JPS636418A - エンコ−ダ - Google Patents
エンコ−ダInfo
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- JPS636418A JPS636418A JP14977586A JP14977586A JPS636418A JP S636418 A JPS636418 A JP S636418A JP 14977586 A JP14977586 A JP 14977586A JP 14977586 A JP14977586 A JP 14977586A JP S636418 A JPS636418 A JP S636418A
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- detection means
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 15
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 19
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 7
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば、円周方向に透光スリットなどのマー
ク手段が設けられたコード板の動きを、このマーク手段
の配列ピッチに対して一定の位相差をもって配列された
受光素子群などの検出手段により検出し、マーク手段の
配列ピッチより小さな回転角を内挿して求めるようにし
たエンコーダに関するものである。
ク手段が設けられたコード板の動きを、このマーク手段
の配列ピッチに対して一定の位相差をもって配列された
受光素子群などの検出手段により検出し、マーク手段の
配列ピッチより小さな回転角を内挿して求めるようにし
たエンコーダに関するものである。
上記のような内挿形のエンコーダの一例としては、本願
出願人が特願昭５８−１３９５１号としてすてに出願し
た装置がある。これは、マーク手段として透光スリット
が設けられたコード板の動きを、この透光スリットの配
列ピッチに対して一定の位相差をもって配列された受光
素子群（イメージセンサ）を使用して検出することを特
徴としたもので、コード板の回転角度を基準信号の位相
シフト量に変換して、高精度に測定することができるも
のである。
出願人が特願昭５８−１３９５１号としてすてに出願し
た装置がある。これは、マーク手段として透光スリット
が設けられたコード板の動きを、この透光スリットの配
列ピッチに対して一定の位相差をもって配列された受光
素子群（イメージセンサ）を使用して検出することを特
徴としたもので、コード板の回転角度を基準信号の位相
シフト量に変換して、高精度に測定することができるも
のである。
第２図はこのような構成を有するエンコーダの一例を示
す構成図である。図において、１はコード板、２はコー
ド板１上に所定のピッチで設けられた透光スリット、３
は光源、３ｏは光源３がら照射された光ビームを平行ビ
ームに変換するためのレンズ、４は透光スリット２を通
過した光（スリット像）を受光するイメージセンサで、
ここでは、動作を簡単に説明するために、４個の受光素
子４１〜４４を７レイ状に配列したものを例示している
。
す構成図である。図において、１はコード板、２はコー
ド板１上に所定のピッチで設けられた透光スリット、３
は光源、３ｏは光源３がら照射された光ビームを平行ビ
ームに変換するためのレンズ、４は透光スリット２を通
過した光（スリット像）を受光するイメージセンサで、
ここでは、動作を簡単に説明するために、４個の受光素
子４１〜４４を７レイ状に配列したものを例示している
。
ＳＷｌ〜ＳＷ４は受光素子４１〜４４からの信号を一定
のタイミングで順次取り出すスイッチ、５は各スイッチ
ＳＷ１〜ＳＷ４を介して印加される信号を増幅する増幅
器、６は増幅器５の出力信号から基本波成分を抽出する
バンドパスフィルタである・第３図はコード板１に形成
された透光スリット２とイメージセンサ４における受光
素子４１〜４４との配列関係を示す図である。図に示す
