JPS6029064B2 - ガス検知素子 - Google Patents

ガス検知素子

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JPS6029064B2
JPS6029064B2 JP7586477A JP7586477A JPS6029064B2 JP S6029064 B2 JPS6029064 B2 JP S6029064B2 JP 7586477 A JP7586477 A JP 7586477A JP 7586477 A JP7586477 A JP 7586477A JP S6029064 B2 JPS6029064 B2 JP S6029064B2
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JP
Japan
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gas
film
sensitivity
conductivity
metal oxide
Prior art date
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JP7586477A
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English (en)
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JPS549994A (en
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明 塩入
尚義 田口
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Figaro Engineering Inc
Original Assignee
Figaro Engineering Inc
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属酸化物半導体、とくに酸化インジウムの薄
膜を利用したガス検知素子に関するものである。
金属酸化物半導体が特定のガスの吸着によって電気伝導
度が変化することは一般に知られており、これを薄膜と
してガス検知素子に用いることも試みられている。
しかしながら薄膜として用いる場合には、感度と伝導度
の両方の機能を満足させることが困難であり、感度の良
好な金属酸化物半導体では一般には伝導度が低く、一方
伝導度を向上させるために膜厚を厚くすると感度が低下
してしまうという問題がある。また膜の厚さはガス感度
の点からは10000△以下にする必要があり、実用的
範囲としそは500〜4000Aの範囲が望ましい。こ
のような範囲の薄膜として実用的価値のある伝導度を有
するものにln203があるが、これを用いた場合、C
Oガスやイソブタンガスに対する感度が不充分であり、
しかもこれらのガスを検知する際に防害ガスとなる水素
やアルコール類への感度が比較的高いという欠点がある
。一方、Sn02,y−Fe203,Ga203等は薄
膜においてもすぐれた感度を有するが、その抵抗値は余
りにも高く、しかも膜厚を増大させると感度が低下する
ために実用化できなかった。、本発明はこのような点に
鑑み、酸化インジウムの薄膜を利用して、充分な伝導度
を具備させると共にCOガスやィソプタンガスに対する
感度も良好に発揮できるガス検知素子を提供することを
目的とするものである。
本発明は、酸化インジウムを主成分とする金属酸化物半
導体の下地膜上に、Sn02,Sn02とFe203と
の混合物、Gain03,y −Fe203,Ga20
3,Ho203,Ta2Q,Ce02,Moo3,Hf
02,Dy203およびCo203からなる群の少なく
とも一員の金属酸化物半導体を主成分とする表面膜を積
層するとともに、下地膜と表面膜の合成電気抵抗値を検
出するための一対の電極を設けたものである。
なお、ここで表面膜の材料としては、下地膜の1山03
と同じn形金属酸化物半導体でかつ耐熱性に優れたSn
02,Sn02とFe203との混合物、Gain03
、Ga203のいずれかを用いることが好ましい。また
表面膜の材料としては、上記のSn02やGain03
あるいはGa203等の金属酸化物半導体を主成分とす
るものであれば良く、ガス感度の向上のために貴金属触
媒等の副成分を加えたものでも良い。素子の構成として
は、図面に示すように、絶縁性基板1の表面に酸化イン
ジウムの下地膜2を設け、その上にSn02等のガス感
度の良好な金属酸化物半導体の表面膜3を穣層してその
両端部に電極4,4を設け、一方基板1の裏面には加熱
用ヒータ6およびその電極7,7を設けるようにすれば
よい。
表面膜3には感ガス性の向上のために触媒を添加しても
よい。酸化インジウムの膜厚は100〜5000Aの範
囲、好ましくは500〜2000Aの範囲で選定する。
表面膜3の厚さは下地膜の厚さより薄くする必要があり
、用いられる材料や設定すべき感度等によっても異なる
が、一般的にはできるだけ薄くすることが好ましく、実
用的には安定した膜が形成できる100人以上で適宜選
択すればよい。これらの膜の形成は、スパッタリング法
、真空葵着法、CVD法等によって行なえばよい。
