JPS6065305A - シ−ケンス機械の故障診断装置 - Google Patents
シ−ケンス機械の故障診断装置Info
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- JPS6065305A JPS6065305A JP58172275A JP17227583A JPS6065305A JP S6065305 A JPS6065305 A JP S6065305A JP 58172275 A JP58172275 A JP 58172275A JP 17227583 A JP17227583 A JP 17227583A JP S6065305 A JPS6065305 A JP S6065305A
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- Japan
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- sequence
- machine
- diagnosis
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- time
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
- G05B19/058—Safety, monitoring
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分」
この発明は、シーケンス機械の故障診ILIi装置に関
する。
する。
従来技術
従来、シーケンス機械におけるシリングへ)モータ等の
アクチュエータ又はリミツ1〜スイッチ等の各種検出ス
イッチなどに故障か発生した1、H,)合、保全員が機
械の状態を目視して故障の診1す「を行〆J゛うか、あ
るいはシーケンス機械を制御するシーケンス制御装置側
に機械の動作進行状態をモニタする機能があれは、その
りJ作進行状態を児で故障箇所の推定及び診断を行なう
ようにしていた。
アクチュエータ又はリミツ1〜スイッチ等の各種検出ス
イッチなどに故障か発生した1、H,)合、保全員が機
械の状態を目視して故障の診1す「を行〆J゛うか、あ
るいはシーケンス機械を制御するシーケンス制御装置側
に機械の動作進行状態をモニタする機能があれは、その
りJ作進行状態を児で故障箇所の推定及び診断を行なう
ようにしていた。
しかしながら、このような従来の診断の仕方C土、故障
の発見に時間がかかるばかりか、その故障箇所を特定す
るのに熟練を要するなどの問題かあった。
の発見に時間がかかるばかりか、その故障箇所を特定す
るのに熟練を要するなどの問題かあった。
また、一部にシーケンス制御装置側に、予想さ肛る故障
を発見診断する診断用ブロクラムを1′・めAnみ込ん
でおくことか考えられているが、これては、診断用プロ
グラムを組むのに時間及びコス1へかかかり、特に頻繁
に仕様変更のある機械には実用的でなかった。
を発見診断する診断用ブロクラムを1′・めAnみ込ん
でおくことか考えられているが、これては、診断用プロ
グラムを組むのに時間及びコス1へかかかり、特に頻繁
に仕様変更のある機械には実用的でなかった。
目 的
この発明は、上記の点に鑑みてなされたもの−Cあり、
シーケンス機1戊に発生した故障を直ちに診断でき、し
かも特定の故障専用の診断用プロクラムを組む必要のな
いシーケンス機械の故障診断装置を提供することを目的
とする。
シーケンス機1戊に発生した故障を直ちに診断でき、し
かも特定の故障専用の診断用プロクラムを組む必要のな
いシーケンス機械の故障診断装置を提供することを目的
とする。
植成
そのため、この発明によるシーケンス機械の故障診断装
置は、第1図に示すように構成されている。
置は、第1図に示すように構成されている。
すなわち、シーケンス機械Aにおける動作ステップの時
間間隔を逐次All定する時間測定手段Bと、シーケン
ス機械Aにおける各動作ステップ間の正常な所要時間に
皓づく時間データを記憶した記憶手段Cと、時間測定手
段Bによって測定した動作ステップの時間間1;ILと
、そ九に対応する記憶手段Gに記憶した正フ11°な時
間データとに基づく比較を行なうことより、シーケンス
機械Aの故障の有無を診断する比1咬手段りとからなる
。
間間隔を逐次All定する時間測定手段Bと、シーケン
ス機械Aにおける各動作ステップ間の正常な所要時間に
皓づく時間データを記憶した記憶手段Cと、時間測定手
