JPS605557A - フオトセンサ - Google Patents
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- JPS605557A JPS605557A JP58112924A JP11292483A JPS605557A JP S605557 A JPS605557 A JP S605557A JP 58112924 A JP58112924 A JP 58112924A JP 11292483 A JP11292483 A JP 11292483A JP S605557 A JPS605557 A JP S605557A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔]皮9トJ分野〕
本発明は、ファクシミリ送受信機や文字読み収り装置等
の広汎な]II!」像情報処理用光電変換装置に用いら
れるフォトセンサに関する。
の広汎な]II!」像情報処理用光電変換装置に用いら
れるフォトセンサに関する。
従来一般に用いられてきた結晶シリコンを用いた1次元
のホトダイオード型長尺フォトセンサは、作製できるL
ii結晶の大きさ及び加]二伎術の制限からそのアレー
の長さに限度があり、かつ歩留りも低い欠点があった。
のホトダイオード型長尺フォトセンサは、作製できるL
ii結晶の大きさ及び加]二伎術の制限からそのアレー
の長さに限度があり、かつ歩留りも低い欠点があった。
従って読み取り原稿がA4版の210麗の幅を有してい
るし1合には、レンズ系を用いて原画をフォトセンサ上
に縮小結像して、読み収ることが一般に行なわれてきた
。こうした、レンズ光学系を用いる方法は、受光装置の
小型[ヒを困難にするだけでなく、個々の受)l(、面
積(要素面積)が大きくとれないため、充分な光1.“
」シシ電流を得るために大きな光量を必要どし、読み取
りl、)間を長くした低スピードの用途や、iH;4i
い解像力を要求されない用途に使用されているのが現状
である。
るし1合には、レンズ系を用いて原画をフォトセンサ上
に縮小結像して、読み収ることが一般に行なわれてきた
。こうした、レンズ光学系を用いる方法は、受光装置の
小型[ヒを困難にするだけでなく、個々の受)l(、面
積(要素面積)が大きくとれないため、充分な光1.“
」シシ電流を得るために大きな光量を必要どし、読み取
りl、)間を長くした低スピードの用途や、iH;4i
い解像力を要求されない用途に使用されているのが現状
である。
これに対して、最近は、光1h変換部をシリコンをm体
とする非晶質材料(a−8iと以後記す)で構成するフ
ォトセンサが提案されている。
とする非晶質材料(a−8iと以後記す)で構成するフ
ォトセンサが提案されている。
このa−8lを1吏用するノオI・センサの1′1合に
は従来から用いていた結晶シリコンを使用する場合と異
なり、a−3i層を真空堆れ1□法によって形成するこ
とが出来るので受光面部の制約を受けず大面積化された
長尺フォトセンサの作製が=f能である。
は従来から用いていた結晶シリコンを使用する場合と異
なり、a−3i層を真空堆れ1□法によって形成するこ
とが出来るので受光面部の制約を受けず大面積化された
長尺フォトセンサの作製が=f能である。
ところで、a−8i層はアルカリ金属と反応するとフォ
トセンサとしての性能が劣化する欠点がある。そのため
アルカリ金属を含むガラス基板上にa−3iで光電変換
部を構成したフォトセンサは信頼性、性能や製造コスト
の点において改良すべき余地が残されていた。そこで従
来のフォトセンサはa−8i層に基板ガラス内のアルカ
リ金属イオンが入るのを極力防ぐため、アルカリ金属イ
オンの含有が少ないガラス、例えばコーニy り+9)
#−7059ガラスやパイレックスガラス、或いはパ
イコールガラスを基板として使用していた。しかしなが
ら、アルカリ金属イオンの含有割合が少ない上記ガラス
は価格が高く、そのためこのH「のガラスを用いて作っ
たフォトセンサは高価になるという欠点があった。
トセンサとしての性能が劣化する欠点がある。そのため
アルカリ金属を含むガラス基板上にa−3iで光電変換
部を構成したフォトセンサは信頼性、性能や製造コスト
の点において改良すべき余地が残されていた。そこで従