上記構成においては、感度は低いが伝導度のすぐれた酸
化インジウム上に感度のすぐれた薄膜が形成されている
ために、検知すべきガスが発生した場合には表面膜によ
って吸着され、それによって下地の酸化インジウムの膜
の伝導度が静電的に制御され、所定の出力信号を出すこ
とになる。一般に薄膜型の感ガス半導体の動作機構は、
薄膜表面への各種ガスのイオン化吸着による静電場が薄
膜内部のエネルギーレベルを変化させ、これにより伝導
度を変化させることにある。従って、感ガス性に最も重
要なのは、各種ガスを効率よくイオン化吸着させる吸着
媒としての機能と、ガスの吸着によって生じる静電場に
よる伝導度の制御機能とがそれぞれすぐれていることで
ある。しかるに本発明においては表面膜として、上記吸
着嬢としての機能のすぐれたものを用い、下地膜として
は伝導性の良好な酸化インジウムの膜を用いてこの下地
膜で伝導度の変化を敬出すようにしているために、非常
に良好なガス検知が行なわれる。なお以上説明した通り
、酸化インジウム膜の役割りは、ガスのイオン化吸着に
よる静電場の制御下で伝導度を担うことにある。そして
下地膜については、酸化インジウムを主成分とする範囲
で、種々の金属酸化物半導体を添加しても良い。例えば
ln203にSn02を表面する場合、3の重量%まで
の添加であれば、全体の性質には余り影響を与えない。
また1〜03にFe夕3を添加する場合、2唯重量%以
下の添加であれば大きな影響を与えない。実施例−1反
応スパッタリング法により、膜厚約1000Aの酸化イ
ンジウム膜を絶縁基板上に形成させた。
この膜は500COにおいて約30KOの抵抗値を示し
た。この膿上に各種の金属酸化物半導体をスパッタリン
グ法によって膜厚約200八の厚さに積層させてCOガ
スおよびイソブタンガスに対するガス感度を調べた結果
を第1表に示す。同表において、資料No.1および1
0は比較例を示す。感度としては(RA一R)/R〔R
Aは清浄大気中の抵抗値、RはCOガスまたはィソブタ
ンガス中の抵抗値〕で示している。なお、下地膜の形成
をスパッタリング、蒸着、CVD等で行なった場合も結
果はほぼ同じであった。表面膜については他の方法で行
なったものも大差はなかったが、Sn02については真
空蒸着による場合は感度はやや低くなり、Ti02につ
いては金属薄膜を形成後60000以下で酸化したもの
が最も安定である。Ti02膜の反応スパッタリング法
あるいは600qo以上の温度で金属薄膜を酸化させた
ものは、製造直後COガスおよび水素に対してすぐれた
感度を示すが、安定化に伴ない水素およびCOガスへの
感度が低下し、エタノールに選択的な感ガス体になる。
第「表第1表に示されるように、酸化インジウム上にガ
ス吸着能のすぐれた表面膜を積層ごせたものはいずれも
COガスおよびイソブタンガスに対してすぐれた感度を
示している。
また複合酸化物も、酸化物の混合によって感ガス性が損
われることなくすぐれた特性を示している。なお、これ
らの素子の経時・性も第2〜4図に示すようにいずれも
非常にすぐれている。なお、図中11および12は第1
表資料No.3を400ooで大気中およびCOガス1
00pm中でそれぞれ加熱保持したもの、13および1
4は資料No.7を500qoで大気中およびCOガス
10■風中でそれぞれ加熱保持したもの、1 5および
16は資料No.8を32000で大気中およびCOガ
ス中でそれぞれ加熱保持したものを示している。以上説
明したように、本発明は下地膜として酸化インジウムを
用い、この上にガス吸着能のすぐれた金属酸化物を積層
させることによってガス感度を向上させ、これによって
薄膜型のガス検知素子として実用的価値のある特性を具
備させたものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す断面図、第2図〜4図は
経時特性図である。 1・・・基板、2・・・酸化インジウムの下地膜、3・
・・表面膜。 第1図 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 酸化インジウムを主成分とする金属酸化物半導体の
    下地膜上に、SnO_2,SnO_2とFe_2O_3
    との混合物、GaInO_3,γ−Fe_2O_3,G
    a_2O_3,Ho_2O_3,Ta_2O_5,Ce
    O_2,MoO_3,HfO_2,Dy_2O_3およ
    びCo_2O_3からなる群の少なくとも一員の金属酸
    化物半導体を主成分とする表面膜を積層するとともに、
    下地膜と表面膜の合成電気抵抗値を検出するための一対
    の電極を設けたことを特徴とするガス検知素子。
JP7586477A 1977-06-24 1977-06-24 ガス検知素子 Expired JPS6029064B2 (ja)

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JPS549994A JPS549994A (en) 1979-01-25
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JPS549994A (en) 1979-01-25

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