段Bによって測定した動作ステップの時間間1;ILと
、そ九に対応する記憶手段Gに記憶した正フ11°な時
間データとに基づく比較を行なうことより、シーケンス
機械Aの故障の有無を診断する比1咬手段りとからなる
。
夫度憔
以下、この発明の実施例を図面の第2図以降を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第2図は、シーケンス機械の一例を示ず1ila ”J
月lIである。
月lIである。
、同図において、リフタ1は、コンヘア2によって矢示
方向から搬送されてきたワークWを破線1ヶ置まで持ち
上げ、キャリア3は、リフタ1によって持ち上げられた
ワークWをコンベア4−ヒにfJずようになっている。
方向から搬送されてきたワークWを破線1ヶ置まで持ち
上げ、キャリア3は、リフタ1によって持ち上げられた
ワークWをコンベア4−ヒにfJずようになっている。
なお、リフタ1及びキャリア乙は、夫々121示のよう
に3ポジション両ソレノイド伺き切換ハルツ5.6によ
って制御さAしるシリンダ等によってtl’1成され、
ソレノイドSQL、、5OL2が作動すると上昇、前進
し、ソレノイド5QL3. S。
に3ポジション両ソレノイド伺き切換ハルツ5.6によ
って制御さAしるシリンダ等によってtl’1成され、
ソレノイドSQL、、5OL2が作動すると上昇、前進
し、ソレノイド5QL3. S。
L4か作動すると下降、後退するようになっている。
また、リフタ1及びキャリア乙の作動シーケンスは、第
3図に示すように上側、前進、下降、後退のステップ順
になっている。
3図に示すように上側、前進、下降、後退のステップ順
になっている。
そして、上記のような作動シーケンスを実現するために
、下降限りミツ1〜スイツチL S 1H上y1限リミ
ツ]−スイッチLS2.後退限りミツ1へスーrツチL
S3.及び前進限りミツ1〜スイツチLS4を設けてい
る。
、下降限りミツ1〜スイツチL S 1H上y1限リミ
ツ]−スイッチLS2.後退限りミツ1へスーrツチL
S3.及び前進限りミツ1〜スイツチLS4を設けてい
る。
次に第4図を参照して、7はプログラマブル・シーケン
スコントローラ(p c)であり、シーケンス制御用c
pu7aと、シーケンスプログラムメモリ7bと、人出
力バツファ7Cと、入力インターフェース回路7d及び
出力インターフェース回路7e等とからなる。
スコントローラ(p c)であり、シーケンス制御用c
pu7aと、シーケンスプログラムメモリ7bと、人出
力バツファ7Cと、入力インターフェース回路7d及び
出力インターフェース回路7e等とからなる。
入力インターフェース回路7dには、第2図のりミツ1
〜スイッチLS、〜I−84を入力用電源8と共に図示
のように結線してあり、例えばリミツ1−スイッチLS
I〜LS4が夫々オフの時には゛o″、オンの時には1
″の入力信号81〜S4が人出力バツファ7cに入力保
持されるようになっている。
〜スイッチLS、〜I−84を入力用電源8と共に図示
のように結線してあり、例えばリミツ1−スイッチLS
I〜LS4が夫々オフの時には゛o″、オンの時には1
″の入力信号81〜S4が人出力バツファ7cに入力保
持されるようになっている。
なお、この入出力バッファ7cには、例えは第2図のコ
ンベア2からリフタ1にワークWか載せられる毎に1″
となる起’JOJ信号STも入力インターフェース回路
7dを介して入力されて保持される。
ンベア2からリフタ1にワークWか載せられる毎に1″
となる起’JOJ信号STも入力インターフェース回路
7dを介して入力されて保持される。
また、こ、h等の入力イa号S 、 −s、、 、 S
’I’か第2図のシーケンス機械における各部のl+
jlll状jルを示している。
’I’か第2図のシーケンス機械における各部のl+
jlll状jルを示している。
出力インターフェース回路7cには、第2図のソレノイ
ドバルブ5,6の各ソレノイ1〜801−71〜S O
L 4を出力用電源9と共に図示のようにX、′。
ドバルブ5,6の各ソレノイ1〜801−71〜S O
L 4を出力用電源9と共に図示のようにX、′。
線してあり、例えば入出力バッファ7しから出力される
出力信号1) 1〜P4か夫々゛0゛′の時には。
出力信号1) 1〜P4か夫々゛0゛′の時には。
ソレノイI−: S OL l〜SO,L4を全て作9
1)Jさぜず、出力信号P1〜p 4の何Jしかが1″
になると、その1″になった出力信号に対応するソL/
ノイドを作動さぜるようになっている。