ように、４つの受光素子４１〜４４を１つのグループと
仮定し、このグループのピッチをイメージセンサ４にお
ける基本ピッチとすれば、この基本ピッチは透光スリッ
ト２の配列ピッチＰと等しく形成されている。
のタイミングで順次取り出すスイッチ、５は各スイッチ
ＳＷ１〜ＳＷ４を介して印加される信号を増幅する増幅
器、６は増幅器５の出力信号から基本波成分を抽出する
バンドパスフィルタである・第３図はコード板１に形成
された透光スリット２とイメージセンサ４における受光
素子４１〜４４との配列関係を示す図である。図に示す
ように、４つの受光素子４１〜４４を１つのグループと
仮定し、このグループのピッチをイメージセンサ４にお
ける基本ピッチとすれば、この基本ピッチは透光スリッ
ト２の配列ピッチＰと等しく形成されている。
すなわち、受光素子４１−４４は透光スリット２の配列
ピッチに対して、順次９０°づつ位相がずれるように配
列されている。
ピッチに対して、順次９０°づつ位相がずれるように配
列されている。
以下、上記のように構成されたエンコーダの動作を、第
４図の波形図を参照しながら説明する。
４図の波形図を参照しながら説明する。
光源３からの光は、レンズ３０により平行ビームに変換
され、コード板１の透光スリット２を通過して、イメー
ジセンサ４の受光素子４１−４４上に透光スリット２の
像を結像させる。イメージセンサ４においては、スイッ
チＳＷ１〜ＳＷ４が第４図（ａ）〜（ｄ）に示すような
タイミングで順次オンオフされ（オン時間をＴとする）
、受光素子４１〜４４からの信号を順次増幅器５に印加
している。この結果、増幅器５の出力信号Ｃ１は、第４
図（ｅ）に示すように、スイッチＳＷＩ〜ＳＷ４がそれ
ぞれオンとなる時間ごとにその大きさが変化する階段波
形となる。したがって、このような階段波形をバンドパ
スフィルタ６に加えると、第４図（ｆ）に示すような正
弦波信号ｃ、〔基本波成分〕を得ることができる。
され、コード板１の透光スリット２を通過して、イメー
ジセンサ４の受光素子４１−４４上に透光スリット２の
像を結像させる。イメージセンサ４においては、スイッ
チＳＷ１〜ＳＷ４が第４図（ａ）〜（ｄ）に示すような
タイミングで順次オンオフされ（オン時間をＴとする）
、受光素子４１〜４４からの信号を順次増幅器５に印加
している。この結果、増幅器５の出力信号Ｃ１は、第４
図（ｅ）に示すように、スイッチＳＷＩ〜ＳＷ４がそれ
ぞれオンとなる時間ごとにその大きさが変化する階段波
形となる。したがって、このような階段波形をバンドパ
スフィルタ６に加えると、第４図（ｆ）に示すような正
弦波信号ｃ、〔基本波成分〕を得ることができる。
ここで、この正弦波信号Ｃ６の基本波周波数は、スイッ
チＳＷ１〜ＳＷ４を順次駆動する繰り返し周波数と一致
しており、また、コード板１が測定すべき回転角に応じ
て回転すると、受光素子４１〜４４上に結像するスリッ
ト像も移動するので、バンドパスフィルタ６から得られ
る正弦波信号Ｃ１の位相は、スリット像の移動量すなわ
ちコード板１の回転角に応じて、例えば、図中に破線で
示すように、小だけシフトすることになる。いま、コー
ド板１が透光スリット２の配列ピッチ２分だけ回転する
と、正弦波信号Ｃ１の位相シフト量６は２ダだけ変化す
る。したがって、この位相のシフト最小を測定すれば、
コード板１の回転角度を高精度に検出することができる
。
チＳＷ１〜ＳＷ４を順次駆動する繰り返し周波数と一致
しており、また、コード板１が測定すべき回転角に応じ
て回転すると、受光素子４１〜４４上に結像するスリッ
ト像も移動するので、バンドパスフィルタ６から得られ
る正弦波信号Ｃ１の位相は、スリット像の移動量すなわ
ちコード板１の回転角に応じて、例えば、図中に破線で
示すように、小だけシフトすることになる。いま、コー
ド板１が透光スリット２の配列ピッチ２分だけ回転する
と、正弦波信号Ｃ１の位相シフト量６は２ダだけ変化す
る。したがって、この位相のシフト最小を測定すれば、
コード板１の回転角度を高精度に検出することができる
。
（発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記のように複数の受光素子４１〜４４
に発生する電圧の差を利用して、コード板１の回転角を
