JPH10326337A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
- Publication number
- JPH10326337A JPH10326337A JP13476997A JP13476997A JPH10326337A JP H10326337 A JPH10326337 A JP H10326337A JP 13476997 A JP13476997 A JP 13476997A JP 13476997 A JP13476997 A JP 13476997A JP H10326337 A JPH10326337 A JP H10326337A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- pulse
- signal
- start pulse
- line sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Image Input (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Y方向の画像分解能を一定にする。
【解決手段】 X−Yテーブル3はY方向に移動し、リ
ニアスケール6はその移動量を検出する。リニアスケー
ル6の出力信号は、その1周期がテーブル3の所定の移
動量に相当する正弦波である。シグナルパルスユニット
7は、スケール6の出力信号をパルス信号に変換する。
画像認識装置8は、パルス信号をカウントして所定のカ
ウントごとにスタートパルスを出力する。ラインセンサ
カメラ2はスタートパルスに応じて画像取り込みを行
う。
ニアスケール6はその移動量を検出する。リニアスケー
ル6の出力信号は、その1周期がテーブル3の所定の移
動量に相当する正弦波である。シグナルパルスユニット
7は、スケール6の出力信号をパルス信号に変換する。
画像認識装置8は、パルス信号をカウントして所定のカ
ウントごとにスタートパルスを出力する。ラインセンサ
カメラ2はスタートパルスに応じて画像取り込みを行
う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パターン検査装置
等の画像処理装置に係り、特にラインセンサカメラによ
って画像取り込みを行う画像処理装置に関するものであ
る。
等の画像処理装置に係り、特にラインセンサカメラによ
って画像取り込みを行う画像処理装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、物体の形状の認識や計測あるいは
検査を自動化する技術として画像処理が利用され、この
ような画像処理技術を利用した装置としてパターン検査
装置が提案されている(例えば、特願平8−15797
0号)。特願平8−157970号に開示されたパター
ン検査装置では、検査対象となるワークをX−Yテーブ
ル上に載せて、これをラインセンサカメラによって撮像
し、ワーク上に形成されたパターンの画像を取り込む。
そして、取り込んだパターンを基準となるマスタパター
ンと比較することによりパターンの検査を行う。
検査を自動化する技術として画像処理が利用され、この
ような画像処理技術を利用した装置としてパターン検査
装置が提案されている(例えば、特願平8−15797
0号)。特願平8−157970号に開示されたパター
ン検査装置では、検査対象となるワークをX−Yテーブ
ル上に載せて、これをラインセンサカメラによって撮像
し、ワーク上に形成されたパターンの画像を取り込む。
そして、取り込んだパターンを基準となるマスタパター
ンと比較することによりパターンの検査を行う。
【0003】ラインセンサカメラはX方向に画素が配列
されたカメラなので、X−YテーブルをX方向と垂直な
Y方向に移動させることにより、2次元の画像データが
得られる。このようなラインセンサカメラを用いた画像
取り込みでは、通常のエリアセンサよりも高分解能の画
像取り込みが可能になるという特徴がある。
されたカメラなので、X−YテーブルをX方向と垂直な
Y方向に移動させることにより、2次元の画像データが
得られる。このようなラインセンサカメラを用いた画像
取り込みでは、通常のエリアセンサよりも高分解能の画
像取り込みが可能になるという特徴がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ラインセンサ
カメラによって画像取り込みを行うパターン検査装置等
の画像処理装置では、X−YテーブルのY方向の移動速
度の変動により、Y方向の画像分解能が変化し、X方向
の画像分解能とY方向の画像分解能の比が1:1になら
ないという問題点があった。つまり、X方向の画像分解
能は、ラインセンサカメラの画素数によって決定され、
Y方向の画像分解能は、ラインセンサカメラの画素の大