1)Jさぜず、出力信号P1〜p 4の何Jしかが1″
になると、その1″になった出力信号に対応するソL/
ノイドを作動さぜるようになっている。
シーケンス制御用CPU7aは、シーケンスブロクラム
メモリ7bにt8納しであるプログラムに基づいて、例
えば次のような処理を行ろ゛う。
メモリ7bにt8納しであるプログラムに基づいて、例
えば次のような処理を行ろ゛う。
すなわち、入出力バッファ7Cに入力さAしる1n号S
1〜S4.STが’1.O,l、0.0”の時には、人
出力バツファ7Cを介して出力する信号P1〜P4を全
て0″にし、以下5I−84゜STが’l、0,1,0
. 1=になった時点でのみ、信号P1のみを] ”に
、”0,1.]、0゜0″なった時点でのみ、信号■〕
2のみを1′′に、=O,]、0,1.0”になった時
点でのみ、信号P3のみを1″に、”1.O,O,]、
O”になった時点でのみ、ja号P4のみを1″にする
。
1〜S4.STが’1.O,l、0.0”の時には、人
出力バツファ7Cを介して出力する信号P1〜P4を全
て0″にし、以下5I−84゜STが’l、0,1,0
. 1=になった時点でのみ、信号P1のみを] ”に
、”0,1.]、0゜0″なった時点でのみ、信号■〕
2のみを1′′に、=O,]、0,1.0”になった時
点でのみ、信号P3のみを1″に、”1.O,O,]、
O”になった時点でのみ、ja号P4のみを1″にする
。
このような処理を行なうことによって、第2図のシーケ
ンス機(戎を第6図に示す作動シーケンスどおりに籟t
り返し動かずことかできる。
ンス機(戎を第6図に示す作動シーケンスどおりに籟t
り返し動かずことかできる。
なお、上貫己の処理内容を表にまとめると、第1表のよ
うになる。
うになる。
第1表
故障診断製置10は、診断用CP U I Q aと、
診断用プログラムメモリ10bと、後述する参断用デー
タを記憶した診断用照合メモリtOCど、ワーキンクメ
モリ10dと、時間測定手段であるタイマ10e、 キ
ーボー1−(Iぐ/[3)インターフェース10f、及
びCRTコントローラ10g等の周辺回路を接続し、且
つPO2の入力インターフェース回路7dから信号S1
〜s、、、s丁を取り込むと共に、PO2のシーケンス
制御用CPU7aの割込端子に割込信号INTを出力す
る入出力ハツファ1011等とからなり、に/Bインタ
ーフェース10fには、後述するデータ入力用のキーホ
ー1〜11を、CRTコン1−ローラlOgには、人力
データ及び診η「結果表示用のcRT12を夫々接続し
ている。
診断用プログラムメモリ10bと、後述する参断用デー
タを記憶した診断用照合メモリtOCど、ワーキンクメ
モリ10dと、時間測定手段であるタイマ10e、 キ
ーボー1−(Iぐ/[3)インターフェース10f、及
びCRTコントローラ10g等の周辺回路を接続し、且
つPO2の入力インターフェース回路7dから信号S1
〜s、、、s丁を取り込むと共に、PO2のシーケンス
制御用CPU7aの割込端子に割込信号INTを出力す
る入出力ハツファ1011等とからなり、に/Bインタ
ーフェース10fには、後述するデータ入力用のキーホ
ー1〜11を、CRTコン1−ローラlOgには、人力
データ及び診η「結果表示用のcRT12を夫々接続し
ている。
そして、この故障診断装置10の診1グi用CP Ul
oaは、診断用ブロクラムメモリ10bに格納したプロ
グラムに基づいて、第2図に示したシーケンス機械の故
障診断を行なう訳であるが、その故障診断を行なわせる
前に1診断用前合メモリ10cに例えば次のようなデー
タを書き込んでおく。
oaは、診断用ブロクラムメモリ10bに格納したプロ
グラムに基づいて、第2図に示したシーケンス機械の故
障診断を行なう訳であるが、その故障診断を行なわせる
前に1診断用前合メモリ10cに例えば次のようなデー
タを書き込んでおく。
すなわち、診断用照合メモリ10CのアドレスAI 、
A3.A5 HA 7 g A 9には、第2図のシー
ケンス機1成の1サイクルにおけるイニシャル時を含む
各動作ステップ開始時の信号S1〜S4+STの状態を
示す1 . ” O″のデータを、アドレスA2.A4
.AG、AQには、各動作ステップ間の正常な所要時間
に基づく時間データを、夫々キーボード11を1娘作す
ることによって書き込んでおく。
A3.A5 HA 7 g A 9には、第2図のシー
ケンス機1成の1サイクルにおけるイニシャル時を含む
各動作ステップ開始時の信号S1〜S4+STの状態を
示す1 . ” O″のデータを、アドレスA2.A4
