijin Ltd | アモルフアスシリコン膜の製造装置 |
JPH01173710A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-10 | Shimadzu Corp | 薄膜形成装置の基板保持機構 |
US7223040B2 (en) | 2001-12-27 | 2007-05-29 | Kokuyo Co., Ltd. | Binder |
-
1983
- 1983-09-28 JP JP58181041A patent/JPS6072278A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62259427A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-11-11 | Teijin Ltd | アモルフアスシリコン膜の製造装置 |
JPH01173710A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-10 | Shimadzu Corp | 薄膜形成装置の基板保持機構 |
US7223040B2 (en) | 2001-12-27 | 2007-05-29 | Kokuyo Co., Ltd. | Binder |
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