JPS60187019A - 情報処理装置 - Google Patents

情報処理装置

Info

Publication number
JPS60187019A
JPS60187019A JP4201384A JP4201384A JPS60187019A JP S60187019 A JPS60187019 A JP S60187019A JP 4201384 A JP4201384 A JP 4201384A JP 4201384 A JP4201384 A JP 4201384A JP S60187019 A JPS60187019 A JP S60187019A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
section
lens barrel
circuit
processing
pattern data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4201384A
Other languages
English (en)
Inventor
Hajime Hayakawa
早川 肇
Tadao Konishi
小西 忠雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4201384A priority Critical patent/JPS60187019A/ja
Publication of JPS60187019A publication Critical patent/JPS60187019A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、情報処理技術、特に、情報処理におい【発生
する誤り(エラー)を検出する技術に関し、たとえば、
描画装置において、格納されたパターンデータから鏡筒
を制御する信号を得るための処理に利用して有効な技術
に関する。
〔背景技術〕
半導体装置の製造において、電子線描画装置な使用する
場合、磁気テープ等に格納されたパターンデータにコン
、ピユータ等により所定の処理を加えて鏡筒を制御する
ための信号を得る必要があると考えられる。
しかし、処理して得られた信号により鏡筒を制御する場
合、処理部のエラーが検出されないため、描画の信頼性
が低下するという問題点があること゛が、本発明者によ
って明らかにされた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、高い信頼性を得ることができる情報処
理技術を提供することにある。
本発明の前記ならびに、tの他の目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、処理結果を積算し、この解とあらかじめめら
れた正解とを比較することにより、処理部におけるエラ
ーを確実に検出するようになして信頼性を高めるように
したものである。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例である電子線描画装置を示す
ブロック図である。
本実施例において、この電子線描画装置は情報処理装置
としてのパターン信号発生装置1を備えており、このパ
ターン信号発生装置1は、外部のパターンデータメモリ
ー2からのパターンデータを一時的に記憶するバッファ
メモリ一部3と、バッファメモリ一部3の出力端に接続
されたパターンデータ解読部4と、この解読部4の出力
端に接続された演算処理部5と、この処理部5の出力端
に接続され、かつ、電子線描画装置における鏡筒制御部
70入力端に接続された描画制御信号発生部6とを備え
ている。そして、バッファメモリ一部3.パターンデー
タ解読部4.演算処理部5の各出力端には、第1.第2
.第3積算回路部8゜9.10がそれぞれ接続されてお
り、各積算回路部8,9,10の出力端は各比較回路部
11,12゜13の一入力端に接続されている。各比較
回路部11.12.13の他の入力端にはホストコンピ
ュータ(図示せず)が接続されており、積算の正解情報
が入力されるようになっている。
次に作用を説明する。
外部のメモリー2に格納されていたパターンデータはバ
ッファメモリ一部3に移換され、バッファメモリ一部3
からパターンデータ解読部4に高速転送される。
半導体装置の集積回路に関するパターンデータは、XY
座標値、縦横の寸法値等をデジタル信号等に符号化して
格納され、かつ、繰り返えし領域等を圧縮されて格納さ
れていることが多い。
バッファメモリ一部3の出力端に接続された第1積算回
路部8は、たとえば、全ての数を次々に積算してゆきそ
の解を第1比較回路部11の一入力端に送出する。
第1比較回路部11の他方の入力端にはホストコンピュ
ータから、たとえば、あらかじめパターンデータの一部
として記憶された積算の正解が与えられる。第1比較回
路部11は、この正解と第1積算回路部8から送出され
て来る解とを比較し、両者が一致している場合には正常
と判定し、両者が不一致である場合にはエラー検出信号
を発生する。ホストコンピュータはこの発信により、バ
ッファメモリ一部3に工2−有と判定し、処理の中止ま
たは再処理等々の適当な措置の指令を発生する。
パターンデータ解読部4はバッファメモリ一部3から転
送されて来るパターンデータな実際のパターンの描画が
可能なように展開解読し、この解読データを演算処理部
5に送出する。
この解読データは、同時に第2積算回路部9に入力され
る。第2積算回路部9は、たとえば、全ての数を次々に
積算して行き、その解を第2比較回路部12の一入力端
に送出する。
第2比較回路部12は、この解と他の入力端に与えられ
る正解とを比較して両者が不一致である場合にはエラー
検出信号を発生する。
演算処理部5はパターンデータ解読部4から送出されて
来る解読データに演算処理を加えて描画制御信号を作り
出せるデータを発生し、このデータを描画制御信号発生
部6に送出する。
このデータは、同時に第3積算回路部10に入力される
。第3積算回路部10は、たとえば、全ての数を次々に
積算して行き、その解を第3比較回路部13の一入力端
に送出する。
第3比較回路部13は、この解と他の入力端に与えられ
る正解とを比較して両者が不一致である場合にはエラー
検出信号を発生する。
描画制御信号発生部7は、演算処理部5から送出されて
来るデータに基づき描画制御信号を作り出し、鏡筒制御
部7に送出する。鏡筒制御部7はこの制御信号により、
鏡筒(図示せず)を制御して所望の回路パターンを描画
させる。
〔効果〕
(1) 処理結果を積算し、この解とあらかじめめられ
た正解とを比較することにより、処理部のエラーを確実
に検出することができるため、情報処理の信頼性を向上
することができる。
(2)描画装置のバター/データを処理して描画制御信
号を得るものにおいて、処理結果を積算し、この解と正
解とを比較することにより、描画の信頼性を高めること
ができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、積算回路部は処理段階ごとに全て設ける必要
はなく、エラー発生の蓋然性の高い演算処理部等にだけ
設けるようにしてもよい。
〔利用分野〕
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である電子線描画装置に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、たとえば、光。
イオンビーム、X線等を用いた描画装置は勿論、他の分
野の情報処理装置全般に適用できる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すブロック図である。 1・・・パターン信号発生装置、2・・・パターンデー
タメモリー、3・・・バッファメモリ一部、4・・・デ
ータ解読部、5・・・演算処理部、6・・・描画制御信
号発生部、7・・・鏡筒制御部、8,9.10・・・積
算回路部、11,12,13・・・比較回路部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、符号化された情報を処理して所望の信号を得る情報
    処理装置において、処理結果を積算する積算回路部が設
    けられ、この積算回路部の解と、あらかじめめられてい
    る正解とが比較されるように構成されていることを特徴
    とする情報処理装置。 2、積算回路部が、処理の段階ごとにそれぞれ設けられ
    ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の情
    報処理装置。
JP4201384A 1984-03-07 1984-03-07 情報処理装置 Pending JPS60187019A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4201384A JPS60187019A (ja) 1984-03-07 1984-03-07 情報処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4201384A JPS60187019A (ja) 1984-03-07 1984-03-07 情報処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60187019A true JPS60187019A (ja) 1985-09-24

