JPS6027958A - Ras回路 - Google Patents

Ras回路

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Publication number
JPS6027958A
JPS6027958A JP13699883A JP13699883A JPS6027958A JP S6027958 A JPS6027958 A JP S6027958A JP 13699883 A JP13699883 A JP 13699883A JP 13699883 A JP13699883 A JP 13699883A JP S6027958 A JPS6027958 A JP S6027958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
level
output
reset
Prior art date
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Pending
Application number
JP13699883A
Other languages
English (en)
Inventor
Sumio Ozawa
小澤 純雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP13699883A priority Critical patent/JPS6027958A/ja
Publication of JPS6027958A publication Critical patent/JPS6027958A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は高集積された半導体論理素子特にマイクロプロ
セッサを用いたシステムの高信頼動作を”I能とするR
AS回路に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、半導体論理素子はその集積度をとみに増大させて
おり、その中でも最も重要なものがマイクロプロセッサ
である。マイクロプロセッサは高集積化に伴ない機能お
・よび性能を高度化させ従来ミニコンビーータで行なっ
ていた分野の処理、制師迄も実行する様になってきた。
この様な中で次第に重要となってきたのがシステムの信
頼性の確保゛の問題であり、マイクロプロセッサの本来
の機能以外に信頼性確保のための種々の機能も集積する
ようになって来た。信頼性確保のための回路は一般にR
AS回路と呼ばれ、従来種々のものが考えられて来た。
以下図面を参照しながら従来のRAS回路について説明
する。
第1図は従来のRAS回路の一つの構成を示すものであ
る。第1図において1はシステム起動信号6によって起
動されマイクロプロセッサの各要素回路すなわち内部バ
ス、ALU、内部レジスタ等の動作検査を行なう自己診
断回路、2は上記自己診断回路1から出力される診断結
果信号7を入力の一つとしてマイクロプロセッサの動作
を制御するマイクロプロセッサ制御回路、3はマイクロ
プロセッサ、4は周辺装置、5はバスである。
以上の様に構成されたRAS回路について以下その動作
について説明する。図中RAS回路は自己診断回路1と
マイクロプロセッサ制御回路2とより構成される。まず
システム起動信号6が入力されるとマイクロプロセッサ
3では自己診断回路が起動され、周辺装置4については
装置全体がリセットされる。起動された自己診断回路1
は、マイクロプロセッサ3の一般的な構成要素であり図
中には示されていないALU、、内部レジスタ、内部バ
スなどが正常に動作するかについて一定の演算等を実行
して診断を行なう。
この様な自己診断を実行した結果、正常であるとの結果
が出た場合マイクロプロセッサ制御回路2に診断結果信
号7を出力し、マイクロプロセッサ制御回路2を起動し
命令フェッチ動作を開始しマイクロプロセッサの本来の
動作を始める。逆に自己診断の結果、誤動作が検出され
ると、診断結果信号7がエラー発見を示す内容となり、
マイクロプロセッサ制御回路2は、命令フェッチの代り
に特定アドレスへの書き込み動作を行なってマイクロプ
ロセッサ外部に対しエラーが発生されたことを出力する
。一般的にマイクロプロセッサの機能はマイクロプロセ
ッサの入出力ピン数でほぼ決定されてしまうため、限ら
れた入出力ピンを如何に有効に使用するかがマイクロプ
ロセッサ設計の要諦である。この様にマイクロプロセッ
サの入出力ピンはその本来の処理機能の向上に優先的に
使用されるという状況の中で上記のマイクロプロセッサ
のRAS回路は従来最も優れたものといえる。
しかしながら上記の様な構成のRAS回路では特定アド
レスへの書き込み動作には障害が全く存在しないという
ことが前提とされており、もし特定アドレスの生成回路
に障害があった場合および書き込み制御回路に障害があ
った場合、RAS回路は正常に動作せず障害を発見しな
いままシステムが動作し、システムレベルで更に重大な
障害を発生させるという大きな欠点を有していた。また
、上記説明の様なRAS回路すなわち特定アドレス生成
回路および書込み制御回路が含まれているマイクロプロ
セッサ制御回路2は、多くの回路要素の集合となってお
りその訓却は複雑であるため、最小の回路で構成される
RAS回路の開発が望まれていた。
発明の目的 本発明は上記欠点を除去し、簡易でかつ最小の回路素子
で構成することのできるRAS回路を提供するものであ
る。
発明の構成 本発明はシステム起動信号により起動され、/・−ドウ
エア動作の正常性を検査する自己診断回路と、上記自己