来のフォトセンサはa−8i層に基板ガラス内のアルカ
リ金属イオンが入るのを極力防ぐため、アルカリ金属イ
オンの含有が少ないガラス、例えばコーニy り+9)
#−7059ガラスやパイレックスガラス、或いはパ
イコールガラスを基板として使用していた。しかしなが
ら、アルカリ金属イオンの含有割合が少ない上記ガラス
は価格が高く、そのためこのH「のガラスを用いて作っ
たフォトセンサは高価になるという欠点があった。
本発吸は、信頼性が高く、性能が優れ、かつ安価なフォ
トセンサを提供することを目的とする。
トセンサを提供することを目的とする。
又、本発明は、塞板となるガラスとして廉価に人手出来
るガラス(例えばソーダガラス等)を用いても優れた性
能を持ったフォトセンサを提供することをも1]的とす
る。
るガラス(例えばソーダガラス等)を用いても優れた性
能を持ったフォトセンサを提供することをも1]的とす
る。
更には、ガラス基板上にシリコンを1ヨj体とする非晶
質祠料からなる光電変換層を形成してなるフォトセンサ
において、該光電変換層が前記ガラス基板の少なくとも
一方の面に設けられた誘樽体j94を介して形成されて
いるフ+)センサを提供することをも目的とする。
質祠料からなる光電変換層を形成してなるフォトセンサ
において、該光電変換層が前記ガラス基板の少なくとも
一方の面に設けられた誘樽体j94を介して形成されて
いるフ+)センサを提供することをも目的とする。
本発明は、本発明者等がアルカリ金属イオンの含有量が
多いが比較的廉価に入手できるガラス(例えはソーダガ
ラス)を基板として用いてもa−8i層と基板内のアル
カリ金属イオンとの反応がノ1((いか、あっても極め
て少ない様にする為に鋭18、検藷1した結果得られた
知見に基づいている。即ち、ガラス基板上に誘電体層を
施し、この1誘電体ハイi十、にa−8i層を形成する
ことで優れたフォトセンサを作製することができるとい
う知見に基づいている。
多いが比較的廉価に入手できるガラス(例えはソーダガ
ラス)を基板として用いてもa−8i層と基板内のアル
カリ金属イオンとの反応がノ1((いか、あっても極め
て少ない様にする為に鋭18、検藷1した結果得られた
知見に基づいている。即ち、ガラス基板上に誘電体層を
施し、この1誘電体ハイi十、にa−8i層を形成する
ことで優れたフォトセンサを作製することができるとい
う知見に基づいている。
本発明で少なくとも光電変換部に用いられるa−8i層
として好ましいものは水素原子を含むa−8i層(以下
a−3t:Hと記す)である。又、a −S i :
Hの中でも水素原子を帆1〜40 atomic%含む
ものはより好ましい。
として好ましいものは水素原子を含むa−8i層(以下
a−3t:Hと記す)である。又、a −S i :
Hの中でも水素原子を帆1〜40 atomic%含む
ものはより好ましい。
a−8i (a−8i :Hを含む)の中に炭素、酸素
、或いは元素周期律表fliJIH族、同表第V族の元
素から少なくとも一つ以上の原子が選択されて含まれて
いても良い。上記周期律表第1■族及び第V族の元素と
して好適にあげられるものはB、 Al、 Ga +I
n + Tll + Nl p + As l Sb
l Bl である。その中でもB、P、Nのいずれか一
種以上の原子を含むa−8i層を光電変換部とすること
はより好ましい。
、或いは元素周期律表fliJIH族、同表第V族の元
素から少なくとも一つ以上の原子が選択されて含まれて
いても良い。上記周期律表第1■族及び第V族の元素と
して好適にあげられるものはB、 Al、 Ga +I
n + Tll + Nl p + As l Sb
l Bl である。その中でもB、P、Nのいずれか一
種以上の原子を含むa−8i層を光電変換部とすること
はより好ましい。
本発明において、誘電体層を形成するイ」科としては、
一般に知られる無機イ珂料、有機材料等多くの4S和か
ら選択して用いることができる。それ等材料は一種のみ
が選択され使用されても良いし、又、二種以」二の祠5
?−1が適宜ネ1[みaわされて使用されても差しつか
えない。
一般に知られる無機イ珂料、有機材料等多くの4S和か
ら選択して用いることができる。それ等材料は一種のみ
が選択され使用されても良いし、又、二種以」二の祠5
