JPH046410A - 光電スイッチ - Google Patents

光電スイッチ

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JPH046410A
JPH046410A JP2109705A JP10970590A JPH046410A JP H046410 A JPH046410 A JP H046410A JP 2109705 A JP2109705 A JP 2109705A JP 10970590 A JP10970590 A JP 10970590A JP H046410 A JPH046410 A JP H046410A
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JP
Japan
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light
circuit
amount
signal
light emitting
Prior art date
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Pending
Application number
JP2109705A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiro Teramae
寺前 勝広
Masakazu Nishikawa
正和 西川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
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Publication of JPH046410A publication Critical patent/JPH046410A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光ビームを投受光して被検知対象物の存在を
検知する反射式光電スイッチに関するものである。
[従来の技術] 第3図は従来の三角測距方式による反射式光電スイッチ
のブロック図を示す。図中、1は投光手段であり、被検
知対象物Xに対して光ヒームPを投光する。投光手段1
は、半導体レーサー等よりなる発光素子12を備えてお
り、この発光素子12は駆動口l11811により駆動
される。駆動回路11は発振回路10か発生するクロッ
クパルスに応した投光タイミングて発光素子12に駆動
電流を流すものである。発光素子12から発せられる光
は凸レンズよりなる投光用光学系13により光ビームP
として検知エリアに投光されるようになっている。
光ビームPが検知エリア内の被検知対象物Xに当たると
、反射光Rを生しる。この反射光Rは凸レンズよりなる
受光用光学系2により集光されて、その集光面に配置さ
れた位置検出素子4により受光される。受光用光学系2
と位置検出素子4は、上記の投光手段1から所定距離を
隔てて側方に配置されている。位置検出素子4は、例え
ば、1次元位置検出素子<P S D )’?、分割フ
ォトダイオードなどにより構成されており、集光スポッ
トの位置に対応する位置信号la、1bを出力する。こ
の位置信号1&、lbは相反した信号となっている。
この位置検出素子4から構成される装置信号181bは
演算処理回路5に入力される。演算処理回路うでは位置
信号1a、 Nbに基づいて、被検知対象物Xか所定の
距離範囲以内に存在するかどうかを判定する物体有無判
定回路5aと、反射光Rの光量が十分なレベルか否かを
判定する光量判定回路5bとを備えている。才ず、物体
有無判定回路5aは、位置信号ム、lbをそれぞれ増幅
する第1及び第2の受光回路21a、21bと、各受光
回路21a、21bの出力V a 、 V bをそれぞ
れ対数増幅する第1及び第2の対数変換回路22a、2
2bと、各対数変換回路22a、22bの出力t’nV
a、1nVbの差分を求めることにより等測的に割り算
を行う減算回路23と、減算回路23の出力1n(Va
/Vb)を第1の基準電圧Vr、と比較する比較回路2
4と、比較回路24の出力を発振回路10のクロックパ
ルスに同期してラッチする同期回路25とを備えている
次に、光量判定回路5bは、対数変換回路22bの出力
1nVbを第2の基準電圧Vr2と比較する比較回路2
9と、比較回路2つの出力を発振回路10のクロックパ
ルスに同期してラッチする同期回路30とを備えている
。ここで、第1の基準電圧Vrは被検知対象物Xが所定
の位置に存在するときの減算回路23の出力1n(Va
/Vb)に相当する6したがって、同期回路25でラッ
チされた比較回路24の出力は、被検知対象物Xが所定
の距離範囲以内に存在するか否かを判定する物体有無判
定出力となる。また、第2の基準電圧Vr2は被検知対
象物Xの有無判定が可能となる反射光Rの最低光量に対
応している。したがって、同期回路30でラッチされた
比較回路29の出力は、反射光Rが最低光量よりも大き
