JPS60227115A - 測量機 - Google Patents

測量機

Info

Publication number
JPS60227115A
JPS60227115A JP8479684A JP8479684A JPS60227115A JP S60227115 A JPS60227115 A JP S60227115A JP 8479684 A JP8479684 A JP 8479684A JP 8479684 A JP8479684 A JP 8479684A JP S60227115 A JPS60227115 A JP S60227115A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
set value
output
measured
measured value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8479684A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsumi Kaneko
敦美 金子
Shinichi Suzuki
新一 鈴木
Koji Tsuda
浩二 津田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP8479684A priority Critical patent/JPS60227115A/ja
Publication of JPS60227115A publication Critical patent/JPS60227115A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、電気的に距離又は角度のどちらか一方性しく
は両方を計測し得る装置を内蔵する測量機に関する。
従来技術及びその問題、張 測量機を用いて任意の場所を順々に測定しながらかかる
被測定地点があらかじめ設定された領内にあるか否かを
決定していく場合、従来は、測定者が測定値を見ながら
被測定地点の操作者に測定値を逐次知らせ、測定値が設
定値と一致した時点で、操作者が位置決定するという方
法が多く用いられているが、かかる方法では、測定者、
操作者とも多くの労力を必要とされる。
また、測量機よりのデータで自動的に被測定地点の位置
決定をする場合も、測量機よりのデータを処理し、制御
する装置を被測定地点側又は81!l星機側に用意する
必要があり、且つまた前記装置が簡単には作れないとい
う問題があった。
−L−一吟 本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、
あらかじめ設定された距離又は角度に刻し、測定値が、
かかる設定値の一定の範囲内に入ったこと戒は該設定値
と一致したことをJ!lfi機外に電気信号として出力
する手段をill’l JL i本体に内蔵し、被測定
地点の操作者は、上記信号をライ1へなどの表示手段に
よって確認するたけで被1Itq定地点の位置決定がで
き、また、測定者も操作音に対して逐次測定値を知らせ
る必要がなく、操作者、測定者双方の負担、労力が軽減
できるものである。
大−嵐−M 以下、図面に従って本発明の一実施例を説明する。
第1図は、測定値が設定値の一定の範囲内に入ったこと
戒は、該設定値と一致したことを測量機外に電気信号と
して出力する手段を示したブロック図であり、符号1は
、電気的に角度或は距離を計測しうる周知の装置であり
、該装置から出力される測定値とあらかじめ設定してお
く値を入力する設定値入力回路2から出力される設定値
とは、比較回路3によって比較さ石、る。
該比較回路3は、設定値と測定性とがある範囲内の時信
号を出力するか、設定値と測定値とが一致した時信号を
出力するか、そ11.とも両方の時にそれぞれ信号を出
力するか否かを選択する条(’1a定回路4からの情報
によって制御されて信号を出力し、外部に出力する電気
信号を兄1.する外部出力回路5は比較回路3からの出
力に上って作動し。
該回路5からの出力は、端子6により測量機外に電気信
号として出力される。
尚、外部に出力される電気信号は端子6が接点数2個な
ら、第2図に示すようにその出力波形を変えて、設定値
が測定値より人きい時は出力波形a、設定値と測定値が
等しい時は出力波形b、設定値が測定値より小さい時は
出力波形Cというように変化させても良い。
また、端子6が4個以上の接点数を有しでいれば、例え
ば第3図に示すように、第1の端子には。
設定値が測定値より大きいことを示す信号d、第2の端
子には、設定値と測定値とが等しいことを示す信号e、
第3の端子には、設定値がMl’l定値より小さいこと
を示す信号fをそれぞ肛出力させても良い。
第4図は、第1図の出力手段を示すP、体的な回路であ
り、符号1は図示されていない電気的に角度又は距離を
測定し得るマイクロプロセッサーであり、該マイクロプ
ロセッサ−1から出力されろ測定値は、各桁毎にIC2
,3,4,5にランチされる。
符号6,7,8.9は、あらかじめ設定しておく値を入
力するためのロータリースイッチであり、該ロータリー
スイッチ6.7,8.9から出力される設定値と上記1
.C213+ 4+ 5かりろ出力される測定値とはマ
グニチュードコンパレータ10゜11.12.13によ
って比較判断される。
符号15は、設定値と測定値とが一致した場合、マグニ
チュード」ンバレータから出力されるイaはを一定時間
延長する単安定バイブレータであり、該jr−安定安定
ライブレータからの出力、測定値が設定値より大きい場
合及び設定値が測定値より大きい場合のマグニチュード
コンパレータ13からの出力はI C1,4から出力さ
れるパルス列と論理回路によって構成されるゲート手段
16において組み合わされ、該ゲート手段16から第2
図に述べたような信号が端子18に出力される。
尚、符号17は測定値が設定値と一致した状態を電気的
に出力するか或は測定値が設定値のある範囲に入った状
態を電気的(、二出力するかを選択するためのスイッチ
であり、図の状f議にスイッチ17がある場合には、イ
(り定値が設定値と一致した状態を電気的に出力させる
また、第4図では、測定値が4桁の場合を示しているが
、これよりも桁数が多い場合には、ラッチするICとロ
ータリースイッチ及びマグニチュードコンパレータを桁
数分用意すれば良い。
次に、上記P体的回路の作用に−)いて説明すると、・
マイクロプロセッサ−1よりIC2,3,4゜r +−
1 5に−に位桁より順に各桁の値がラッチされる。ラッチ
される。値は測定値が変化するずσにラッチさA1てゆ
き、まずTC2に保持されている最」−位桁とロータリ
ースイッチ9の設定値が比較される。次にT ’C3の
値とロータリースイッチ8の値というように逐次比較さ
れてゆき最終的に測定値と設定値との大小が判断され、
マグニチュードコンパレータ13より測定値が設定値よ
り小さいか、等しいか、或は大きいかを示す電気信号が
出力され、該電気信号によりグー1〜手段16で■c1
4から出力された第2図に示すようなパルス列のど1]
、か1つが選択され、端7−18に出力される。
尚、外部に出力される電気信号は、端子18が第4図の
如く接点数2個なら先にも述べた如く第:2図のような
パルス列によって設定値と測定値との大小関係を示せば
良いが、一致した信号のみを出力する場合とか、端子1
8の接点数が4個以りある場合にはパルス列を発生する
I C]、 /l及びゲート手段16は不要であり、第
5図に示す如く、マグニチュードコンパレータ13がら
の出力及び単安定バイブレータ15からの出力を端子1
8に直接接続すれば第3図に示すような電気信号が得ら
れる。
効 果 本発明は、以上のように構成される所から、上記出力端
子にライトの点滅装置等を接続すれば。
出力される信号によってライトの点滅或は点灯箇所が異
なることとなり、被測定地の操作者は、ライトの点滅、
点灯を確認するだけで被測定地点の位置決定ができ、ま
た、測定者も逐次測定値を知らせる必要がなくなり、操
作者、測定者双方の負担、労力が軽減できると共に、測
量機よりのデータで自動的に被限定地点の位置決定をす
る場合においても、出力端子からの電気信号を検知する
だけで簡単に位置決定が出来、自動的に位置決定する装
置を簡略化できるなどその効果は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は測定値が設定値の一定範囲内に入−ンたこと或
は、設定値と一致したことを測量機外に電気信号として
出力する手段を示したブロック図、第2図、第3図は出
力される前記電気信号を示す図、第4図は第1図の具体
的な回路図、第5図は第4図の変形例を示す回路図であ
る。 1・・電気的に角度或は距離をA1測し得る装置2・・
設定値入力回路 3・・・比較回路 4・・・条件設定回路 5・・・外部出力回路 6・・・端子 特許出願人 旭光学工業株式会社 第 1 図 弘 均(ら 辰θ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 本体内部に電気的に距離或は角度のどちらか一方性
    しくはその両方を言1測し得る装置を備えた測量機にお
    いて、 あらかじめ設定した距離又は角度に対し、測定値が前記
    設定値の一定範囲内に入ったこと戒はそれと一致したこ
    とを測量機外部に電気信号として出力する手段を設けた
    ことを特徴とする測量機。 2 前記電気信号を出力する手段は、電気的に角度或は
    距離を計測しうる装置と、あらかしめ設定しておく値を
    入力する設定値入力回路と、前記装置から出力、される
    測定値と設定値入力回路から出力される設定値とを比較
    する比較回路と、該比較回路が設定値と測定値とがある
    範囲内の時に信号を出力するか、設定値と測定値とが一
    致した時に信号を出力するか、両方の時にそれぞれ信号
    を出力するか否かを選択する条件設定回路と、比較回路
    からの出力によって作動し、設定値と測定値の関係状態
    を1llIl量機外部に出力する電気信号として発生さ
    せる外部出力回路とから成ることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の測量機。
JP8479684A 1984-04-25 1984-04-25 測量機 Pending JPS60227115A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8479684A JPS60227115A (ja) 1984-04-25 1984-04-25 測量機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8479684A JPS60227115A (ja) 1984-04-25 1984-04-25 測量機

