JPS6050467A - 被測定物の位置検出方法 - Google Patents

被測定物の位置検出方法

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JPS6050467A
JPS6050467A JP15860083A JP15860083A JPS6050467A JP S6050467 A JPS6050467 A JP S6050467A JP 15860083 A JP15860083 A JP 15860083A JP 15860083 A JP15860083 A JP 15860083A JP S6050467 A JPS6050467 A JP S6050467A
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Hisanori Otsuki
大槻 寿則
Teruo Maruyama
照雄 丸山
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S15/00Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
    • G01S15/88Sonar systems specially adapted for specific applications

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  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
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  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は超音波を利用した被測定物の位置検出方法に関
する。
従来例の構成とその問題点 従来の被測定物の形状検出方法としては超音波送受波素
子を被測定物に対して回転走査して得られた反射信号強
度から、被測定物の位置と姿勢を検出するものがある。
以下その内容の概略を説明するO 第1図は従来の装置の概略の構成を示すシステム図であ
る。第2図は従来の装置を用いた位置検出を示す斜視図
である。第1図において超音波送受波素子1に第3図に
示す高電圧パルス17を印!lI口すると空気中に所定
の周波数の超音波パルスが光射される・この超音波パル
スが第2図の対象物体13で反射され、対象物体13の
各辺14,15.16からの反射信号が超音波送受波素
子1に到達し、受波信号増巾器3で増幅された後、アナ
ログ−デジタル変換されてメモリ6に記憶される。
第3図は、メモリ5に記憶された超音波送受波素子1の
動作波形を示すもので、37,38.39はそれぞれ対
象物体13の各辺14,15.16からの反射信号を示
す。メモリ5Vc記憶された反射信号は小型電子計算機
6に転送され、第3図に示した反射信号37.38.3
9の伝播時間40.41,42及び反射信号強度43,
44.45を検出している。
また、第2図において超音波送受波素子1は。
小型電子側算機6からの制御信号により)Oレスモータ
ドライバ11とパルスモータ10を介して矢印A、B方
向に回転走査する構成となっており、超音波送受波素子
1を所定の角度でステップしながら前述の被測定物間で
反射信号の伝播時間及び強度の検出を行なっている。第
4図は、超音波送受波素子1を回転走査させた時の被測
定物13からの反射信号強度を横軸に超音波送受波素子
の回転角、縦軸に反射信号強度をとってプロットしたも
のである。46,4γ、48はそれぞれ被測定物13の
各辺14,15,16からの反射信号を整理したもので
あり、それぞれの反射信号強度が最大となるときの超音
波送受波素子10回転走査角度から被測定物13の各辺
14,16.16の方向を検出している。寸だ前述の反
射信号の伝播時間から被測定物の各辺までの距離が得ら
れるので被測定物13の各辺13,14,16の座標を
めることができ、被測定物13の位置を検出することが
できる〇 しかしながら、従来の位置検出装置を穴の位置検出に適
用した場合、大径穴ではその位置検出が可能であるが、
小径穴では、穴の各辺からの反射信号が重畳されるので
、超音波送受波素子の減衰性を大幅に向上しないと、位
置検出ができないという問題点があった。さらに従来例
を用いて大径穴の位置検出を行なう場合には、超音波送
受波素子1を2軸方向に回転走査する必要があり大径穴
の高速位置検出をはかる上で大きな問題点になっていた
発明の目的 本発明は、上述の欠点をなくシ、小径穴の位置を高速高
精度で検出する位置検出方法を提供することを目的とす
る。
