JPS60237317A - 変位変換器 - Google Patents

変位変換器

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JPS60237317A
JPS60237317A JP9365184A JP9365184A JPS60237317A JP S60237317 A JPS60237317 A JP S60237317A JP 9365184 A JP9365184 A JP 9365184A JP 9365184 A JP9365184 A JP 9365184A JP S60237317 A JPS60237317 A JP S60237317A
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JP
Japan
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light
light receiving
phase
image sensor
slits
Prior art date
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Application number
JP9365184A
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English (en)
Inventor
Hajime Kuwabara
一 桑原
Yutaka Ono
裕 小野
Mitsuhiro Nikaido
二階堂 光宏
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication date
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Priority to US06/725,088 priority patent/US4680466A/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/366Particular pulse shapes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光を利用して機械的な変位を検出する変位変
換器における直線性の改良に関するものである。
(従来の技術) このような光学式の変位変換器の一種として従来からあ
るロータリーエンコーダの分解能および応答速度を改良
したものが特願昭58”−86391号記載の変位変換
器である。これは、透光スリットを通った光を受光する
受光素子として、複数分割したフォトダイオードを使用
するとともに、このフォトダイオード上に所定ピッチで
配列する透光スリットを有する位置板を設置したもので
、第2図はその構成説明図である。この図において、1
はコード板、11はこのコード板1に所定ピッチで円周
方向に複数個配列する透光スリット、3は光源、30は
この光源3からの光ビームを平行ビームにするためのレ
ンズ、4は透光スリット11を通った光源3からの光(
スリット像)を受光するイメージセンサで、ここでは動
作を簡単に説明する都合上、4分割したフォトダイオー
ド41゜42.43.44と、このフォトダイオード上
に所定ピッチで配列するスリット孔を有する位相板2を
設置したものを示す。S W +〜SWaは4分割した
各フォトダイオード41〜44からの信号を一定のタイ
ミングで、順次取り出すスイッチである。5は各スイッ
チS W +〜S W aを介して印加されるイメージ
センサ4からの信号を増−幅する増幅器、6は増幅器5
からの出力信号の基本−成分を抽出するバンドパスフィ
ルタである。
第3図は、位相板2に設けた透光スリット21゜22.
23.24と、4分割したフォトダイオード41〜44
の配列関係を示す図である。この図に示すように、透光
スリット21.22,23゜24(実線で示す)の配列
ピッチは、4分割フォトダイオード41.42.43.
44 (破線で示す)の配列ピッチと等しく、また、コ
ード板1に設けられた透光スリット(斜線で示す)11
の配列ピッ−γ甲に対して5/4Pとなるよう形成され
ている。なお、各スリット孔21〜24のスリット幅は
ここではP/2にしである。
このように構成した装置の動作を、次に第4図の動作波
