JPS60239706A - 光学的走査装置 - Google Patents

光学的走査装置

Info

Publication number
JPS60239706A
JPS60239706A JP60088457A JP8845785A JPS60239706A JP S60239706 A JPS60239706 A JP S60239706A JP 60088457 A JP60088457 A JP 60088457A JP 8845785 A JP8845785 A JP 8845785A JP S60239706 A JPS60239706 A JP S60239706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polyhedron
reflections
scanning device
reflection
towards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60088457A
Other languages
English (en)
Inventor
ラルス・カルルソン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pharos AB
Original Assignee
Pharos AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pharos AB filed Critical Pharos AB
Publication of JPS60239706A publication Critical patent/JPS60239706A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/12Scanning systems using multifaceted mirrors
    • G02B26/129Systems in which the scanning light beam is repeatedly reflected from the polygonal mirror
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/02Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
    • H04N3/08Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector
    • H04N3/09Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector for electromagnetic radiation in the invisible region, e.g. infrared

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は少くとも一つの次元に於て或区域上へ光学走査
を行うための光i走査装置で、それの周辺の周りに均一
に置かれた複数個の反射面を有する回転ドラムと;走査
装置内のビーム路の端に置かれた光束検知器または光束
源と:ビーム偏向性質を所有する静止光学要素で、検知
器またはビーム源へ最も近くにあるドラム上の面上への
反射の広がシが面の広がシに対して小さいように、ドラ
ムに対してビーム路を通過及び再通過するように置かれ
ているもの、とを含んでいるものに関するものである。
発明が解決しようとする問題点 光学的走査装置、例えば線走査用の装置に対する良好な
品質因子は光学的不変量w=56・αであって、ここに
ダは走査装置の開度、すなわち、装置の入力に置かれ、
装置を通過されるビームの断面であシ、αは走査場角度
である。もつと単純に表現すると、例えば、熱的感度を
幾何学的解像度で置換すること及びその逆と、即ち、下
記の式が適用される与えられた変量Eを有する赤外走査
装置の場合に可能である。
N慕′fυ ここにNInTDは所謂騒音等価温度差で、それは装置
の感度の測定である。
これは赤外光に対する与えられた光学的不変量と機能付
けの光学的走査装置に於ては、映像解像度と感度との間
に歩みよることが必要であることを意味する。光学的不
変量での増加は、これらの性質双方を改良するよ)大き
な可能性を与える。従って、光学的不変量を改良するの
に努力が払われる。
例えば、反射面をそれの周シに備えて反射多面体を形成
するようにした回転ドラムの助けで線走査が行われるな
らば、単にドラムに対しての反射だけで、それが最も普
通の場合であシ、下記の関係があてはまる。
とこにDは、多面体の二枚の相互に向き合った平面状側
部間の距離、すなわち、平面をよぎる幅であり、Nは面
の数、ηは走査効率で、それは面上でのビームの伝播と
面の大きさとの間の比に依存する。もしも走査が極めて
高速で行われるならば、ドラムを極めて高速で回転する
仁とを要するか、または、多面体は沢山の側部ないし面
を与えられねばならない6もしも多面体が多くの面を展
示して高い光学不変量Eを呈するようであるべきならば
、太き表電極を有さねばならない。とれは、走査効率が
高い(即ち、1に近い)時に特に真で、何故ならば、こ
の場合、各面は反射されるビームの直径に対して大きい
からである。
従来技術 本発明と同じ出願者を有するスエーデン特許出願第82
