JPS6070746A - 厚膜導体組成物 - Google Patents

厚膜導体組成物

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JPS6070746A
JPS6070746A JP59175336A JP17533684A JPS6070746A JP S6070746 A JPS6070746 A JP S6070746A JP 59175336 A JP59175336 A JP 59175336A JP 17533684 A JP17533684 A JP 17533684A JP S6070746 A JPS6070746 A JP S6070746A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は厚膜導体組成物、特に焼成後においても容易に
はんだ付けできる厚膜導体組成物に関する。
発明の背景 厚膜導体はハイブリッドマイクロサーキット及び抵抗器
ネットワーク用の各種受動及び能動装置全相互接続する
手段として広く使用されている。一般的導体としての効
用は電気伝導性、はんだ付は性、はんだ溶融抵抗性、他
の回路成分との両立性及び広範な条件下での取扱い可能
性のような特性全必要とする。厚膜導体固有の有用性は
組成物中の物質コストである。%性を変えることなくコ
ストヲ低減させることは極めて好都合である。
厚膜導体は細分比され且つ有機媒質中に分散した導電性
金属及び無機バインダーを含んでいる。導電性金属は通
常は金、パラジウム、銀、白金、またはこれらの混合物
若しくはこれらの合金であり、例えば抵抗性、はんだ付
は性、はんだ溶融抵抗性、移動抵抗性、接着性などの特
性の組合せを考慮して選択式れる。
厚膜技術は、真空蒸着またはス・フッタリングにより粒
子を付着さぜる薄膜技術と対比される。
厚膜技術は、” Handbook of Mater
jals andProcesses for Ele
ctronics 、” C,A、Harper編、M
e−Graw−Hill、N、Y、 1970年の第1
2章に記述されている。
貴金属の価格が実質的に変動する最近の経済環境におい
て、厚膜導体組成物の導体物質として安価な卑金属?用
いることは商業的観点から魅力的である。幾つかの卑金
属が提案され、厚膜導体の導電相として使用された。こ
れらの中で最も重要なものは銅であり、多くの異なる方
法で各方面に適用された。例えば、Treptowの米
国特許第2.993.815号は、有機媒質中に分散さ
れた5〜50重量部の銅または酸化銅及び1重量部の還
元抵抗性ガラスフリットの層をスクリーン印刷すること
によシ耐火性基板上に銅導体層を印刷回路として形成す
る方法を開示する。導体層は塗布ベース)’に500〜
1050℃で2段階にて焼成することによシ形成される
他方、Friedmanの米国特許第3.647.53
2号は、酸化カドミウムを含むホウケイ酸鉛ガラスバイ
ンダーを使用し有機重合体バインダーに分散させた銅及
びガラスフリットヲ含み、セラミック基板に使用するた
めの導体インクを提供する。焼成は非酸化性雰囲気中で
820〜850℃で行なわれる。
Bolon等は米国特許第3.988.647号におい
て、溶媒の存在しない重合体バインダー中に、表面から
酸化物を除去した銅粒子を分散させた導体組成物を開示
する。Hoffmanの米国特許第4.070,518
号は有機媒質中に分散された85〜97重量%の銅粉末
及び3〜15重量%のカドミウム及びビスマスを含まな
いアルミノホウ酸鉛ガラスフリット全台み、誘電体基板
に特に使用される導体組成物を開示する・Grierの
米国特許第4.072.77.1号には、酸化してCu
O表面層を形成した銅粒子とガラスフリットを15〜2
5重量%有機媒質中に分散させた導体組成物が開されて
いる。Mitchell (D米国特許第4.172.
919号は、10〜30重量係不活性有機媒質に分散さ
れた、86〜97重量%Cu粉末、1〜7重量%CuO
及び少なくとも°75%Bi2O3全含有する1〜7重
量%ガラス7リツト全含む導体組成物を提供する。
McCormick等のEPO出願第0068167号
には、揮発性溶媒に溶解した20〜40重量多メタクリ
レイト樹脂を含む有機媒質に、65〜導体組成物が開示
されている。
本発明者が1983年6月20日に提出した米国特許出
願第505.730号には、低樹脂有機媒質に分散させ
た、細分化された酸化銅被覆銅及び低軟化点無機バイン
ダーを含む厚膜導体組成物が開示されている。
上記されたような銅導体がマイクロサーキットに使用さ
れる場合、それらは製造中に極めて苛酷な条件に時々さ
らされる。例えば、典型的には、銅含有組成物は基板に
印刷され、乾燥され、窒素雰囲気中で900’Cで焼成
される。次に、抵抗体物質のi4ターンを導体層上に印
刷し、銅含有組成物及びその上層の抵抗体物質全窒素中
でほぼ同一温度で焼成して抵抗体物質を焼結する。引き
続き、上薬全塗布し、全体を窒素中で焼成して上薬全焼
結する。以上終了後、導体層上にリード線をはんだ付け
する。従って、この典型的な場合でも銅は3回の高温焼
成を受け、ある場合にはこのような焼成全5回も受ける
ことがある。窒素焼成雰囲気中に残留する微少量の酸素
のため、銅表面は漸次酸化される。導体組成物の銅成分
の酸化ははんだ付は性を悪くする。従来、かかる酸化を
少なくするために短い焼成サイクルで極めて純粋な非酸
化性雰囲気中で焼成するか、若しくは組成物の用途全複
数回の焼成を必要としないものに制限する必要があった
0 発明の概要 本発明は複数回の焼成後も全く良好なはんだ付は性保持
することにより、従来の問題点を解決した銅含有の厚膜
導体組成物に関する。特に、本発明の銅含有厚膜導体組
成物は、 (a)85〜988重量%の導電性物質、その少なくと
も28重量%は銅である; (b)10〜1重量係の無機バインダー;及び(C)5
〜0.2重量%の、タングステン、モリブデン、レニウ
ム及びこれらの合金並びにこれらの混合物からなる群よ
り選ばれた非銅系物質; の粉末を有機媒質中に分散させた混合物を含み、この組
成物は更に、 (1)銅粒子は10μ?n以下の最大粒径及び2〜4μ
mの平均粒径全有し;及び (2)非銅系金属粒子は5μm以下の最大粒径及び0.