形図を参照しながら説明する。
光源3からの光は、レンズ30で平行ビームとなり、コ
ード板1の透光スリット11および位相板2の透光スリ
ット21〜24を通過し、4分割フォトダイオード41
〜44上に透光スリット11の像を結像させる。各スイ
ッチS W +〜S W aは、第4図<a、)〜(d
)に示すようなタイミングで順次オン、オフ(オン時間
を王とする)し、各フォトダイオード41〜44からの
信号を順次取り出す。増幅器5はこの信号を増幅する。
この結果、増幅器5の出力信号e、は、第4図(e)に
示すように、各スイッチS W + ”−S W aが
オンと 、なる時間ごとに大きさが階段状に変化する階
段波形となる。このような階段波形e5をバンドパスフ
ィルタ6に加えると、第4図(f)に示すような正弦波
信号e6が得られる。この正弦波信号e6の基本波周波
数は、各スイッチS W +〜S W aを順次駆動す
るくり返し周波数に一致する。ここで、コード板1が測
定すべき変位に応じて回転すると、各フォトダイオード
41〜44上に結像する像が移動し、バンドパスフィル
タ6がら得られる正弦波信号e6の位相が、像の移動量
、すなわち、コード板の変位に応じて、例えば破線に示
すようにΦだけシフトする。コード板1が透光スリット
11の配列ピッチの1ピッチP分だけ回転すると、正弦
波信号e6の位相シフト量は2πとなる。
したがって、この位相のシフト量Φを測定することによ
って、コード板1に形成された透光スリット11の配列
ピッチ8以内の回転角度をめることができる。
第5図は、このような位相シフト量測定回路の一例をし
めず構成ブロック図である。この回路はバンドパスフィ
ルタ6から得られる正弦波信号e6の位相を100〜1
000程度内挿する動作をなすものである。すなわち、
正弦波信号e6を、帰還回路に1/N(Nは分周比)分
周器72を有したフェーズロックドループ(PLL)7
1に印加し、ここでN倍された信号fslhと、基準ク
ロック(この基準クロックはイメージセンサ4の駆動信
号として用いられる)fcを同時パルス禁止回路8を通
した後、アップダウンカウンタ9に与えるようにしたも
のである。PLL71でN倍された信号rstwの周波
数がfCより高くなる方向(rc+八fへへコード板1
が回転すると、アップダウンカウンタ9はアップカウン
トし、また、fsiQがreより低くなる方向(fc−
Δf)へコード板1が回転すると、ダウンカウントする
したがって、アップダウンカウンタ9の出力から、位相
シフト量、すなわちコード板1の回転角を、例えば、分
周比Nを1000とすれば、1Pの1/1000といっ
た高い分解能で内挿することができる。
このような構成の変位変換器は比較的簡単な構成で、高
分解能、高速応答性を有し、光源の強度変化やイメージ
センサを構成覆る素子の感度変化等の影響を受けないと
いう特徴を有するが、下記の様な非直線誤差の問題を有
している。
第6図は従来の通常形エンコーダの具体例を示した要部
説明図である。理解を容易にするために図では直線形で
表現している。コード板601にはスリット611が一
様のピッチPで設番プられ、位相板602にはピッチP
で配列された4つのスリットの組621A〜621D、
622A〜622D、623A〜623D (一部のみ
図示)、624A〜624D (図示せず)がそれぞれ
フォトダイオード641,642.643 (一部のみ
図示)、644(図示せず)に対応し、スリット組同士
の境目の部分でピッチをP/4だけ増して、設けられて
いる。なお、各スリット孔のスリット幅は第3図の場合
と同様、P/2である。
第7図<A)は前記コード板601の変位に対して前記
フォトダイオード641〜644のそれぞれから異った
位相で出力される信号波形を示す動作波形図である(変
位速度が一定の場合にはタイムチャートも同一波形とふ
る)。フォトダイオードに入る光量はコード板601と
位相板602の開口面積に比例するので、コード板60
1の変位がピッチP増加する度に同一の三角波の繰り返
し波形が現われる。理想的な三角波形は波形701(点
線)であるが、実際には光の洩れなどにより波形702
(実線)のようになる。この波形702は基本波のほか
に3.5.7.9.11.・・・次の空間高調波を含ん
でいるので第4図の正弦波信号e6のシフト量φは変位
に比例せず、前記高調波成分の影響を受けた値となる。
