JPS60200527A - 平板状物体の載置方法 - Google Patents

平板状物体の載置方法

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Publication number
JPS60200527A
JPS60200527A JP59057659A JP5765984A JPS60200527A JP S60200527 A JPS60200527 A JP S60200527A JP 59057659 A JP59057659 A JP 59057659A JP 5765984 A JP5765984 A JP 5765984A JP S60200527 A JPS60200527 A JP S60200527A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
wafer
rim
middle portion
valve
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59057659A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimio Yanagida
柳田 公雄
Kenichi Kobayashi
賢一 小林
Atsushi Miyahara
宮原 温
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59057659A priority Critical patent/JPS60200527A/ja
Publication of JPS60200527A publication Critical patent/JPS60200527A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は、平板状物体の載置方法、例えば半導体装置の
製造における露光装置の露光ステージにウェハを載置す
る方法に関す。
(b) 技術の背景 半導体装置の製造においてウェハの微細加工のためホト
リソグラフィ技術が多用されている。ホトリソグラフィ
技術の中には、ウェハに塗布したレジスト膜のパターン
を形成するために露光する工程があるが、一つのウェハ
に対する露光が複数回におよぶので、露光するパターン
相互間において関係位置寸法が合致していることが重要
でである。
(C1従来技術と問題点 第1図は露光装置の一実施例の構成を示した図、第2図
はその露光用ステージの平面図(81と側断面図(b)
、第3図は従来の方法によるウェハ載置の作動を示した
図(a) (blで、1は光源、2はレンズ系、3はス
テージ、31.32は孔、33は溝、34はパルプ、4
は搬送アーム、Aはレチクル、Bはウェハ、Cは光、a
、bは寸法、■は矢印をそれぞれ示す。
第1図図示の露光装置は、レチクルAにあるパターンを
ウェハBに結像させ露光する装置であり、光源1からレ
チクルAに照射された光Cは、レンズ系2を通り露光用
のステージ3上に載置されたウェハ8表面に当たり、レ
チクルAにあるパターンをウェハ8表面に大きさ寸法a
の画像で結像させている。
ここで、若しウェハBの前記結像位置がステージ3上か
ら浮上したならば、結像する画像の大きさはaより小さ
くなる。その小さくなる程度に関して、本願の発明者は
、前記浮上寸法b (図示省略)を約50μmにすると
、aから小さくなる寸法は約0.5μmになり、半導体
装置の製造上からは、bを約10μm以下に抑えるのが
望ましい旨の知見を経験から得ている。
ウェハBを載置するステーピ3は第2図図示のように、
中央に一個の孔31と31の周囲に複数の孔32とがス
テージ3の表面に開口して設けられ、複数の32は溝3
3で繋げられている。そして、孔31.32は図(b1
図示のように一つに纏められてバルブ34に接続され、
バルブ34を開くことによりステージ3表面の空気を孔
31.32から吸引するようになっている。
ウェハBをステージ3に載置する従来の方法は第3図図
示の如くである。搬送アーム4がステージ3の外にある
ウェハBを保持して矢印Iの方向に従って図(a)図示
のようにステージ3の直上に搬送したところで、バルブ
34を開いて孔31.32の吸引を開始し、次いで搬送
アーム4の保持を解放し、図(b)図示のようにウェハ
Bをステージ3に吸着させて載置を終了し、ウェハBは
保持された状態になる。この際、ウェハBの自由状態に
おける反りが殆どないかまたは下に凸の場合は、ウエノ
・、Bの全面がステージ3に略密着し、局部的に浮上が
あっても該浮上寸法すは略lOpm以内に収まるが、該
反りが上に凸の場合には孔32の吸着が先行してウェハ
Bの周辺部がステージ3上で摺動し難くなり、孔31の
吸引にもかかわらずウェハBの中央部は浮上したままに
なってしまう。そして、この浮上寸法すは30〜50μ
m程度に達する場合がある。
従って、この構成でなるウェハの載置方法においては、
ウェハの浮上寸法を半導体装置の製造において望まれて
いる約10μm以下に確実に抑えることが困難で、該ウ
ニtzlこ結像する画像の大きさが小さくなる露光不良
を発生させる欠点を有する。
この載置方法の問題は、単に露光装置の場合に限られる
ものではなく、台の表面に載置された平板状の物体が、
該表面に略密着していることを必要とする場合に共通す
る問題である。
(dl 発明の目的 本発明の目的は上記従来の欠点に鑑み、平板状の物体を
台の表面に略密着させて載置することを可能にしだ載置
方法を提供するにある。
(el 発明の構成 上記目的は、平板状物体の中央部を台の表面に吸着させ
ると共に該物体の外周部を該表面から浮上させ、次いで
、該中央部の吸着を継続しながら該外周部も吸着させる
ことを特徴とする平板状物体の載置方法によって達成さ
れる。
本発明によれば、前記吸着または浮上は、前記表面に開
口している孔を通した空気の吸引または気体の吹き出し
によって行うことを特徴とする。
前記物体の自由状態における反りが上に凸であっても、
該物体を前記表面上で一旦下に凸の形にすることによっ
て、全面を該表面に略密着させて載置することが可能に