きさおよびカメラとX−Yテーブルの相対速度によって
決定される(図4)。したがって、X−Yテーブルの移
動速度がモータや駆動機構の誤差等によって変動する
と、Y方向の画像分解能が変化してしまう。Y方向の分
解能の変化により、X方向の分解能とY方向の分解能の
比が1:1から外れると、計測結果や再現性等に影響を
与えてしまう結果となる。本発明は、上記課題を解決す
るためになされたもので、Y方向の画像分解能を一定に
することができる画像処理装置を提供することを目的と
する。
カメラによって画像取り込みを行うパターン検査装置等
の画像処理装置では、X−YテーブルのY方向の移動速
度の変動により、Y方向の画像分解能が変化し、X方向
の画像分解能とY方向の画像分解能の比が1:1になら
ないという問題点があった。つまり、X方向の画像分解
能は、ラインセンサカメラの画素数によって決定され、
Y方向の画像分解能は、ラインセンサカメラの画素の大
きさおよびカメラとX−Yテーブルの相対速度によって
決定される(図4)。したがって、X−Yテーブルの移
動速度がモータや駆動機構の誤差等によって変動する
と、Y方向の画像分解能が変化してしまう。Y方向の分
解能の変化により、X方向の分解能とY方向の分解能の
比が1:1から外れると、計測結果や再現性等に影響を
与えてしまう結果となる。本発明は、上記課題を解決す
るためになされたもので、Y方向の画像分解能を一定に
することができる画像処理装置を提供することを目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、撮像対象とな
るワークを載置するためのX−Yテーブルと、X−Yテ
ーブルをY方向に駆動する駆動手段と、X−Yテーブル
のY方向の移動量を検出するリニアスケールと、リニア
スケールの出力をパルス信号に変換する変換手段と、パ
ルス信号をカウントして所定のカウントごとにスタート
パルスを出力するスタートパルス生成手段と、X方向に
複数の画素が配設され、スタートパルスに応じて前記ワ
ークの画像取り込みを行うラインセンサカメラとを有す
るものである。リニアスケールの出力信号は、その1周
期がX−YテーブルのY方向の所定の移動量に相当する
正弦波である。よって、X−YテーブルのY方向の移動
速度が変化して移動量が変動すれば、それに応じてリニ
アスケールの出力信号の周期が変化し、パルス信号の周
期が変化する。スタートパルス生成手段はパルス信号を
カウントして所定のカウントごとにスタートパルスを出
力するので、パルス信号の周期の変化により、スタート
パルスの周期が変化する。こうして、X−Yテーブルの
Y方向の移動速度に応じてスタートパルスの周期を変化
させることにより、X−Yテーブルの移動速度に応じた
画像取り込みを行うことができる。
るワークを載置するためのX−Yテーブルと、X−Yテ
ーブルをY方向に駆動する駆動手段と、X−Yテーブル
のY方向の移動量を検出するリニアスケールと、リニア
スケールの出力をパルス信号に変換する変換手段と、パ
ルス信号をカウントして所定のカウントごとにスタート
パルスを出力するスタートパルス生成手段と、X方向に
複数の画素が配設され、スタートパルスに応じて前記ワ
ークの画像取り込みを行うラインセンサカメラとを有す
るものである。リニアスケールの出力信号は、その1周
期がX−YテーブルのY方向の所定の移動量に相当する
正弦波である。よって、X−YテーブルのY方向の移動
速度が変化して移動量が変動すれば、それに応じてリニ
アスケールの出力信号の周期が変化し、パルス信号の周
期が変化する。スタートパルス生成手段はパルス信号を
カウントして所定のカウントごとにスタートパルスを出
力するので、パルス信号の周期の変化により、スタート
パルスの周期が変化する。こうして、X−Yテーブルの
Y方向の移動速度に応じてスタートパルスの周期を変化
させることにより、X−Yテーブルの移動速度に応じた
画像取り込みを行うことができる。
【0006】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明の画像処理装
置の実施の形態となるパターン検査装置のブロック図で
ある。図1において、1は撮像対象となるワーク、2は
ワーク1を撮像するラインセンサカメラ、3はワーク1
を載置するためのX−Yテーブル、4はX−Yテーブル
3をY方向に駆動する駆動手段となるモータ、5はモー
タ4を制御するモータコントローラ、6はX−Yテーブ
ル3のY方向の移動量を検出するリニアスケール、7は
リニアスケール6の出力信号をパルス信号に変換する変
換手段となるシグナルパルスユニット、8はパルス信号
をカウントして所定のカウントごとにラインセンサカメ
ラ2にスタートパルスを出力するスタートパルス生成手
段となる画像認識装置である。
て図面を参照して説明する。図1は本発明の画像処理装