01306−1号は、よシ一層有効な走査を生じ、また
、その中では、活性ライン走査手段が、今後、鏡多面体
と呼ぶ反射面を備えている回転ドラムを含んでいる。前
述の特許出願中に記された実施例の共通特徴は、ライン
走査を行う時は、ビーム路は同じ回転鏡多面体に対して
二回反射されるということである。−回反射の場合には
、ビーム直径は比較的小さい。
走査装置の効率はそこで決められる。この反射はライン
の実際の走査へ単に穏和にしか寄与しないが、第二の反
射の場合には、ビームは面を満し、ライン掃引の間、そ
れに伴う。これは走査に対しよシ大きく寄与する。この
ようにして、。
腕長面体によって、多面体が多くの面を有し、平面をよ
ぎり狭い幅を有するにも拘らず、比較的に大きい光学的
不変量Eを得ることが出来る。
最良で、光学不変量はここでは である。
問題を解決するための手段 光学的不変量Eの更に別の改良は、本発明による装置で
、静止光学素子が、多面体に対して少くとも三回反射を
するようにビーム路を通すように仕組まれていて、検知
器またはビーム源に最本近く置かれている反射に加えて
多面体導向けての各反射に対するビーム路が多面体の運
動にほぼ忠実に追随し、多面体の回転方向内に於て、そ
れに向けて反射が起る各面上へほぼ完全な拡がシを有す
るようにし、また、はぼ完全な拡がシの反射をもつ面の
間の相互再生産が直径的に向合った面に対して、約−′
1の拡大度で起ることを許すという特性的特徴を有する
本発明による装置で得られる。
本発明の特徴によると、多面体は二列の反射面を有し、
そのうち、第一列は凸にカーブした面を含み、第二列は
平面状の面を含み、それと共に、検知器またはビーム源
に最も近い場所での反射は、第一列内の面に向って起シ
、残シの反射は第二列内の相互に向き合った面に対して
起るように仕組まれている。
本発明の別の特徴によれば、多面体は、平面状であると
ころの面の一つの単一列を有している。
本発明のなお更に別の特徴によれば、多面体へ向けての
これらの反射の間の光学素子で、多面体へそれの回転運
動に於て忠実に追随するものは、カーブした場の鏡と凹
面鏡とを含んでいる。また、検知器に最も近く起る多面
体に向けての反射と、多面体へ向けての次の追随する反
射との間のこれらの光学素子も、カーブした場の鏡と凹
面鏡とを含んでいてよい。そして多面に向けての総ての
反射は多面体上の交互の向き合っている面に向って起る
本発明を今や、付図を参照して、一層詳細に説明しよう
発明の作用 前1こ示した如くに、゛本発明の目的は、決った値のり
、N、及びηに対して光学不変量Eを更に増大すること
である。これは、ビームを、回転する腕長面体の形にな
った能動的走査手段から、ビーム線が面を満し、それが
多面体と共に動く時に面に伴うかまたは追跡するような
具合にして、二回以上反射するようにさせることで達成
される。勿論、面を勝手に追跡するこ□とは可能で力く
て、成る既定の法則を観測する時にのみに実際には達成
出来る。その法則を以下番と述べる。
これらの法則を観測する時は、光学不変量は次式を得る
ことK kは多面体の面に向けての反射数である。
第1図は、各追加の面追跡系列が外的に反射する回転多
面体で達成されるところの具合を描いている。ビーム路
は、ビームが多面体の運動に伴い、面Aを満すように予
め固定されている。
これが達成される具合はこれから後に、第3乃至5図を
参照して記す。面Aは、描かれている二つのカーブした
鏡2及び3の如きビーム路内に置かれた光学的部分品の
助けで、直径的に向き合った面B上または内に−1に近
接する倍率で再現される。この点に関して、走査装置を
通過する実際のビーム路はそれのそれぞれの走査点を面
の上には有していないということを注目すべきである。
ビームは、面Aを面Bの近傍上または内に−1の倍率で
再現し、かつ又、面Bを満し、それによって更に光学的
不変量Eへ高い寄与をするこの過程に伴うかまたは追跡
する。
第2図はそれによって追加の面追跡系列が内部に反射す
る多角形4によって達成されるところの原理を描いてい
る。面Aを面B上に−1の倍率で再現するに有効な光学
部分品は、ここでは単一のレンズ5によシ表わされてい
る。
実施例 第3及び4図は外部反射のついた二つの異る実施例を描
いておシ、それでは、回転する多面体が全体で三回反射
し、そのうち二回は面追跡系列を含んでいる。
第3図の実施例の多角形6は二つの面の平行列7及び8
を有している。上部列7内の面は凸で、また円筒形でも
球形でもよい。かくして、列7内の面は能動的光学ビー
ム偏向素子として機能しよう。図に描かれている走査装
置をもつと容易に理解出来るようにするために、装置は
検知器を出発点として記されよう、ビーム路は実際には
反対の方向に通っているけれども。
第3図に描かれている実施例では、検知器D1は、二個
のレンズ9及び10と隔膜11とから収るリレー光学系
によって列7内の面に近い点P1上に再現される。ビー
ム路はフィールド鏡として機能する面によシ反射される
。形がほぼ球形またはトロイダルであっても良いところ
の凹面鏡12がビームを多面体6へ、第3図で下部列8
内の面A1上へ戻す。面A1は、それに向けて第一反射
が起るところの上部列7内のその面の直ぐ下に置かれる
のが適切である。列8内の面A1に向けて反射された後
で、ビームは点P2上に焦点付けされる。鏡12、多面
体6及び点P2の場所は、面A1に向けての反射をする
と、ビームは実用上該面を少くとも多面体の回転の方向
に於て満すように、総て寸法付けられている。−走査の
