JPS6045150B2 - チタン酸バリウム系半導体磁器の製造方法 - Google Patents

チタン酸バリウム系半導体磁器の製造方法

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JPS6045150B2
JPS6045150B2 JP54134586A JP13458679A JPS6045150B2 JP S6045150 B2 JPS6045150 B2 JP S6045150B2 JP 54134586 A JP54134586 A JP 54134586A JP 13458679 A JP13458679 A JP 13458679A JP S6045150 B2 JPS6045150 B2 JP S6045150B2
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信雄 広居
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、Pbを含有するチタン酸バリウム系半導体磁
器の製造方法に関する。
本発明の目的は、焼成工程の際のHoの蒸発を抑え、均
質で安定した特性を有するチタン酸バリウム系半導体磁
器の製造方法を提供するものである。
従来、チタン酸バリウムの基本組成物に、L−1、Ce
、Y等の稀土類元素、Bi、Sb、N噂のうち1種以上
を添加することにより、正の抵抗温度特性を有するチタ
ン酸バリウム系半導体磁器が得られることは知られてい
る。
またこの半導体磁器組成物の山の一部をPbで置換する
ことにより、120゜C以上の高温領域で正の抵抗温度
特性をもつチタン酸バリウム系半導体磁器が得られるこ
とは周知の通りである。このPbを含有した組成系の半
導体磁器は、いわゆる定温発熱体として広く応用されて
おり、最近では250℃以上の高温領域で使用可能な発
熱体の実用化も進められている。しかし、この種の組成
系の最大の欠点は特にBaの一部をPbで35原子%以
上置換した材料においては、1250℃以上の高温で焼
成すると、Hoの蒸発が著しくなり、その結果組成すれ
を起こし、得られる半導体磁器は均質性と特性の安定性
に欠けていた。さらにひどいものは磁器表面に多数の空
孔が生じたりしていた。従来、このような欠点を除くた
めに、PbOあるいは中性ガス雰囲気中での焼成、焼成
しようとする成形体と同組成からなる粉末により成形体
がすべて覆われている状態での焼成が試みられたが、い
ずれも得られる半導体磁器の抵抗温度特性が悪くなると
いう問題が生じていた。
本発明の製造方法は、このような従来の欠点を解消する
ものであり、Pbを含有するチタン酸バ)リウム系半導
体磁器原料粉末を湿式混合し、乾燥して仮焼を行つた後
、粉砕、加圧成形して作製される成形体をその成形体の
主面同志を積み重ねて配置して焼成するチタン酸バリウ
ム系半導体磁器の製造方法において、前記成形体を肉厚
、高さが7国一で、内径、外径が相対的に異なり、側面
部に多数の貫通孔を有する前記成形体と同組成の第1お
よび第2の円筒型焼結体で二重に包囲し、かつ前記第1
および第2の円筒型焼結体の空間下部に前記成形体と同
組成の粉末を敷き、その後前記成形体と同組成の円板状
焼結体で蓋をして焼成することを特徴とするものである
。本発明によれば、成形体を包囲している第1および第
2の円筒型焼結体および第1および第2の円筒型焼結体
の間の空間下部に敷かれている粉末、さらには蓋として
使用する円板状焼結体はすべて成形体と同組成のもので
あるので、均一な鉛雰囲気が保たれる。
また前記第1および第2の円筒型焼結体の側面部には多
数の貫通孔が設けられているために焼成中のバインダ除
去も完全になされ、また鉛雰囲気とともに貫通孔から酸
素および熱の供給も同時に行われ、得られるチタン酸バ
リウム系半導体磁器は均質なもので、かつ半導体磁器と
しての特性も失なわれずに維持され、さらには均一焼成
により安定な特性が得られるものである。以下本発明に
つき実施例をあげ説明する。
まず、市販の工業用原料BaCO3,TiO2,PbO
,SlO2,Nb2O5,Mn(NO3)2を出発原料
として、BaCO3O.6モル、TiO2lモル,Pb
OO.4モル,SjO22.4モル%,Nb2O.O.
llモル%およびMnで0.03原子%の組成に配合し
たものをボールミルで加時間湿式混合した後乾燥し、1
000℃、2時間仮焼する。
仮焼した原料をさらにボールミルで湿式粉砕して乾燥す
る。その後適量の有機バインダを加えて造粒し、100
0k9/Cllの圧力で直径207!r!n1厚み3.
5TWLの円板に成形する。このようにして得られた成
形体7枚を互いの主面同志が相重なるように積み上げる
。この際に相重なる主面上に焼成後に各々の半導体磁器
が剥離し易いように成形体と.同組成の造粒粉をばらま
く。この積み重ねられた成形体を第1および第2の円筒
型焼結体で二重に包囲する。この時第1の円筒型焼結体
は内径47?、外径507T0n1肉厚1.5順、高さ
50瓢のものであり、第2の円筒型焼結体は内径77w
