JPS60177281A - 光電スイツチ - Google Patents

光電スイツチ

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JPS60177281A
JPS60177281A JP59032794A JP3279484A JPS60177281A JP S60177281 A JPS60177281 A JP S60177281A JP 59032794 A JP59032794 A JP 59032794A JP 3279484 A JP3279484 A JP 3279484A JP S60177281 A JPS60177281 A JP S60177281A
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JP
Japan
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margin
circuit
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signal
light
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JP59032794A
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Aritaka Yorifuji
依藤 有貴
Yuji Takada
裕司 高田
Hitoshi Miyashita
宮下 均
Yoshihiko Okuda
善彦 奥田
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/04Systems determining the presence of a target

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は予め設定された検知エリア内に被検知物体が存
在するかどうかを判別して出力回路を制御する反射型光
電スイッチに関するものである。
〔背景技術〕
一般に、光電スイッチの投光手段および受光手段のレン
ズや投受光素子などの光学系が汚れたり光軸がずれて投
光、受光レベルが低下すると、光電スイッチが誤動作す
るので、メシテナンスが必要かどうかを判別して表示す
る必要がある。そこで、従来、光学系が多少汚れたり光
軸がずれても安定に動作することを示す余裕表示ランプ
を設け、この余裕表示ランプが点灯しておれば安定動作
状態にあ)、消えれば不安定動作状態にあると判定する
よ−うにしていた。第1図は被検知物体(X)からの反
射光レベルに基いて被検知物体(X)が検知エリア内に
存在するかどうかを検出する光スィッチを示すもので、
図中(1a)はパルス光を投光する投光手段であり、発
振回路(lO)、ドライブ回路(lI)および投光素子
(12)にて形成されている。(5a)は受光判別手段
であり、受光素子(4G出力を電圧信号に変換する受光
回路(4υと、増巾回路O7Jと、増巾回路(4■出力
vpと基準レベルvSfとを比較する比較回路(ハ)と
、発振回路(10)出力をりDツクとして比較回路(4
3から出力される物体検知信号を読込んで出力回路(6
)および動作表示回@(7)を制御する信号処理回路(
441とで形成されている。(50)は余裕判別表示手
段であり、増巾回Il!!)[421出力vpと余裕判
定用の基準レベルVs:とを比較する比較回路(49お
よび発IL回路(1o)出力をサシプリンタクロックと
して信号処理を行なう信号処理回路161よりなり、増
巾回路(42)出力VPが基準レベルVS:よシも大き
いとき余裕信号を出力する表示回路(4ηよシなる余裕
表示ランプとで形成されている。
いま、被検知物体(X)までの距離Hc対する増巾回路
(4り出力Vp(すなわち受光信号vp)の関係は第2
図に示すようになっており、受光信号VPが基準レベル
VSQよりも大きければ出力回路(6)および動作表示
回@(7)が動作し、基準レベルVS、;よりも大きけ
れば余裕表示回路(47)が動作して余裕表示ランプが
点灯するようになっている。ここに1基準レベルV崎け
VS1′よりも20%程度高く設定されており、光学系
の汚れおよび光軸のずれによる投光受光レベル許容低下
範囲を20%に設定しているoしたがって、光電スイッ
チの動作レベル(基準レベルVS; )よりも十分大き
な受光信号vpが得られている場合、余裕表示ランプが
点灯し、安定な検出動作をしていることを示すようにな
っている一方、上記、従来例にあっては光学系の汚れお
よび光軸のずれによる受光量変化にておよび被検知物体
(X)の反射率の変化にて検知エリアが変化してしまう
という不都合があるので、このような不都合を解消する
ものとして第3図乃至第5図に示すような光電スイッチ
があった。図中(1)は被検知物体(X)に対してパル
ス変調光よりなる光ビーム(P)を投光する投光手段で
あり、前記従来例と同様投光タイミンクを設定する同期
信号を発生する発振回路f101 (!−、ドライブ回
路(11)と、発光タイオード1、レーザーダイオード
などの投光素子(12)と、光じ一ム(P)を形成する
コンデンサレンズよりなる投光用光学系幀とで゛形成さ
れている。(2)は投光手段f1+から所定間隔4をも
って並置された受光手段であシ、投、受光手段fl+ 
+21は被検知物体(X)に対して三角測量的に配置さ
れている。この受光手段(2)は被検知物体(X) K
よる反射光を集光するための凸レンズよりなる集光手段
(3)と、集光手段(3)の集光面に配設され集光スポ
ット(S)の位置に対応した位置信号を出力する位置検
出手段(4)とで構成されており、この位置検出手段(