2〜3μmの平均粒径を有する; ことを特徴とする。
銅導体組成物の従来技術は耐火性金属の使用に関しては
何も述べていない。更に、同一組成物中に銅と共に少量
のタングステン金IAk使用する例も見い出せない。し
かし、タングステンは電気的分野で広く使用される物質
であることは事実である。例えば、Watkinsの米
国特許第3、246.197号にはタングステンと混合
したAt203の被覆を有する抵抗性ワイヤ組成物が、
及びOwenの米国特許第3.341.36 :3号に
は(a)Si 、 WO3,Mo5t2. Co 、 
W 、 Mg及び(b)カオリンとガラス状物質からな
る無機バインダーの粉末全含む厚膜抵抗体組成物の製造
か開示されている。5chroeder等の米国特許第
3,673,117号にはRuO2ハイドレイト、ビス
マス−鉛ホウケイ酸ガラス及び0.01〜25%のタン
グステンのような高抵抗金属を含む抵抗体物質が開示さ
れているo Tozakiの米国特許第3,807,9
65号にはタングステンカーバイド、コバルトの粉末全
台む導電性接続用物質が開示されている。
以上のことから、マイクロサーキットにおいてはタング
ステンは導体としてよりも抵抗体として最もしばしば使
用されることが明らかである。更に、Merzの米国特
許第4.172.922号にはZnQ粉末及び5裂まで
のタングステンTilむ金属粉末及2びガラスフリット
ヲ含有する抵抗体物質が開示されている。Evans等
の米国特許第4.455.758号はタングステン、A
t203及びホウケイ酸ガラスの粉末からなる導電性サ
ーメット抵抗体全開示している。その他のタングステン
含有抵抗体物質としては、Krasovのソ連特許第6
36,884号にホウケイ酸鉛ガラス、RuO2及び金
属タングステンの粉末を含む厚膜抵抗体物質が開示でれ
ている。更に、日本特許出願第064563号には60
〜99重量%のタングステンまたはモリブデン、0.5
〜10重量%のMnまたはCu及び0.5〜30重量%
のBeO″iたはAt203の焼結混合物が記載されて
いる。
前記従来技術からみて、厚膜導体の改良されたはんだ付
は性及び接着性のために、厚膜導体中に銅と共にタング
ステン金属全使用するととは全く教示されていないこと
が明らかである。
3、発明の詳細な説明 A、銅 導電相の組成及び構造は本発明の組成物において重要で
ある。
本発明の導電相は実質的な量の銅、即ち少なくとも28
重量%の銅を含み、この量は銅/銀共融合金中の銅の量
である。導電相は銅粉末のみ、銅と他の金属及び/捷た
け銅合金と他の金属、特に貴金属、の粉末の混合物を含
む。しかし、本発明は導体フィルム用の広範囲な応用を
有するので相として銅の粉末のみ全使用するのが好まし
い。
特に、鋼中の不純物が電気伝導度を低下させ及び銅と無
機バインダーの焼結全妨害するので、銅の純度はその上
にある何らかの酸化物層を別にして、少なくとも約99
,5重量%であシ、好凍しくはそれ以上であることが本
質的である。
銅の融点(1083℃)よシも相当低い、比較的低温の
焼成温度(750〜950℃)で銅粒子の焼結及び最大
の電気伝導度を得ることが必要であるから、上記銅の純
度は重要である。
粒子構造に関して、粒径及び粒子の形は非常に重要であ
る。好適な焼結、有機媒質の完全な燃焼及び好ましいス
クリーン印刷性全得るために、銅粒子は10μm以下の
最大粒径及び2〜4μmの平均粒径を有することが必要
である。これらの制限内で、銅粒子は1m2/g以下及
び好ましくは0.2〜0.5 m2/gの表面積を有す
ることが好ましい。
前記の組成物及び構造的特徴に加えて、銅粒子は酸化銅
の層で少なくとも部分的に被覆されていることが好まし
い。酸化銅被覆は少なくとも被覆された銅粒子の1重量
%全構成することが好ましいが、それ以上、例えば4〜
10重量%であることが更に好ましい。しかし、酸化物
被覆は酸化物で被覆された粒子の約15重量%をこえな
いことが本質的である。酸化物が約15重量%ヲこえる
と、それで形成された導体層ははんだ付けが一層困難に
なシ及び融解けんだ中への繰p返し浸漬時にはんだが付
着しないばかりか弾かれる傾向になる。
最も入手し易い銅金属粉末は少なくとも粒子の2〜3重
量%に当る酸化物被覆をもっている。
しかし、酸化物被覆を増加させることが望ましい場合に
は、空気中で粒子を攪拌し加熱する。
空気中または調整された量の酸素を含む雰囲気中で銅に
霧吹きすることによって一層多くの酸素を含む球形粒子
が得られる。
銅粒子上に酸化物が存在する場合に酸化物と献 有機媒質とのよシ親密な接解のために、組成物中の酸化
銅のほとんど、及び好ましくは全てが、分散された銅粒
子上の被覆から来ることが好ましい。組成物に必要な酸
