JPS6065305A - シ−ケンス機械の故障診断装置 - Google Patents

シ−ケンス機械の故障診断装置

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JPS6065305A
JPS6065305A JP58172275A JP17227583A JPS6065305A JP S6065305 A JPS6065305 A JP S6065305A JP 58172275 A JP58172275 A JP 58172275A JP 17227583 A JP17227583 A JP 17227583A JP S6065305 A JPS6065305 A JP S6065305A
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JP
Japan
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sequence
machine
diagnosis
data
time
Prior art date
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Pending
Application number
JP58172275A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Ogino
荻野 康一
Katsuyuki Onodera
小野寺 勝幸
Toshiharu Suzuki
鈴木 敏治
Sadakazu Sugiyama
杉山 貞和
Naoki Sasaki
佐々木 直己
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Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
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Publication of JPS6065305A publication Critical patent/JPS6065305A/ja
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/05Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
    • G05B19/058Safety, monitoring

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分」 この発明は、シーケンス機械の故障診ILIi装置に関
する。
従来技術 従来、シーケンス機械におけるシリングへ)モータ等の
アクチュエータ又はリミツ1〜スイッチ等の各種検出ス
イッチなどに故障か発生した1、H,)合、保全員が機
械の状態を目視して故障の診1す「を行〆J゛うか、あ
るいはシーケンス機械を制御するシーケンス制御装置側
に機械の動作進行状態をモニタする機能があれは、その
りJ作進行状態を児で故障箇所の推定及び診断を行なう
ようにしていた。
しかしながら、このような従来の診断の仕方C土、故障
の発見に時間がかかるばかりか、その故障箇所を特定す
るのに熟練を要するなどの問題かあった。
また、一部にシーケンス制御装置側に、予想さ肛る故障
を発見診断する診断用ブロクラムを1′・めAnみ込ん
でおくことか考えられているが、これては、診断用プロ
グラムを組むのに時間及びコス1へかかかり、特に頻繁
に仕様変更のある機械には実用的でなかった。
目 的 この発明は、上記の点に鑑みてなされたもの−Cあり、
シーケンス機1戊に発生した故障を直ちに診断でき、し
かも特定の故障専用の診断用プロクラムを組む必要のな
いシーケンス機械の故障診断装置を提供することを目的
とする。
植成 そのため、この発明によるシーケンス機械の故障診断装
置は、第1図に示すように構成されている。
すなわち、シーケンス機械Aにおける動作ステップの時
間間隔を逐次All定する時間測定手段Bと、シーケン
ス機械Aにおける各動作ステップ間の正常な所要時間に
皓づく時間データを記憶した記憶手段Cと、時間測定手
段Bによって測定した動作ステップの時間間1;ILと
、そ九に対応する記憶手段Gに記憶した正フ11°な時
間データとに基づく比較を行なうことより、シーケンス
機械Aの故障の有無を診断する比1咬手段りとからなる
夫度憔 以下、この発明の実施例を図面の第2図以降を参照しな