この結果上記の変位変換器では出力に非直線誤差を生じ
る。
−第7図(B)は最も影響の大きい3次空間高調波の波
形を示した線図で、前記コード板601の変位に対して
スリット611および位相板602のスリットの一つを
通過する光量に対応するフォトダイオード出力の3次空
間高調波成分の波形を示すチャートである。bl、 b
2. b3. b4はコード板601が特定の位置にあ
るときに位相板602の各スリット組621A〜621
D、622A〜622D、623A〜623D、624
A〜624Dがそれぞれとる位相上の位置である。各ス
リット組に属するそれぞれ4つのスリットは位相が同一
なので、各フォトダイオード641〜644からは第7
図(B)の波形(1スリツト孔に対応)の4倍の振幅の
3次空間高調波が出力される。非直線誤差の原因となる
このような高調波はできるだけ減少させることが望まし
い。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
、光を利用して機械的な変位を検出する変位変換器の非
直1lAWA差を小さくすることを目的としている。
(問題点を解決するための手段) 本発明における第1の発明の変位変換器はピッチPで配
列する複数個の透光スリットが形成されたコード板、こ
のコード板の透光スリットに平行な光を投射させる光源
、複数分割した受光素子とこの各受光素子上に設置され
所定ピッチで配列するスリット孔を有した位相板と各受
光素子からの信号を順次取出すスイッチ手段とで構成さ
れるイメージセンサ、このイメージセンサから得られる
信号から基本波成分を抽出するバンドパスフィルタ、こ
のバンドパスフィルタの出力信号と前記イメージセンサ
の駆動信号とを入力し前記基本波成分の位相シフト量に
基づいて前記コード板の変位をめる位相測定手段を具備
するとともに、前記位相板はスリット孔の間隔が互いに
ピッチPの整数倍からP/ (4n +2)(但しnは
正の整数)ずれて位置するスリット対を各受光素子に対
応して備えることにより、前記受光素子からの出力信号
に含まれる(2n+1)欠字間高調波を除去するように
したことを特徴とする。
本発明における第2の発明の変位変換器はピッチPで配
列する複数個の透光スリットが形成されたコード板、こ
のコード板の透光スリットに平行な光を投射させる光源
、複数分割した受光素子とこの各受光素子上に設置され
所定ピッチで配列するスリット孔を有した位相板と各受
光素子からの信号を順次取出すスイッチ手段とで構成さ
れるイメージセンサ、このイメージセンサから得られる
信号から基本波成分を抽出するバンドパスフィルタ、こ
のバンドパスフィルタの出力信号と前記イメージセンサ
の駆動信号とを入力し前記基本波成分の位相シフト量に
基づいて前記コード板の変位をめる位相測定手段を具備
するとともに、前記位相板の前記各受光素子に対応する
2n本(但しnは正の整数)のスリット孔が互いにピッ
チPの整数倍からP/6.P/10.P/j4.・・・
、P/(4n+2)ずれた間隔のスリット対をそれぞれ
1,2,4.・・・27+−1対形成するように配列す
ることにより、前記受光素子からの出力信号に含まれる
3、5,7.・・・、(2n+1>欠字間高調波を除去
するようにしたことを特徴とする。
(作用) 上記の手段を用いて、位相板の各スリット対を介して各
受光素子に入射する光に含まれる1800位相の異なる
空間高調波成分同士を互に相殺させることにより、受光
素子の出力信号に含まれる空間高調波成分を消去し、変
位変換器の直線性を改善することができる。
(実施例) 以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第1図は本発明に係わる変位変換器の一実施例で、従来
例で説明した第2図の変位変換器において使用される位
相板2のスリット配列を変えたものの要部構成説明図で
ある。第6図の場合と同様に直線形で表現している。1
01はコード板、111はこのコード板101にピッチ
Pで設けられたスリット、141,142,143 <
一部のみ図示)、144(図示せず)は4分割されたフ
ォトダイオード、102は位相板、121A〜121D
、122A〜122D、123A〜123D(一部のみ
図示)、124A〜124D (図示せず)はそれぞれ
前記フォトダイオード141,142.143.144