.AG、AQには、各動作ステップ間の正常な所要時間
に基づく時間データを、夫々キーボード11を1娘作す
ることによって書き込んでおく。
なお、具体的には、例えば第2表に示すようなデータと
なる。
なる。
第2表
但し、第2表において、アドレスAHHA3 。
As 、A? 、A9のデータは、夫々上昇、前進。
下降、後退の各ステップ開始時及びイニシャル時の信号
S1〜S4.STに対応するデータてあり、ア1−レス
A 2 、 A4 、 A6 、 Agのデータは、第
5図に示すような上昇、前進、下降、後退に要する正常
な所要の時間T1〜TIを示す数値データである。
S1〜S4.STに対応するデータてあり、ア1−レス
A 2 、 A4 、 A6 、 Agのデータは、第
5図に示すような上昇、前進、下降、後退に要する正常
な所要の時間T1〜TIを示す数値データである。
なお、第2表に示すデータにおいて、信号5l−34,
5TIC対応ずル=1’ 、−0” +7)データは、
例えばPO2側のシーケンスデータを利用し。
5TIC対応ずル=1’ 、−0” +7)データは、
例えばPO2側のシーケンスデータを利用し。
時間データは、シーケンス機械を予め実際に動かすこと
によって各部の移動所要時間を計)則するが、機械の各
部の移動速度が解ってい肛ばn1算によって得るものと
する。
によって各部の移動所要時間を計)則するが、機械の各
部の移動速度が解ってい肛ばn1算によって得るものと
する。
次に、第6図のフロー図をも参照しながら、診断用CP
U I Q aの動作を説明する。
U I Q aの動作を説明する。
5TEP 1 診断用照合メモリ10cの読出ア1くレ
スAxを先頭アドレスA1に設定すると共に、後述する
タイマフラッグT/Fを0″にリセットする。
スAxを先頭アドレスA1に設定すると共に、後述する
タイマフラッグT/Fを0″にリセットする。
5TEP 2 人出力バッファ10hを介してシーケン
ス機械の動作状態を示す信号S1〜S4+STの取り込
みに行なう。
ス機械の動作状態を示す信号S1〜S4+STの取り込
みに行なう。
ST[EP 3 5TEP 2て取り込んたデータをワ
ーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する。
ーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する。
5TEP 4 診断用照合メモリIOCから読出ア1く
レスAxのデータの読み出しを行なう。
レスAxのデータの読み出しを行なう。
なお、このステップの最初の実行時は、アドレスA1の
’10101”なるデータか読み出される。
’10101”なるデータか読み出される。
5TEP 5 ワーキングメモリ10dに格納したシー
ケンス機械の状態を示すデータと、診断用照合メモリ1
0cから読み出したデータとの比較を行なう。
ケンス機械の状態を示すデータと、診断用照合メモリ1
0cから読み出したデータとの比較を行なう。
S1’EP 6 5TEEP 5での比較結果をチェッ
クし、比較した両者が一致していなければ5TIEP
7に進み、一致していれはSTEM’ 8に進む。
クし、比較した両者が一致していなければ5TIEP
7に進み、一致していれはSTEM’ 8に進む。
5TEP 7 予め定めた一定時間待機した後、5TE
P 2に戻って5TEP 2〜6までの処理を繰り返す
。
P 2に戻って5TEP 2〜6までの処理を繰り返す
。
5TEP 8 タイマ10Bの作動状態(” 1 ”
)及び不作動状態(”0″)を示すタイマフラッグT/
I?が′I″にセラ1−さイシているか否かをチェック
し、セラ1へされていなけ]しは5TEP 9に進み、
セラ1−されていればSi’lj門;(に進む。
)及び不作動状態(”0″)を示すタイマフラッグT/
I?が′I″にセラ1−さイシているか否かをチェック
し、セラ1へされていなけ]しは5TEP 9に進み、
セラ1−されていればSi’lj門;(に進む。
5TIEP 9 読出アドレスAxがA、と等しくなっ
たか否かをチェックし、等しければSi’El’lOに
進み、等しくなけtLlfsT[EPl]に進む。
たか否かをチェックし、等しければSi’El’lOに
進み、等しくなけtLlfsT[EPl]に進む。
5THPIO読出アドレスAxをA1にした後、S ’
l’ +4112に戻る。
l’ +4112に戻る。
なお、このステップは、読出アドレスΔXを〜Ag 、
Al−Ag 、A1−とり°イクリツクに変化させるた
めのものである。
Al−Ag 、A1−とり°イクリツクに変化させるた