化物の他の部分り、組成物への酸化鋼粒子の添加及び/
または無機バインダーへの酸fヒ銅の混合により供給し
てもよい。
何らかの付加的な酸化物はいずれかの方法または両方法
で供給できる。しかし、上記したように、組成物中の全
ての酸化銅は酸化物で被覆された銅粒子の約15重量%
を超えてはならない。
一般に、全供給源(@粉末の酸化物被覆、別別にまたは
ガラスフリットに添加されたC u20及びCuO)か
らの酸化銅のよう力酸化物の量は、良好な基板接着を得
るためには全鋼の約1,0重量係でなければならないか
、良好なはんだ付は性愛保持するためには約2.0重量
係以下である。
高純度で表面酸化物含有量の低い((0,3重量%酸素
)銅粉未到に酸化銅を添加しなければ、接着性の低い銅
導体を与えやすい。
導電相は他の導電性金属を含有できるが、これらの物質
は不活性で、焼成の間に酸化銅の分解、酸tヒタングス
テンの形成、及び銅と無機バインダーの焼結を防害しな
いことが必要である。
特別なケースにおいて、必要ならば、銅は他の卑金属ま
たは貴金属°と混合できる。理論上は、過半数の量の貴
金属さえも銅/酸化銅導電相と結合できる。しかし、本
発明の経済的利益はそれによって減少することは明白で
ある。更に、添加した金属粒子が銅、酸化銅、タングス
テン及び無機バインダー間の相互作用全妨げ、そのため
焼成厚膜の性質が低下することのないように、かかる金
属の添加は最少限度にするのが好ましい。
銀は本発明の組成物中で銅と共に使用する/ζめに好ま
しい貴金属である。全銅含有量に基づいて1〜50重量
%の銀、好丑しくけ5〜20重量%の銀が使用できる。
しかし、銅に対して共融割合の銀も使用できる。Ag/
Cu共融割合は72重量%Agと28重量%Cuである
銅の粒径及び導体組成物における酸化銅含有量の重要性
は前記した1983年6月20日出願の米国特許出願第
505.730号に記載されている。
B、非銅系金属 本発明で使用し得る非銅系金属はタングステン、モリブ
デン及びレニウムである。これらの金属の混合物または
合金も同じく使用できる。
本発明の組成物における非銅系金属の量は極めて重要で
あシ、全固形物の02〜52〜5重量%内でなければな
らない。はんだ付は性の相当の改善のためには少なくと
も0.2重量%が必要である。しかし、5.0重量%を
こえると、はんだ付は性はもはや向上せず、基板への銅
フィルムの接着性が減少する。組成物中のタングステン
含有量は0.5〜3重量%であることが好ましい。タン
グステンの粒径は本発明において重要である。特に、非
銅系金属粒子なかでもタングステン粒子は最大粒径が5
μm以下、平均粒径が0.2〜3μn1でなければなら
ない。かかる制限の理由は確信金もって断言できないが
、組成物中及び銅フイルム表面での金属の均一な分散性
に密接に関連するものと思われる。
清浄な金属表面は低エネルギー状態に向って強く傾斜す
る高表面エネルギーを有することが知られている。かか
る表面は酸素のようなガス全容易に吸着し、これが強度
に電気的に正の金属原子とイし学的に反応して表面に強
く結合した酸化物層を形成する( Pa5k著、Gla
ss −MetalInterfaces and B
onding 、カルホルニア大学、ローレンス放射線
研究室、バークレイ、カルホルニア州、Report 
UCRL 10611 、1963年参照)。
このメカニズムによって、清浄化されたほとんどの金属
の表面は酸化物層を含む。更に、銅のように一層反応性
の金属はこのような酸化を防ぐ特別の処理をしなければ
実質的な酸化物被覆愛育するのが通常である。タングス
テンの場合には、銅と合金を形成し得ないタングステン
の微粒子は銅の表面酸化物及び炉雰囲気中の少量酸素と
反応してwO2及び/またはW2O5ヲ形成し、これら
は焼成中に昇華により粒子表面から除かれるもので信じ
られる。
モリブデン及びレニウムも同様であるが、表面酸化物、
フリット及び炉雰囲気との反応の詳細はまだ完全に理解
されるに至っていない。
このプロセスによって実質的に酸化物のない銅表面が残
り、このためはんだに一層容易にぬれ従ってより良いは
んだ付は性を与える。しかし、本発明の銅含有組成物は
数回焼成され、且つこの改良されたはんだ付は性全保持
する点が興味あるところである。
C6無機バインダー 使用されるガラス及びその他の無機バインダーは幾つか
の作用をする。バインダーの主作用は基板への化学的及
び機械的結合を提供することである。それらはまたガラ
ス状バインダーが導体表面をぬらす場合の液相焼成によ
って金属フィルムの焼成全容易にする。ガラスバインダ
ーは適鮨な流動性を有する目的で800℃以下の軟化点