?−1が適宜ネ1[みaわされて使用されても差しつか
えない。
本発明において、フォトセンサへの光入射を基板側から
行ない得る様に丈る為には、誘電体層が透明か少なくと
も、入射される光信号の中で必要とされる波長の光を充
分透過するものである必要がある。その様な材料として
、無m AA料としては例えば無機酸化物として代表さ
れるS+02 + SIO+Al2O3,Tie21
ZrO2等や、無機弗化物として代表されるMgF’2
. CeF3 、 CaF2等が、有機H石としては例
えばポリイミドやポリパラキシリレン秀をあげることが
できる。この場合においても誘゛屯体層は、これらのも
のの中から一種が選ばれるか又は必要に応じて二種以上
の材料が選ばれ、組み合わせられて用いられてもよい。
行ない得る様に丈る為には、誘電体層が透明か少なくと
も、入射される光信号の中で必要とされる波長の光を充
分透過するものである必要がある。その様な材料として
、無m AA料としては例えば無機酸化物として代表さ
れるS+02 + SIO+Al2O3,Tie21
ZrO2等や、無機弗化物として代表されるMgF’2
. CeF3 、 CaF2等が、有機H石としては例
えばポリイミドやポリパラキシリレン秀をあげることが
できる。この場合においても誘゛屯体層は、これらのも
のの中から一種が選ばれるか又は必要に応じて二種以上
の材料が選ばれ、組み合わせられて用いられてもよい。
誘電体層の形成方法としては真空蒸S法、ヌパソタリツ
ク法、イオンブレーティング法、侵偵法、ロールコータ
−法、スプレー法等がある。形成に当って必要により成
膜中に若しくは成膜後に熱処理をしてもよい。なお本発
明のフォトセンサの好適な一例の断面図である第1図で
はガラス基板1の一方の面ζ二透明誘電体層2を形成し
、層2の」−にa−3i層を形成しているが、他方の面
に誘電体層2aを形成することは使用に当り空気中の酸
素がガラス基板と反応してガラス表面にアルカリ金属の
酸化物が粉末状に生成するのを防ぐために有効である。
ク法、イオンブレーティング法、侵偵法、ロールコータ
−法、スプレー法等がある。形成に当って必要により成
膜中に若しくは成膜後に熱処理をしてもよい。なお本発
明のフォトセンサの好適な一例の断面図である第1図で
はガラス基板1の一方の面ζ二透明誘電体層2を形成し
、層2の」−にa−3i層を形成しているが、他方の面
に誘電体層2aを形成することは使用に当り空気中の酸
素がガラス基板と反応してガラス表面にアルカリ金属の
酸化物が粉末状に生成するのを防ぐために有効である。
又、粉末状生成物の発生を防ぐことによって入射光の透
過率何丁を防ぐ効果も合わせもつ。更に、ガラス基板両
面に誘電体層を設けることはa−8i層形成時に、a−
8i層形成側以外の部分のガラス内にあるアルカリ金属
がa−8i層と反応することも防ぐことができるので、
尚一層良好なフォトセンサを得ることができる。
過率何丁を防ぐ効果も合わせもつ。更に、ガラス基板両
面に誘電体層を設けることはa−8i層形成時に、a−
8i層形成側以外の部分のガラス内にあるアルカリ金属
がa−8i層と反応することも防ぐことができるので、
尚一層良好なフォトセンサを得ることができる。
本発明では、先にあげたソーダ石灰系ガラスの一つであ
るソーダガラス以外に、アルカリケイ酸ガラス、アルカ
リホウ酸ガラスや不純物としてアルカリ金属(Li 、
Na + K +吐;+ Rb 、 Cs + Fr
)を含んだガラスを基板として用いることができる。
るソーダガラス以外に、アルカリケイ酸ガラス、アルカ
リホウ酸ガラスや不純物としてアルカリ金属(Li 、
Na + K +吐;+ Rb 、 Cs + Fr
)を含んだガラスを基板として用いることができる。
例えば、PKI 、 BKI 、 BK7 、 K8
、 ZKI 、 BaK2゜KF2 ’、 BaLFl
、 LLF4 、 LFI 、 LF7 、 PKs
1 。
、 ZKI 、 BaK2゜KF2 ’、 BaLFl
、 LLF4 、 LFI 、 LF7 、 PKs
1 。
KzFl (いずれも小片光学社製)やBKI 、 B
K7 。
K7 。
K8(いずれも保谷ガラス社iM )などのガラスがア
ルカリ金属を含むガラスとしてあげることができるが基