4)は、凸レンズよりなる集光手段(3)の集光面内に
配設され、集光スポット(S)の一方向の移動P層際し
て光量に比例しかつその移動量KjI5じて増加する4
41の検知信9IAを出力するとともに光量に比例しか
つ移動量に応じて減少する第2の検知信号IBを出力す
る。この位置検出手段(4)は、例えば1次元位置検知
素子(以下P S D (4)と称する)にて形成され
、このPSDf4)は第5図(a)に示すように、平板
状シリコン01)の表面にP層(31a)、裏面にN層
(31b)、中間に1層(31c)を形成したものであ
り、集光スポット(S)の位置に対応した信号電流I入
IBが出力されるようになっている。この信号電流IA
は集光スポット(S)の一方向の移動に際してその移動
量忙比例して増加する信号であシ、信号電流IBは移動
量忙比例して減少する信号である。もちろん、信号電流
IA、 IBが光量に比例することは言うまでもない。
第5図(b)は上述Q 、P 5Df4+の等価回路を
示すもので、図中(Pi)は電流源、(Do)tti理
想的タイオード、(Co)は接合容量、(Rt)は並列
抵抗、(Ro)は電極間抵抗である。なお位置検出手段
(4)として距@ /、が変化した場合における集光ス
ポラl−(S)の移動に応じて相反する信号電流IA、
 IBが得られるものであれば何でも良く、例えば移動
方向(矢印M)に連設された2個の受光素子にで形成し
ても良く、受光素子としてホトトランジスタ、ホトタイ
オード、太陽電池、CdSなどが用いられる。(5)は
判別制御手段でが所定の検知エリア(DE)内に存在す
るがどうかを判別して出力回路(6)および動作表示回
路(7)を制御するようになっている。この判別制御手
段(5)は、位置検出手段(4)からの信号電流IA、
IBを信号電圧VA、 VB K増巾変換する受光回路
(21a)(21b)と、対数増巾口@(22aX22
b)と、対数増巾回路(22a)出力An V’Aから
対数増巾回路(22b)出力tnVBを減算する減算回
路−と、減算回路の出力tnVA/VBと検知エリア設
定用ボリウム(24a>にて設定された動作レベルVS
とを比較して減算回路−出力tnVA/VBが動作レベ
ルVS以下のときHレベルを出力する比較回路脇1と、
対数増巾回路(22b)出力An VBと基準レベルV
S1を比較して投光、受光レベルが正常動作レベル以上
かどうかを比較判別する比較回路(社)と、比較回路力
1(ハ)出力の論理和をとるアンド回路−と、投光素子
0′4からの光ビーム(P)の投光タイミング(発振回
路(10)からの出力される同期信号)K同期してアシ
ド回路が出力をサンプリングするととKより、被検知物
体[X)が検知エリア(DE)内に存在するかどうかを
確実傾判別するようにした信号処理回路(271とで形
成され、信り処理口FjI!rf2η出力にて負荷制御
用のリレー、負荷制御用の半導体スイッチ素子などより
なる出力回路(6)および動作表示回路(7)を制御す
るようになっている。なお、受光回路(21aX21b
)はパルス光信号のみを通し直流光信号をカット・した
り、特定の周波数のみを通すバンドパスフィルタ回路を
含むものである。
いま、被検知物体(X)が第6図(a)に示すように反
射型光電スイッチ(Y)から距111!4.4.4の位
置に存在する場合において、集光面内に配設されたりf
psp(4)に対する集光スポット(S)の位置はそれ
ぞれ第6図(b)のようになシ、被検知物体(X)の位
置が光ビーム(P)の投光方向に変化すると、集光ビー
ム(S)が矢印M方向に移動してPSD(41から出力
される信号電流IA、IBは集光スポット(S)の位置
に対応した位置信号となる。判別制御手段(6)では受
光回路(21a’X21b)Kてこの信号電流IA、 
IBに比例した信号電圧VA1VBを形成し、対数増巾
回路(22a)(22b)にて対数゛増巾した電圧tn
VA、 tnVBを減算回路−にて減算することによシ
、減算回路(至)から信号電圧VA、 VBのレベル此
の対数値tn V A/V Bが出力されるこ七になる
。この減算回路聞出力tnVA/VBは反射型光電スイ
ッチ(至)から被検知物体(X)までの距@1に応じて
変化し、距MtK対する減算回路に出力tn VA/V
 Bは第7図に示すようになる。したがって、比較回路
力)の検知エリア設定ボリウム(24a)にて動作レベ
ルVSを適当に設定することによシ、正確な検知エリア
(DE)が容易に設定でき、減算回路(231出力tn
 V A/V Bが動作レベルVS以下となったとき比
較回路c241出力がHレベルとなる。このとき、投光
、受光レベルが正常動作範囲であって対数増巾回路(2
2b)出力tn VBが基準レベル781以上であれば
比較回路い出力もHレベルとなり、アンド回路嶽出力が
Hレベルとな多信号処理回路(271を介して出力回路
(6)および動作表示回路(7)が作動されるよう忙な
っている。而してこの従来例においては判別制御手段(
5)はP S D (41から出力される信号電流IA
、 IBを増巾した信号のレベル此の対数値を演算して
その演算値が所定の検知範囲か否かによって被検知物体
(X)が検知エリア(DE)内にあるかどうかを判別し
て出力口FNr+61を作動させているので、被検知物
体(X)の光反射率に関係なく検知エリア(DE)を設
定でき、さらに投、受光用光学系(131(3+の汚れ
や光軸のずれの影響を受けることがないようになってい
る。ところで、このような従来例において、対数増巾回
路(22b)出力tnVBと余裕判別用の基準レベルV
S2とを比較する比較回路(451と、信号処理回路(
46)さ、余裕表示口1i!!r(4ηとよシなる前記
従来例と同様の余裕判別表示手段t5(2)を設けた場
合、余裕表示回路(4ηの動作時点が出力回路(6)の