置の実施の形態となるパターン検査装置のブロック図で
ある。図1において、1は撮像対象となるワーク、2は
ワーク1を撮像するラインセンサカメラ、3はワーク1
を載置するためのX−Yテーブル、4はX−Yテーブル
3をY方向に駆動する駆動手段となるモータ、5はモー
タ4を制御するモータコントローラ、6はX−Yテーブ
ル3のY方向の移動量を検出するリニアスケール、7は
リニアスケール6の出力信号をパルス信号に変換する変
換手段となるシグナルパルスユニット、8はパルス信号
をカウントして所定のカウントごとにラインセンサカメ
ラ2にスタートパルスを出力するスタートパルス生成手
段となる画像認識装置である。
【0007】撮像対象となるワーク1としては、パター
ンが形成されたグリーンシート等がある。グリーンシー
トは、アルミナ粉末を液状のバインダで練り合わせてシ
ート状に加工したものであり、高融点の金属を含むペー
ストがスクリーン印刷されている。このグリーンシート
を焼結加工すれば、PGA(Pin Grid Array)用のセラ
ミック基板となる。
ンが形成されたグリーンシート等がある。グリーンシー
トは、アルミナ粉末を液状のバインダで練り合わせてシ
ート状に加工したものであり、高融点の金属を含むペー
ストがスクリーン印刷されている。このグリーンシート
を焼結加工すれば、PGA(Pin Grid Array)用のセラ
ミック基板となる。
【0008】このようなワーク1をX−Yテーブル3上
に載せ、ワーク1をラインセンサカメラ2によって撮像
する。カメラ2によって取り込まれる画像のサイズは、
X方向が例えば4096画素である。そして、画像認識
装置8から出力されるモータ制御パルスによってモータ
コントローラ5がモータ4を制御することにより、モー
タ4は、X−Yテーブル3をX方向と垂直なY方向に移
動させる。このとき、カメラ2が後述するスタートパル
スに応じて画像取り込みを繰り返すことにより、Y方向
の画像のサイズは例えば8192画素となる。
に載せ、ワーク1をラインセンサカメラ2によって撮像
する。カメラ2によって取り込まれる画像のサイズは、
X方向が例えば4096画素である。そして、画像認識
装置8から出力されるモータ制御パルスによってモータ
コントローラ5がモータ4を制御することにより、モー
タ4は、X−Yテーブル3をX方向と垂直なY方向に移
動させる。このとき、カメラ2が後述するスタートパル
スに応じて画像取り込みを繰り返すことにより、Y方向
の画像のサイズは例えば8192画素となる。
【0009】カメラ2によって撮像された横4096画
素×縦8192画素の濃淡画像は、画像認識装置8内で
ディジタル化され図示しない画像メモリに格納される。
画像認識装置8は、画像メモリに記憶されたパターンと
基準となるマスタパターンを比較して、ワーク1のパタ
ーンに欠陥がないかどうかを検査する。
素×縦8192画素の濃淡画像は、画像認識装置8内で
ディジタル化され図示しない画像メモリに格納される。
画像認識装置8は、画像メモリに記憶されたパターンと
基準となるマスタパターンを比較して、ワーク1のパタ
ーンに欠陥がないかどうかを検査する。
【0010】このようなパターン検査装置では、X−Y
テーブル3のY方向の移動速度に対して取り込みタイミ
ングを同期させることなく画像取り込みを行うと、Y方
向の分解能が移動速度に応じて変化する。これは、上記
移動速度が図2(a)のように規定値Vから変化する
と、ワーク1上に形成された、X方向、Y方向の幅がそ
れぞれ一定でY方向に一定の間隔で並んだパターンMを
撮像するとき、図2(c)のように一定となるべきパタ
ーンMのY方向の幅及び間隔が図2(b)のように変化
することを意味する。
テーブル3のY方向の移動速度に対して取り込みタイミ
ングを同期させることなく画像取り込みを行うと、Y方
向の分解能が移動速度に応じて変化する。これは、上記
移動速度が図2(a)のように規定値Vから変化する
と、ワーク1上に形成された、X方向、Y方向の幅がそ
れぞれ一定でY方向に一定の間隔で並んだパターンMを
撮像するとき、図2(c)のように一定となるべきパタ
ーンMのY方向の幅及び間隔が図2(b)のように変化
することを意味する。
【0011】そこで、本実施の形態では、以下のように
テーブル3のY方向の移動速度に対して取り込みタイミ
ングを同期させることによりY方向の分解能を一定とす
る。まず、リニアスケール6は、光学スリットが一定間
隔で多数配列されたスケールと固定スリットに光を照射
して両者のスリットを通過する光量を検出する構成とな
っている。このような構成により、テーブル3の移動に
伴う両スリットの相対位置の変化による光量変化を検出
して、テーブル3のY方向の移動量を検出する。
テーブル3のY方向の移動速度に対して取り込みタイミ
ングを同期させることによりY方向の分解能を一定とす
