JPS60229293A - 磁気バブル転送路形成方法 - Google Patents

磁気バブル転送路形成方法

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JPS60229293A
JPS60229293A JP8525384A JP8525384A JPS60229293A JP S60229293 A JPS60229293 A JP S60229293A JP 8525384 A JP8525384 A JP 8525384A JP 8525384 A JP8525384 A JP 8525384A JP S60229293 A JPS60229293 A JP S60229293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
transfer path
ions
implantation
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP8525384A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Matsudera
久雄 松寺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS60229293A publication Critical patent/JPS60229293A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は磁気バブル素子、なかんずく、イオン注入によ
り、磁気バブルの転送路を設けるイオン注入磁気バブル
素子の転送路形成方法に関する。
(従来技術とその問題点) 近年、高密度の記憶容量をもつ固体ファイルメモリとし
てイオン注入方式磁気バブル素子の開発がすすめられて
いる。
イオン注入方式磁気バブル素子のドライブ層に必要とさ
れる特性は、該層内の磁化を面内に倒しうるように該層
内の一軸磁気異方性定数値が負になり、その下部の非注
入領域との異方性磁界の差ΔHkが充分大きいことであ
る。
従来、本素子ではこのΔHkiイオン注入によるりト基
板の上に成長した磁性ガーネット単結晶薄膜上に典型的
な形状として数珠玉状の注入イオン遮蔽のためのマスク
パターン1を形成したうえからイオン注入することによ
りイオン注入層2を形成し、数珠玉状の非注入領域3の
外側境界に沿って磁気バブルが転送する磁気バブル転送
路を形成水素、ヘリウム、ネオンイオンが主に検討され
ているが、充分大きな・ΔHkを得るためKその注入量
は水素イオンの場合は2 x IQ” / allから
4 X 10”/(−II+の注入量が、一方ヘリウム
あるいはネオンイオンを用いる場合は各々、4X10”
/σう・ら5 X 10”/cd及びlX1014/i
から2X10’7cd必要トサレテいる。
水素注入の場合は注入量が大きいため製造上のコストが
大きい。
いずれの場合もイオン注入工程によってイオン注入量(
ドライブ層と以下では称す)のキュリ一温度はほぼ歪量
に応じて低下し、注入量を多くし歪を大きくし、磁気異
方性の変化を大きくする程、キュリ一温度の低下は大き
くなり、素子動作が良好なように磁気異方性の変化を生
じさせるために必要な注入量の注入を行なうと、50℃
から100℃程度キュリ一温度の低下が生じ、素子温度
特性を劣化させる問題があった、 (発明の目的) 本発明はこのような点に鑑みてなされたものでその目的
は充分大きな・ΔHkを有し、良、好な温度特性を有す
る磁気バブル転送路形成方法を提供するにある。
(発明の構成) 即ち本発明は磁性ガーネット単結晶薄膜上にイオン注入
することKより形成する磁気バブル転送路の形成方法に
おいて、磁性ガーネット単結晶薄膜上にイオン注入した
後% 600℃以上の温度でアニールする工程と、この
後、該磁性ガーネット単結晶薄膜上に注入イオンを遮蔽
するマスクを形成したのちイオン注入する工程とを具え
たことを特徴とする磁気バブル転送路形成方法である。
ぐ大発明の概要) 本発明ではイオン注入方式磁気バブル素子のドライブ層
のキュリ一温度の低下を抑制するためにドライブ層とし
て必要とされる負の一軸異方性を得るために、従来のよ
うにそれを専らイオン注入による歪誘導磁気異方性によ
るので社なく、その一部を磁性ガーネット膜が有してい
る正の成長誘導磁気異方性を抑制する仁とによV達成す
る。
即ち、正の成長誘導磁気異方性を抑制するために、イオ
ン注入し、その徒歩くとも600℃以上の温度でアニー
ルし、このイオン注入工程で生じた格子歪量f;L:O
%ないし、小さなjHc戻すと々により、キュリー電電
も注入前のキュリ一温度ないしそれに近い温度[Wる。
しかし々がら、磁気異方性のみはアニールによっても元
に戻らず磁気W方性定数値は小さくなる。これは注入に
よって、注入層内の格子が乱された結果、成長誘導磁気
異方性が抑制されたためである。この後、転送路形成用
マスクを形成する。
この工程の後、再びイオン注入を行なう。これは前工程
で磁気異方性が小さくなっており、磁気バブル転送路の
外周上に磁気異方性の面内方向による差を生じさせるに
充分な量でよく、したがって注入による歪によるキュリ
一温度の低下の程度は従来に比べ小さいため、素子温度
特性の向上が図れる。
(実施例1) 以下では本発明を実施例により更に詳細に説明する。
GGG基板上に液相法で成長した負の磁歪定数ヲモツ磁
性カーネット膜(YSmLuCaBi) 、 (PeC
Je) aOI!(膜厚12μm、特性長l = 0.
12 am、飽和@束密度660Gauss Ku 4
6000erg/d、λ1..=2.8 x 10−’
 )にネオンイオンを加速エネルギー200KeVドー
ズ量1.Ox 10 ”/ CM 及び加速エネ# キ
ー 80KeV 、ドーズlt2.7 X 10’!/