動作時点と異なるため引和感があるという問題があった
。すなわち、比較回路四の基準レベルVS1け受光回路
(21a821b)および対数増巾回路(22a)(2
2b)の増巾率、タイナ三ツクレンジなどを考慮した投
光、受光レベルの許容最低値に基いて設定されており、
比較回路(49の基準レベルvS2は投光、受光レベル
が多少低下しても誤動作しないように基準じベルVS1
よりも高く設定されている。したがって、比較回路(4
つ出方が得られて余裕表示回路(47)が動作している
ときKは対数増巾回路(22b)出力は一定の余裕のあ
る正常動作範囲になっておシ、多少の投光、受光レベル
の低下があっても物体検知動作が誤動作なく安定に行な
われることになる。ところで、抄j光、受光レベルが十
分高く、余裕表示回路(47)が動作する場合において
、余裕表示回路(4つの動作時点は第8図に示すようK
A点であり、出力回路(6)および動作表示回路(7)
の動作時点けB点となり、余裕表示回路(4ηの余裕表
示ラシ′jは出力回路(6)および動作表示画FI!r
[71の動作タイ三シクと全く関係なく点灯し、余裕表
示ランプの点灯時点(A点)が何を意味するのかわから
ず戸惑うこ七があるという問題かあった。例えば、被検
知物体(X)が近づいてくる場合において、まず最初に
余裕表示回路(4ηの余裕表示ランプが点灯し、その後
出力回路(6)が動作して動作表示画lit!! (7
1の動作表示ラ−J″jが点灯することになるが、余裕
表示ランプの点灯時点(A点)が何の意味も持たないに
も拘らず物体検知時点(B点)との関係がわからないた
め戸惑いを生じるという問題があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであp、その目
的とするところは、余裕表示時点を出力回路の動作時点
に同期させることにより戸惑いを生じないようにしだ光
電スイッチを提供することにある。
〔発明の開示〕
第9図は本発明−実施例を示すもので、第3図乃至vJ
5図従来例さ同様の光電スイッチにおいて、余裕判定手
段國内に信号処理回路(27+ (4[i1出力の論理
積をとるアンド回路08)を設け、アンド回路(囮出力
にて余裕表示回路(4ηを制御するようにしたものであ
り、余裕判定手段偽りから余裕信号が得られかつ出力回
路(6)が作動されたとき余裕表示回路(旬を動作させ
て余裕表示ラ−J′:5を点灯するようになつ光、受光
レベルが十分大きい場合において、第1O図(a)に示
すようKA点で対数増巾回路(22b)出力tnVBが
基準レベルVS2よりも大きくなって余裕判定手段15
+1の信号処理回路(46)から余裕信号(Hレベル)
が出力されることになるが、この時点では判別制御手段
(5)の信号処理回路(271から物体検知信号(Hレ
ベル)が出力されていないので、アンド回路0□□□出
力け■、レベルのままであり余裕表示口F@(旬は動作
されず余裕表示ランプは消灯しているA 。次に、B点で減算回路(至)出力tn■Tが比較回路
シ41の基準レベルvS、lニジも小さくなって信号処
理回路V力から物体検知信5j′(Hレベル)か出力さ
れると、出力回路(6)および動作表示回路(7)が動
作するとともに、アンド回路(痢出力がHレベルになっ
て余裕表示回路(4ηが動作して余裕表示ランプが点灯
し、物体検知動作が安定に行なわれていることを表示す
る。このように本発明にあっては余裕表示回路(4ηの
動作時点を出力回路(6)の動作時点に同期させている
ので、従来例のように余裕表示ランプの点灯による戸惑
いが生じないことになる。一方、光学系の汚れや光軸の
ずれなどKよって投光、受光レベルが小さくなった場合
には、第10図(b)K示すようK B点で信号処理回
路(2ηから物体検知信号・が出力されて出力回路(6
)および動作表示回路(7)が動作することになるが、
この時点で対数増巾回路(22b)出力tnVBが比較
回路(45)の基準レベルVB、以下であるので、信号
処理回路(4b)から余裕信号が出力されずアンド回路
(摺出力はLレベルとなり余裕回路(471は動作しな
い。したがって、管理者は動作表示回路(7)の動作表
示ラシプが点灯しているにも拘らず余裕表示回路(47
)の余裕表示ラシプが点灯しなくなったことによシ、光
学系の汚れ、光軸のずれなどによって投光、受光レベル
が低下して不安定動作領域になっていることを知り、光
学系の清掃、光軸合せなどの保守点検を行なうことにな
る。なお、対数増巾回路(22b)出力tnVBが比較
回路@51の基準レベルVS!よりも小さくなれば出力
回路(6)、動作表示1回路(7)および余裕表示回路
(471は全て動作しないことになる。
〔発明の効果〕
本発明は上述のように構成されており、検知信号レベル
が予め設定された余裕判定用の基準レベルよりも大きい
とき余裕信号を出力する余裕判定手段を設けるとともに
、余裕信号が得られかつ出力回路が作動されたとき余裕
表示回路を動作させる余裕表示手段を設けたものであり
、余裕表示時点を出力回路の動作時点と同期させている
ので、従来例のように余裕表示ランプの点灯が何を意味
するかわからずに戸惑うことがないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は一従来例のブロック図、第2図は同上の動作説
明図、第3図は他の従来例の概略構成を示す図、第4図
は同上のブロック回路図、第5図乃至第8図は同上の動
作説明図、第9図は本発明一実施例のブロック回路図、
第10図および第11図は同上の動作説明図である。− (1)は投光手段、(3)は集光手段、+41.l’1
位置検出手段、(5)は判別制御手段、(6)は出力回
路、(51)は余裕判定手段、(5カは余裕表示手段で
ある。 第1v!J 第2図 一