る。まず、リニアスケール6は、光学スリットが一定間
隔で多数配列されたスケールと固定スリットに光を照射
して両者のスリットを通過する光量を検出する構成とな
っている。このような構成により、テーブル3の移動に
伴う両スリットの相対位置の変化による光量変化を検出
して、テーブル3のY方向の移動量を検出する。
【0012】このリニアスケール6の出力信号ROは、
1周期がテーブル3のY方向の所定の移動量に相当する
図3(a)、(d)のような正弦波信号である。よっ
て、テーブル3のY方向の移動速度が変化して単位時間
当たりの移動量が変動すれば、それに応じて正弦波信号
ROの周期も変化する。
1周期がテーブル3のY方向の所定の移動量に相当する
図3(a)、(d)のような正弦波信号である。よっ
て、テーブル3のY方向の移動速度が変化して単位時間
当たりの移動量が変動すれば、それに応じて正弦波信号
ROの周期も変化する。
【0013】続いて、シグナルパルスユニット7は、リ
ニアスケール6の出力信号ROを図3(b)、(e)の
ようなパルス信号POに変換する。このとき、シグナル
パルスユニット7は、信号ROを内挿処理して分解能を
上げたパルス信号POを出力する。ここで、上記所定の
移動量を8μm、内挿数(正弦波の分割数、つまり正弦
波1周期当たりのパルス数)を80とすれば、パルス信
号POの1周期はテーブル3のY方向の移動量0.1μ
mに相当する。
ニアスケール6の出力信号ROを図3(b)、(e)の
ようなパルス信号POに変換する。このとき、シグナル
パルスユニット7は、信号ROを内挿処理して分解能を
上げたパルス信号POを出力する。ここで、上記所定の
移動量を8μm、内挿数(正弦波の分割数、つまり正弦
波1周期当たりのパルス数)を80とすれば、パルス信
号POの1周期はテーブル3のY方向の移動量0.1μ
mに相当する。
【0014】次に、画像認識装置8は、シグナルパルス
ユニット7から出力されるパルス信号POをカウントし
て、所定のカウント値(本実施の形態では80パルス)
ごとに図3(c)、(f)のような「L」レベルのスタ
ートパルスSPをラインセンサカメラ2に出力する。そ
して、ラインセンサカメラ2は、「L」レベルのスター
トパルスSPが出力される度に画像取り込みを行う。
ユニット7から出力されるパルス信号POをカウントし
て、所定のカウント値(本実施の形態では80パルス)
ごとに図3(c)、(f)のような「L」レベルのスタ
ートパルスSPをラインセンサカメラ2に出力する。そ
して、ラインセンサカメラ2は、「L」レベルのスター
トパルスSPが出力される度に画像取り込みを行う。
【0015】以上のような動作により、X−Yテーブル
3のY方向の移動速度が速くなって単位時間当たりの移
動量が大きくなり、正弦波信号ROの周期が図3(a)
のようにC1からC2に長くなると、パルス信号POの
周期が図3(b)のようにD1からD2に長くなる。こ
れにより、スタートパルスSPの周期が図3(c)のよ
うに長くなり、画像取り込みの周期が長くなる。
3のY方向の移動速度が速くなって単位時間当たりの移
動量が大きくなり、正弦波信号ROの周期が図3(a)
のようにC1からC2に長くなると、パルス信号POの
周期が図3(b)のようにD1からD2に長くなる。こ
れにより、スタートパルスSPの周期が図3(c)のよ
うに長くなり、画像取り込みの周期が長くなる。
【0016】また、テーブル3のY方向の移動速度が遅
くなって単位時間当たりの移動量が小さくなり、正弦波
信号ROの周期が図3(d)のようにC1からC3に短
くなると、パルス信号POの周期が図3(e)のように
D1からD3に短くなる。これにより、スタートパルス
SPの周期が図3(f)のように短くなり、画像取り込
みの周期が短くなる。
くなって単位時間当たりの移動量が小さくなり、正弦波
信号ROの周期が図3(d)のようにC1からC3に短
くなると、パルス信号POの周期が図3(e)のように
D1からD3に短くなる。これにより、スタートパルス
SPの周期が図3(f)のように短くなり、画像取り込
みの周期が短くなる。
【0017】以上のように、X−Yテーブル3のY方向
の移動速度に応じてスタートパルスSPの周期を変化さ
せることにより、X−Yテーブル3の移動速度に応じた
画像取り込みを行うことができ、Y方向の画像分解能を
一定にすることができる。その結果、X方向の画像分解
能とY方向の画像分解能の比を1:1にすることができ
る。また、その誤差は、リニアスケール6の分解能(本
実施の形態では0.1μm)以下となる。
の移動速度に応じてスタートパルスSPの周期を変化さ
せることにより、X−Yテーブル3の移動速度に応じた
画像取り込みを行うことができ、Y方向の画像分解能を
一定にすることができる。その結果、X方向の画像分解
能とY方向の画像分解能の比を1:1にすることができ
る。また、その誤差は、リニアスケール6の分解能(本