発明の構成 本発明は超音波送受波素子と被測定物の相対位置関係を
変化させて前記超音波送受波素子により超音波を送受波
して得られた反射信号強度の極小値を検出して前記被測
定物の一方の軸方向の中心位置を検出する第1工程と、
この第1工程を複数回数実行して得られた前記極小値の
極小値か(ら他方の軸方向の中心位置を検出する第2工
程により前記被測定物の位置検出を高精度、高速で行な
う方法を得るものである。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について1図面を参照しながら説
明する。
第6図は本発明の一実施例における被測定物の位置検出
装置の概略を示すシステム図である・第5図において−
50は被測定物と超音波送受波素子53の相対位置関係
を変化させる手段(以下マニピュレータという。)であ
り、データ処理制御装置51からの制御信号によりマニ
ピュレータ制御装置62を介して動作を制御している。
また超音波送受波素子63はマニピュレータ60上に第
6図に示すように設置されている。
超音波送受波素子53は1発振器55により所定の周波
数の超音波を対象物体64に向けて送波し、またその反
射信号を受波している0超音波送受波素子53が出力す
る受波信号は受波信号増幅器56を経て、アナログ−デ
ジタル変換器67(以下A/D変換器という。)によっ
てデジタル値に変換され、メモリ68に記憶される。さ
らにデータ処理制御装置51が設けられるが、このデー
タ処理制御装置51はインタフェイスコントロールユニ
ット59(以下ICUという。)・フロッピディスクド
ライブ装置60(以下FDDという0)および小型電子
計算機61(以下CPUという。)から構成される・I
CUesgはFDDeoおよびCPUelに接続される
とともに、前述の発振器55とメモリ58に接続される
。FDD60は本位置検出装置を用いて位置検出を行々
うだめのプログラム或は諸条件を入力する。このデータ
処理制御装置61においては、発振器55を動作させる
ための制御信号の出力、マニピュレータ5oの動作を制
御するマニピュレータ制御装置62への制御信号の出力
を行なうとともにメモリ68から転送された入力データ
の前処理を行ない、FDDeoから予め入カスドアされ
たプログラムに従ってCPU61で反射信号強度の検出
、被測定物の位置の演算処理、マニピュレータ60の移
動量の演算処理を行なう。
次に上記のように構成した位置検出装置の動作を説明す
る。なお本実施例では、第6図に示す対象物体64と超
音波送受波素子53の距離が100mm 、対象物体5
4上の被測定物66(以下穴という)の直径が5mmで
、超音波送受波素子63の送受波面は対象物体54に対
向しておシ、超音波送受波素子53を対象物体54に対
して2mmのステップで平行に矢印入方向へX軸に沿っ
て3回走査した場合について説明する。
位置検出はFDD60から予め入カスドアされた第7図
の70−チャートに示す位置検出プログラムの手順に従
って行なわれる。第7図のフローチャートにおいて、ま
ずステップ1でデータ処理制御装置51からの制御信号
によりマニピュレータ制御装置62を介してマニピュレ
ータ6oを駆動して超音波送受波素子63をセンシング
開始位置に移動して第1回目のセンシングを実行fる。
第6図において、62は超音波送受波素子63がら送波
される超音波ビームの中心位置を示す0また63はセン
シング開始時の、また64はセンシング完了時の、超音
波ビームの中心位置と対象物体54の交点を示し、第1
回目のX軸方向のセンシングは、この区間内で行なわれ
る。なお本実施例ではX軸方向のセンシング区間は10
mmである。
次にステップ2でデータ処理制御装置61からの制御信
号により発振器65を動作させ超音波送受波素子53で
所定の周波数の超音波を対象物体64VC向けて送波す
ると同時に、A/D変換器67゜メモリ58゛を動作さ
せて、対象物体64からの反射信号をメモリ68に記憶
する0第8図にはメモリ58に記憶された反射信号を示
す。68は対象物体54からの反射信号を示す・ 次にステップ3でメモ1J58[記憶された反射信号を
ICU69を介してCPU61に転送する・CPU61
では予めFDD60から入カスドアされているプログラ
ムに従って対象物体54からの反射信号68の反射信号
強度Pを検出し記憶しておく◎ 次にステップ4では所定のセンシング回数を完了してい
なければマニピュレータ6oを矢印入方向へ2mm移動
して、上記ステップ2.ステップ3を繰返す。所定のセ
ンシング回数(本実施例では5回)を完了すればステッ
プ6へ進む。
ステップ6では、上記ステップ2.ステップ3を繰返し
て得られた対象物体64からの反射信号68の反射信号
強度をもとにして穴65のX軸方向の中心位置を検出す