がら説明する。
第2図は、シーケンス機械の一例を示ず1ila ”J
月lIである。
、同図において、リフタ1は、コンヘア2によって矢示
方向から搬送されてきたワークWを破線1ヶ置まで持ち
上げ、キャリア3は、リフタ1によって持ち上げられた
ワークWをコンベア4−ヒにfJずようになっている。
なお、リフタ1及びキャリア乙は、夫々121示のよう
に3ポジション両ソレノイド伺き切換ハルツ5.6によ
って制御さAしるシリンダ等によってtl’1成され、
ソレノイドSQL、、5OL2が作動すると上昇、前進
し、ソレノイド5QL3. S。
L4か作動すると下降、後退するようになっている。
また、リフタ1及びキャリア乙の作動シーケンスは、第
3図に示すように上側、前進、下降、後退のステップ順
になっている。
そして、上記のような作動シーケンスを実現するために
、下降限りミツ1〜スイツチL S 1H上y1限リミ
ツ]−スイッチLS2.後退限りミツ1へスーrツチL
S3.及び前進限りミツ1〜スイツチLS4を設けてい
る。
次に第4図を参照して、7はプログラマブル・シーケン
スコントローラ(p c)であり、シーケンス制御用c
pu7aと、シーケンスプログラムメモリ7bと、人出
力バツファ7Cと、入力インターフェース回路7d及び
出力インターフェース回路7e等とからなる。
入力インターフェース回路7dには、第2図のりミツ1
〜スイッチLS、〜I−84を入力用電源8と共に図示
のように結線してあり、例えばリミツ1−スイッチLS
I〜LS4が夫々オフの時には゛o″、オンの時には1
″の入力信号81〜S4が人出力バツファ7cに入力保
持されるようになっている。
なお、この入出力バッファ7cには、例えは第2図のコ
ンベア2からリフタ1にワークWか載せられる毎に1″
となる起’JOJ信号STも入力インターフェース回路
7dを介して入力されて保持される。
また、こ、h等の入力イa号S 、 −s、、 、 S
 ’I’か第2図のシーケンス機械における各部のl+
jlll状jルを示している。
出力インターフェース回路7cには、第2図のソレノイ
ドバルブ5,6の各ソレノイ1〜801−71〜S O
L 4を出力用電源9と共に図示のようにX、′。
線してあり、例えば入出力バッファ7しから出力される
出力信号1) 1〜P4か夫々゛0゛′の時には。
ソレノイI−: S OL l〜SO,L4を全て作9
1)Jさぜず、出力信号P1〜p 4の何Jしかが1″
になると、その1″になった出力信号に対応するソL/
ノイドを作動さぜるようになっている。
シーケンス制御用CPU7aは、シーケンスブロクラム
メモリ7bにt8納しであるプログラムに基づいて、例
えば次のような処理を行ろ゛う。
すなわち、入出力バッファ7Cに入力さAしる1n号S
1〜S4.STが’1.O,l、0.0”の時には、人
出力バツファ7Cを介して出力する信号P1〜P4を全
て0″にし、以下5I−84゜STが’l、0,1,0
. 1=になった時点でのみ、信号P1のみを] ”に
、”0,1.]、0゜0″なった時点でのみ、信号■〕
2のみを1′′に、=O,]、0,1.0”になった時
点でのみ、信号P3のみを1″に、”1.O,O,]、
O”になった時点でのみ、ja号P4のみを1″にする
このような処理を行なうことによって、第2図のシーケ
ンス機(戎を第6図に示す作動シーケンスどおりに籟t
り返し動かずことかできる。
なお、上貫己の処理内容を表にまとめると、第1表のよ
うになる。
第1表 故障診断製置10は、診断用CP U I Q aと、
診断用プログラムメモリ10bと、後述する参断用デー
タを記憶した診断用照合メモリtOCど、ワーキンクメ
モリ10dと、時間測定手段であるタイマ10e、 キ
ーボー1−(Iぐ/[3)インターフェース10f、及
びCRTコントローラ10g等の周辺回路を接続し、且
つPO2の入力インターフェース回路7dから信号S1
〜s、、、s丁を取り込むと共に、PO2のシーケンス
制御用CPU7aの割込端子に割込信号INTを出力す
る入出力ハツファ1011等とからなり、に/Bインタ
ーフェース10fには、後述するデータ入力用のキーホ
ー1〜11を、CRTコン1−ローラlOgには、人力
データ及び診η「結果表示用のcRT12を夫々接続し
ている。
そして、この故障診断装置10の診1グi用CP Ul
oaは、診断用ブロクラムメモリ10bに格納したプロ
グラムに基づいて、第2図に示したシーケンス機械の故
障診断を行なう訳であるが、その故障診断を行なわせる
前に1診断用前合メモリ10cに例えば次のようなデー
