JPS6057904A - 薄膜サ−ミスタ - Google Patents

薄膜サ−ミスタ

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Publication number
JPS6057904A
JPS6057904A JP16697883A JP16697883A JPS6057904A JP S6057904 A JPS6057904 A JP S6057904A JP 16697883 A JP16697883 A JP 16697883A JP 16697883 A JP16697883 A JP 16697883A JP S6057904 A JPS6057904 A JP S6057904A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
temperature
thermistor
insulating substrate
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP16697883A
Other languages
English (en)
Inventor
彪 長井
一志 山本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、温度を検出すべき対象物と機械的に接触して
温度を検出するサーミスタ、たとえば鍋物調理をする際
鍋底を通して鍋内部の調理物の温度を検出するサーミス
タに関するものである。
2ベーミ゛ 従来例の構成とその問題点 従来、この種温度検出は第1図に示す如く鍋底1に熱電
対2を機械的に接触させ、前記熱電対2の熱起電力を検
出することによってなされていた。
この時熱電対2を鍋底1に機械的に強固に接触せしめる
為に熱電対2は支持容器3に固定されていた。しかじ熱
起′市力は通学生さな値しか得られないという欠点があ
った。たとえばアルメル−クロメル熱電対は耐熱性(空
気中500〜1oootr: )に優れまた安価である
が、〜4011■/℃の起電力しか発生しない。銅−コ
ンスタンタン熱電対、白金−白金・ロジウム熱電対もそ
の熱起電力は(30〜60 ) pv/ ℃l、か得ら
れないのみならず、耐熱性が小さい(銅−コンスタンク
ン熱電対)、高価である(白金−白金11ジウム熱電対
〕などの欠点があった。その他種々の熱電対が存在する
が、いずれも−J−記の如き欠点を有していた。」−記
の如く小さな熱起゛市力を電気的に検出して、熱源の発
熱隈を制φ11する場合電気的に大きな増]1】をしな
ければならないので価格が高くなる。複雑な電気回路3
ベーミ゛ が必要になるなどの欠点も派生した。
他方」−記熱電対に代ってサーミスタを用いて温度検出
をする場合、抵抗値の温度に対する変化率は(1〜7%
/℃)の大きな値を得られる。従って複雑な電気回路を
必要とせず、また低価格になるなどの長所を有する。こ
の場合サーミスタ素子はできるだけ小さくして、熱容量
を小さくしたものが選ばれる。これは小型化により熱応
答性を速くできるからである。この様な小型のサーミス
タ素子には、FA 、 Ni 、 Co 、 Mnなど
の複合酸化物焼結体を感温抵抗体に用いたビード型サー
ミスタ素子、あるいは」−記複合酸化物、Ge 、 S
i 、 SiCなどの薄膜を感温抵抗体に用いた薄膜サ
ーミスタ素子がある。しかしビード型サーミスタ素子は
、通常、球形もしくは回転楕円体に類似した形状を有す
るので、支持容器3にこのサーミスタ素子全固定しても
熱抵抗が大きくなるという欠点があった。
すなわち、ザーミスタ素子自身の熱容量は小さくても、
その複雑な形状のために支持容器3との接続部での熱抵
抗を小きくすることが困難であり、この結果熱応答性が
遅くなるという欠点があった。
他方、薄膜サーミスタ素子は第2図に示す如く支持容器
3とロウ付接続できるので、高速応答性が得られるとい
う利へかあった。しかしこの場合次のような欠点も同時
に生じていた。すなわち、一般的な薄膜サーミスタ素子
は通常、アルミなどの平板状絶縁基板4の一方の表面に
電極膜5および前述した薄膜感温抵抗体膜6を形成し、
更にリード線7を電極膜5に接続して構成されるが、こ
のままでは薄膜サーミスタ素子を支持容器3(通常、ス
テンレス鋼などの耐熱金属で構成される)にロウ材でき
ないので、絶縁基板4の他の表面にW、Moなどのメタ
ライズ膜8を形成して支持容器3とロウ材層9を介して
ロウ付接続されていた。
しかし、W 、 Moなどの金属は、高融点を有し、ま
た酸化され易いので、メタライズ膜8は通常、H2など
を含む還元性雰囲気中で1,400℃以上の高温下で形
成される。このため、製造工程が複雑で、特別な設備を
必要とするのみならず高価格になるという欠点があった
。また電極膜5は耐熱性5ベ−ミ゛ の優れた厚膜電極膜がよく用いられるが、厚膜電極膜は
還元性雰囲気中では劣化し易く、また耐熱性も空気中で
1,000℃以下であるので、厚膜電極膜はメタライズ
膜の形成工程に適合せず、また逆に、メタライズ膜も厚
膜電極膜の形成工程(通常、空気中で600〜1,00
0℃の高温下で焼成する)に適合しない。従って、第2
図に示した構成では、電極膜5にもメタライズ膜を用い
なければならない、このため、高価格になるのみならず
、電極膜5にリード線7を接続する際、メタライズ膜は
高融点であるので、通常よく用いられる溶接接続が田畑
になるという欠点もあった。
発明の目的 本発明はこれら従来の欠点を解消した薄膜サーミスタを
提供するものである。
発明の構成 本発明の薄膜サーミスタは、平板状セラミック絶縁基板