板材料としては上に己の例にのみ限定されるものではな
い。
ルカリ金属を含むガラスとしてあげることができるが基
板材料としては上に己の例にのみ限定されるものではな
い。
本発明フォトセンサのり]適な態様例としては、第1図
で示すように、基板ガラス1の両面に誘電体層2,2a
を形成し7、一方の層2の上にa−3i層6を、その上
にオーミックコンタクトとしてのn+層4,4aを成膜
し、層4,4aの−ににそれぞれAlの電極膜5,5a
を形成したものである。発明の要点である誘電体層形成
の一例としてディップ塗布を用いて形成した例について
述べる。1関形成の時間と膜厚の関係を示す第2図に図
示される如く誘電体層の膜厚は曲線11で示ずようにデ
ィップ後引揚速度に比例して厚くなる。
で示すように、基板ガラス1の両面に誘電体層2,2a
を形成し7、一方の層2の上にa−3i層6を、その上
にオーミックコンタクトとしてのn+層4,4aを成膜
し、層4,4aの−ににそれぞれAlの電極膜5,5a
を形成したものである。発明の要点である誘電体層形成
の一例としてディップ塗布を用いて形成した例について
述べる。1関形成の時間と膜厚の関係を示す第2図に図
示される如く誘電体層の膜厚は曲線11で示ずようにデ
ィップ後引揚速度に比例して厚くなる。
実施例
日本ニルコート社製エチルシリケート40.20容砒%
をエチルアルコール35容量%、酢酸エチル35容量%
の混合溶媒に溶解し、これに濃塩酸と水を加えた溶液に
屈折率1.52 、厚み1.OBのBK7ガラス(51
02: 68.9%、 B2O3: 10.1%、 N
a2O:8.8%、 K2O: 8.4%、Bad:2
.8%、 A3201: 1.0%)3枚を第2図に示
す条件でディップ塗布し、引揚げた後、300℃で加熱
処理して、夫々1000人、2000λおよび3000
’r−の二酸化珪素被膜を両面に形成させた。これ等
のガラスの一方の被膜2の面にプラズマCVD法で光i
’llT変換部であるa−8i層6、オーミックコンタ
クトとしてのn+層4,4aを順次形成、次いで真空蒸
着法によりAl電極膜5゜5aを通常知られる方法及び
手順で形成した。
をエチルアルコール35容量%、酢酸エチル35容量%
の混合溶媒に溶解し、これに濃塩酸と水を加えた溶液に
屈折率1.52 、厚み1.OBのBK7ガラス(51
02: 68.9%、 B2O3: 10.1%、 N
a2O:8.8%、 K2O: 8.4%、Bad:2
.8%、 A3201: 1.0%)3枚を第2図に示
す条件でディップ塗布し、引揚げた後、300℃で加熱
処理して、夫々1000人、2000λおよび3000
’r−の二酸化珪素被膜を両面に形成させた。これ等
のガラスの一方の被膜2の面にプラズマCVD法で光i
’llT変換部であるa−8i層6、オーミックコンタ
クトとしてのn+層4,4aを順次形成、次いで真空蒸
着法によりAl電極膜5゜5aを通常知られる方法及び
手順で形成した。
一方、これどは別に二酸化珪素被膜を施さないで直接B
K7ガラス基板」二にa−8i層、n+層、p、IJ電
極膜を設けたフォトセンサ(以下センサPど称す)をも
用意した。
K7ガラス基板」二にa−8i層、n+層、p、IJ電
極膜を設けたフォトセンサ(以下センサPど称す)をも
用意した。
こうして作製した各フォトセンサを60℃、95%の高
温高湿中に200時間放置しながら光電流(I、:明電
流、工、:暗電流)の変1ヒを調べた。
温高湿中に200時間放置しながら光電流(I、:明電
流、工、:暗電流)の変1ヒを調べた。
その結果をフォトセンサの光電流の経時変化を示す第3
図に示す。これによると4男電流■、の変化は誘電体層
に関係なく大きい変化はなかったが、暗゛屯流Id の
変化は誘電体層を施したものはそのj・、Lさが厚いほ
ど、即ら層2の厚みが1000^のセンサよりも3θ0
0^のセンサの方が少なかった。又、200時間後にお
ける明電流と暗電流との比、すなわちS/N比は、層2
の厚みが2000人、3000犬のセンサの方が層2の
厚みが1000λのものより大きく、明電流に対して暗
電流が増加せず、安定していることが分かった。
図に示す。これによると4男電流■、の変化は誘電体層
に関係なく大きい変化はなかったが、暗゛屯流Id の