タを書き込んでおく。
すなわち、診断用照合メモリ10CのアドレスAI 、
A3.A5 HA 7 g A 9には、第2図のシー
ケンス機1成の1サイクルにおけるイニシャル時を含む
各動作ステップ開始時の信号S1〜S4+STの状態を
示す1 . ” O″のデータを、アドレスA2.A4
.AG、AQには、各動作ステップ間の正常な所要時間
に基づく時間データを、夫々キーボード11を1娘作す
ることによって書き込んでおく。
なお、具体的には、例えば第2表に示すようなデータと
なる。
第2表 但し、第2表において、アドレスAHHA3 。
As 、A? 、A9のデータは、夫々上昇、前進。
下降、後退の各ステップ開始時及びイニシャル時の信号
S1〜S4.STに対応するデータてあり、ア1−レス
A 2 、 A4 、 A6 、 Agのデータは、第
5図に示すような上昇、前進、下降、後退に要する正常
な所要の時間T1〜TIを示す数値データである。
なお、第2表に示すデータにおいて、信号5l−34,
5TIC対応ずル=1’ 、−0” +7)データは、
例えばPO2側のシーケンスデータを利用し。
時間データは、シーケンス機械を予め実際に動かすこと
によって各部の移動所要時間を計)則するが、機械の各
部の移動速度が解ってい肛ばn1算によって得るものと
する。
次に、第6図のフロー図をも参照しながら、診断用CP
 U I Q aの動作を説明する。
5TEP 1 診断用照合メモリ10cの読出ア1くレ
スAxを先頭アドレスA1に設定すると共に、後述する
タイマフラッグT/Fを0″にリセットする。
5TEP 2 人出力バッファ10hを介してシーケン
ス機械の動作状態を示す信号S1〜S4+STの取り込
みに行なう。
ST[EP 3 5TEP 2て取り込んたデータをワ
ーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する。
5TEP 4 診断用照合メモリIOCから読出ア1く
レスAxのデータの読み出しを行なう。
なお、このステップの最初の実行時は、アドレスA1の
 ’10101”なるデータか読み出される。
5TEP 5 ワーキングメモリ10dに格納したシー
ケンス機械の状態を示すデータと、診断用照合メモリ1
0cから読み出したデータとの比較を行なう。
S1’EP 6 5TEEP 5での比較結果をチェッ
クし、比較した両者が一致していなければ5TIEP 
7に進み、一致していれはSTEM’ 8に進む。
5TEP 7 予め定めた一定時間待機した後、5TE
P 2に戻って5TEP 2〜6までの処理を繰り返す
5TEP 8 タイマ10Bの作動状態(” 1 ” 
)及び不作動状態(”0″)を示すタイマフラッグT/
I?が′I″にセラ1−さイシているか否かをチェック
し、セラ1へされていなけ]しは5TEP 9に進み、
セラ1−されていればSi’lj門;(に進む。
5TIEP 9 読出アドレスAxがA、と等しくなっ
たか否かをチェックし、等しければSi’El’lOに
進み、等しくなけtLlfsT[EPl]に進む。
5THPIO読出アドレスAxをA1にした後、S ’
l’ +4112に戻る。
なお、このステップは、読出アドレスΔXを〜Ag 、
Al−Ag 、A1−とり°イクリツクに変化させるた
めのものである。
5TEr’ll 人出力バツファ1011を介してタイ
マ起動信号SSをタイマ10eに出力して、タイマ10
eを起動すると共に、タイマフラッグT / Fをl″
にセラ1〜する。
S1’EP12 診断用照合メモリ10cの読出アドレ
スAxを+2インクリメントシた後、S’l’rEI’
 2に戻る。
なお、このステップは、読出アドレスハXをA1からA
3.As 、A? 、As (第2表参照)と変化させ
るためのものである。
5TEP13 タイマ10cの時間データTxを人出力
バツファ10hを介して取り込む。
5TEP14 5TEP13で取り込んだ時間データT
xをワーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する
5TEP15 人出力バツファ10hを介してタイマ1
0eにリセット信号SRを出力して、タイマ10eの時
間データTxをrOJにリセツl−すると共に、タイマ
フラッグT/Fも′0″にリセツI−する。。
5TEP1G 診断用照合メモリ10dの読出アドレス
Axを(−1)デククメン1−シたアドレスからデータ
を読み出す。
なお、このステップが実行されても読出アドレスカウン
タの値AXは変化しないものとする。
また、このステップを実行することによって、アドレス