なる。
(fl 発明の実施例 以下本発明の実施例を図により説明する。企図を通じ同
一符号は同一対象物を示す。
第4図は第1図図示露光装置において本発明による載置
方法を実施可能にした露光用ステージの平面図talと
側断面図(bl、第5図はその方法によるウェハ載置の
作動を示した図(a)〜tel、第6図はその作動にお
けるパルプ開閉のタイムチャートで、35.36はバル
ブをそれぞれ示す。
本発明の載置方法を実施可能にした露光用ステージを示
した第4図は第2図に対応している。従来の露光用ステ
ージにおいては第2図(b)図示のように孔31.32
が並列に接続されて同一吸引作動をしたが、本露光用ス
テージにおいては、従来のステージ3の孔31と32と
を分離して、32には吸引の他に気体例えば窒素ガスの
吹き出しをも行わせるようにしである。従って、第4図
1b1図示のように孔31は従来と同様にバルブ34に
接続され、孔32は二つに分岐されて一方は34と同様
な吸引用のバルブ35に他方は気体吹き出し用のバルブ
36に接続されている。
ウェハBをステージ3に載置する本発明による方法は第
5図fal〜(Q1図示の如くで、その際のバルブ34
.35.36開閉のタイムチャートが第6図である。
搬送アーム4がステージ3の外にあるウェハBを保持し
て矢印■の方向に従って図(a1図示のようにステージ
3の直上に搬送したところで、バルブ34を開いて孔3
1の吸引を開始し、次いで搬送アーム4の保持を解放し
、図(b)図示のようにウェハBをステージ3に吸着さ
せる。
この際、ウェハBの自由状態における反りが上に凸の場
合には、前記解放直後は図(b)図示のようにウェハB
の周辺部がステージ3に触れ中央部が浮上しているが、
孔32の吸引がないため該周辺部はステージ3と摺動可
能で、孔31の吸引により図(C1図示のように該中央
部が吸着される。続いてバルブ36を短時間開き、孔3
2から気体を吹き出させて図(d1図示のようにウェハ
Bの周辺部を浮上させ反りを下に凸の形にして中央部の
吸着を確実にする。バルブ36を閉じた後バルブ35を
開き孔32の吸引が行われると、図(PI)図示のよう
に前記周辺部も吸着させて載置を終了し、ウェハBは保
持された状態になる。こうすることにより、ウェハBの
全面がステージ3に略密着し、局部的な浮上が残っても
該浮上の寸法は10μm以内に収まるようになる。
一方、ウェハBの自由状態における反りが殆どないかま
たは下に凸の場合は、最初からウェハBの中央部を確実
に吸着するので、ウェハBが保持される状態は上記と同
様になる。
従って、露光用ステージにウェハを載置する際に本発明
による方法で行うことにより、ウェハの自由状態におけ
る反りの方向如何にかかわりなく、該ウェハの全面を該
ステージに略密着させて載置することが可能になる。
この載置方法は、単に露光装置の場合に限られるもので
はなく、台の表面に載置された平板状の物体が、該表面
に略密着していることを必要とする場合に共通して適用
可能であることは、上記説明から容易に類推可能である
(g) 発明の効果 以上に説明したように、本発明による構成によれば、平
板状の物体を台の表面に略密着させて載置することを可
能にした載置方法を提供することが出来て、例えば半導
体装置の製造における露光工程において、ウェハに結像
する画像の大きさが小さくなる露光不良の発生低減を可
能にさせる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は露光装置の一実施例の構成を示した図、第2図
はその露光用ステージの平面図(alと側断面図(bl
、第3図は従来の方法によるウェハ載置の作動を示した
図(a) fbl、第4図は第1図図示露光装置におい
て本発明による載置方法を実施可能にした露光用ステー
ジの平面図(a)と側断面図(bl、第5図はその方法
によるウェハ載置の作動を示した図(al〜te+、第
6図はその作動におけるバルブ開閉のタイムチャートで
ある。 図面において、1は光源、2はレンズ系、3はステージ
、31.32は孔、33は溝、34.35.36は〕\
ルブ、4は搬送アーム、Aはレチクル、Bはウェハ、C
は光、a−、bは寸法、■は矢印をそれぞれ示す。 34− 革3図(a) rb)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11平板状物体の中央部を台の表面に吸着させると共
    に該物体の外周部を該表面から浮上させ、次いで、該中
    央部の吸着を継続しながら該外周部も吸着させることを
    特徴とする平板状物体の載置方法。 (2)前記吸着または浮上は、前記表面に開口している
    孔を通した空気の吸引または気体の吹き出しによって行
    うことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の平
    板状物体の載置方法。
JP59057659A 1984-03-26 1984-03-26 平板状物体の載置方法 Pending JPS60200527A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6342220A (ja) * 1986-08-04 1988-02-23 クセルト セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオ−ニ・エツセ・ピ−・ア− プログラマブル論理アレイ
JP2008103481A (ja) * 2006-10-18 2008-05-01 Hoya Corp 露光用反射型マスクブランク及び露光用反射型マスク、多層反射膜付き基板、並びに半導体装置の製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5680141A (en) * 1979-12-04 1981-07-01 Seiko Epson Corp Manufacture device of semiconductor

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