 dで注入したのち、空気中で温度1000℃で1時間
アニールしたのも、数珠玉状の周期4μmのバブル転送
路形成用のマスクを厚さ5000Aの金を用い蒸着によ
り形成したのち、ヘリウムイオンを加速エネルギーi 
o 0KeV、ドーズ量2.2 x ] 0” /ad
及び加速エネルギー40KeV、ドーズ量1.OX 1
0”/dで注入後空気中、300℃で1時間アニールし
て磁気バブル転送路を形成した。
比較例として、実施例と同一特性の磁性ガーネット膜十
に厚さ50()OAの金により転送路形成用マスクを形
成したのち、ヘリウムイオンを・加速エネルギ−100
KeV、ドーズ量4.7xlO”/m、及び加速エネル
ギー40KeV、ドーズ量2.2X10/dで注入した
のち、空気中300°Cで 1時間アニールしてバブル
転送路を形成した。
本実施例による磁気バブル転送特性は、常温においては
既知の磁気バブル転送路形成方法によって形成した転送
路を有する比較例の転送特性と同程度以上のものが得ら
れ、ΔHkけ比較例が26000eであるの罠対し3s
oooe44られた。 しかも比較例のドライブ層のキ
ュリ一温度が145℃であるのKくらべ、本発明の実施
例のドライブ層のキュリ一温度は173℃と高かった。
ネオン注入工程後のアニールエ稈を実施例の1000℃
以外でも行った結果アニール温度が低くてもΔHkの増
加の効果はあり、1000℃ アニールの場合より大き
かった。キュリ一温度は若干低いが、比較例よりは大き
い。
但し、600℃より低い温度であると結晶性が劣化する
ことがあった。1000℃以上でも△Hk 増加の効果
けみられ、キュリ一温度は実施例以上の高い温度となり
180℃を越える。
1050℃以上ではバブル膜特性が変化するが、この場
合はアニールによるバブル膜特性の変化を考慮して、は
じめのバブル膜を用いれば問題はない。
又、本実施例の加速エネルギー200KeV及び80K
eVのネオン注入工程のかわりに。
■加速エネルギー200Ke V、ドーズ量1.8 X
 1014/d及び加速エネルギー80KeV、ドーズ
量、7.6 X 10 ”/dのチツ素イオンを注入す
る工程を行ない磁気バブル転送路を形成した。
又、■加速エネルギー70KeV、ドーズ量、2×10
16 /、、!及び加速エネルギー35KeV、ドーズ
量9 X 10 ” /crdの水素分子イオン注入す
る工程を行ない磁気バブル転送路を形成した。
このように、ネオン注入の工程を各々、チツ素及び水素
イオン注入で置きかえた転送路形成方法に於ても△Hk
けネオン注入の場合と同程度の値が得られ、キュリ一温
度の低下もネオン注入の場合と同程度であっf・。
このように、イオン種はネオン、水素、チツ素の他ヘリ
ウム、ホロン等イオン種によらず同じ効果がある。
又、本実施例のヘリウム注入工程のかわりに、水素注入
工程あるいはネオン注入工程を行なっても本発明の効果
が得られることけあきらかである。
このように本発明によってキュリ一温度が高く温度特性
が良好かつ△Hkが大きく転送特性が良好な磁気バブル
転送路を提供することができ、磁気バブル素子製造上首
する所非常に大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は磁気バブル転送路の形状を示す図である。 1 注入マスクパターン 2 イオン注入ドライブ層 3 非注入領域 71 図 手続補正書0発) 59.11.−5 昭和 年 歯部 日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和59年端岬 願第085253号
2.1efJの名称 磁気バブル転送路形成方法3、補
正をする者 事件との関係 出 願 人 東京都港区芝五丁目33番1号 4、代理人 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 明細書第9頁第6行目〜第8行目に [又、本実施例のヘリウム注入工程のかわりに、水素注
入工程あるいはネオン注入工程を行なっても本発明の効
果が得られることはあきらかである。]とあるのを [又、本実施例のヘリウム注入工程のかわりに、たとえ
ば水素イオンを加速エネルギー80 kaV。 1、3 X 101’/(−Ill及び加速エネルギー
40 keV、6 X 10”/d注入した工程でおき
かえても同様な効果が得られる。このように本実施例の
ヘリウム注入工程のかわりに他のイオン、即ち水素イオ
ン注入工程、あるいはネオン注入工程を行なっても本発
明の効果が得られることはあきらかである。」と補正す
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 法において、磁性ガーネット単結晶薄膜上圧イオン注入
    した後、600℃以上の温度でアニールする工程と、こ
    の後該磁性ガーネ、ト単結晶薄膜上に注入イオンを遮蔽
    するマスクを形成し、イオン注入する工程とを具えたこ
    とを特徴とする磁気バブル転送路形成方法。
JP8525384A 1984-04-27 1984-04-27 磁気バブル転送路形成方法 Pending JPS60229293A (ja)

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JP8525384A JPS60229293A (ja) 1984-04-27 1984-04-27 磁気バブル転送路形成方法

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JPS60229293A true JPS60229293A (ja) 1985-11-14

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ID=13853406

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