をもつことが好ましい。これは基板への接着及びある場
合には導体金属の保護のために必要である。約400〜
600℃の軟化点が好ましい。
バインダー系の化学組成はこれら厚膜導体組成物の機能
にとって重要ではないが、無機バインダーは十分に低温
で溶融しまたは流動して焼成中の金属粒子の焼結を助け
る必要−bshる。
無機バインダーは好ましくは低軟化点の低粘度ガラスで
あって、固形物の1〜10重量%、好ましくは2〜8重
量%のレベルで使用される。
低軟化点ガラスとは、ファイバー伸延法(ASTM−C
338−57)での測定により予定したピーク焼成温度
よシも少なくとも約10’01m、低い軟化点を有する
ものである。本発明に使用されるガラスは無機粒子の液
相焼結全助長するために焼成温度で低い粘度を有する必
要がある。焼成温度で6以下の10g nO比粘度を有
するガラスは液相焼結全助長し、従って好ましいもので
ある。
ホウケイ酸鉛ガラスは本発明に広く使用され、低軟fヒ
点及び基板への良好な接着の点でずぐれている。しかし
、良好な密閉性及び湿気抵抗性を確保するためには低ホ
ウ酸塩ガラス、即ち約20重量裂以下のB2O3’i含
むガラスまたはその類似物を使用することが好ましい。
両タイプのガラスが使用できる。
これらのガラスは所望の成分を所望の割合で混合し、こ
の混合物全加熱溶融する通常のガラス形成技術によって
製造される。よく知られているとおり、溶融物が全て液
体で且つ均質になるようなピーク温度及び時間で加熱が
行なわれる。現在では、各成分をポリエチレンツヤ−中
でプラスチ7クボールと共に振ることによυ混合し、次
に白金ルツボ中で80(J〜1000℃で溶融する。溶
融物全ピーク温度で1〜1.5時間加熱する。次に、溶
融物を冷水中に注ぎ込む。
冷水中の水温は水の比率を増やすことによって出来るだ
け低く保つ。水から分離した後、粗フリット?空気中で
乾燥しまたはメタノール洗浄により残留した水を取り除
く。次に、粗フリット’tアルミナ容器中で3〜5時間
粉砕する。得られたガラス中のアルミナはX線回折分析
で測定して観察不可能な限定である。
粉砕されたフリットスラリーを取り出した後、デカンテ
ーションにより過剰の溶謀ヲ除き、フリット粉末全室温
で空気乾燥する。乾燥粉末を次に325メツシユスクリ
ーンで分別して大きな粒子を除去する。
D、有機媒質 無機粒子は機械的混合により有機液体媒質(ベヒクル)
と混合され、スクリーン印刷のために好適な粘稠度とレ
オロジイ−を有するペースト状組成物とされる。このペ
ーストは通常の方法によシ銹電体または他の基板上に厚
膜として印刷される。乾燥及び焼成時に揮発し去る限シ
任意の不活性溶媒全使用できる。種々の有機溶媒は、濃
化剤及び/または安定剤及び/または他の添加剤を含む
と含まざるとにががゎらず、ベヒクルとして使用できる
。使用できる有機液体の例としては、脂肪族アルコーノ
ペ該アルコールのエステル、例えばアセチイト及びノ0
ロピオネイト、パインオイル及びチルピノール等のよう
なテルペン、低級アルコールのポリメタクリレイトのよ
うな樹脂溶液、パインオイルのような溶媒中のエチルセ
ルロース溶液、及びエチレングリコールモノアセチイト
のモノグチルエーテルなどがある。ベヒクルは基板への
適用後の乾燥を早める/こめに揮発性液体を含有しても
よい。
広範囲な不活性液体が有機媒質中に使用できるが、通常
の厚膜組成物と違って、イイ機媒質の有機重合体含有量
が極めて狭い範囲に維持妊れることか好ましい。特に、
エチルセルロース及びメタクリレイト樹脂のような重合
体物質の含有量が分散液の固形物含有量の10重量多未
満に維持されることが好ましい。特にエチルセルロース
のような非アクリル系重合体全有機媒質中に使用する場
合には0.5重量係未満のレベルが好ましい。窒素焼成
雰囲気が炉での燃焼ゾーンで数ppmの酸素を含むなら
ば、有機媒質中に幾分高レベルの重合体を許容できる。
理論的には、有機媒質中には樹脂を全く含まないことが
望ましい。しかし、実際的には、分散液における好適な
レオロジイ特性及びスクリーン印刷された銅フィルムの
適切々強度全得るために、少なくとも約1〜3重量係の
樹脂を含有できる。
分散液中における固形物に対する有機媒質の比は和尚変
化でき、分散液の適用方法及び使用されるベヒクルの種
類による。通常、良好な被覆を得るためには、分散液は
70〜90%の固形物と30〜10%のベヒクルと全含
む。
本発明の組成物の形成において、有機媒質の量全最少に
すること及び上記したように有機媒質中の高分子量物質
の量全最少にすることが好ましい。その理由は有機媒質
の完全な揮発を確保するためである。酸化による有機媒
質の揮発に利用できる酸素の量は銅の非酸化性雰囲気で