変化は誘電体層を施したものはそのj・、Lさが厚いほ
ど、即ら層2の厚みが1000^のセンサよりも3θ0
0^のセンサの方が少なかった。又、200時間後にお
ける明電流と暗電流との比、すなわちS/N比は、層2
の厚みが2000人、3000犬のセンサの方が層2の
厚みが1000λのものより大きく、明電流に対して暗
電流が増加せず、安定していることが分かった。
これに対してセンサPではガラス中のアルカリ金属イオ
ンが直接a−8i層中に不純物として拡散するため、第
6図に示される様に明電流Ipは経時的に殆んど変化し
ないにもかかわらず、暗電111tI、は経時的に安定
でなく非常に大きな値となった。
ンが直接a−8i層中に不純物として拡散するため、第
6図に示される様に明電流Ipは経時的に殆んど変化し
ないにもかかわらず、暗電111tI、は経時的に安定
でなく非常に大きな値となった。
S/N比についても200時間放置後は極めて小さな値
となり、フ、・トセンサとしては実用的とはいえなかっ
た。
となり、フ、・トセンサとしては実用的とはいえなかっ
た。
60℃、相対湿度95%において200時間放置後の誘
電体層の厚みとS/N比の関係を示す第4図から明らか
なように、膜曜が大きいほどS/N比を大きくとること
ができるが、この実施例においては2000人以上の厚
みではS/N比は実質的に変fしがなかった。
電体層の厚みとS/N比の関係を示す第4図から明らか
なように、膜曜が大きいほどS/N比を大きくとること
ができるが、この実施例においては2000人以上の厚
みではS/N比は実質的に変fしがなかった。
以上の如く本発明のフォトセンサは基板ガラスと非晶質
拐料のa−8g層間に誘電体層を設けることによってガ
ラス内のアルカリ金属イオンがa−3g層に拡散するこ
とが防止されるので、■い、■dが安定した信頼性ある
優れた性能を有し、基板としても普通に供給されるアル
カリ金属を含むガラスが用いられるので安価に製造する
ことができる。
拐料のa−8g層間に誘電体層を設けることによってガ
ラス内のアルカリ金属イオンがa−3g層に拡散するこ
とが防止されるので、■い、■dが安定した信頼性ある
優れた性能を有し、基板としても普通に供給されるアル
カリ金属を含むガラスが用いられるので安価に製造する
ことができる。
なお、本発明のフォトセンサは画像等の読取り用として
のフォトセンサのみならず、光ヌイノチ用等の一般に光
を感知して゛改気伯号に変換して出力をするフォトセン
サにも適用出来るのはいうまでもない。
のフォトセンサのみならず、光ヌイノチ用等の一般に光
を感知して゛改気伯号に変換して出力をするフォトセン
サにも適用出来るのはいうまでもない。
第1図は本発明フォトセンサの1折面図、第2図は膜形
成の時間と膜厚の関係を示す図、第6図はフォトセンサ
の光電流の経時的変化を示す図、第4図は誘電体層の厚
みに利する明鴎゛市流比の関係を示す図である。 1 ・・・・・基板ガラス 2.2a・・誘電体層 ろ・・・・・・・・a−3i層 4.4a・・・′n″層 5’ 、 5 a、Al電極層 特許出願人 キャノン株式会召二 眩験吋r凸(石) 第 2tll 誘¥体層ハバ[ン↓(x 1o’八) @3 図 1g 4 図
成の時間と膜厚の関係を示す図、第6図はフォトセンサ
の光電流の経時的変化を示す図、第4図は誘電体層の厚
みに利する明鴎゛市流比の関係を示す図である。 1 ・・・・・基板ガラス 2.2a・・誘電体層 ろ・・・・・・・・a−3i層 4.4a・・・′n″層 5’ 、 5 a、Al電極層 特許出願人 キャノン株式会召二 眩験吋r凸(石) 第 2tll 誘¥体層ハバ[ン↓(x 1o’八) @3 図 1g 4 図
Claims (1)
- ガラヌ基板ににシリコンを1l体とする非晶質料(′−
1からなる光電変換層を形成してなるフォトセンサに於
いて、該光電変換層カミj」記ガラス基板の少なくとも
一方の向側に設けられた誘電体層を介して形成されてい
ることを特徴とするフォトセンサ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58112924A JPS605557A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | フオトセンサ |