めのものである。
5TEr’ll 人出力バツファ1011を介してタイ
マ起動信号SSをタイマ10eに出力して、タイマ10
eを起動すると共に、タイマフラッグT / Fをl″
にセラ1〜する。
マ起動信号SSをタイマ10eに出力して、タイマ10
eを起動すると共に、タイマフラッグT / Fをl″
にセラ1〜する。
S1’EP12 診断用照合メモリ10cの読出アドレ
スAxを+2インクリメントシた後、S’l’rEI’
2に戻る。
スAxを+2インクリメントシた後、S’l’rEI’
2に戻る。
なお、このステップは、読出アドレスハXをA1からA
3.As 、A? 、As (第2表参照)と変化させ
るためのものである。
3.As 、A? 、As (第2表参照)と変化させ
るためのものである。
5TEP13 タイマ10cの時間データTxを人出力
バツファ10hを介して取り込む。
バツファ10hを介して取り込む。
5TEP14 5TEP13で取り込んだ時間データT
xをワーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する
。
xをワーキングメモリ10dの所定アドレスに格納する
。
5TEP15 人出力バツファ10hを介してタイマ1
0eにリセット信号SRを出力して、タイマ10eの時
間データTxをrOJにリセツl−すると共に、タイマ
フラッグT/Fも′0″にリセツI−する。。
0eにリセット信号SRを出力して、タイマ10eの時
間データTxをrOJにリセツl−すると共に、タイマ
フラッグT/Fも′0″にリセツI−する。。
5TEP1G 診断用照合メモリ10dの読出アドレス
Axを(−1)デククメン1−シたアドレスからデータ
を読み出す。
Axを(−1)デククメン1−シたアドレスからデータ
を読み出す。
なお、このステップが実行されても読出アドレスカウン
タの値AXは変化しないものとする。
タの値AXは変化しないものとする。
また、このステップを実行することによって、アドレス
A2 、A4 、As 、Anの時間データ1゛1〜T
4を1煩に読み出ずことができる。
A2 、A4 、As 、Anの時間データ1゛1〜T
4を1煩に読み出ずことができる。
5TEP17 ワーキングメモリ10dに(a納した時
間データー1’ xと、診断用照合メモリ10(から読
み出した時間データとにWづく比+lr)を次のような
仕様で行なう。
間データー1’ xと、診断用照合メモリ10(から読
み出した時間データとにWづく比+lr)を次のような
仕様で行なう。
すなわち、診断用照合メモリ1ocがら読み出した時間
データをTy(実際には′1′l〜T4の何りかのデー
タ)とすると、(テ;ξ械各部の正常時の進み遅れによ
る誤差時間の最大値τ等を考慮して、1゛y−τ≦′]
゛X≦Ty+τなる比リウを行なって、測定によって得
た時間データ゛1′Xが上記の許容範囲に入っているか
否かの診断を行なう。
データをTy(実際には′1′l〜T4の何りかのデー
タ)とすると、(テ;ξ械各部の正常時の進み遅れによ
る誤差時間の最大値τ等を考慮して、1゛y−τ≦′]
゛X≦Ty+τなる比リウを行なって、測定によって得
た時間データ゛1′Xが上記の許容範囲に入っているか
否かの診断を行なう。
なお、τなる数値データは、予めギーボード11によっ
て診断用照合メモリ10 Cの所定アドレスに格納して
おくものとする。
て診断用照合メモリ10 Cの所定アドレスに格納して
おくものとする。
5TEP18 S1’1EP17での比較結果をチェッ
クし、時間データTxが上記許容範囲に入っていて正常
と診断されていればST[EP 9に戻り、時間間デー
タTxが上記許容範囲を越えてし)で故障有りと診Iす
iさ肛ていればS1’EP19に進も・。
クし、時間データTxが上記許容範囲に入っていて正常
と診断されていればST[EP 9に戻り、時間間デー
タTxが上記許容範囲を越えてし)で故障有りと診Iす
iさ肛ていればS1’EP19に進も・。
5TIEI319 発生している故障に苅応する診断処
理を行なう。
理を行なう。
すなわち、先ず人出力バツファ1011を介して非常停
止用の割込信号I N T t−P C7におけるシー
ケンス制御用cpuyaの割込端子に出力して割り込み
をか(づ、そ汎によって1〕C7及び第2図のシーケン
ス機械を非°):(停止させる。
止用の割込信号I N T t−P C7におけるシー
ケンス制御用cpuyaの割込端子に出力して割り込み
をか(づ、そ汎によって1〕C7及び第2図のシーケン