いか否かを判定する最低光量判定出力となる。アンド回
路31では、同期回路25にラッチされた物体有無判定
出力と、同期回路30にラッチされた最低光量判定出力
との論理積を取ることにより、反射光Rが最低光量以上
で且つ物体か存在すると判定されたときにのみ、物体“
有“状懸を示す信号を8力回路6により出力させるもの
である。
なお、第1及び第2の基準電圧Vr1とVr2は、電気
的ホリュウムにより設定することが一般的てあり、演算
処理回路5をIC化するときには、これらの電気的ホリ
ュウムは内蔵てきず、外付けとなる。
[発明が解決しようとする課題] ところで、上述の従来例では、物体有無判別の信頼性は
、基準電圧Vr、、Vr2のレベルに影響される。特に
、第2の基準電圧V r2が低く設定されているときに
は、比較回路29て外来ノイズに対する誤動作が生じや
すくなるので、本来の位置信号1a、lbの大小に拘わ
らず、物体有無判別の信頼性低下を招くという問題があ
る。さらに、発光素子12の発光効率や、受光増幅率の
ばらつきは、対象*Xからの反射光Rが小さい場合には
、最低光量判別出力のほらつきを招き、物体有無を判別
可能な距離か充電スイッチ毎にはらつくという問題か生
しる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたちのてあつ、そ
の目的とするところは、光ビームを投受光して被検知対
象物の存在を検知する反射式の光電スイッチにおいて、
反射光か最低光量以上であるか否かの判定の信頼性を高
めることにある。
[課題を解決するための手段] 本発明にあっては、上記の課題を解決するために、第1
図に示すように、光ビームを投受光して被検知対象物X
の存在を検知する反射式の光電スイッチであって、被検
知対象物Xが所定の距離範囲以内に存在するか否かを判
定する物体有無判定回路5aと、被検知対象物Xからの
反射光Rが最低光量以上であるか否かを判定する最低光
量判定回路5bと、各判定回路5a、5bによる判定結
果の論理積により出力回路6を駆動するアンド回路31
とを備え、最低光量判定回路らbは、光量調節可能な発
光手段からの光信号により数紙光量を設定されることを
特徴とするものである。
なお、上記の発光手段は、第2図に示すように、光ビー
ム投光用の発光素子12からの光を分配する光分配器1
5を含むものであっても構わない。
[作用コ 本発明にあっては、このように、被検知対象物Xからの
反射光Rが最低光量以上であるか否かを判定する最低光
量判定回路5bに基準となる最低光量を設定する手段と
して、従来のように電気的ホリュウムを使用するのでは
なく、光量調節可能な発光手段を用いたから、S/N比
に十分余裕のあるレベルの光信号により最低光量を設定
することが可能であり、外来ノイズによる最低光量判定
回路5bの誤動作を防止することができる。また、第2
図に示すように、最低光量設定用の発光手段として、独
立した光源を使わず、物体検知用の光ビームの一部を光
分配器15により分配して使用すれば、発光素子や光学
系による投光量のばらつきを解消できる。
[実施例1] 第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
本実施例では、光ヒーム投光用の発光素子12a以外に
、別の発光素子12b分設けて、その発光量を光量調節
器14により可変としている。発光素子12bからの光
信号は、受光素子4Cにより受光され、受光回路21c
により電圧信号Vcに変換され、対数変換回路22cに
より対数信号1n■cに変換されて、減算回路23cに
より固定電圧V c 2との差分として比較回路29の
基準電圧となる。
一方、対数変換回f¥g22bの出力1nVbは、減算
回路23bにより固定電圧V c 1との差分として比
較回路29の入力電圧となる。比較回路29では入力電
圧と基準電圧とを比較し、その比較結果を発振回路10
のクロックパルスに従って同期回路30にラッチさせる
。このように、従来は電気的ボリュウムで最低光量設定
用の基準電圧を設定していたところを、光信号で最低光
量の設定を行えるようにしたので、電気的な外来ノイズ
による影響を受けにくい。また、本実施例では、固定電
圧〜′CV c 2と減算回路23b23cによりレベ
ルシフトを行うことにより、最低光量設定用の光信号は
十分に高いS/N比を確保てきるようなレベルの光信号
とすることかてき、光による外来ノイズの影響も受1−
1にくい。
以下、具体的に電圧値を例示して説明する。ます、固定
電圧Vc1を&n(3mV)とし、受光回路21cから
出力される電圧信号Vcを100mVとし、固定電圧V
 c 2をffin(50mV)としたとき、比較回路
29てはVblo、003と100150を比較するこ
とになる。したかって、位置信号vbは等測的に0.0
06と比較されることになる。この例から分かるように
、発光素子12bからの光信号を調節することにより、
受光回路21cから出力される電圧信号Vcのレベルが
変化すると、最低光量の判定基準が変化することになる
