JPS60147612A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPS60147612A JPS60147612A JP511284A JP511284A JPS60147612A JP S60147612 A JPS60147612 A JP S60147612A JP 511284 A JP511284 A JP 511284A JP 511284 A JP511284 A JP 511284A JP S60147612 A JPS60147612 A JP S60147612A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- distance
- signal
- light receiving
- position detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C7/00—Tracing profiles
- G01C7/06—Tracing profiles of cavities, e.g. tunnels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、産業用高精度距離センサとして用いる三角測
量方式の測距装置に関するものである。
量方式の測距装置に関するものである。
第１図および第２図はこの種の測距袋ａｔ＜１１’）の
基本例を示すものであり、図中（１）は被検知物体（Ｘ
ｉに対してパルス変調光よシなる光じ−ム（Ｐ）を投光
する投光手段であり、投光タイ、ｌ：、７グを設定する
同期信号を発生する発振回路ＯＱと、ドライブ回路αυ
と、発光タイオード、レーザーダイオードなどの投光素
子（２）と、光ビーム（Ｐ）を形成するコンダｙサレ、
７ズよルなる投光用光学系（至）とで形成されてぃる。
基本例を示すものであり、図中（１）は被検知物体（Ｘ
ｉに対してパルス変調光よシなる光じ−ム（Ｐ）を投光
する投光手段であり、投光タイ、ｌ：、７グを設定する
同期信号を発生する発振回路ＯＱと、ドライブ回路αυ
と、発光タイオード、レーザーダイオードなどの投光素
子（２）と、光ビーム（Ｐ）を形成するコンダｙサレ、
７ズよルなる投光用光学系（至）とで形成されてぃる。
（２）は投光手段（１）から所定間隔ｔｏをもって並置
された受光手段であり、投、受光手段（１） （２）は
被検知物体（Ｘ）に対して三角測量的に配置されている
。
された受光手段であり、投、受光手段（１） （２）は
被検知物体（Ｘ）に対して三角測量的に配置されている
。
この受光手段（２）は被検知物体閃による反射光を集光
するための凸レンズよυなる受光用光学系（３）と、受
光用光学系（３）の集光面に配設され、集光ス車・ソト
（Ｓｌの位置に対応した位置信号を出力する位置検出手
段（４）とで構成されておシ、この位置検出手段（４）
は、凸し、７ズよシなる受光用光学系（３）の集光面内
に配設され集光スポット（Ｓ）の一方向の移動に際して
光量に比例しかつその移動量に応じて増加する第１の信
号電流ＩＡ’を出力するとともに光量に比例しかつ移動
量に応じて減少する第２の信号電流ＩＢを出力する。こ
こに、基本例では、この位置検出手段（４）は、１次元
位置検知素子（以下ＰＳＤ（４）と称する）にて形成さ
れ、このＰ５Ｄ（４）は第３図（ａ）に示すように、平
板状シリコン伽υの表面にＰ層（３１ａ）、裏面に８層
（３１１）） 、中間に１層（３１Ｃ）を形成したもの
であり、集光スポット（Ｓ）の位ＩｔＫ対応した信号電
流ｉＡ、 ＩＢが出力されるようになっている。この信
号電流ＩＡは集光スポット（Ｓ）の一方向の移動に際し
てその移動量に比例して増加する信号であり、信号電流
ＩＢは移動量に比例して減少する信号である。もちろん
、信号電流ＩＡ、Ｉｎが光量に比例することは言うまで
もない。第３図（ｂ）はＰ Ｓ Ｄ （４）の等価回路
を示すもので、図中（Ｐｉ）は電流源、（Ｄｏ）は理想
的タイオード、（Ｃｏ）は接合容量、（Ｒｔ）は並列抵
抗、（Ｒ，）はｔ極間抵抗である。
するための凸レンズよυなる受光用光学系（３）と、受
光用光学系（３）の集光面に配設され、集光ス車・ソト
（Ｓｌの位置に対応した位置信号を出力する位置検出手
段（４）とで構成されておシ、この位置検出手段（４）
は、凸し、７ズよシなる受光用光学系（３）の集光面内
に配設され集光スポット（Ｓ）の一方向の移動に際して