ス機械を非°):(停止させる。
なお、PO2の説明では省略したが、シーケンスプログ
ラムメモリ7bには、非常停止用の割込処理プログラム
をも格納しであるものとする。
ラムメモリ7bには、非常停止用の割込処理プログラム
をも格納しであるものとする。
次に、シーケンス’6:’i 4ruの何肛の動作ステ
ップで異常が発生しているかをチェックし、そのチェッ
クした動作ステップで予想される故障箇所のデータを例
えば診断用プログラムメモリ10bからンIgみ、出す
。
ップで異常が発生しているかをチェックし、そのチェッ
クした動作ステップで予想される故障箇所のデータを例
えば診断用プログラムメモリ10bからンIgみ、出す
。
なお、この予想される故障箇所のデータとは、例えば」
二昇ステップでの異’I:i”:I・らリミツ1−スイ
ッチLS2やツレノーrドSO+、1等を表わすデータ
である。
二昇ステップでの異’I:i”:I・らリミツ1−スイ
ッチLS2やツレノーrドSO+、1等を表わすデータ
である。
5TEP20 5TEP19でバ売み出したデータに基
づいj’= l:’;断結果の表示を行なって処理を終
了する。
づいj’= l:’;断結果の表示を行なって処理を終
了する。
なお、第6図のフロー図では、正′j:(時にIJエン
ドレスになっているが、実際には1〕C7がPi餉1x
すれば処理を終了するようになっている。
ドレスになっているが、実際には1〕C7がPi餉1x
すれば処理を終了するようになっている。
そして、診断用CP U 10 aは上記の動作をt7
+り返すので、第2図のシーケンス機械にお()る1サ
イクル毎の各動作ステップ間の所要+1.7間が正″)
:(であったか否かを監視てき、それによってシーケン
ス機械における各部の故障の有無をり−?ルタ、・(ム
で診断できる。
+り返すので、第2図のシーケンス機械にお()る1サ
イクル毎の各動作ステップ間の所要+1.7間が正″)
:(であったか否かを監視てき、それによってシーケン
ス機械における各部の故障の有無をり−?ルタ、・(ム
で診断できる。
なお、以下に上記実施例の変更例を列記する、。
(イ)」二部実施例では、シーケンス機械がイニシャル
状態に戻った時点から起動信号S′rが人力されるまで
の時間をチェックしていないが、この111i間をもチ
ェックするようにしても良い。
状態に戻った時点から起動信号S′rが人力されるまで
の時間をチェックしていないが、この111i間をもチ
ェックするようにしても良い。
(ロ)上記実施例では、故障診断装置10が適時自発的
に信号S1〜S4.STを取り込んで診断するようにし
たか、信号S1〜S4.STの何才しかが0″から1″
に立ち上る毎、又はpc7か出力信号■〕1〜P4の何
れかを出力する毎に、診断用CP U I Q aに割
り込みをかけるようにして、割込処理プログラムによっ
て割り込みがかかる毎に起動したタイマによる測定時間
データと、正常な時間データとに基づく比較を行なうよ
うにしても良い。
に信号S1〜S4.STを取り込んで診断するようにし
たか、信号S1〜S4.STの何才しかが0″から1″
に立ち上る毎、又はpc7か出力信号■〕1〜P4の何
れかを出力する毎に、診断用CP U I Q aに割
り込みをかけるようにして、割込処理プログラムによっ
て割り込みがかかる毎に起動したタイマによる測定時間
データと、正常な時間データとに基づく比較を行なうよ
うにしても良い。
(ハ) ワーキングメモリ10dに格納される信号S□
〜s4.s丁の1″、=O”のデータ及びタイマIOQ
によるi11!l定時間データTxを、少なくともシー
ケンスa 4ttの1サイクル分、常に保存するように
すれば、故障発生時にその1サイクル分の保存データを
シーケンス機械の動作履歴としてCRT12に表示する
ことができる。
〜s4.s丁の1″、=O”のデータ及びタイマIOQ
によるi11!l定時間データTxを、少なくともシー
ケンスa 4ttの1サイクル分、常に保存するように
すれば、故障発生時にその1サイクル分の保存データを
シーケンス機械の動作履歴としてCRT12に表示する
ことができる。
なお、このようにすることによって、シーケンス機械の
各動作ステップの時間及びサイクルタイムを知ることが
できる。
各動作ステップの時間及びサイクルタイムを知ることが
できる。
て、プログラマブル・シーケンスコン1へ1コーラ(1
)C)を用いた例に就で述べたが、これに限るものでは
なく5通常のラター回路であっても良い。イ11し、そ
のようにした場合、第4図の入力インターフェース回路