実施の形態では0.1μm)以下となる。
【0018】これにより、テーブル3の移動速度が図2
(a)のように規定値Vから変化しても、X方向、Y方
向の幅がそれぞれ一定でY方向に一定の間隔で並んだパ
ターンMの画像を図2(c)のように正しく取り込むこ
とができる。なお、本実施の形態では、上記所定のカウ
ント値を80としたが、これは1画素の大きさ(分解能
の設定値)を8μmとした場合である(つまり、8μm
/0.1μm=80)。したがって、8μmでない場合
は、パルス信号POの周期0.1μmを必要な数だけカ
ウントすればよいことは言うまでもない。
(a)のように規定値Vから変化しても、X方向、Y方
向の幅がそれぞれ一定でY方向に一定の間隔で並んだパ
ターンMの画像を図2(c)のように正しく取り込むこ
とができる。なお、本実施の形態では、上記所定のカウ
ント値を80としたが、これは1画素の大きさ(分解能
の設定値)を8μmとした場合である(つまり、8μm
/0.1μm=80)。したがって、8μmでない場合
は、パルス信号POの周期0.1μmを必要な数だけカ
ウントすればよいことは言うまでもない。
【0019】また、スタートパルスSPに応じて取り込
みを開始するラインセンサカメラ2の取込時間は常に一
定で変化しない。よって、この取込時間は、スタートパ
ルスSPの周期がとり得る最小値以下となる。また、本
実施の形態では、パターン検査装置を例にとって説明し
たが、ラインセンサカメラによって画像取り込みを行う
画像処理装置であれば、他の装置でも適用できることは
言うまでもない。
みを開始するラインセンサカメラ2の取込時間は常に一
定で変化しない。よって、この取込時間は、スタートパ
ルスSPの周期がとり得る最小値以下となる。また、本
実施の形態では、パターン検査装置を例にとって説明し
たが、ラインセンサカメラによって画像取り込みを行う
画像処理装置であれば、他の装置でも適用できることは
言うまでもない。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、リニアスケールと変換
手段とスタートパルス生成手段とを設けて、スタートパ
ルス生成手段が出力するスタートパルスに応じて画像取
り込みをラインセンサカメラに行わせることにより、X
−Yテーブルの移動速度に応じた画像取り込みを行うこ
とができ、Y方向の画像分解能を一定にすることができ
る。その結果、X方向の画像分解能とY方向の画像分解
能の比を1:1にすることができ、撮像対象の画像を正
しく取り込むことができる。
手段とスタートパルス生成手段とを設けて、スタートパ
ルス生成手段が出力するスタートパルスに応じて画像取
り込みをラインセンサカメラに行わせることにより、X
−Yテーブルの移動速度に応じた画像取り込みを行うこ
とができ、Y方向の画像分解能を一定にすることができ
る。その結果、X方向の画像分解能とY方向の画像分解
能の比を1:1にすることができ、撮像対象の画像を正
しく取り込むことができる。
【図1】 本発明の画像処理装置の実施の形態となるパ
ターン検査装置のブロック図である。
ターン検査装置のブロック図である。
【図2】 X−YテーブルのY方向の移動速度の変動に
対する入力画像の変化を示す図である。
対する入力画像の変化を示す図である。
【図3】 リニアスケールの出力信号、シグナルパルス
ユニットの出力信号及びスタートパルスを示すタイミン
グチャート図である。
ユニットの出力信号及びスタートパルスを示すタイミン
グチャート図である。
【図4】 X、Y方向の画像分解能を説明するための図
である。
である。
1…ワーク、2…ラインセンサカメラ、3…X−Yテー
ブル、4…モータ、5…モータコントローラ、6…リニ
アスケール、7…シグナルパルスユニット、8…画像認
識装置。
ブル、4…モータ、5…モータコントローラ、6…リニ
アスケール、7…シグナルパルスユニット、8…画像認
識装置。
Claims (1)
- 【請求項1】 撮像対象となるワークを載置するための
X−Yテーブルと、 X−YテーブルをY方向に駆動する駆動手段と、 X−YテーブルのY方向の移動量を検出するリニアスケ
ールと、 リニアスケールの出力をパルス信号に変換する変換手段
と、 パルス信号をカウントして所定のカウントごとにスター
トパルスを出力するスタートパルス生成手段と、 X方向に複数の画素が配設され、スタートパルスに応じ
て前記ワークの画像取り込みを行うラインセンサカメラ
とを有することを特徴とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13476997A JPH10326337A (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13476997A JPH10326337A (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 画像処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10326337A true JPH10326337A (ja) | 1998-12-08 |