に対応(対向)してこの位相板102に設けられたスリ
ット孔である。フォトダイオード141に対応する位相
板102のスリット孔121A〜121Dにおいて、ス
リット孔121Aと1218#に(Fス!Jyト孔12
1Cと121Dの間隔はP1スリット孔121Bと12
10の間隔はP十P/6=7P/6となっている。この
配列関係はフォトダイオード142,143.144に
対応するスリット孔についても同様で、この結果スリッ
ト孔121Dと122A。
122Dと123A、123Dと124Aの間隔は13
P/12となる。各スリット孔のスリット幅は第6図と
同様、P/2である。
なお、各スリット組内のピッチはPからP/6だけずれ
ていればよく、例えばスリット孔121Bと1210の
間隔は5P/6でも構わない。
第7図(C)は前記コード板101の変位に対してスリ
ット111および位相板102のスリット孔の一つを通
過する光lに対応するフォトダイオード出力の3次空間
高調波成分の波形を示す動作波形図である。cl、 C
2,C3,C4,C5,’c6. C7゜C8はコード
板101が特定の位置にあるときに位相板102の各ス
リット孔121Aと121B。
121Cと121D、122Aと122B、122Cと
122D、 123.、Aと123B、123Cと12
3D、124Aと124B、124Cと1240がそれ
ぞれとる位相上の位置である。すなわち、フォトダイオ
ード141に対応するスリット組においてスリット孔1
21Δ、121B(位相cl)とスリット孔121B、
121D(位相C2)とは位相的にP/6のずれがあり
、これは3次高調波については180°の位相差となる
ので相殺される。この結果、フォトダイオード141の
出力から3次高調波は検出されない。これはフォトダイ
オード1.42,143,144からの出力についても
同様である。
上記のような構成の変位変換器によれば、第4図の正弦
波信号e6のシフト量φは、非直線誤差への影響が最も
大きい3次高調被成分を除去するので、直線性が大幅に
向上する。
なお上記の実施例ではスリット孔121A、121Bと
1210.’121Dの間に位相のずれP/6を設けた
が、スリット孔121Aと121Bおよびスリット孔1
21Cと121Dの間の位相のずれをP/6とし、スリ
ット孔121Aと121Cおよびスリット孔121Bと
121Dの間の位相を一致させてもよい。すなわち、一
つのフォトダイオードに対応するスリット群の半分と残
りの半分との間にP/6の位相のずれがあればよい。
また上記の実施例ではスリット孔の位相をP/6ずらす
ことにより3次の空間高調波を除去しているが位相をP
/10ずらせば同様に5次の空間高調波を除去すること
ができる。一般にP/(4n+2)の位相ずれを設ける
ことにより、(2n+1)次の空間高調波を除去するこ
とができる。
本発明に係る変位変換器の第2の実施例は、第1図の位
相板102のスリット孔121Aと121Cの間の位相
ずれをP/6とし、スリット孔121Bと121Aおよ
びスリット孔121Dと121Cの位相ずれをP/10
とすることにより、第3次および第5次の空間高調波を
除去するものである。第8図はその動作を説明するため
の動作波形図で、前記コード板101の変位に対してス
リット111および位相板102のスリット孔の一つを
通過する光量に対応するフォトダイオード出力の3次(
実線)および5次(点線)の空間高調波成分の波形を示
している。dl、 d2. d3. d4はコード板1
01が特定の位置にあるときに位相板102のフォトダ
イオード141に対応するスリット121A、121B
、121C,121Dがそれぞれとる位相上の位置であ
る。すなわち、3次空間高調波は位相d1とd3におい
て相殺され、5i□、、!、よや相、1お、2、位相、
3おti4゜組8合わせで相殺される。この結果、フォ
トダイオード141からの出力に3次および5次の空間
高調波は含まれない。フォトダイオード142〜144
についても同様である。
上記の実施例では各フォトダイオードに対応する位相板
のスリット孔を4本用いて3次および、5次の空間高調
波を除去したが、前記スリット孔を8本用いれば3.5
.7次の空間高調波を除去することができる。すなわち
、一般的に 2n本(但しnは正の整数)のスリット孔
を、互いにP/6.P/10.、P/14.−、P/ 
(4n +2)ずれた位相のスリット対がそれぞれ1.