n1外径80Tn1.肉厚1.5噸、高さ50TfrI
nのものであり、各々の円筒型焼結体の側面部には多数
の貫通孔が設けられている。なお成形体はほぼ中央に配
置されている。次に第1と第2の円筒型焼結体の間の空
間の下部に成形体と同組成からなる粉末を敷き、その後
一円板状焼結体で蓋をする。なお、ここで使用した第1
および第2の円筒型焼結体並びに円板状焼結体は全て成
形体と同組成のものである。この時の配置状態を第1図
に示す。
図において、1は成形体でほぼ中央部に配置されている
2は第1の円筒型焼結体、3は第2の円筒型焼結体で、
各々の側面部には多数の貫通孔4が設けられている。
5は成形体と同組成からなる粉末、6は円板状焼結体、
7はZrO2粒子、8はZrO2板である。
このように配置された成形体を1250゜C11時間バ
ッチ式焼成炉にて焼成して半導体磁器を作製した。
得られた半導体磁器は均質に焼結していた。ノこの半導
体磁器のうち最下段のものは除外し、残りの6個のもの
について、半導体磁器の両面にオーミック電極を付与し
、25℃における比抵抗を測定した。その結果、比抵抗
は5.9×1σΩ.Cm(6個の平均値)であり、比抵
抗のバラツキの目安として平方和をs=志 (Xi−Y
)2 (但しn=6)式で求めた結果、4.2×103
であつた。比較例1上記実施例のうち単に成形体を積み
重ねた配置状態のもので他はすべて実施例と同方法で半
導体磁器を作製した。
得られた半導体磁器の一部には多数の空孔が生じたり、
側面部が変色したりして不均質なものであつた。この半
導体磁器は実施例と同方法で測定された。その結果、比
抵抗は2.1×103Ω・C!RL(6個の平均値)で
あり、この時の平方和は8.1×1Cf′であつた。比
較例2上記実施例のうち成形体7枚を積み重ねた後、単
に成形体と同組成からなる粉末を成形体がすべて覆われ
るようにして配置したのみで他はすべて実施例と同方法
て半導体磁器を作製した。
得られた半導体磁器は実施例と同方法で測定された。そ
の結果、比抵抗は5.4×1σΩ・礪であり、この時の
平方和は5.0×103であつた。さらに実施例、比較
例1および2で得られた半導体磁器について小型電気炉
を用い、抵抗温度特性を調べた。その結果を第2図に示
す。第2図において、Aは本発明の実施例で得られた半
導体磁器の抵抗温度特性を示すものであり、BおよびC
は各々比較例1および2で得られた半導体磁器の同特性
を示すものである。
以上の結果から明らかなように、比較例1の半導体磁器
は不均質でその上比抵抗も異常に高くなり、さらには比
抵抗のバラツキも著しく実用性がない。
また比較例2の半導体磁器は比抵抗のバラツキも少なく
均質性にも富んでいるが、抵抗温度特性が悪化し、これ
もまた具合が悪い。これに対し、本発明の製造方法によ
つて得られた半導体磁器は、比抵抗のバラツキも極少で
安定性に優れており、さらには抵抗温度特性も良好で実
用的な半導体磁器といえる。
以上記述したように本発明の製造方法によれは、均質て
安定した特性を有するきわめて実用価値の高いPbを含
有してなるチタン酸バリウム系半導体磁器を得ることが
できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の製造方法を実施する際の成形体の配置
を示す断面正面図、第2図は本発明の実施例および比較
例で得られた半導体磁器の抵抗温度特性図である。 1・・・・・・成形体、2・・・・・・第1の円筒型焼
結体、3・・・・・・第2の円筒型焼結体、4・・・・
・・貫通孔、5・・・・・粉末、6・・・・・・円板状
焼結体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 Pbを含有するチタン酸バリウム系半導体磁器原料
    粉末を湿式混合し、乾燥して仮焼を行つた後、粉砕、加
    圧、成形して作製される成形体をその成形体の主面同志
    を積み重ねて配置して焼成するチタン酸バリウム系半導
    体磁器の製造方法において、前記成形体を肉厚、高さが
    同一で、内径、外径が相対的に異なり、側面部に多数の
    貫通孔を有する前記成形体と同組成の第1および第2の
    円筒型焼結体で二重に包囲し、かつ前記第1および第2
    の円筒型焼結体の空間下部に前記成形体と同組成の粉末
    を敷き、その後前記成形体と同組成の円板状焼結体で蓋
    をして焼成することを特徴とするチタン酸バリウム系半
    導体磁器の製造方法。
JP54134586A 1979-10-17 1979-10-17 チタン酸バリウム系半導体磁器の製造方法 Expired JPS6045150B2 (ja)

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JP2624839B2 (ja) * 1989-07-07 1997-06-25 日立金属株式会社 高透磁率フェライト磁心の製造方法

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