Family
ID=15136142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13476997A Pending JPH10326337A (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10326337A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007107984A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Jfe Steel Kk | 表面検査方法および表面検査装置 |
WO2017013771A1 (ja) * | 2015-07-22 | 2017-01-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置及び検査方法 |
-
1997
- 1997-05-26 JP JP13476997A patent/JPH10326337A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007107984A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Jfe Steel Kk | 表面検査方法および表面検査装置 |
WO2017013771A1 (ja) * | 2015-07-22 | 2017-01-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置及び検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8059280B2 (en) | Method for three-dimensional imaging using multi-phase structured light | |
JPS63238761A (ja) | ラスタ入力走査装置の校正装置及び方法 | |
JP2017517766A (ja) | 顕微鏡サンプルの撮像の改良 | |
JP2985323B2 (ja) | パターン検査方法及びその装置 | |
CA2423325C (en) | Sensor and method for range measurements using a tdi device | |
US4920429A (en) | Exposure compensation for a line scan camera | |
EP0206709A2 (en) | Automatic optical inspection of printed circuit boards | |
JPH10326337A (ja) | 画像処理装置 | |
JP4137212B2 (ja) | 高さ測定方法及び高さ測定装置 | |
JPH0658215B2 (ja) | 半導体ウエハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置 | |
JP2004235671A (ja) | 電子部品実装装置 | |
JPH05107038A (ja) | 撮像装置 | |
JP4083854B2 (ja) | 画像検出装置 | |
JP4343996B1 (ja) | ワイヤボンディング装置及びキャピラリの振幅測定方法 | |
EP3869793A1 (en) | Image sensor circuitry for reducing effects of laser speckles | |
JPH10311705A (ja) | 画像入力装置 | |
JP2000088762A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2008227999A (ja) | 画像評価用チャートおよび画像評価装置 | |
JP4654693B2 (ja) | 検査画像撮像装置 | |
JPH08339434A (ja) | 曲面画像入力方法および装置 | |
JPH09280825A (ja) | 位置検出方法及びその装置 | |
JPH09284753A (ja) | 監視カメラの撮像制御方法とその装置 | |
JP2007101565A (ja) | 高さデータ処理方法 | |
JPH10274508A (ja) | 画像入力装置 | |
JPH0715365B2 (ja) | パターン位置検出方法 |