経過の間、スボツ)P2は空間内の弧状カーブを通して
動く。この弧状のカーブの上または近くに凹面鏡13が
置かれていて、それは円筒形または球形の外形のもので
も適当である。鏡13はフィールドミラーとして機能し
、ビームを更に別の凹面鏡14上へ指向し、これはほぼ
球形またはトロイダルの外形のものでもよい。鏡14は
ビームを、下部の面上8内の面B1に向けての反射の後
に、点P3上へ再焦点付けする。この面は面A1に向き
合って在る。多面体に対しての鏡13及び14の寸法付
けは、面A1が面B1上に−1の倍率で再現されるよう
にする。
凹面鏡15はビームを、それの赤外輻射が再現されるべ
き対象上に焦点付けする。もしも対象が遠方に置かれて
いると、鏡15の下流のビーム路は実用上平行にされよ
う。走査鏡16は、ライン走査の間、ビーム路の瞳孔内
または近くに置かれている。走査用鏡16はビーム路を
垂直に偏向し、垂直走査を得るように、する。
第4図に描かれている実施例では、回転多面体17はた
だ一列の面だけを有しておシ、それはこの場合、平面状
である。第4図実施例では、検知器D2からのビーム路
は他の型のリレー光学系18を通過する。これはカセグ
レイン(6assθgrain )型のもので、かくし
て純粋に反射的部分品を含んでいる。この凰のリレー光
学系は、総ての実施例に於て、第3図のリレー光学系9
−11の代替として使用出来る。
平面鏡19はビーム路を面A2上へ偏向し、そこで点P
a上へ反射されて焦点付けされる。フィールドミラーと
して働く凹面鏡20が一走査の間に点P、によシ記され
た弧状線に近接して置かれておシ、ビームを平面鏡22
によって多面体17の他側上の凹面鏡21上に反射す−
る。
凹面鏡21は球形または非球形外形のものでもよく、ビ
ームを多面体17上の面B2によシ点P1)上に焦点付
けする。面B2でのビーム円錐の幅は、回転方向に見た
面の幅に等しい。凹面鏡23の形は円筒形または球形形
状でも適当であるるか、その形のフィールドミラーは、
−走査の間に点アbが辿った軌跡の近くに位置付けられ
ていて)ビームを多面体17の反対側上の更に別の球形
またはトロイダル鏡24上へ偏向する。鏡24は多面体
17上の面A2に向けての反射を経て、点PC上にビー
ムを焦点付けする。
この反射の場所でのビーム円錐の幅は、多面体の回転の
方向に見て、はぼ面A2の幅と同じである。ビームはそ
れから球形ないし非球形形状の凹面鏡25によシ反射さ
れ、それがビームを走査されるべき遠隔に置かれた対象
上に焦点付けする。従って、ビームは殆んど平行にされ
ている。走査の間、共通の瞳孔内に置かれて、更に別の
走査手段があって、それが走査手段17に直角に走査を
行う。描かれた実施例の如くに、この更に別の走査手段
は、枢動的走査鏡26の形をしている。それはまた反射
鏡を備えた第二の多面体の形を有していてもよい。−走
査の間に点P。が辿ったラインの一方または双方の端に
、温度参照体Tを置くと適切である。
第4図に描かれた実施例と第5図に描かれたものとの唯
一の差は、ビーム路が多面体17に対して動かされ、そ
こから第四回の反射をするようにされていることである
。これらの部分品と素子とは第4図での類似の部分品と
素子とに合致して居るので、従って同じ参照番号をつけ
である。描写するせいによって、この実施例でのビーム
路は、それぞれのフィールドミラー20.23.27上
に正確に焦点付けされるよう番と示されているが、そう
した焦点付は精度は実用上の場合ではない。ダイオード
D3から面A2ヘカセグレーン型リレー光学系を経ての
ビーム路は、この場合、発散されていないが、他の点で
は、第4図の素子D2及び18でと同じ具合にの寸法に
なっている。第4図での如くに、ビーム路はそれから、
20,22,21.A2゜23.24.24 、A2を
経て点Pcへ通る。P。
への軌跡には凹面鏡27が置かれてぃて、それは球形ま
たは円筒形の形になっているのが箒切である。鏡27は
ビーム路を更に別の球形または非球形凹面鏡28で多面
体17の他側上にあるものの上へ偏向する。この鏡は、
ビーム路を面B2に向けての反射によってPd上へ焦点
付けする。ビーム円錐は、少くとも多面体回転の方向内
で面B2を満し出して、−走査の間にほぼ正確に面B2
に追随または追跡する。ビーム路は、球形でも非球形で
もよい、更に別の鏡29により走査されるべき対象上へ
焦点付けされる。
従ってビームはほぼ平行化されている。本発明による走
査装置が、IR−カメラの如き、走査光学系カメラ内に
仕組まれる時には、垂直走査は枢動的走査鏡30によシ
行われる。温度参照体はPdにより辿られたカーブした
径路の端部に置かれると適当である(図示せず)。
発明の効果 第6図は、ビームを多面体に向けて一回、二回、三回及
び四回反射させる時に達成された最大の行為を描いてお
り、後の二つの場合を本発明は抱括している。走査効率
は横軸に沿って、相対光学不変11Ere1は縦軸に沿
って与えられている。この線図か見られる如くに、単一
反射の場合の最高相対光学的不変量は、走査効率ηが0
.5の時に得られる。従って、単に一回の反射の場合に
は、装置の効率が0.5から過度に偏ることは基本的に
不適当である。二回反射の場合には、ビームはそれぞれ
の面を追跡または追随するので、最大光学的不変量は、
他方に於て、次の最良走査効率で得られる。しかしなが
ら、図から見られる如くに、到達可能相対光学 変量は
、全面追跡付きの多面体に更に反射させるごとに一単位
だけ増大し、四回反射の場合には、到達可能な最大相対