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. +11被検知物体に対して光ビームを投光する投光手段
    と、投光手段の側方に所定間隔をもって配設され、被検
    知物体による光ビームの反射光を集光する集光手段と、
    集光手段の集光面傾配股され集光スポットの一方向の移
    動に際して光量に比例しかつその移動量に応じて変化す
    る2種の検知信号を出力する位置検出手段と、両検知信
    号のレベル比が予め設定された検知範囲かどうかを比較
    判別して該検知範囲内のとき出力回路を作動させる判別
    制御手段とよりなる光電スイッチにおいて、検知信号レ
    ベルが予め設定された余裕判定用の基準レベルよりも大
    きいとき余裕信号を出力する余裕判定手段を設けるとと
    もに、余裕信号が得られかつ出力回路が作動されたとき
    余裕表示回路を動作させる余裕表示手段を設けたことを
    特徴とする光電スイッチ0
JP59032794A 1984-02-23 1984-02-23 光電スイツチ Granted JPS60177281A (ja)

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JP59032794A JPS60177281A (ja) 1984-02-23 1984-02-23 光電スイツチ

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JPH0327076B2 JPH0327076B2 (ja) 1991-04-12

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03277944A (ja) * 1990-03-28 1991-12-09 Koufu Nippon Denki Kk 光学的センサのチェック回路
JPH04103031U (ja) * 1991-02-15 1992-09-04 松下電工株式会社 光電スイツチ
JPH0626321U (ja) * 1992-08-31 1994-04-08 サンクス株式会社 検出スイッチ装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH04103031U (ja) * 1991-02-15 1992-09-04 松下電工株式会社 光電スイツチ
JPH0626321U (ja) * 1992-08-31 1994-04-08 サンクス株式会社 検出スイッチ装置

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