Family

ID=12624290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4201384A Pending JPS60187019A (ja) 1984-03-07 1984-03-07 情報処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60187019A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018062431A1 (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 ニッタ株式会社 管継手及び継手連結装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018062431A1 (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 ニッタ株式会社 管継手及び継手連結装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS60187019A (ja) 情報処理装置
US5774482A (en) Apparatus and method for processing errors associated with data transfers in a computer
US5293572A (en) Testing system of computer by generation of an asynchronous pseudo-fault
JPS61173527A (ja) 画像デ−タ圧縮方式
JPH11272293A (ja) 遠隔制御装置
KR970005832B1 (ko) 인터럽트 방식을 이용한 다중 버스 조절 방법
JP2823570B2 (ja) フレーム間符号化装置およびフレーム間符号化方法
JP2912223B2 (ja) 信号処理装置
JPH0254495B2 (ja)
JPS63298458A (ja) デ−タ転送回路
JPH044484A (ja) マイクロコンピュータ
JPH0590901A (ja) 音声符号化復号化装置
JPH04209058A (ja) 割込み処理装置
JPS62186345A (ja) マイクロプロセサi/oアドレス回路
JPS60187018A (ja) 描画装置
JPH04137150A (ja) 緩衝記憶装置
JPH04145539A (ja) データ処理装置
KR20010048185A (ko) 인터럽트 처리장치
JPH0573352A (ja) 情報処理装置
JPH02278342A (ja) マイクロコンピュータ
JPH03139738A (ja) 情報処理装置
JPS5896329A (ja) ダイレクトメモリアクセス制御回路
JPS60252910A (ja) プログラマブルコントロ−ラのプロセス入力回路
JPH04112225A (ja) 集積回路装置
JP2001344115A (ja) 割込制御装置