7dに相当するものを故障診断装置j(10側に設ける
必要がある。
)C)を用いた例に就で述べたが、これに限るものでは
なく5通常のラター回路であっても良い。イ11し、そ
のようにした場合、第4図の入力インターフェース回路
7dに相当するものを故障診断装置j(10側に設ける
必要がある。
(ホ) シーケンス機械としては、第2図に示したもの
に限るものではな(、とのような機械てあっても良いこ
とは勿論である。
に限るものではな(、とのような機械てあっても良いこ
とは勿論である。
(へ)対象とするシーケンス機械か複雑で1llj)作
ステップ数が多くなると、診断用照合メモリ1oeのメ
モリ容爪では足りなくなる恐れがあるが、そのような場
合、外部の補助記憶装置とを合せた仮想メモリシステム
とすることもできる。
ステップ数が多くなると、診断用照合メモリ1oeのメ
モリ容爪では足りなくなる恐れがあるが、そのような場
合、外部の補助記憶装置とを合せた仮想メモリシステム
とすることもできる。
なお、当然のことなから、処理能力に余イ■さえあれは
、1〕C7のシーケンス制御用CPU7aと故障診断装
[10の診断用CP IJ I Q aとの共用化を図
ることもできる。
、1〕C7のシーケンス制御用CPU7aと故障診断装
[10の診断用CP IJ I Q aとの共用化を図
ることもできる。
以上説明してきたように、この発明によ4しば、シーケ
ンス機械に発生した故障を直ちに診断てきるのて、この
シーケンス機械の故障診断装置を用いれば、発生した故
障を短期間で直すことが可能になり、それによって機械
の稼動効率か向上する。
ンス機械に発生した故障を直ちに診断てきるのて、この
シーケンス機械の故障診断装置を用いれば、発生した故
障を短期間で直すことが可能になり、それによって機械
の稼動効率か向上する。
また、基本的にはシーケンス機械の各動作ステップ間の
正常な所要時間に基づく時間データさえ作成すれば良い
訳であるから、g(%’5に仕様変更のある機械でって
も充分に対応できる。
正常な所要時間に基づく時間データさえ作成すれば良い
訳であるから、g(%’5に仕様変更のある機械でって
も充分に対応できる。
第1図は、この発明の(J成を示すブロック図、第2図
は、シーケンス機械の一例を示す説明図、第3図は、第
2図のシーケンス機4戊の作動シーケンスを示すタイム
チャー1−1 第4図は、この発明の一実施例を示すブロック構成図、 第5図は、第4171の診断用照合メモリ10Cに記憶
した時間データの説明図、 第6図は、第4図の診断用CPU10aの動作説明に供
するフロー図である。 1・・・リフタ 2,4・・・コンベアろ・・・キャリ
ア 5,6・・ソレノイ1−バルブ7・・・プログラマ
ブル・シーケンスコン1−ローラ(pc) 7a・・シーケンス制御用CI) U 7b・・・シーケンスプログラムメモリ7c・・人出力
バツファ 7d・・・入力インターフェース回路 7e・・・出力インターフェース回f310・・・故障
診断装置 10a・診断用C,+1 Ulob・・・診
断用プログラムメモリ 10c・・・診断用照合メモリ1 10d・・・ワーキングメモリ 10e・・・タイマ 10f・・・キーボードインターフェース10g・・・
CRTコン1〜ローラ 10h・・・人出力バツファ 11・・・キーボード 12・・・CRTLSI・・・
下降限りミツトスイッチ LS2・・・上昇限りミツトスイッチ LS3・・・後退限りミツトスイッチ LS4 ・前進限りミツI−スイッチ 第1頁の続き 0発 明 者 佐 々木 直己 座間市広野台2場内
は、シーケンス機械の一例を示す説明図、第3図は、第
2図のシーケンス機4戊の作動シーケンスを示すタイム
チャー1−1 第4図は、この発明の一実施例を示すブロック構成図、 第5図は、第4171の診断用照合メモリ10Cに記憶
した時間データの説明図、 第6図は、第4図の診断用CPU10aの動作説明に供
するフロー図である。 1・・・リフタ 2,4・・・コンベアろ・・・キャリ
ア 5,6・・ソレノイ1−バルブ7・・・プログラマ
ブル・シーケンスコン1−ローラ(pc) 7a・・シーケンス制御用CI) U 7b・・・シーケンスプログラムメモリ7c・・人出力
バツファ 7d・・・入力インターフェース回路 7e・・・出力インターフェース回f310・・・故障
診断装置 10a・診断用C,+1 Ulob・・・診
断用プログラムメモリ 10c・・・診断用照合メモリ1 10d・・・ワーキングメモリ 10e・・・タイマ 10f・・・キーボードインターフェース10g・・・