光学的不変量は既に、二回の反射で到達可能なものの四
倍になるようになる。種々の理由によシ、1に精確に等
しい走査効率は適当ではなく、よって、僅かに低い効率
が選択されている。前述の如く、走査効率は、ビーム円
錐のそれぞれの幅と検知器に最も近い場所での面との間
の関係に依存しておシ、そして面上に直接に焦点付けす
ることは、面内の僅かな欠陥がそうすると極めて重要な
意義を得るだろうから、適当では無い。しかしながら、
第6図から、相対的光学不変量、ji;relへの極め
て艮好な寄与もまた低い効率に於て得られることが見ら
れるだろう。
本発明の範囲内で多くの変量が可能である。
例えば、総ての実施例に於て、ビーム路は走査されるべ
き一対象から通るように示されていた。装置を通しての
逆のビーム路も本発明の範囲に入ることが理解されよう
、その場合に検知器DI、D2は、光ダイオードないし
レーザーの如き変調された光源、及び光学装置によシス
クリーン上に記録された放射線で置換するととが出来る
。本発明はまた二つの光学装置を含めることも抱括する
もので、その中ではビーム路は相互に反対の方向を有し
、又、その中では、光源の変調が検知器からの信号によ
シ制御されるものをも包括する。この後者は、公知の技
法の一部で、前述したスエーデン特許出願第82013
06−1号に記載されている。
【図面の簡単な説明】
第1図は、追加の面追跡系列が外部に反射する多面体で
達成される原理を描いている。 第2図は、追加の面追跡系列が内部に反射する多面体で
達成される原理を描いている。 第3図は、本発明による装置の第一実施例の部分的に断
面にしだ側部図である。 第4図は、本発明による装置の第二実施例の透視図であ
る。 第5図は本発明による装置の第三実施例の一部分断面に
した側部図である。 第6図は本発明によシ生ぜられる効果を描いている線図
である。 なお参照付号6,17は回転する多面体を示し、9.1
0はレンズを示し、12,13゜14.15,20,2
1,23,24.25は凹面鏡を示し、16,26.3
0は走査鏡を示し、19.22は平面鏡を示し、DI、
D2.D、は検知器を示す。 FIG、I F1α2 FIG、6 E− 手続補正書 昭和70年(月〆日 火停杓九査徳豐 3、補正をする者 事件との関係 生子息〒諺人 往=所中井に)卵 置台名称 ファロス゛ニーヒバ− 4、代理人

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、或面積を少くとも一つの次元内で光学的走査を行う
    光学的走査装置であって、それの周辺を周って均一に置
    かれている複数個の反射面(AI、Bl:A2.B2)
    を有する回転可能多面体(6:17)と;走査装置内の
    ビーム路の終シに置かれている光束検知器(DI:B2
    ;B3)または光束源と;ビーム偏向性を所有する静止
    光学素子(12−15:20−25:2O−29)で、
    光束を多面体に向けて、検知器又はビーム源に最も近く
    に横わる多面体上の面上への反射の広がシが面の広がシ
    に対して小さいように通過及び再通過するように置かれ
    ているものとを含んでいて、 静止光学素子(12−15:20−25;2O−29)
    は光束を少くとも三回、多角形に向けて反射するように
    通し、光束が、検知器またはビーム源に最も近く位置す
    る反射に加えて多面体に対する各反射ごとに、多面体の
    動きにほぼ忠実に追随するようにし、かつ、多面体の回
    転方向内でそれに向けて反射が起るところの各面上へほ
    ぼ完全な広がシを有することを許し、かつ、はぼ完全な
    広がシの反射をもつ面の間の相互再生産が直径的に対向
    した面に向けて略々−1の拡大度で起ることを許すより
    に仕組まれていることを特徴とするところの走査装置。 2、多面体(6:17)は二列(7,8)の反射面を有
    し、それのうち、第−夕旧7)は凸にカーブした面を含
    み、第二列(8)は平面状面を含み、それと共に、検知
    器(Dl)またはビーム源に最も近く位置する反射は第
    一列内の面に向けて起るように仕組まれており、残シの
    反射は第二列内の相互に向き合った面、(A11 B1
    )に向けて起るように仕組まれていることを特徴とする
    ところの特許請求の範囲第1項記載の走査装置。 3、多面体は平面状である面の一つの単一列を有子るこ
    とを特徴とするところの特許請求の範門弟1または第2
    項記載の走査装置。 4゜それの回転運動に於て多面体に忠実に追随する、多
    面体に向けてのこれらの反射の間の光学素子がカーブし
    た場の鏡(13:23,27)と凹面鏡(14;24;
    28)とを含んでいることを特徴とするところの特許請
    求の範囲先行の項の何れかの一つに記載の走査装置。 5、多面体に向けて検知器(D2:D3)に最も近く起
    る反射と、多面体に向けての次に追随する反射との間の
    これらの光学素子もまた、カーブした場の鏡(20)と
    凹面鏡(21)とを含んでいることと、また、多面体に
    向けての総ての反射が多面体上の交互対向面(A2.B
    2)に向けて起ることとを特徴とするところの特許請求
    の範囲第4項記載の走査装置。