内挿するようにしたエンコーダにおいては、光源３から
照射される光ビームの強度が均一でないと、受光素子４
１〜４４によって各出力電圧のレベルに差を生じ、高精
度の角度検出が行なえなくなってしまう。
に発生する電圧の差を利用して、コード板１の回転角を
内挿するようにしたエンコーダにおいては、光源３から
照射される光ビームの強度が均一でないと、受光素子４
１〜４４によって各出力電圧のレベルに差を生じ、高精
度の角度検出が行なえなくなってしまう。
例えば、光源３から照射される光ビームが均一であると
すると、透光スリット２を介して受光素子４１〜４４に
入射する光は、どれも等しい強さとなるので、コード板
１の回転に応じて受光素子４１〜４４から得られる出力
電圧Ｃ１〜ｃ４は、第５図に示す如く、互に９０゛の位
相差を有する三角波となる。
すると、透光スリット２を介して受光素子４１〜４４に
入射する光は、どれも等しい強さとなるので、コード板
１の回転に応じて受光素子４１〜４４から得られる出力
電圧Ｃ１〜ｃ４は、第５図に示す如く、互に９０゛の位
相差を有する三角波となる。
しかしながら、光ビームが均一ではなく、場所によって
その強さが興なる場合には、出力電圧Ｃ１〜ｃ４は第６
図に示す如く、不揃いなものとなり、コード板１の回転
角と正弦波信号Ｃ，の位相シフト量φとが正確に対応せ
ず、検出結果に誤差を生じてしまう、しかも、このよう
な出力電圧の不揃いを、光源３などの光学系や可変砥抗
器などの電気的手段によりａ整することは容易ではない
。また、各素子の位置が正確に出ていなかったり、受光
素子４１〜４４の感度が不揃いであったりした場合にも
、同様な誤差を生じてしまう。
その強さが興なる場合には、出力電圧Ｃ１〜ｃ４は第６
図に示す如く、不揃いなものとなり、コード板１の回転
角と正弦波信号Ｃ，の位相シフト量φとが正確に対応せ
ず、検出結果に誤差を生じてしまう、しかも、このよう
な出力電圧の不揃いを、光源３などの光学系や可変砥抗
器などの電気的手段によりａ整することは容易ではない
。また、各素子の位置が正確に出ていなかったり、受光
素子４１〜４４の感度が不揃いであったりした場合にも
、同様な誤差を生じてしまう。
なお、従来より、コード板１の偏心による誤差を補償す
る方法としては、第７図に示す如く、２つのイメージセ
ンサ４． 、４． （検出手段）をコード板１に対して
１８０°ずれた位置関係に配置し、これらのイメージセ
ンサ４． 、４．における出力の和を求める方法が提案
されているが、このような方法では、上記のような光学
系に起因する誤差までも補償することはできない。
る方法としては、第７図に示す如く、２つのイメージセ
ンサ４． 、４． （検出手段）をコード板１に対して
１８０°ずれた位置関係に配置し、これらのイメージセ
ンサ４． 、４．における出力の和を求める方法が提案
されているが、このような方法では、上記のような光学
系に起因する誤差までも補償することはできない。
本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、コー
ド板の偏心による誤差や光ビームの不均一などの光学系
に起因する誤差を除去し、高精度の検出を行なうことの
できるエンコーダを簡単な構成により実現することを目
的としたものである。
ド板の偏心による誤差や光ビームの不均一などの光学系
に起因する誤差を除去し、高精度の検出を行なうことの
できるエンコーダを簡単な構成により実現することを目
的としたものである。
本発明のエンコーダは、円周方向に透光スリットなどの
マーク手段が設けられたコード板の回転角を受光素子群
などの検出手段により検出するようにしたエンコーダに
おいて、２つの検出手段を前記コード板に対して１８０
°ずれた位置関係に配置するとともに、これらの検出手
段間の位置関係をさらに前記マーク手段の配列ピッチの
１７２ピッチ分だけずらし、これらの検出手段における
出力信号の和から前記コード板の回転角を検出するよう
にしたものである。
マーク手段が設けられたコード板の回転角を受光素子群
などの検出手段により検出するようにしたエンコーダに
おいて、２つの検出手段を前記コード板に対して１８０
°ずれた位置関係に配置するとともに、これらの検出手