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60227115A true JPS60227115A (ja) 1985-11-12

Family

ID=13840661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8479684A Pending JPS60227115A (ja) 1984-04-25 1984-04-25 測量機

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60227115A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5796212A (en) * 1980-12-05 1982-06-15 Sotsukishiya:Kk Electronic memory device for result of measurement
JPS57147009A (en) * 1981-03-06 1982-09-10 Toshiba Corp Survey control device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5796212A (en) * 1980-12-05 1982-06-15 Sotsukishiya:Kk Electronic memory device for result of measurement
JPS57147009A (en) * 1981-03-06 1982-09-10 Toshiba Corp Survey control device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4691713A (en) Electronic clinical thermometer
US4864512A (en) Measurement apparatus with plural displays of measured parameter and selectable function thereof
US4864226A (en) Meter with synthesized voice readout
US4544879A (en) Stimulus/measuring unit for DC characteristics measuring
JPH11183164A (ja) 電子レベル用標尺及び電子レベル
US4532470A (en) Reading sensing meter
US4450405A (en) Alloy testing apparatus using eddy current conductivity probe
US4325441A (en) Error alarm system in a combined electronic weighing scale and electronic cash register
JPS60227115A (ja) 測量機
US4435767A (en) Error alarm system for detecting an abnormal condition in a peripheral system of an electronic cash register
JPH025248B2 (ja)
JPH0560797A (ja) デジタルマルチメータ
JPH10104023A (ja) 指示計
JPH0462029B2 (ja)
JP2814166B2 (ja) 計測器
JPS61108927A (ja) 天びん
JPS59146219A (ja) D/aコンバ−タの測定方式
JPH084102B2 (ja) 半導体検査装置
SU1373812A1 (ru) Устройство контрол состо ни горных пород
JPH01291132A (ja) 測温抵抗体温度変換装置
JPS5928795U (ja) 分析計校正装置
JPH03200085A (ja) デジタル計測器自動校正システム
JPH02693Y2 (ja)
JP2703160B2 (ja) 電子秤
SU1422198A1 (ru) Устройство дл автоматической поверки стрелочных электроизмерительных приборов