。ところで、3mVのような微小な内部基準電圧の変更
を直接可変抵抗などで行うことは難しいことであるか、
本実施例のように、微小ではあるが固定電圧ということ
であれば十分安定な電圧とすることかできる。また、演
算処理回路5をIC化する際には、固定電圧Vc1.V
c2は他の回路と同じく1チツプのICに内蔵すること
かでき、耐外来ノイス性能か向上する。
なお、光量調節器14は発光素子12bに流れる駆動電
流を可変とすることにより、光信号の大きさを調節する
手段てあっても良いし、あるいは、発光素子1.2bか
ら受光素子4cまての光の伝達経路に光量を調節てきる
ような分光器や反射板や、それに代わる光学的ホリュウ
ムなるものを設置したものでも良い。光学的ホリュウム
の代表例としては、偏光フィルタを2枚重ね合わせて、
一方の偏光フィルタを他方の偏光フィルタに対して回転
自在とした構成か知られている。
[実施例2] 第2図は本発明の他の実施例のブロック図である0本実
施例にあっては、最低光量設定用の発光手段として、独
立した光源を使わすに、発光素子12から得られる投光
用の光ビームの一部を光分配器15により分配し、光量
調節器14により光量を調節可能とすることにより、上
記の発光手段を実現したものである。このようにすれば
、発光素子12や光学系による投光量のばらつきを吸収
できる。なぜなら、投光パワーかに倍になって、反射光
Rかに倍になっても、最低光量設定用の光信号もに倍と
なるので、比較回路2つの比較結果には影響を与えない
からである。
なお、被検知対象物が所定の距離範囲以内に存在するこ
とを検出するための測距方式は、実施例て示した三角測
距方式に限定されるものではなく、投光パルスと受光パ
ルスの位相差を検出する方式でも構わない。
[発明の効果] 本発明によれば、光ビームを投受光して被検知対象物の
存在を検知する反射式の光電スイッチにおいて、被検知
対象物からの反射光が最低光量以上であるか否かを判定
する最低光量判定回路に、光量調節可能な発光手段から
の光信号により基準となる最低光量を設定するようにし
たから、外来ノイズにより最低光量判定回路が誤動作す
ることを防止でき、物体有無判定回路による被検知対象
物の距離判定結果と最低光量判定回路による最低光量判
定結果の論理積としての物体検知出力の信頼性か高くな
るという効果かある。
なお、請求項2記載のように、物体検知用の光ヒームを
分配する光分配器を用いて最低光量設定用の発光手段を
構成すれば、別個に発光素子を用意する必要がなくなり
、発光素子や光学系による投光量のばらつきに起因する
最低光量判定出力のばらつきを解消することができると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は本発
明の他の実施例のブロック図、第3図は従来例のブロッ
ク図である。 5aは物体有無判定回路、5bは最低光量判定回路、6
は出力回路、31はアンド回路である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ビームを投受光して被検知対象物の存在を検知
    する反射式の光電スイッチであって、被検知対象物が所
    定の距離範囲以内に存在するか否かを判定する物体有無
    判定回路と、被検知対象物からの反射光が最低光量以上
    であるか否かを判定する最低光量判定回路と、各判定回
    路による判定結果の論理積により出力回路を駆動するア
    ンド回路とを備え、最低光量判定回路は、光量調節可能
    な発光手段からの光信号により最低光量を設定されるこ
    とを特徴とする光電スイッチ。
  2. (2)発光手段は光ビーム投光用の発光素子からの光を
    分配する光分配器を含むことを特徴とする請求項1記載
    の光電スイッチ。
JP2109705A 1990-04-24 1990-04-24 光電スイッチ Pending JPH046410A (ja)

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JP (1) JPH046410A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993021497A1 (en) * 1992-04-10 1993-10-28 Omron Corporation Apparatus for measuring distance
JPH07275677A (ja) * 1994-04-11 1995-10-24 Nec Corp 有機酸分離膜およびその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993021497A1 (en) * 1992-04-10 1993-10-28 Omron Corporation Apparatus for measuring distance
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