段間の位置関係をさらに前記マーク手段の配列ピッチの
１７２ピッチ分だけずらし、これらの検出手段における
出力信号の和から前記コード板の回転角を検出するよう
にしたものである。
（作 用〕
このように、２つの検出手段をコード板に対して１８０
°ずれた位置関係に配置するとともに、これらの検出手
段間の位置関係をさらにマーク手段の配列ピッチの１７
２ピッチ分だけずらすようにすると、コード板の偏心に
よる誤差成分や光学系に起因する誤差成分が２つの検出
手段の出力信号中にそれぞれ位相が反転して現われるよ
うになり、これらの検出手段における出力信号の和から
コード板の回転角を検出するようにすれば、コード板の
偏心や光学系に起因する誤差を除去して、高精度の検出
を行なうことができる。
°ずれた位置関係に配置するとともに、これらの検出手
段間の位置関係をさらにマーク手段の配列ピッチの１７
２ピッチ分だけずらすようにすると、コード板の偏心に
よる誤差成分や光学系に起因する誤差成分が２つの検出
手段の出力信号中にそれぞれ位相が反転して現われるよ
うになり、これらの検出手段における出力信号の和から
コード板の回転角を検出するようにすれば、コード板の
偏心や光学系に起因する誤差を除去して、高精度の検出
を行なうことができる。
（実施例〕
第１図は本発明のエンコーダの一実施例を示す構成図で
ある。図において、前記第２１３０および第７図と同様
のものは同一符号を付して示す。２つのイメージセンサ
４． 、４．はコード板１に対して１８０゛ずれた位置
関係に配置されるとともに、その位置関係をさらに透光
スリット２の配列ピッチの１７２ピッチ分（α）だけず
らされている、すなわち、透光スリット２の数をＮとす
れば、α露２ダ／２Ｎ となる。
ある。図において、前記第２１３０および第７図と同様
のものは同一符号を付して示す。２つのイメージセンサ
４． 、４．はコード板１に対して１８０゛ずれた位置
関係に配置されるとともに、その位置関係をさらに透光
スリット２の配列ピッチの１７２ピッチ分（α）だけず
らされている、すなわち、透光スリット２の数をＮとす
れば、α露２ダ／２Ｎ となる。
ここで、コード板１の偏心によりイメージセンサ４．
、４．の出力信号中に混入する誤差信号は、コード板１
の１回転を周期として現われることになり、また、光ビ
ームの不均一などの光学系に起因する誤差信号は、透光
スリット２の１ピツチを周期として現われることになる
。
、４．の出力信号中に混入する誤差信号は、コード板１
の１回転を周期として現われることになり、また、光ビ
ームの不均一などの光学系に起因する誤差信号は、透光
スリット２の１ピツチを周期として現われることになる
。
このため、偏心による誤差成分の振幅をδ、光学系に起
因する誤差成分の振幅を６とすると、コード板１の回転
角θに対してイメージセンサ４．の出力信号に含まれる
誤差信号Ｅ、は、 Ｅ、＋ｌｌｌδ ５ｊｎｆｌ ＋ ｔ ５ｉｎＮθイ
メージセンサ４．の出力信号に含まれる誤差信号Ｅ、は
、 Ｅ、職ａ ５ｉｎ（θ十臂＋α） ＋ ａ ５ｉｎ（Ｎ （θ＋ダ＋α））諒−６５ｊｎ（
１！＋α〕 ＋ ａ ５ｉｎ（Ｎθ＋（Ｎ＋１）ｗ）Ｎを偶数とする
と、 Ｅ、諺−δ５ｉｎ（＃ ＋ ａ） −（５ｉｎＮθと
表わすことができる。
因する誤差成分の振幅を６とすると、コード板１の回転
角θに対してイメージセンサ４．の出力信号に含まれる
誤差信号Ｅ、は、 Ｅ、＋ｌｌｌδ ５ｊｎｆｌ ＋ ｔ ５ｉｎＮθイ
メージセンサ４．の出力信号に含まれる誤差信号Ｅ、は
、 Ｅ、職ａ ５ｉｎ（θ十臂＋α） ＋ ａ ５ｉｎ（Ｎ （θ＋ダ＋α））諒−６５ｊｎ（
１！＋α〕 ＋ ａ ５ｉｎ（Ｎθ＋（Ｎ＋１）ｗ）Ｎを偶数とする
と、 Ｅ、諺−δ５ｉｎ（＃ ＋ ａ） −（５ｉｎＮθと
表わすことができる。
また、これらの誤差信号Ｅ、 、 Ｅ、の和を求めると
、Ｅ、＋Ｅ、ｍ ＆ ｓｆθ＋ｓ ５ｉｎＮ＆−ａ
５ｉｎ（θ＋α）ｇｓｉｎＮθ 寓＆ （ｓｉｎ＃ −５ｒｎ（θ＋α））−δ（（１−
ｃｏｓα）ｓｉｎｌ？ −ｃｏｓ＃ ｓｉｎα）となる
。ここで、透光スリット２の数が多く、αくく２ｆであ
れば、 Ｅ、 ＋ Ｅ、−〇 となる。
、Ｅ、＋Ｅ、ｍ ＆ ｓｆθ＋ｓ ５ｉｎＮ＆−ａ