2.4゜・・・2n−1対形成されるように配列するこ
とにより、前記フォトダイオードからの出力信号に含ま
れる3、5.7.・・・、(2n+1)欠字間高調波を
除去することができる。
なお上記の実施例では4相形(4検出器形)の場合につ
いて説明したが、一般的には2相以上について可能であ
る。
また上記の各実施例ではいずれもロータリーエンコーダ
への適用を想定しているが、直線変位形にも適用できる
(発明の効果) 以上述べたように本発明によれば、光を利用して機械的
な変位を検出する方式で非直線誤差の少い変位変換器を
簡単な構成で実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる変位変換器の一実施例の要部構
成説明図、第2図は従来の変位変換器の構成説明図、第
3図は第2図の変位変換器の部分説明図、第4図は第2
図の装置の動作を説明するための動作波形図、第5図は
位相シフト量測定回路の従来の一例をしめず構成ブロッ
ク図、第6図は従来の通常形エンコーダの具体例を示し
た要部説明図、第7図(△)(B)は第6図装置の動作
を説明するだめの動作説明図、第7図(C)は第1図装
置の動作を説明するための動作説明図、第8図は本発明
の第2の実施例に係る変位変換器の動作を説明するため
の動作波形図である1、101・・・コード板、2,1
02・・・位相板、3・・・光源、4・・・イメージセ
ンサ、6・・・バンドパスフィルタ、il、iil・・
・透光スリット、141〜144・・・受光素子、12
1A〜121D、122A〜122D、123A〜12
3D、124A〜124D・・・スリット孔、SW+〜
8Wa・・・スイッチ手段、φ・・・位相シフト量。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ピッチPで配列する複数個の透光スリットが形成
    されたコード板、このコード板の透光スリットに平行な
    光を投射ぎせる光源、複数分割した受光素子とこの各受
    光素子上に設置され所定ピッチで配列するスリット孔を
    有した位相板と各受光素子からの信号を順次取出すスイ
    ッチ手段とで構成されるイメージセンサ、このイメージ
    センサから得られる信号から基本波成分を抽出するバン
    ドパスフィルタ、このバンドパスフィルタの出力信号と
    前記イメージセンサの駆動信号とを入力し前記基本波成
    分の位相シフト量に基づいて前記コード板の変位をめる
    位相測定手段を具備するとともに、前記位相板はスリッ
    ト孔のwl隔が互いにピッチPの整数倍からP/ (4
    n +2)(但しnは正の整数)ずれて位置するスリッ
    ト対を各受光素子に対応して備えることにより、前記各
    受光素子からの出力信号に含まれる(2+1+1)欠字
    間高調波を除去するようにしたことを特徴とする変位変
    換器。
  2. (2)位相板のスリット孔を互いにピッチPの整数倍か
    らP/6ずれた間隔のスリット対で構成することにより
    、受光素子からの出力信号に含まれる第3欠字間1i1
    調波を除去した特許請求のmn第1項記載の変位変換器
  3. (3)ピッチPで配列する複数個の透光スリットが形成
    されたコード板、このコード板の透光スリットに平行な
    光を投射させる光源、複数分割した受光素子とこの各受
    光素子上に設置ぎれ所定ピッチで配列するスリット孔を
    有した位相板と各受光素子からの信号を順次取出すスイ
    ッチ手段とで構成されるイメージセンサ、このイメージ
    センサから得られる信号から基本波成分を抽出するバン
    ドパスフィルタ、このバンドパスフィルタの出力信号と
    前記イメージセンサの駆動信号とを入力し前記基本波成
    分の位相シフト量に基づいて前記コード板の変位をめる
    位相測定手段を具備するとともに、前記位相板の前記各
    受光素子に対応する2n本(但しnは正の整数)のスリ
    ット孔が互いにピッチPの整数倍からP’/6.P/1
    0゜P/14.−、P/ (4n +2>ずれた間隔の
    スリット対をそれぞれ1,2,4.・・・271−1対
    形成するように配列することにより、前記受光素子から
    の出力信号に含まれる3、5.7.・・・。 (2n+1>欠字間高調波を除去するようにしたことを
    特徴とする変位変換器。
JP9365184A 1984-04-20 1984-05-10 変位変換器 Pending JPS60237317A (ja)

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US06/725,088 US4680466A (en) 1984-04-20 1985-04-19 Displacement transducer which simultaneously extracts signals via sequential switching

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3616144A1 (de) * 1986-05-14 1987-11-19 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Fotoelektrische messeinrichtung
WO2009110604A1 (ja) * 2008-03-07 2009-09-11 山洋電気株式会社 光学式エンコーダ装置

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