の焼成の必要性故に極めて限られている。従って、最少
限可能な量の有機媒質で必要な印刷粘度全得るようにレ
オロジイを調整する。粘度全減少させ且つ有機媒質の揮
発を強めるために、有機媒質中の樹脂の量全10重量%
以下に限定することが好ましく、この量は全組成物の1
.0重量%以下に相当する。勿論、本発明の組成物はそ
の有利な特性に悪影響を与えない他の物質の添加によっ
て修正されてもよい。かかる修正は当業者の実施し得る
範囲である。
スクリーン印刷のためのペーストの粘度はBrookf
ield HBT粘度計を用いて低、中、高のせん断速
度で測定した場合に典型的には以下の範囲内にある: せん断速度(秒−1) 粘 度 (Pa、S)0.2 
100〜5000 300〜2000良好 600〜1500最良 4 40〜400 100〜250 良好 140〜200 最良 384* 7〜40 10〜25 良好 12〜18 最良 * HBT Cone and Plate Mode
l Brookfield粘度計で測定した。
利用するベヒクルの量は最終組成物の粘度によって決め
られる。
本発明の組成物の製造において、無機固形物は有機キャ
リヤーと混゛合され、適尚な装置によシ分散されて懸濁
液をつくり、粘度が4秒 のせん断速度で約100〜2
50Pa、Sの範囲である組成物を得る。
次の実施例で、製造は次のように実施された:ペースト
成分のうち組成物の約0.5重量%に相当する約5チの
有機成分を除いた成分全容器中に計9入れる。次に激し
く攪拌して均一混合物全作り、良好な分散を得るために
分散機を通過させる。Hegmanゲージを用いて硬−
スト中の粒子の分散状態を測定する。この装置はスチー
ル中に1端の深さ゛25μ?n他端の深さがゼロに傾斜
したチャンネルを有する。ブレッドでこのチャンネルの
長さ方向に沿ってイーストヲ引きおろす。凝集物の直径
がチャンネル深さよυ大きい個所でチャンネル中にスク
ラッチが表われる。
満足な分散では典型的には10〜15μmに第4番目の
スクラッチ点愛育する。良く分散したペーストではチャ
ンネルの半分がカバーされない点は典型的には3〜8μ
mの間にある。20μmfこえる第4番目のスクラッチ
点及び10μmfこえるハーフチャンネル点は分散が貧
弱であることを示している。
ペーストの有機成分全構成する残95%全添加し、全て
調合した時の粘度が4秒−1のせん断速度で140〜2
00Pa、Sに々るように有機媒質の量を調節する。
次に、組成物をアルミナ、シリカ−アルミナ、各種誇電
体物質のような基板上にスクリーン印刷法により湿潤厚
さ約25〜80μm、好ましくは25〜60μm及び最
も好ましくは25〜35μmにて塗布する。本発明の導
体組成物は自動印刷機または通常の手動印刷機によシ基
板上に印刷できる。好捷しくは200〜325メツシユ
スクリーンを用いた自動スクリーンステンシル技術が使
用される。印刷パターンはその後焼成前に200℃以下
、例えば120〜150℃で約5〜15分間乾燥てれる
。無機バインダーと銅粉末の焼結を行なうための焼成は
好ましくは窒素雰囲気下でベルトコンベヤ炉中で実施さ
れ、その温度グロファイルは約300℃で有機物質全燃
焼させ及び850〜950℃で厚膜の緻密イしに行なう
。続いて、過焼結、中間温度での不所望な化学反応また
は急凍斗ぎる冷却によって起る基板破損ケ防ぐために、
冷却サイクルをコントロールする。全焼成工程は約1時
間で実施するのが好ましく、そのうちピーク焼成温度ま
でに20〜25分、焼成温度で約10分及び冷却に約2
0〜25分を要する。ある場合には、全サイクル時間を
30分程度にできる。乾漂銅フィルムの焼成の間、銅の
酸fヒを最少にするために炉の熱部での酸素濃度は15
〜20 ppm以下、好ましくは10 ppm以下に維
持すべきでちる。
本発明の導体組成物は次の工程により厚膜抵抗体ネット
ワークの形成に使用できる:(1)本発明の導体組成物
のパターン1ヒされた層をセラミック基板に適用する; (2) このパターン化された導体M’x非酸fヒ性雰
囲気中で焼成して有機媒質の揮発、酸比鏑の分解及び無
機バインダーの焼結を行なう:(3)有機媒質中に分散
した抵抗物質及び焦(・、′2バインダーの粉末の混合
物を・含む厚膜抵抗体ペーストのパターン1ヒされた層
を上記基板及び焼成導体層に適用する;及び (4) −’ターン化された抵抗体層を非酸化性雰囲気
中で焼成して有機媒質の揮発及び無機バインダーの焼結
を行なう。
本発明の導体組成物は次の工程によシ混成電気回路の多
層相互接続の形成に使用できる;(1)本発明の導体組
成物のパターン化された層全セラミック基板に適用する
; (2)パターンfヒされた導体層を非酸fヒ性雰囲気中