５ｉｎ（θ＋α）ｇｓｉｎＮθ 寓＆ （ｓｉｎ＃ −５ｒｎ（θ＋α））−δ（（１−
ｃｏｓα）ｓｉｎｌ？ −ｃｏｓ＃ ｓｉｎα）となる
。ここで、透光スリット２の数が多く、αくく２ｆであ
れば、 Ｅ、 ＋ Ｅ、−〇 となる。
したがって、イメージセンサ４． 、４．を第１図の如
く配置すると、コード板１の偏心による誤差成分や光学
系に起因する誤差成分（Ｅｏ、Ｅ、）は２つのイメージ
センサ４． 、４．の出力信号中にそれぞれ位相が反転
した状態で現われるようになり、これらの出力信号の和
からコード板１の回転角を検出するようにすれば、互い
の誤差成分を打ち消して、高精度の検出を行なうことが
できる。
く配置すると、コード板１の偏心による誤差成分や光学
系に起因する誤差成分（Ｅｏ、Ｅ、）は２つのイメージ
センサ４． 、４．の出力信号中にそれぞれ位相が反転
した状態で現われるようになり、これらの出力信号の和
からコード板１の回転角を検出するようにすれば、互い
の誤差成分を打ち消して、高精度の検出を行なうことが
できる。
なお、上記の説明においては、マーク手段として透光ス
リット２を設けるとともに、検出手段としてイメージセ
ンサ４． 、４．を使用した光学式のエンコーダを例示
したが、エンコーダの構成はこれに限られるものではな
く、例えば、静電式や磁気式のエンコーダにおいても同
様な動作を行なわせることができる。また、イメージセ
ンサ４． 、４．を１／２ピッチ分ずらす方向は、進み
、遅れどちらでも可能である。
リット２を設けるとともに、検出手段としてイメージセ
ンサ４． 、４．を使用した光学式のエンコーダを例示
したが、エンコーダの構成はこれに限られるものではな
く、例えば、静電式や磁気式のエンコーダにおいても同
様な動作を行なわせることができる。また、イメージセ
ンサ４． 、４．を１／２ピッチ分ずらす方向は、進み
、遅れどちらでも可能である。
以上説明したように、本発明のエンコーダでは、円周方
向に透光スリットなどのマーク手段が設けられたコード
板の回転角を受光素子群などの検出手段により検出する
ようにしたエンコーダにおいて、２つの検出手段を前記
コード板に対して１８０°ずれた位置関係に配置すると
ともに、これらの検出手段間の位置関係をさらに前記マ
ーク手段の配列ピッチの１７２ピッチ分だけずらし、こ
れらの検出手段における出力信号の和から前記コード板
の回転角を検出するようにしているので、コード板の偏
心による誤差成分や光学系に起因する誤差成分を２つの
検出手段にそれぞれ位相が反転した状態で作用させるこ
とができ、コード板の偏心や光学系に起因する誤差を除
去し、高精度の検出を行なうことのできるエンコーダを
簡単な構成により実現することができる。
向に透光スリットなどのマーク手段が設けられたコード
板の回転角を受光素子群などの検出手段により検出する
ようにしたエンコーダにおいて、２つの検出手段を前記
コード板に対して１８０°ずれた位置関係に配置すると
ともに、これらの検出手段間の位置関係をさらに前記マ
ーク手段の配列ピッチの１７２ピッチ分だけずらし、こ
れらの検出手段における出力信号の和から前記コード板
の回転角を検出するようにしているので、コード板の偏
心による誤差成分や光学系に起因する誤差成分を２つの
検出手段にそれぞれ位相が反転した状態で作用させるこ
とができ、コード板の偏心や光学系に起因する誤差を除
去し、高精度の検出を行なうことのできるエンコーダを
簡単な構成により実現することができる。
第１図は本発明のエンコーダの一実施例を示す構成図、
第２図〜第７図は従来のエンコーダの一例を示す構成図
および信号波形図である。 １・・・コード板、２・・・透光スリット（マーク手段
）、３・・・光源、３０・・・レンズ、４．４．．４゜
・・・イメージセンサ〔検出手段〕、４１〜４４・・・
受光素子、ＳＷＩ〜ＳＷ４ ・・・スイッチ、５・・
・増幅器、６・・・バンドパスフィルタ。 第１図 第２図 第３図
第２図〜第７図は従来のエンコーダの一例を示す構成図
および信号波形図である。 １・・・コード板、２・・・透光スリット（マーク手段
）、３・・・光源、３０・・・レンズ、４．４．．４゜
・・・イメージセンサ〔検出手段〕、４１〜４４・・・
受光素子、ＳＷＩ〜ＳＷ４ ・・・スイッチ、５・・
