JPS6030029B2 - 位置決め情報の記録位置試験方式 - Google Patents

位置決め情報の記録位置試験方式

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Publication number
JPS6030029B2
JPS6030029B2 JP437278A JP437278A JPS6030029B2 JP S6030029 B2 JPS6030029 B2 JP S6030029B2 JP 437278 A JP437278 A JP 437278A JP 437278 A JP437278 A JP 437278A JP S6030029 B2 JPS6030029 B2 JP S6030029B2
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JP
Japan
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positioning information
recording position
positioning
head
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Expired
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JP437278A
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English (en)
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JPS5498214A (en
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啓二 今井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5498214A publication Critical patent/JPS5498214A/ja
Publication of JPS6030029B2 publication Critical patent/JPS6030029B2/ja
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気ディスクにおける位置決め情報の記録位置
を試験する方法に関するものである。
位置決め情報の記録位置を試験する方法として従来は、
位置決め情報をサーボ信号とするディスク装置でのサー
ボ系を用いてヘッドの位置決めを行ない、ヘッドの動き
をレーザ側長器などの高精度な測定器で測定することで
行なわれていた。第1図、第2図は位置決め情報と読取
りヘッドの関係を示した説明図で、第1図は位置情報の
記録位置が理想状態の時、第2図は記録位置がずれてい
る時を示している。第1図で1は位置情報3,4が書込
まれた情報トラックで情報トラックの中間に読取ヘッド
2が位置決めされた時の読取出力は5のようになる。第
1図のように各情報の記録位置が理想的な場合は位置情
報3,4に対応した謙取出力5の波形は、6,7のよう
に波高値が等しく、波高値の差は零になる。ディスク装
置ではこの原理を使用して逆に波高値の差が零になるよ
うにヘッド位置を制御して各位置情報トラック1の中間
位置に位置決めしている。一方、第2図のように位置情
報の記録位置が理想状態とずれている場合は謙取ヘッド
2が固定位置にあれば、読取出力5は図示するように各
位直情報3,4で波高値が異なって、その差をとると8
のようになる。
従って、位置情報読取出力の差信号8を監視することで
記録位置の試験ができる。
第3図は従来の方法による回路例である。
9は読取ヘッド2の出力を増幅するアンプ、10は2つ
にまたがるトラックのそれぞれの位置情報(第1図の6
,7)を識別する回路、11は位置情報6,7の差電圧
を作成するエラー信号作成回路、12はボイスコイルモ
ータ13を駆動するパワーアンプ、14はヘッド位置を
側長するレーザ側長器である。
この回路でヘッドは位置情報出力6,7の差をエラー信
号作成回路11で作りその差電圧を零にするようパワー
アンプ12を通しボイスコイルモーター3を駆動するよ
うなサーボ系により位置決めされる。記録位置の試験は
この時のヘッドの動きをレーザ側長器14で預り長する
ことで行なつていた。したがって、ヘッドの位置決め自
体が使用するサーボ系の特性が大きく影響することにな
る。
しかしこの方法では試験時に用いるサーボ系の特性が位
置決め精度に大きく影響し、実際に使用するサーボ系と
異なる場合は試験精度に問題が生じる。従って記録位置
の試験としては一般性に乏しい欠点があった。本発明の
目的は前記した従釆技術の欠点をなくし高精度で記録位
置を試験する一般的な試験方法を提供するにある。
本発明は前記目的を実現する方法としてあらかじめレー
ザ側長器などを用いて試験すべき記録位置に磁気ディス
クの位置決め情報を読取る手段を位置決めし、この謙取
つた位置決め情報の中から比較する情報を分離し、その
分離した出力をそれぞれ2値化してこれらを比較判定し
て位置決め情報の記録位置を試験するものである。
以下図面にもとづいて本発明を説明する。
第4図は本発明を具体化した回路例である。
図で17は読取ヘッド2から増幅器16を通して増幅し
た2つのトラック位置情報(第1図3,4)を分離する
回路、18はA/D変換器、19は小形プロセッサであ
る。この回路で試験をするのには以下の方法で行う。
読取ヘッド2はあらかじめレーザ側長器14などを使用
して所定の位置に位置決めしておく。そこでの2つのト
ラックの合成された位置情報の出力電圧5は分離回路1
7で各トラックの位置情報6,7に分離され、それぞれ
A/D変換器18で2値化される。この2値化出力を小
形プロセッサ19で比較することで記録位置の試験を行
なうことができる。以上説明したように本発明によれば
従来の位置決めサーボ系などの外部要因が排除でき、高
精度かつ一般的で簡単な試験方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は位置情報とヘッドの関係を示す説明図
、第3図は従来方式による回路例、第4図は本発明の一
実施例における回路例である。 2・・・・・・読取ヘッド、5・・・・・・読取出力、
6・・・・・・位置情報1の出力、7・・・・・・位置
情報2の出力、16・・・・・・増幅器、17・・・・
・・位置情報分離回路、18・・・・・・A/D変換器
、19・・・・・・小形プロセッサ。 次/四グz図 了3図 ガ4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 磁気デイスクの位置決め情報を読取る手段と読取つ
    た位置決め情報の中から比較する情報を分離する手段と
    その分離した出力をそれぞれ2値化する手段と該それぞ
    れの2値化値を比較判定する手段とを有し、位置決め情
    報読取りヘツドをあらかじめ所定位置に固定した後その
    位置での位置情報の中の比較すべき情報の出力電圧の差
    を判定することを特徴とする位置決め情報の記録位置試
    験方式。
JP437278A 1978-01-20 1978-01-20 位置決め情報の記録位置試験方式 Expired JPS6030029B2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5498214A JPS5498214A (en) 1979-08-03
JPS6030029B2 true JPS6030029B2 (ja) 1985-07-13

Family

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0337081Y2 (ja) * 1984-04-03 1991-08-06

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0337081Y2 (ja) * 1984-04-03 1991-08-06

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JPS5498214A (en) 1979-08-03

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