で焼成して有機媒質の揮発、酸fと銅の分解及び無機バ
インダーの焼成を行なう; (3)基板及び焼成導体層に、有機媒質中に分散された
誘電体物質及び無機バインダーの粉末の混合物を含む厚
膜誘電体ペーストのパターン化層全適用し、このパター
ン化層は下層の導体層と連絡するバイアスを有し; (4)パターン化誘電体層を非酸化性雰囲気中で焼成し
て有機媒質の揮発及び無機バインダーの焼結を行ない; (5)本発明の導体組成物のパターンfヒ層を焼成(6
)ハターン化導体層及び満されたバイアスを非酸比性雰
囲気中で焼成して有機媒質の揮発、酸化銅の分解及び無
機バインダーの焼結全行ない;及び (7)必要な数の層を構成するために工程(3)〜(6
)を繰り返す。
20層程度の多層相互接続がこの方法でしばしば製造さ
れる。
テスト方法 接着性:接着性はIn5tron引張9試験機を使用し
て、90°の引張り配置で毎分2インチの引張り速度に
て測定した。20ケ゛イノのスズメッキしたワイヤf、
Alpha 611フランクス全用いて62 Sn/ 
36 Pb/ 2Agはんだに220℃でまたは63S
n/37Pbはんだに230℃で10秒間浸漬すること
によって80ミル×80ミルのパッドに接続した。(A
lpha 611はAlpha MetalsInc 
、ジャーシイシイティ、ニーーツヤシイ州によシ製造さ
れたはんだフラックスの商標である。)エイジングは1
50℃にコントロールしたBlueM 5tabil 
−Therm (商標)オーブン中で実施した。エイジ
ング後、ワイヤを引張る前にテスト品を空気中で数時間
平衡化させた。
はんだ付は性:焼成部品f Alpha 611のよう
なロジンンラックスに浸漬し、次にセラミックチップの
端を溶融はんだに潰すことにより3秒間加熱した。その
後チップ全はんだ中に10秒間浸漬し、引き田し、清浄
比し及び検査した。
銅テスト・辛ターン上に得られたはんだ被覆(確立され
た)のパーセントによシはんだ付は性を測定した。
粒径:使用した粒子の寸法は5edi Grapb50
00D粒径分析器で測定した。この装置は時間の関数と
して沈殿深度を減少させながら、残余の粒子の濃度を測
定する。透過X線強度における差の対数が電気的にめら
れ、これらのデータ全累積マスパーセント分布として5
tokesianまたは同等の球の直径のミクロン(μ
m)表示を用いて表わすために転換される。
実施例 以下の実施例において、全ての割合は特に指示のない限
り重量%(%wt )である。加えて、厚膜導体物質の
それぞれの成分の組成及び性質は以下のごとくである: 第 1 表 銅投末の性質 性 質 10μm以下の%wt、99.9 99.9 99.9
 99.9平均粒径2μm’ 2.2 4.0 3.0
 1.2表面積、 m’4! 0.3 0.25 0.
3 1.20酸 素2%wt 、 1.0 0.1 0
.5 0.4第 2 表 pb○ 66.978.158.880.6BO12,
3−7,812,0 3 SiO10,3−23,06,0 CdO6,83,9 NaF 3.5 − At2050.2 − 0.4 − ZnO1,4 GeO2−21,9− T102 − 6.1 100.0100.0100.0100.0軟化点、℃
 420 − 560 430第 3 表 有機媒質組成 エチルセルロース 5.2%wt。
α、β−チルピノー# 11.4 シブチルカルピトール(”) 28.5ジグチルフタレ
イト 51,5 トリデシルホスフエイト 1.3 イオノール(2) 2.1’ 100、0 (1)ニューヨーク州、ニューヨークのUnion C
arbideCo、のジエチレングリコールジブチルエ
ーテルの商標 (2)テキサス州、ヒユーストンの5hell Che
micalCo、の2,6−ジー第3ブチル−4−メチ
ルフェノールの商標 実施例1〜10 上記した方法に従って各種の組成をもつ銅含有厚膜導体
組成物全製造し、組成物及び成分の性質の各種パラメー
タ全証明するためにテストした。記載されたことを除い
て、組成物のそれぞれは上記のとお9に焼成厚膜導体の
製造に使用され、その導体は抵抗、はんだ付は性及び接
着性についてテストされた。これらのデータを下記第4
表に示す。
第 4 表 銅含有導体組成物の組成及びこれらから製造さCu粉末
A 89.0 − − − B −84,0−−− C−86,0− D − −−−82,4 バインダーA 1.6 1.6 1.6 −B −−1
,6 C− D −−−1,0 PbO20,40,40,4− Cu 20 5.0 3.0 4.O W 粉末、 1.5 pm平均粒径 1.0 1.0 
1..0 1.0有機媒質 8.0 8.0 8.0 
10.0全酸素、酸化銅として 0.9 0.6 0.
