JPS6018705A - 穴位置と穴径の測定装置 - Google Patents
穴位置と穴径の測定装置Info
- Publication number
- JPS6018705A JPS6018705A JP12636183A JP12636183A JPS6018705A JP S6018705 A JPS6018705 A JP S6018705A JP 12636183 A JP12636183 A JP 12636183A JP 12636183 A JP12636183 A JP 12636183A JP S6018705 A JPS6018705 A JP S6018705A
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- Japan
- Prior art keywords
- hole
- width
- light source
- diameter
- light
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
この発明は、被測定物にあけた穴の位置と径を電子的に
測定する装置についてのものであり、さらに詳しくいえ
ば、被測定物を峨せた移動テーブルを光源と光電変換素
子の間で走査させ、被測定物の穴から光源の光を通過さ
せ、その通過光を光電変換素子で受光し、光電変換素子
の出力と移動テーブルの移動とを連動して検出する位置
検出器により穴の位置と径を算出するようにした測定装
置についてのものである。
測定する装置についてのものであり、さらに詳しくいえ
ば、被測定物を峨せた移動テーブルを光源と光電変換素
子の間で走査させ、被測定物の穴から光源の光を通過さ
せ、その通過光を光電変換素子で受光し、光電変換素子
の出力と移動テーブルの移動とを連動して検出する位置
検出器により穴の位置と径を算出するようにした測定装
置についてのものである。
(b) 従来技術と問題点
例えば、プリント基板などの穴明は加工には、則り付け
る部品のリード線の太さや、取付ねじの大きさにより、
いくつかの径の異なるドリルを選ばなければならない。
る部品のリード線の太さや、取付ねじの大きさにより、
いくつかの径の異なるドリルを選ばなければならない。
そして、NCボール盤などでプリント基板の穴明は加工
をする場合、従来はプリント基板用フィルムの穴径を実
際に目で見て、その穴径に適したドリルをNCプログラ
ムなどに記録し、プリント基板を加工しているのが実情
でアル。しかし、このような手段で多種少量のプリント
基板などを製作する場合には、かなりの手数がかかると
いう問題がある。
をする場合、従来はプリント基板用フィルムの穴径を実
際に目で見て、その穴径に適したドリルをNCプログラ
ムなどに記録し、プリント基板を加工しているのが実情
でアル。しかし、このような手段で多種少量のプリント
基板などを製作する場合には、かなりの手数がかかると
いう問題がある。
(C) 発明の目的
この発明は、このような問題を解決するためのもので、
プリント基板用フィルムなどの加工用穴の位置と径を読
み取る倣い操作などで、短時間に被測定物の穴位置と穴
径を測定するようにして、測定操作の能率向上を図るも
のである。
プリント基板用フィルムなどの加工用穴の位置と径を読
み取る倣い操作などで、短時間に被測定物の穴位置と穴
径を測定するようにして、測定操作の能率向上を図るも
のである。
(d) 発明の実施例
まず、この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の1は光源、2は光電変換素子、3は被測定物、
4は移動テーブル、5は位置検出器である。
4は移動テーブル、5は位置検出器である。
光源1の光を受光するように配置した光電変換素子2に
は、ライ/カメラやイメージ七/すなどを使用すること
ができる。
は、ライ/カメラやイメージ七/すなどを使用すること
ができる。
光源1と光電変換素子2は固定されており、移動テーブ
ル4は光源1と光電変換素子2の間を移動するようにな
っている。
ル4は光源1と光電変換素子2の間を移動するようにな
っている。
この場合、移動テーブル4に載せた被測定物3を光源l
の光が走査するように、移動テーブル4を移動させる。
の光が走査するように、移動テーブル4を移動させる。
第1図の移動テーブル4を移動していくと、光源1の光
が被測定物3の六31の位置を照射する場合と、穴31
以外の位置を照射する場合とがでてくる。
が被測定物3の六31の位置を照射する場合と、穴31
以外の位置を照射する場合とがでてくる。
光源1が穴31を照射すると、光源1の光は穴31から
光電変換素子2に達する。
光電変換素子2に達する。
一方、光源1が穴31以外を照口1しているときは、光
源1の光は被測定物3の表面で反射してしまい、光電変
換素子2には達しない。
源1の光は被測定物3の表面で反射してしまい、光電変
換素子2には達しない。
第1図から明らかなように、光電変換索子2の出力と移
動テーブル4の移動とを連動して位置検出器5で検出ず
れば、穴31の位置データを得ることができる。
動テーブル4の移動とを連動して位置検出器5で検出ず
れば、穴31の位置データを得ることができる。
次に、穴31に対する光電変換素子2と移動テーブル4
の走査吠面を第2図に示す。
の走査吠面を第2図に示す。
第2図の横軸をy軸、縦軸をy軸とすれば、光電変換素
子2と移動テーブル4による走査はテレビジョンの水平
と垂直の走査のように、y軸に沿って移動し、次にy軸
方向へ1つ移って再びy軸に沿って移動していく。
子2と移動テーブル4による走査はテレビジョンの水平
と垂直の走査のように、y軸に沿って移動し、次にy軸
方向へ1つ移って再びy軸に沿って移動していく。