JP60088457A 1984-04-26 1985-04-24 光学的走査装置 Pending JPS60239706A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8402294-6 1984-04-26
SE8402294A SE442067B (sv) 1984-04-26 1984-04-26 Optisk svepanordning

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60239706A true JPS60239706A (ja) 1985-11-28

Family

ID=20355688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60088457A Pending JPS60239706A (ja) 1984-04-26 1985-04-24 光学的走査装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4632503A (ja)
JP (1) JPS60239706A (ja)
DE (1) DE3514302A1 (ja)
FR (1) FR2563636B1 (ja)
GB (1) GB2157845B (ja)
SE (1) SE442067B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10239616A (ja) * 1997-02-28 1998-09-11 Seiko Epson Corp 光走査装置
JP2005070204A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Seiko Epson Corp 光走査装置および画像形成装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4759593A (en) * 1986-03-21 1988-07-26 Eastman Kodak Company High resolution optical scanner
JPH0727125B2 (ja) * 1986-05-23 1995-03-29 株式会社日立製作所 光走査装置
DE3824127C2 (de) * 1988-07-15 1994-09-29 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zur Wärmebehandlung der Oberfläche eines Substrates, insbesondere zum Kristallisieren von polykristallinem oder amorphem Substratmaterial
DE3923788C1 (ja) * 1989-07-18 1991-01-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 8000 Muenchen, De
US5177632A (en) * 1991-04-04 1993-01-05 Nira Schwartz Tracking system using a polygon of unique dimension or arbitrary polygon combined with sensors
US5170279A (en) * 1991-11-01 1992-12-08 Nira Schwartz Method and apparatus for calibrating and improving linearity of system for scanning moving objects
GB9201268D0 (en) * 1992-01-21 1992-03-11 Sira Ltd Optical apparatus
US5384654A (en) * 1993-05-10 1995-01-24 Olympus Optical Co., Ltd. Image observation device
EP0816894A3 (en) 1996-07-01 1999-01-20 Seiko Epson Corporation Optical scanning apparatus

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5397448A (en) * 1977-02-04 1978-08-25 Canon Inc Self amplifying deflection scanning optical system
JPS53142250A (en) * 1977-05-17 1978-12-11 Canon Inc Scanning optical system of high scanning efficiency
JPS58166321A (ja) * 1982-03-03 1983-10-01 フアロス・エ−ビ− 光学的走査装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB440055A (en) * 1934-10-26 1935-12-19 Ernest Traub Improvements in or relating to the decomposition and composition of pictures particularly in television