A2 、A4 、As 、Anの時間データ1゛1〜T
4を1煩に読み出ずことができる。
5TEP17 ワーキングメモリ10dに(a納した時
間データー1’ xと、診断用照合メモリ10(から読
み出した時間データとにWづく比+lr)を次のような
仕様で行なう。
すなわち、診断用照合メモリ1ocがら読み出した時間
データをTy(実際には′1′l〜T4の何りかのデー
タ)とすると、(テ;ξ械各部の正常時の進み遅れによ
る誤差時間の最大値τ等を考慮して、1゛y−τ≦′]
゛X≦Ty+τなる比リウを行なって、測定によって得
た時間データ゛1′Xが上記の許容範囲に入っているか
否かの診断を行なう。
なお、τなる数値データは、予めギーボード11によっ
て診断用照合メモリ10 Cの所定アドレスに格納して
おくものとする。
5TEP18 S1’1EP17での比較結果をチェッ
クし、時間データTxが上記許容範囲に入っていて正常
と診断されていればST[EP 9に戻り、時間間デー
タTxが上記許容範囲を越えてし)で故障有りと診Iす
iさ肛ていればS1’EP19に進も・。
5TIEI319 発生している故障に苅応する診断処
理を行なう。
すなわち、先ず人出力バツファ1011を介して非常停
止用の割込信号I N T t−P C7におけるシー
ケンス制御用cpuyaの割込端子に出力して割り込み
をか(づ、そ汎によって1〕C7及び第2図のシーケン
ス機械を非°):(停止させる。
なお、PO2の説明では省略したが、シーケンスプログ
ラムメモリ7bには、非常停止用の割込処理プログラム
をも格納しであるものとする。
次に、シーケンス’6:’i 4ruの何肛の動作ステ
ップで異常が発生しているかをチェックし、そのチェッ
クした動作ステップで予想される故障箇所のデータを例
えば診断用プログラムメモリ10bからンIgみ、出す
なお、この予想される故障箇所のデータとは、例えば」
二昇ステップでの異’I:i”:I・らリミツ1−スイ
ッチLS2やツレノーrドSO+、1等を表わすデータ
である。
5TEP20 5TEP19でバ売み出したデータに基
づいj’= l:’;断結果の表示を行なって処理を終
了する。
なお、第6図のフロー図では、正′j:(時にIJエン
ドレスになっているが、実際には1〕C7がPi餉1x
すれば処理を終了するようになっている。
そして、診断用CP U 10 aは上記の動作をt7
+り返すので、第2図のシーケンス機械にお()る1サ
イクル毎の各動作ステップ間の所要+1.7間が正″)
:(であったか否かを監視てき、それによってシーケン
ス機械における各部の故障の有無をり−?ルタ、・(ム
で診断できる。
なお、以下に上記実施例の変更例を列記する、。
(イ)」二部実施例では、シーケンス機械がイニシャル
状態に戻った時点から起動信号S′rが人力されるまで
の時間をチェックしていないが、この111i間をもチ
ェックするようにしても良い。
(ロ)上記実施例では、故障診断装置10が適時自発的
に信号S1〜S4.STを取り込んで診断するようにし
たか、信号S1〜S4.STの何才しかが0″から1″
に立ち上る毎、又はpc7か出力信号■〕1〜P4の何
れかを出力する毎に、診断用CP U I Q aに割
り込みをかけるようにして、割込処理プログラムによっ
て割り込みがかかる毎に起動したタイマによる測定時間
データと、正常な時間データとに基づく比較を行なうよ
うにしても良い。
(ハ) ワーキングメモリ10dに格納される信号S□
〜s4.s丁の1″、=O”のデータ及びタイマIOQ
によるi11!l定時間データTxを、少なくともシー
ケンスa 4ttの1サイクル分、常に保存するように
すれば、故障発生時にその1サイクル分の保存データを
シーケンス機械の動作履歴としてCRT12に表示する
ことができる。
なお、このようにすることによって、シーケンス機械の
各動作ステップの時間及びサイクルタイムを知ることが
できる。
て、プログラマブル・シーケンスコン1へ1コーラ(1
)C)を用いた例に就で述べたが、これに限るものでは
なく5通常のラター回路であっても良い。イ11し、そ
のようにした場合、第4図の入力インターフェース回路
7dに相当するものを故障診断装置j(10側に設ける
必要がある。
(ホ) シーケンス機械としては、第2図に示したもの
に限るものではな(、とのような機械てあっても良いこ
とは勿論である。
(へ)対象とするシーケンス機械か複雑で1llj)作
ステップ数が多くなると、診断用照合メモリ1oeのメ
モリ容爪では足りなくなる恐れがあるが、そのような場