・増幅器、６・・・バンドパスフィルタ。 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 円周方向に透光スリットなどのマーク手段が設けられた
コード板の回転角を受光素子群などの検出手段により検
出するようにしたエンコーダにおいて、２つの検出手段
を前記コード板に対して１８０°ずれた位置関係に配置
するとともに、これらの検出手段間の位置関係をさらに
前記マーク手段の配列ピッチの１／２ピッチ分だけずら
し、これらの検出手段における出力信号の和から前記コ
ード板の回転角を検出するようにしてなるエンコーダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14977586A JPS636418A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | エンコ−ダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14977586A JPS636418A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | エンコ−ダ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS636418A true JPS636418A (ja) | 1988-01-12 |
Family
ID=15482455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14977586A Pending JPS636418A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | エンコ−ダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS636418A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0665116A2 (en) * | 1994-01-31 | 1995-08-02 | Hewlett-Packard Company | Print medium advance control with dual-resolution encoding |
| US6492806B2 (en) | 2000-06-14 | 2002-12-10 | Pentax Corporation | Magnetic encoder and survey instrument having magnetic encoder |
| US6622391B1 (en) | 1999-04-28 | 2003-09-23 | Pentax Corporation | Incremental rotary encoder, and a surveying instrument incorporating a magnetic incremental rotary encoder |
| KR100911599B1 (ko) | 2005-09-30 | 2009-08-07 | 아바고 테크놀로지스 이씨비유 아이피 (싱가포르) 피티이 리미티드 | 움직임 인코더 세트, 코드 휠의 움직임 결정 방법 및 코드휠의 회전형 움직임 측정 방법 |
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| JPS59164913A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-18 | Samutaku Kk | ロ−タリ−エンコ−ダ |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP14977586A patent/JPS636418A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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