る。第9図は、超音波送受波素子53を矢印入方向に平
行走査した時の対象物体64からの反射信号強度を、横
軸に超音波送受波素子63の平行走査量、縦軸に反射信
号強度をとうてプロットしたものであり、CPU61で
は、FDD60から予め入カスドアされたプログラムに
従って平行走査して得られた反射信号強度について2次
回帰を用いた補間処理を行ない反射信号強度の極小値お
よびこの時の超音波送受波素子63の平行走査量を検出
する・第9図において69は2次回帰を用いた補間処理
結果であシ曲線69の頂点から反射信号強度の極小値P
1は2,900mV 、iだこの時の超音波送受波素子
63の平行走査量は6mmとなる。穴65のX軸方向の
中心位置は、前述の超音波送受波素子63のセンシング
開始位置のX座標に上記平行走査量(emm)を加える
ことにより検出できる。
つぎにステップ6では第6図に示すように超音波送受波
素子53をY軸方向にLrMI(本実施例では3耶形動
じて第2回目のX軸方向のセンシングを実行する。71
はセンシング開始時の、また72はセンシング完了時の
超音波ビームの中心位置と対象物体64の交点を示す〇 つぎのステップ7.8,9.10では前述のステップ2
,3,4.6と同様に実行して反射信号強度の極小値P
2およびこの時の超音波送受波素子63の平行走査量を
検出するQ本実節例では。
反射信号の極小値P2は700mV、またこの時の超音
波送受波素子53の平行走査量は6ml[lであった・
つぎにステップ11では第6図に示すように。
超音波送受波素子53をY軸方向ll′1:L、lll
1l(本実施例では3mm)移動して第3回目のX軸方
向のセンシングを美行する。73はセンシング開始時の
また74はセンシング完了時の超音波ビームの中心位置
と対象物体64の交点を示す・ つぎのステップ12,13,14,15では前述のステ
ップ2,3,4.6と同様に実行して反射信号強度の極
小値P3およびこの時の超音波送受波素子63の平行走
査量を検出する。本実施例では、反射信号の極小値P3
は1.3<)OmV −またこの時の超音波送受波素子
63の平行走査は6耶であった・ つぎにステップ16では、前述のステップ6゜10.1
5で得られた穴65からの反射信号強度P1.P2.P
3をもとにして穴66のY軸方向の中心位置を検出する
第10図は、超音波送受波素子63を矢印入方向に3回
平行走査した時の穴66を含む対象物体64からの反射
信号強度を、横軸に超音波送受波素子53の平行走査時
のY軸位置、縦軸に反射信号強度の極小値をとってブロ
ソトーシたものであ坊横軸は第1回目の平行走査時のY
軸位置を基準にしているo CP U 61てはFDD
60から予め久カスドアされたプログラムに従って反射
信号強度の極小値P1.P2.P3について2次回帰を
用いた補間処理を行ない反射信号強度の極小値P4を検
出する・第10図において76は補間結果であり曲線7
5の頂点から反射信号強度の極小値P は500mV、
またこの時の超音波送受波素子63の平行走査時のY軸
位置は4調であることを検出した・穴65のY軸方向の
中心位置は前述の第1回目の超音波送受波素子63のセ
ンシング開始位置のY座標に上記Y軸位置を加えること
によシ検出できだ。
まだ穴66のX軸方向の中心位置は、3回のX軸方向セ
ンシングで得たそれぞれの反射信号強度が極小値を示す
時の超音波送受波素子63の平行走査量の平均値(本実
施例では6mm)に前述の超音波送受波素子63のセン
シング開始位置のX座標に上記平行走査量の平均値を加
えることによシ検出でき、第11図に示す穴65の中心
位置o1を検出することができた。
以上のように本実施例によれば、穴65を有する対象物
体54に超音波を送受波すると同時にマニピーレータ5
0を動作させて対象物体5′4VC対して超音波送受波
素子63をY軸の位置を変更してX軸方向に3回平行に
走査することにより、得られる反射信号強度について補
間処理を行ない極小値P1.P2.P3を検出してさら
にこれらの極小値P4から穴65のY軸方向の中心位置
を検出し。
また、それぞれの平行走査において1反射信号強度が極
小値を示すときの超音波送受波素子53の平行走査量の
平均値を検出することで穴65の中心位置01 を検出
することができ、本実施例ではそれぞれ0.05ffL
mの高い位置精度が得られた口さらにセンシング区間(
x、y軸共に±6mm)に対して穴66の位置を検出す
るためのセンシング回数は16回と従来例に比して大巾
に低減され高速で穴位置検出を行なうことができた。
なお本実施例では1個の超音波送受波素子63を用いて
3回のX軸方向のセンシングを実行したが3個の超音波
送受波素子63を用いて同時にセンシングを実行すれば
さらに高速の穴66の位置検出が可能である。