US06/621,630 US4667214A (en) | 1983-06-24 | 1984-06-18 | Photosensor |
DE19843423159 DE3423159A1 (de) | 1983-06-24 | 1984-06-22 | Fotosensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58112924A JPS605557A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | フオトセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS605557A true JPS605557A (ja) | 1985-01-12 |
Family
ID=14598897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58112924A Pending JPS605557A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | フオトセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS605557A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS632377A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-07 | Canon Inc | 光電変換装置 |
US6503771B1 (en) * | 1983-08-22 | 2003-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor photoelectrically sensitive device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56167240A (en) * | 1980-05-29 | 1981-12-22 | Toshiba Corp | Photoelectric converter |
JPS57131164A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | Optical read sensor |
JPS5856363A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-04 | Hitachi Ltd | 受光素子 |
-
1983
- 1983-06-24 JP JP58112924A patent/JPS605557A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56167240A (en) * | 1980-05-29 | 1981-12-22 | Toshiba Corp | Photoelectric converter |
JPS57131164A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | Optical read sensor |
JPS5856363A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-04 | Hitachi Ltd | 受光素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6503771B1 (en) * | 1983-08-22 | 2003-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor photoelectrically sensitive device |
JPS632377A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-07 | Canon Inc | 光電変換装置 |
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