診断回路での検査結果が正常であったとき能動状態とな
る診断結果信号をセントまたはリセット入力とし、上記
システム起動信号をリセットまたはセット入力とするフ
リップ70ノブと、上記クリップ70ツブの出力信号を
入力とするドライバ素子とにより構成され、上記ドライ
バ素子の出力を上記システム起動信号に接続して論理和
をとることを特徴とするRAS回路である。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。第2図は本発明の一実施例におけるRAS回路の
構成図を示すものである。第2図において8は自己診断
回路、9はマイクロプロセッサ、1oは周辺装置、11
はノ(スであり以上は第1図の構成と同じものである。
さらに12は自己診断回路8の診断結果出力13をセッ
ト入力としシステム起動信号14をリセット入力とスル
フリップフロップ、15はフリソフリロツプ12の出力
を入力とし、システム起動信号とワイヤード。
オアされるドライバー素子である。
以上の様に構成されたRAS回路について以下その動作
について説明する。まずシステム起動信号14が能動状
態たとえば、ローレベル(以下Lレベルと記す)を能動
状態と仮定するとノ・イレベル(以下Hレベルと記す)
からLレベルに変化すると自己診断回路8が起動され周
辺装置10がリセットされる。同時にシステム起動信号
14は7リツプフロツプ12をLレベルにリセットする
ためフリップフロッグ12のQ出力に接続されているド
ライバ素子16によりLレベルに固定される。
システム起動信号14により起動された自己診断回路8
は、従来例で説明した通りの自己診断動作を行ない、診
断動作が完了すると診断結果出力信号13に結果を出力
する。今、正常に診断動作が終了したとすると、診断結
果出力信号13が能動状態すなわちLレベルとなりフリ
ップフロップ12の七ノド端子に印加されQ出力をHレ
ベルに変化させ、Lレベルに固定されていたシステム起
動信号14をHレベルに戻す。一方自己診断の結果、何
らかの障害が発見された場合には診断結果出力信号13
には能動状態の信号か出力されずシステム起動信号14
はLレベルに固定されたままとなる。従って何らかの障
害が発見された場合には常にシステム起動信号14が能
動状態に保たれ、周辺装置1oはリセットされたままの
状態となる。
マイクロプロセッサ9に障害があり、自己診断動作の後
、停止すべきものが停止せず仮にプログラムが暴走した
としても入出力をつかさどる周辺袋−が全てリセットさ
れたままであれば、システム動作に何ら重大な支障を起
こさない。
またマイクロプロセッサ9の入出力ピンについて考えて
みると、本発明に関するRAS回路のための特別の入出
力ピンは存在せず、システム起動信号14を利用してい
るに過ぎない。
なお上記の説明ではドライバー素子の出力をシステム起
動信号とワイヤード・オアするとしたが論理和素子を使
用して同等の機能を実現する様にしてもよい。
発明の効果 以上の様に本発明は、自己診断回路とフリップフロッグ
およびドライバー素子により非常に簡易にRAS回路を
構成することができ、更にRAS回路専用の入出力ピン
を使用しないようにすることができその実用的効果は大
なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例におけるRAS回路のブロック図、第2
図は本発明の一実施例におけるRAS回路のブロック図
である。 8・・・・・・自己診断回路、12・・・・・・フリッ
プフロッグ、15・・・・・・ドライバー素子、9・・
・・・・マイクロプロセッサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. システム起動信号により起動され、・・−ドウエア動作
    の正常性を検査する自己診断回路と、上記自己診断回路
    での検査結果が正常であったとき能動状態となる診断結
    果信号を七ノi・又はリセット人力とし上記システム起
    動信号をリセット又はセット入力とするフリップフロッ
    プと、丑記ンリップフロソプの出力信号を入力とするド
    ライバ素子とにより構成され、上記ドライバ素子の出力
    を上記システム起動信号に接続して論理和をとることを
    特徴とするRAS回路。
JP13699883A 1983-07-26 1983-07-26 Ras回路 Pending JPS6027958A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13699883A JPS6027958A (ja) 1983-07-26 1983-07-26 Ras回路

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13699883A JPS6027958A (ja) 1983-07-26 1983-07-26 Ras回路

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Publication Number Publication Date
JPS6027958A true JPS6027958A (ja) 1985-02-13

Family

ID=15188397

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JP13699883A Pending JPS6027958A (ja) 1983-07-26 1983-07-26 Ras回路

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