CRTコン1〜ローラ 10h・・・人出力バツファ 11・・・キーボード 12・・・CRTLSI・・・
下降限りミツトスイッチ LS2・・・上昇限りミツトスイッチ LS3・・・後退限りミツトスイッチ LS4 ・前進限りミツI−スイッチ 第1頁の続き 0発 明 者 佐 々木 直己 座間市広野台2場内
Claims (1)
- 1 シーケンス機械における各動作ステップ間の正常な
所要時間に基づく時間データを記憶した記憶手段と、前
記シーケンス機械における実際の動作ステップの時間間
隔を逐次d1す定する時間測定手段と、この時間inす
定手段によってall定した前記動作ステップの時間間
隔と、それに対応する前記記憶手段に記憶した正常な時
間データとに基つく比較を行なって、前記シーケンス機
械の故障の有無を診断する比鴨手段とによって(、′q
成したことを特徴とするシーケンス機(1表の故障診1
9’+装置行。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58172275A JPS6065305A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | シ−ケンス機械の故障診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58172275A JPS6065305A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | シ−ケンス機械の故障診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6065305A true JPS6065305A (ja) | 1985-04-15 |
Family
ID=15938890
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58172275A Pending JPS6065305A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | シ−ケンス機械の故障診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6065305A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62256007A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 故障診断装置 |
JPH02116902A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-05-01 | Fanuc Ltd | Pcの工程時間計測方式 |
JPH0580816A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Toyota Auto Body Co Ltd | ライン制御回路の評価装置 |
WO2007132654A1 (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Omron Corporation | 冗長用光スイッチ |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP58172275A patent/JPS6065305A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62256007A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 故障診断装置 |
JPH02116902A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-05-01 | Fanuc Ltd | Pcの工程時間計測方式 |
JPH0580816A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Toyota Auto Body Co Ltd | ライン制御回路の評価装置 |
WO2007132654A1 (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Omron Corporation | 冗長用光スイッチ |
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