次に、第2図の穴31による光電変換素子2の出力の一
例を第3図に示す。
例を第3図に示す。
第3図の図形では、穴31により光源1の光が直接光電
変換素子2に達すると出力がオンになり穴31以外の部
分では出力がオフになることを示している。
変換素子2に達すると出力がオンになり穴31以外の部
分では出力がオフになることを示している。
第3図(ア)〜(オ)は、移動テーブル4によるy軸の
走査で出力がオンになる幅が順次増えていき、穴31の
中心を過ぎると出力がオンになる幅が順次減ってい<吠
面を走査の順に示したものである。
走査で出力がオンになる幅が順次増えていき、穴31の
中心を過ぎると出力がオンになる幅が順次減ってい<吠
面を走査の順に示したものである。
第2図と第3図から、穴31に対応する光電変換素子2
の出力と移動テーブル4の位置が分れば穴31の穴位置
と穴径をめることができる。
の出力と移動テーブル4の位置が分れば穴31の穴位置
と穴径をめることができる。
この発明は、穴31の穴位置と穴径を次のようにしてめ
る。
る。
(ア)移動テーブル4の走査による穴31の検出幅Wが
一定値Kを越えたときの幅をWOとする。
一定値Kを越えたときの幅をWOとする。
例えば、第1図の位置検出器5による寸法の検出精度が
10μmのとき、一定値にの値を300μmなどに設定
する。
10μmのとき、一定値にの値を300μmなどに設定
する。
(イ)移動テーブル4の走査による穴31の検出幅Wが
WOより小さくなったときの幅をW。
WOより小さくなったときの幅をW。
とする。
穴31を第2図のように原点からy軸方向へ走査してい
くと、幅Wは次第に増えていくが、穴31の直径を過ぎ
ると逆に減っていく。
くと、幅Wは次第に増えていくが、穴31の直径を過ぎ
ると逆に減っていく。
したがって、直径よりも小さい幅Woを設定しておけば
、移動テーブル4の走査でWO〉WIになる幅W1が必
ず現れる。
、移動テーブル4の走査でWO〉WIになる幅W1が必
ず現れる。
(’7) 幅W+のときのね点から幅W1までのy軸の
距離をPxとする。
距離をPxとする。
(I) 幅W1のときの原点から幅W1までのy軸の距
離をpyとする。
離をpyとする。
(オ)幅WOと幅Wlのy軸−Lの距離を17とする。
(力)穴31の中心COx軸の位置を、Px+(W+/
2)から算出する。
2)から算出する。
(+) 穴31の中心Cのy軸の位置を、py−(L
/ 2 )から算出する。
/ 2 )から算出する。
(り)穴31の直径D#Lとして、直径をめる。
通常、穴径は011瓢単位でめれば十分である。したが
って、例えばK = 300μmとすれば、穴31の直
径D ’r Lとしても差し支えない。
って、例えばK = 300μmとすれば、穴31の直
径D ’r Lとしても差し支えない。
次に、位置検出器5の実施例の構成図を第4図に示す。
第4図の白/黒変化点検出器51は光電変換素子2の出
力が第3図のように変化したとき、その境界を検出する
ものである。
力が第3図のように変化したとき、その境界を検出する
ものである。
幅算出回路52は、第3図の幅Wを算出する。
比較器53は幅算出回路52で算出した幅Wが一定値に
より大きいか小さいかを比較し、W)Kになると、その
ときの幅WOを比較レベルレジスタ54に送るとともに
、直径カウンタ55をスタートさせる。
より大きいか小さいかを比較し、W)Kになると、その
ときの幅WOを比較レベルレジスタ54に送るとともに
、直径カウンタ55をスタートさせる。
比較器56は幅算出回路52で算出した幅WがWOより
大きいか小さいかを比較し、Woより小さくなると、比
較器56の出力で直径カウンタ55のカウ/トを停止さ
せる。
大きいか小さいかを比較し、Woより小さくなると、比
較器56の出力で直径カウンタ55のカウ/トを停止さ
せる。
このとき、X位置演算器57は、白/黒変化点検出器5
1の出力Pxと幅算出回路52の出力W1から、穴中心
のX軸位置= P x +(W+ / 2 )を演算す
る。同様にY位置演算器58は同期クロックと直径カウ
ンタ55の出力I、から穴中心のy軸位置=Py−(L
/l)を演算する。
1の出力Pxと幅算出回路52の出力W1から、穴中心
のX軸位置= P x +(W+ / 2 )を演算す
る。同様にY位置演算器58は同期クロックと直径カウ
ンタ55の出力I、から穴中心のy軸位置=Py−(L
/l)を演算する。
同期化回路59は移動テーブル4の走査に同期した同期
クロックを受け、その同期信号を白/恵変化点検出器5
1に加える。
クロックを受け、その同期信号を白/恵変化点検出器5
1に加える。
このようにして、移動テーブル4の走査と位置検出器5
の51数操作により、被測定物3の穴31の大佐Sと穴
径を測定することができる。
の51数操作により、被測定物3の穴31の大佐Sと穴
径を測定することができる。
(e) 発明の効果
この発明によれば、被測定物にあけた穴の位置と径を移
動テーブルの走査と位置検出器の出力から算出するので
、測定操作を自動化することかできるとともに、測定値
を高精度に読みルることかできる。
動テーブルの走査と位置検出器の出力から算出するので
、測定操作を自動化することかできるとともに、測定値
を高精度に読みルることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は穴3
1に対する光電変換索子2と移動テーブル4の走査吠面
を示ず図、 第3図は第2図の穴31による光電変換素子2の出力の
一例を示す図、 第4図は位置検出器5の実施例の構成図。 1・・・・・光源、2・・・・・光電変換素子、3・・
・被測定物、4・・・・・・移動テーブル、5・・・・
・・位置検出器、51・・・・・・白/黒変化点検出器
、52・・・・・幅算出回路、53・・・・比較器、5