合、外部の補助記憶装置とを合せた仮想メモリシステム
とすることもできる。
なお、当然のことなから、処理能力に余イ■さえあれは
、1〕C7のシーケンス制御用CPU7aと故障診断装
[10の診断用CP IJ I Q aとの共用化を図
ることもできる。
以上説明してきたように、この発明によ4しば、シーケ
ンス機械に発生した故障を直ちに診断てきるのて、この
シーケンス機械の故障診断装置を用いれば、発生した故
障を短期間で直すことが可能になり、それによって機械
の稼動効率か向上する。
また、基本的にはシーケンス機械の各動作ステップ間の
正常な所要時間に基づく時間データさえ作成すれば良い
訳であるから、g(%’5に仕様変更のある機械でって
も充分に対応できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の(J成を示すブロック図、第2図
は、シーケンス機械の一例を示す説明図、第3図は、第
2図のシーケンス機4戊の作動シーケンスを示すタイム
チャー1−1 第4図は、この発明の一実施例を示すブロック構成図、 第5図は、第4171の診断用照合メモリ10Cに記憶
した時間データの説明図、 第6図は、第4図の診断用CPU10aの動作説明に供
するフロー図である。 1・・・リフタ 2,4・・・コンベアろ・・・キャリ
ア 5,6・・ソレノイ1−バルブ7・・・プログラマ
ブル・シーケンスコン1−ローラ(pc) 7a・・シーケンス制御用CI) U 7b・・・シーケンスプログラムメモリ7c・・人出力
バツファ 7d・・・入力インターフェース回路 7e・・・出力インターフェース回f310・・・故障
診断装置 10a・診断用C,+1 Ulob・・・診
断用プログラムメモリ 10c・・・診断用照合メモリ1 10d・・・ワーキングメモリ 10e・・・タイマ 10f・・・キーボードインターフェース10g・・・
CRTコン1〜ローラ 10h・・・人出力バツファ 11・・・キーボード 12・・・CRTLSI・・・
下降限りミツトスイッチ LS2・・・上昇限りミツトスイッチ LS3・・・後退限りミツトスイッチ LS4 ・前進限りミツI−スイッチ 第1頁の続き 0発 明 者 佐 々木 直己 座間市広野台2場内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 シーケンス機械における各動作ステップ間の正常な
    所要時間に基づく時間データを記憶した記憶手段と、前
    記シーケンス機械における実際の動作ステップの時間間
    隔を逐次d1す定する時間測定手段と、この時間inす
    定手段によってall定した前記動作ステップの時間間
    隔と、それに対応する前記記憶手段に記憶した正常な時
    間データとに基つく比較を行なって、前記シーケンス機
    械の故障の有無を診断する比鴨手段とによって(、′q
    成したことを特徴とするシーケンス機(1表の故障診1
    9’+装置行。
JP58172275A 1983-09-20 1983-09-20 シ−ケンス機械の故障診断装置 Pending JPS6065305A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58172275A JPS6065305A (ja) 1983-09-20 1983-09-20 シ−ケンス機械の故障診断装置

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JP58172275A JPS6065305A (ja) 1983-09-20 1983-09-20 シ−ケンス機械の故障診断装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62256007A (ja) * 1986-04-30 1987-11-07 Mitsubishi Electric Corp 故障診断装置
JPH02116902A (ja) * 1988-10-26 1990-05-01 Fanuc Ltd Pcの工程時間計測方式
JPH0580816A (ja) * 1991-09-19 1993-04-02 Toyota Auto Body Co Ltd ライン制御回路の評価装置
WO2007132654A1 (ja) * 2006-05-12 2007-11-22 Omron Corporation 冗長用光スイッチ

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