7 0.7はんだ付は性8チ 基板Al s imag 614−焼成IX 95 9
5 95 85焼成3X 95 95 95 80 基板Du Pant Dielectric 4575
焼成IX 95 95 95 80 焼成3X 90 95 95 70 接着性、ニー−トン 基板Alsimag 614焼成LX 25 27 2
5 20基板DuPont Dielectric 4
575焼成5X 27 30 28 20 れた導体の性質 −−89,090,089,088,088,084,
0−−−−− 1、,6−−1,,61,61,6 −2,0−−−− 一−1,5−−−−− 0,40,50,40,40,4 1,05,0−−−−− 1,01,01,0−1,02,0 8,08,08,08,08,08,00゜2 0.6
 0.9 0.9 0.9 0.91.7 1.5 1
.4 1.4 1.3 1.495 95 95 10
 95 95 95 95 95 0 95 95 95 95 90 10 95 95 95 90 90 0 90 95 10 24 26−24 18 14 28 29−24 20 7 22 25 − 21 19 同一無機バインダー金含む実施例1〜3及び8の組成物
は異なる粒径(2〜4μm)の及び異なる酸化銅(酸素
)含有量のCu粉末と共に調合された。タングステン金
属粉末を含有する全ての実施例は5回の焼成後において
さえも両方の基板上で優れたはんだ付は性を示した。し
かし、タングステン粉末を含まない組成物は1回の焼成
後極めて低いはんだ付は性全示し、焼成を繰り返した時
はとんど完全にはんだ付は不能となった。実施例2と比
較した実施例5のデータは、良好なはんだ付は性と接着
性を共に確保するためには、組成物中の酸化銅としての
酸素量が重要であることを示している。つまり、銅粒子
の酸化物組成が低い場合、適切なはんだ付は性は得られ
るが同様に重要な接着性は望ましくない程度に低くなる
。実施例5はまた比較的小さな表面積、即わち約1 m
279以下の銅粒子の使用が重要でおることを示してい
る。
全く異なる無機バインダーを使用した実施例1.4.6
及び7のはんだ付は性及び接着性が優れていることは、
酸素含有量、粒径及びタングステン含有量などの他の条
件が満たされる限りバインダーの組成は特に重要でない
ことを表わしている。
十分多量のタングステン金属會含廟する実施例1,9及
び10は、約2.0重量%のタングステン金属も接着性
に関して重大な逆効果を示すことなく使用し得ることを
示している。タングステンを含ま々い実施例8を実施例
9″!たけ10と比較すると、本発明の組成物における
タングステンの役割が他の条件が満されている場合でも
極めて重要であることが理解できる。
実施 非銅系金属、この場合タングステン、の濃度を徐々に増
加させた以外本質的に同一組成の5組の銅含有厚膜導体
組成物全製造した。この5組の組成物は実施例1〜10
と同様に製造した。
各組成物で上記のごとく焼成厚膜導体を製造し、導体の
はんだ付は性及び接着性をテストし/こ。
これらのデータを下記第5表に示す。
第 5 表 非銅系金属濃度の効果 Cu粉末C85,084,0 バインメーA 1.6 1.6 pb020.4 0.4 Cu20 4.0 4.O W粉末、1.58m平均粒径 1.0 :1有機媒質 
8.0 8.0 全酸素、酸化銅として 0.8 0.8導体の性質 抵抗率、 mQ/47ロ/ミル 1.2 1.1はんだ
付は性、チ 基板Alsimag 614−焼成LX 95 95焼
成3X 95 g5 基板Du Pont Dielectric 4575
焼成LX 95 95 焼成3X 95 95 接着性、ニュートン 基板Alsimag 614−焼成IX 33 22基
板Du Pont Dielectric 4575焼
成5X 24 24 13 14 15 83.0 81.0 76.0 1、6 1.6 1.6 0、4 0.4 Q、4 4、0 4.0 4.0 3.0 5.0 10.0 B、 0 8.0 8.0 0、8 0.8 0.8 1、2 1.1 1.2 95 95 85 95 90 90 95 95 90 95 95 95 20 15 4 27 15 10 25 9 9 多t (7) 非銅系金属(この場合、タングステン)
は基板接着に有害であることがわかる。特に、約5.0
重量%以上のタングステンで接着性は急速に不満足なも
のになる。更に、約3.0重量係以下のタングステンが
はんだ付は性及び接着性ともに良好であり好ましいこと
を示している。
実施例16 更に厚膜組成物を製造し、それから作った導体全前記実
施例と同様にテストした。組成物はタングステンの代り
にモリブデン粉末を使用した以外実施例11と同一であ
った。製造された導体は1.6 mQ/47ロ/ミル抗
率を有していた。
Alsimag 614上のはんだ付は性は3回焼成後
95乃及びDu Pont Dielectric 4
575上のそれは3回焼成後90俸でアラた。Alsj
mag 614上での接着性は1回焼成後19ニーート
ン及びDu Pont Dielectric 457
5上でのそれは5回焼成後2〇ニーートンであった。
これらのデータにより、多層の銅導体層の接着性及びは
んだ付は性の改善能力に関して、モリブデンはタングス
テンとほぼ同効であることがわかる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1゜銅を含有する厚膜導体組成物であって、(a)85
    〜98.8重量%の導電性物質、その少なくとも28重
    量%は銅である; (b)10〜1重量%の無機バインダー;及び(c)5
    〜0.2重量%の、タングステン、モリブデン、レニウ
    ム及びこれらの合金並びにこれらの混合物からなる群よ
    シ選ばれた非銅系物質; の粉末を有機媒質中に分散させた混合物全台み、この組
    成物は更に、 (1)銅粒子は10μm以下の最大粒径及び2〜4μm
    の平均粒径全有し;及び (2)非銅系金属粒子は5μm以下の最大粒径及び0.