CA928112A (en) * 1969-09-02 1973-06-12 International Business Machines Corporation Scan angle multiplier of constant aperture
GB1419940A (en) * 1972-01-25 1975-12-31 Refifon Ltd Xcanning devices
US3973826A (en) * 1972-01-25 1976-08-10 Redifon Limited Scanning devices
JPS5815769B2 (ja) * 1974-09-11 1983-03-28 キヤノン株式会社 ソウサコウガクケイ
US4170398A (en) * 1978-05-03 1979-10-09 Koester Charles J Scanning microscopic apparatus with three synchronously rotating reflecting surfaces
US4478482A (en) * 1981-05-11 1984-10-23 Koester Charles J Axial scanning optical system and method of examining an object plane

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5397448A (en) * 1977-02-04 1978-08-25 Canon Inc Self amplifying deflection scanning optical system
JPS53142250A (en) * 1977-05-17 1978-12-11 Canon Inc Scanning optical system of high scanning efficiency
JPS58166321A (ja) * 1982-03-03 1983-10-01 フアロス・エ−ビ− 光学的走査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10239616A (ja) * 1997-02-28 1998-09-11 Seiko Epson Corp 光走査装置
JP2005070204A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Seiko Epson Corp 光走査装置および画像形成装置
JP4701593B2 (ja) * 2003-08-21 2011-06-15 セイコーエプソン株式会社 光走査装置および画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
SE442067B (sv) 1985-11-25
FR2563636A1 (fr) 1985-10-31
US4632503A (en) 1986-12-30
GB2157845A (en) 1985-10-30
GB8506975D0 (en) 1985-04-24
SE8402294D0 (sv) 1984-04-26
FR2563636B1 (fr) 1988-12-09
SE8402294L (sv) 1985-10-27
DE3514302A1 (de) 1985-10-31
GB2157845B (en) 1987-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4796961A (en) Multi-beam scanning optical system
EP0021852B1 (en) Holographic scanning system
JP2003161900A (ja) 収束する光学要素を有する光スイッチ
JP6893538B2 (ja) 光走査装置および、光学拡張または光学圧縮の装置
AU7234287A (en) Scanning apparatus
JPS60239706A (ja) 光学的走査装置
JPS56164312A (en) Optical deflecting device
EP0213539B1 (en) Picture reading apparatus
JP3081278B2 (ja) 物体の位置と方位を光学的に決定する装置
US3802759A (en) Device for optical-mechanical scanning of images by means of corner reflectors
EP0209929B1 (en) Optical scanning device
JPH04123016A (ja) レーザ装置
JPH0451003B2 (ja)
JPS62265613A (ja) 光ビ−ムの2次元町偏向装置
JPH0426452B2 (ja)
JPH0441324B2 (ja)
JP2000507004A (ja) 増大した角度走査範囲を有する光学装置
JPH0445415A (ja) 走査型光検出装置
JPS6138922A (ja) 光ビ−ム走査装置
SU1183935A1 (ru) Сканирующее устройство
JPS62127818A (ja) 光学的光ビ−ム走査器
JPH04204514A (ja) 光ビームの走査装置
JPS6111810Y2 (ja)
JPS5930521A (ja) 光走査装置
JPS62254115A (ja) 光ビ−ム走査装置