と、この絶縁基板の一方の表面に形成された厚膜電極膜
および感温抵抗体膜と、この絶縁基板の他の表面に真空
蒸着法またはスパッタ法に6ページ より形成されたクロム膜とタングステン膜またはモリブ
デン膜とをこの順序で重ねた積層膜と、この積層膜に接
着された[1ウイAA方と、このロウイ:A層に接着さ
れた支持容器とから成る。
通常、セラミック絶縁基板とロウ4Jとは互いに濡れ合
わない。tなわち、化学的な結合力は両者の間にほとん
ど存在しない。このためセラミック絶縁基板のロウ付接
続は困難であった。しかし、本発明の薄膜サーミスタ素
子は、他の表面にクロム膜トタンゲステン11りまたは
モリブデン膜とをこの順序で屯ねた積層膜を真空蒸着法
またはスパッタ法により形成しているので、ロウ材はタ
ングステン膜またはモリブデン膜とよく濡れ合う。した
がって、薄11タサーミスタ素子は支持容器にロウ付接
続される。
実施例の説明 一実施例を第3図に示す。平板状士ラミック絶縁基板に
アルミナ基板4を用い、アルミナ基板4の一方の表面1
cAu−Pt厚膜電極膜5とSiC感温抵抗体ヌパッタ
膜6とを形成した。こののちア7ページ ルミナ基板4の他の表面に真空蒸着法、あるいはスパッ
タ法を用いて、クロム膜10aとタングステン膜iob
とをこの順序で重ねた積層膜を形成した。真空蒸着法の
場合、1O−6torr以下の真空中で、クロムとタン
グヌテンとを順次蒸発させて積層膜を形成するが、この
とき薄膜サーミスタ素子はM’4500℃以下に加熱さ
れる程度であるので、厚膜電極膜5およびSiC感温抵
抗体膜6は全く有害な作用を受けない。また、スパッタ
法の場合にも、10−1−10−3torrの真空l】
で処理される以外はぼ真空蒸着と同様であるので、厚膜
電極膜5およびSiC感温抵抗体膜6は全く有害な作用
を受けない。これらのことから、本発明の薄膜サーミス
タは、厚膜電極膜の形成工程に適合できることが分る。
このようにして積層膜ioi形成したのち、ステンレス
鋼支持谷器3に薄膜サーミスタ素子を銀−銅共晶銀ロウ
材層9でロウ付接続した。このようにして形成したサー
ミスタの90%応答時間を測定した。90%応答時間は
、最初T1℃に保たれた第11ン団”a trrの温度
が突然T2℃に変化したとキ、ン専膜ザーミスタチッブ
の温度がT1十0.9(T2−T1)ill:になるに
要する時間で、T1−室温、T2−〜100℃で測定し
た。この結果、90%応答時間は3〜5秒で、第2図構
成の場合とほぼ同じ高速応答II′1をボした。またア
ルミナ基4の支持容器3に対する接着強度は100〜5
00 ”I/ytuMであシ、充分実用に耐える強度を
示した。さらに、空気中350℃で1000時間放置し
たとき、空気中350℃←・室温水中の熱衝撃試験を1
000サイクル行っても、ロウ付接続部の機械的劣化は
観察されず、また熱応答性も殆んど変化しなかった。
これらの試験結果は、ロウ付接続が極めて安定で、かつ
強固であることを示すのみならずS:C感温抵抗体膜6
が鍋物調理に必要な優れた耐熱性を有することも同時に
示す。
なお、タングステン膜tabに代りモリブデン膜を月1
いても同様の結果を得た。
発明の効果 本発明の薄膜サーミスタによれば、従来と同様9ページ の高速応答性を保持しつつ、次のような効果が得られる
(1)セラミック絶縁基板の他の表面に真空蒸着法また
はスパッタ法により積層膜を形成しているので、厚膜電
極膜が使用できる。
(2) メタライズ電極膜に比べ厚膜電極膜の融点は低
いので、リード線の溶接接続が容易になシ、かつ接続の
信頼性も大きい。
(3厚膜電極膜は空気中で600〜1,000℃の高温
下で焼成して形成されるので、還元雰囲気下で1,40
0℃以上の高温下での焼成が必要なメタライズ電極膜に
比べ、厚膜電極膜の形成は容易であり、特殊な設備も必
要としない。従って、低価格になる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は従来の構成を示す断面図、第3図は本
発明の一実施例の薄膜サーミスタの構成を示す断面図で
ある。 3・・・・・・支持容器、4・・・・・・セラミック絶
縁基板、5・・・・・・電極膜、6・・・・・・感温抵
抗体膜、7・・・・・・ソー10ベージ ドl、9−==−ロウイltm 、1o a 、、、 
、、、クロム膜、’10b・・・・・・タングステン膜
またはモリブデン膜。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)平板状士ラミック絶縁基板と、この絶縁基板の一
    方の表面に形成された厚膜電極膜および感温抵抗体膜と
    、この絶縁基板の他の表面に真空蒸着法またはスパッタ
    法によシ形成されたクロム膜とタングステン膜またはモ
    リブデン膜とをこの順で重ねた積層膜と、この積層膜に
    接着されたロウ材層と、このロウ材層に接着された支持
    容器とから成る薄膜サーミスタ。
  2. (2)感温抵抗体膜がSiCスパッタ膜である特許請求
    の範囲第1項記載省膜す−ミヌタ。
JP16697883A 1983-09-09 1983-09-09 薄膜サ−ミスタ Pending JPS6057904A (ja)

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JPS6057904A true JPS6057904A (ja) 1985-04-03

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