    2〜3μmの平均粒径を有する; ことを特徴とする、上記厚膜組成物。 2、導電性物質が銅であることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載の組成物。 3、導電性物質が銅合金であることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の組成物。 4、導電性物質が銅と貴金属との混合物であること全特
    徴とする、特許請求の範囲第1項に記載の組成物。 5、貴金属が銀であることを特徴とする特許請求の範囲
    第4項に記載の組成物。 6、銅と銀とが共融割合で存在することに%徴とする、
    特許請求の範囲第5項に記載の組成物0 7、非銅系金属がタングステンであること全特徴とする
    、特許請求の範囲第1項に記載の組成物。 8゜厚膜導体の製造方法であって、 (1) (a)85〜98.8重量%の導電性物質、その少なく
    とも28重量%は銅である; (b)10〜1重量%の無機バインダー:及ヒ(c) 
    5〜0.2重量%の、タングステン、モリプデン、レニ
    ウム及びこれらの合金並びにこれらの混合物からなる群
    より選ばれた非銅系物質; の粉末を有機媒質中に分散させた混合物全台み、■ 銅
    粒子は10μm以下の最大粒径及び2〜4μmの平均粒
    径を有し;及び ■ 非銅系金属粒子は5μm以下の最大粒径及び0.2
    〜3μmの平均粒径を有する; 導体組成物のパターン化された層をセラミック基板上に
    形成し; (2) この・ぐターン化された導体層を非酸化性雰囲
    気中で焼成して、有機媒質の揮発、酸化銅の分解及び無
    機バインダーの焼結を行ない;(3)上記基板及び焼成
    導体層に、有機媒質中に分散された抵抗性物質及び無機
    バインダーの粉末の混合物全台む厚膜抵抗体ペーストの
    ・ぐターン化された層全形成し;及び (4)パターン化された抵抗体層を非酸化性雰囲気中で
    焼成して、有機媒質の揮発及び無機バインダーの焼結を
    行なう; 各工程を含むこと全特徴とする、上記厚膜導体の製造方
    法。 9、多層の相互接続パッケージの製造方法であって、 (1) (a)85〜98.8重量%の導電性物質、その少なく
    とも288重量%銅である; (b)10〜1重量%の無機バインダー;及び(c) 
    5〜0.2重量%の、タングステン、モリブデン、レニ
    ウム及びこれらの合金並びにこれらの混合物からなる群
    より選ばれた非銅系物質; の粒子全有機媒質中に分散させた混合物を含み、■ 銅
    粒子は10μm以下の最大粒径及び2〜4μmの平均粒
    径を有し;及び ■ 非銅系金属粒子は5μm以下の最大粒径及び0.2
    〜3μmの平均粒径全有する; 導体組成物の/(ターン化きれた層全セラミック基板上
    に形成し; (2) パターン化された導体層を非酸fヒ性雰囲気中
    で焼成して、有機媒質の揮発、酸化銅の分解及び無機バ
    インダーの焼成を行なう; (3)基板及び焼成導体層に、有機媒質中に分散された
    誘電体物質及び無機バインダーの粉末の混合物を含む厚
    膜誘電体技−ストのパターン化層全適用し、このパター
    ン化層は下層の導体層と連絡するバイアスを有し; (4) パターン化誘電体層を非酸化性雰囲気中で焼成
    して有機媒質の揮発及び無機バインダーの焼結全行ない
    ; (5)上記導体組成物のパターン化層を焼成誘電体層上
    及びバイアスに適用し; (6)ハターン化導体層及び満されたバイアスを非酸化
    性雰囲気中で焼成して有機媒質の揮発、酸fヒ銅の分解
    及び無機バインダーの焼結を行ない;及び (7)必要な数の層を構成するために工程(3)〜(6
    )0■返す; 各工程を含むこと全特徴とする、上記多層相互接続パッ
    ケージの製造方法。
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