4・・・・・・比較レベルレジスタ、55・・・・カウ
ンタ、56・・・・・比較器、57・X位置演算器、5
8・・・・・Y位U演算器、59・・・・・・同期化回
路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第1図
1に対する光電変換索子2と移動テーブル4の走査吠面
を示ず図、 第3図は第2図の穴31による光電変換素子2の出力の
一例を示す図、 第4図は位置検出器5の実施例の構成図。 1・・・・・光源、2・・・・・光電変換素子、3・・
・被測定物、4・・・・・・移動テーブル、5・・・・
・・位置検出器、51・・・・・・白/黒変化点検出器
、52・・・・・幅算出回路、53・・・・比較器、5
4・・・・・・比較レベルレジスタ、55・・・・カウ
ンタ、56・・・・・比較器、57・X位置演算器、5
8・・・・・Y位U演算器、59・・・・・・同期化回
路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 光源0)と、 光源+11の光を受光するように配置した光電変換素子
の)と、 被測定物(3)を載せ、光源(璽)と光電変換素子(2
)の間を走査する移動テーブル(4)と、 光電変換素子し)の出力と移動テーブル(4)の走査と
を連動して検出する位置検出器(5)とを備え、移動テ
ーブル(4)の走査による被測定物(3)にあけた穴(
31)の検出幅Wが一定値Kを越えたときの幅をWo
とし、 移動テーブル(4)の走査による穴(31)の検出幅W
がWOより小さくなったときの幅をwlとし、幅W1の
ときの原点から幅W、までのy軸の距離をPxとし、 幅W+ のときの原点から幅W+ までのy軸の距離を
pyとし、 幅Wo と幅Wlのy軸上の距離をLとすれば、穴(3
1)の中心のy軸の位置= P x + (W +/
2 >、穴(31)の中心のy軸の位置=Py−(L/
2)、穴(31)の直径り均し から穴(31)の位置と径をめることを特徴とする穴位
置と穴径の測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12636183A JPS6018705A (ja) | 1983-07-12 | 1983-07-12 | 穴位置と穴径の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12636183A JPS6018705A (ja) | 1983-07-12 | 1983-07-12 | 穴位置と穴径の測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6018705A true JPS6018705A (ja) | 1985-01-30 |
Family
ID=14933279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12636183A Pending JPS6018705A (ja) | 1983-07-12 | 1983-07-12 | 穴位置と穴径の測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6018705A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61198304U (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-11 | ||
JPS6347604A (ja) * | 1986-08-12 | 1988-02-29 | メタルソフト・インコ−ポレ−テッド | ワ−クピ−スを自動的に検査するためのシステム |
JP2008233085A (ja) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh & Co Kg | 薄板加工における正常な状態の存在を検査するための方法及び装置 |
DE102009020456A1 (de) | 2009-05-08 | 2010-12-09 | Ritter, Gunter, Prof. Dr. | Verfahren zum Messen des Lochdurchmessers einer Bohrung |
-
1983
- 1983-07-12 JP JP12636183A patent/JPS6018705A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61198304U (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-11 | ||
JPH0220245Y2 (ja) * | 1985-05-30 | 1990-06-04 | ||
JPS6347604A (ja) * | 1986-08-12 | 1988-02-29 | メタルソフト・インコ−ポレ−テッド | ワ−クピ−スを自動的に検査するためのシステム |
JP2008233085A (ja) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh & Co Kg | 薄板加工における正常な状態の存在を検査するための方法及び装置 |
DE102009020456A1 (de) | 2009-05-08 | 2010-12-09 | Ritter, Gunter, Prof. Dr. | Verfahren zum Messen des Lochdurchmessers einer Bohrung |
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