発明の効果 以上のように本発明は、被測定物に対して超音波を送受
波すると同時に超音波送受波手段と被測定物の相対位置
関係を変化して得られた反射信号強度の極小値から前記
被測定物の一方の軸方向の中心位置を検出し、さらに複
数回数超音波送受波手段と被測作物の相対位置関係を変
化して得られた複数個の反射信号強度の極小値の極小値
を検出して前記被測定物の他方の軸方向の中心位置を検
出して、被測定物の中心位置を検出するので、高速高精
度の小径穴位置検出方法をうろことができ。
その実用的効果は大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の被測定物の形状検出装置の概略の構成を
示すシステム図、第2図は従来の装置の斜視図、第3図
は従来の装置の動作波形を示す図。 第4図は従来の装置の動作波形を整理した図、第5図は
本発明の一実施例における被測定物の位置検出装置の概
略の構成を示すシステム図、第6図は同装置の斜視図、
第7図は穴位置検出のだめのプログラムの一例を示すフ
ローチャート図、第8図は穴位置検出装置の動作波形を
示す図、第9図は動作波形及び補間処理結果を示す図、
第10図は穴に対し超音波送受波素子をY軸方向に相対
位置関係を変化した時の変化量と反射信号強度の極小値
の関係を示す図、第11図は穴のY軸方向の中心位置検
出方法の説明図である。 63・・・・・・超−音波送受波素子、66・・・・・
・穴、50・・・・・・マニピュレータ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 にか1名第1
図 第3図 第4図 厚層じ底送5々3を!号の何季云走31角(贋)第5図 第6図 第7図 」 第8図 第9図 第10図 Y!l114fl <rnm ) 第11図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 超音波送受波素子と被測定物の相対位置関係を変化させ
    て前記超音波送受波素子により超音波を送受波して得ら
    れた前記被測定物からの反射信号強度の極小値を検出し
    て前記被測定物の一方の軸方向の中心位置を検出する第
    1工程と、この第1工程を複数回数実行して得られた前
    記反射信号強度の極小値から他方の軸方向の中心位置を
    検出する第2工程からなる被測定物の位置検出方法。
JP15860083A 1983-08-30 1983-08-30 Hisokuteibutsunoichikenshutsuhoho Expired - Lifetime JPH0249675B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP15860083A JPH0249675B2 (ja) 1983-08-30 1983-08-30 Hisokuteibutsunoichikenshutsuhoho

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JP15860083A JPH0249675B2 (ja) 1983-08-30 1983-08-30 Hisokuteibutsunoichikenshutsuhoho

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JPS6050467A true JPS6050467A (ja) 1985-03-20
JPH0249675B2 JPH0249675B2 (ja) 1990-10-30

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ID=15675231

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JP15860083A Expired - Lifetime JPH0249675B2 (ja) 1983-08-30 1983-08-30 Hisokuteibutsunoichikenshutsuhoho

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0211186A (ja) * 1988-06-28 1990-01-16 Fuji Shoji:Kk パチンコ機の入賞球カウンタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0211186A (ja) * 1988-06-28 1990-01-16 Fuji Shoji:Kk パチンコ機の入賞球カウンタ

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