光量に比例しかつその移動量に応じて増加する第１の信
号電流ＩＡ’を出力するとともに光量に比例しかつ移動
量に応じて減少する第２の信号電流ＩＢを出力する。こ
こに、基本例では、この位置検出手段（４）は、１次元
位置検知素子（以下ＰＳＤ（４）と称する）にて形成さ
れ、このＰ５Ｄ（４）は第３図（ａ）に示すように、平
板状シリコン伽υの表面にＰ層（３１ａ）、裏面に８層
（３１１）） 、中間に１層（３１Ｃ）を形成したもの
であり、集光スポット（Ｓ）の位ＩｔＫ対応した信号電
流ｉＡ、 ＩＢが出力されるようになっている。この信
号電流ＩＡは集光スポット（Ｓ）の一方向の移動に際し
てその移動量に比例して増加する信号であり、信号電流
ＩＢは移動量に比例して減少する信号である。もちろん
、信号電流ＩＡ、Ｉｎが光量に比例することは言うまで
もない。第３図（ｂ）はＰ Ｓ Ｄ （４）の等価回路
を示すもので、図中（Ｐｉ）は電流源、（Ｄｏ）は理想
的タイオード、（Ｃｏ）は接合容量、（Ｒｔ）は並列抵
抗、（Ｒ，）はｔ極間抵抗である。
なお、位置検出手段（４）として距離ｔが変化した場合
における集光スポット（Ｓ）の移動方向（矢印Ｍ）に連
設された２個の受光素子、Ｃて形成しても良く、受光素
子としてホトトランジスタ、ホトタイオード、太陽電池
、ＣｄＳなどが用いられる。（７）はＰＳＤ（４）の出
力電流ＩＡ、ＩＢに基いて測距装［Ｙ）から被検知物体
００１での距離データを演算して出力する距離演算部で
あシ、Ｐ Ｓ Ｄ （４）からの信号電流ＩＡ、ｌ１ｉ
ｆ：ｌｉｔ号電圧Ｖ人、ｖＢに増巾笈換する受光回路（
２１ａ）（２１ｂ）と、対数増巾回路（２２ａ）（２２
ｂ、）と、対数増巾回路（２２ａ）出力ｔｎＶＡから対
数増巾回路（２２ｂ）出力ｔｎＶＢを減算する減算回路
（ホ）とで形成されている。（６）は信号処理部であり
、距離演算部（７）から出力される距離データに基いて
例えば負荷制御信号を形成したり、警報信号を出力した
りするもので、この信号処理は誤動作を防止するため投
光手段（１）の投光タイ三′ｙジ（発振回路ＱＯ出力）
に同期して行なわれるようになっている。なお、受光回
路（２１８Ｘ２１ｂ）はＪ＼ｌｂス光信号のみを通し直
流光信号をカットしたり、特定の周波数のみを通すバン
ドパスフィルタ回路を含むものであるいま、被検知物体
（Ｘ）が第４図（ａ）に示すように反射型光電スイ・ソ
チ（Ｙ）から距１ＩＩＩＩＬ０、Ｌ３、ｔ３の位置に存
在する場合において、集光面内に配設された＃７７ＰＳ
Ｄ（４）に対する集光スポット（Ｓ）の位置はそれぞれ
第４１図（ｂ）のようになり、被検知物体（Ｘ）の位置
が光じ−ム（Ｐ）の投光方向に変化すると、集光し一ム
（Ｓ）が矢印Ｍ方向に移動してＰ Ｓ Ｄ （４）から
出力される信号１流ＩＡ、ＩＢは集光スポット（Ｓ）の
位置に対応した位置信号となる。距離演算部（７）では
受光回路（２１ａ）（２１ｂ）にてこの信号電流ＩＡ、
ＩＢに比例した信号電圧ｖＡ％ｖＢを形成し、対数増
１１回路（２２ａ）（２２ｂ）にて対数増「１］シた電
圧／−ＨＶＡ、ｔｎＶＢを減算回路に）にて減算するこ
とによシ、減算回路（イ）から信号電圧ｖＡ、ｖＢのレ
ベル比の対数値ｔｎＶ Ａ／Ｖｎ が各距離Ｌ＋ 、Ｌ
ｘ 、 ｉｓに対応する距離データＤｏとして出力され
ることになる。
における集光スポット（Ｓ）の移動方向（矢印Ｍ）に連
設された２個の受光素子、Ｃて形成しても良く、受光素
子としてホトトランジスタ、ホトタイオード、太陽電池
、ＣｄＳなどが用いられる。（７）はＰＳＤ（４）の出
力電流ＩＡ、ＩＢに基いて測距装［Ｙ）から被検知物体
００１での距離データを演算して出力する距離演算部で
あシ、Ｐ Ｓ Ｄ （４）からの信号電流ＩＡ、ｌ１ｉ
ｆ：ｌｉｔ号電圧Ｖ人、ｖＢに増巾笈換する受光回路（
２１ａ）（２１ｂ）と、対数増巾回路（２２ａ）（２２
ｂ、）と、対数増巾回路（２２ａ）出力ｔｎＶＡから対
数増巾回路（２２ｂ）出力ｔｎＶＢを減算する減算回路
（ホ）とで形成されている。（６）は信号処理部であり
、距離演算部（７）から出力される距離データに基いて
例えば負荷制御信号を形成したり、警報信号を出力した
りするもので、この信号処理は誤動作を防止するため投
光手段（１）の投光タイ三′ｙジ（発振回路ＱＯ出力）
に同期して行なわれるようになっている。なお、受光回
路（２１８Ｘ２１ｂ）はＪ＼ｌｂス光信号のみを通し直
流光信号をカットしたり、特定の周波数のみを通すバン
ドパスフィルタ回路を含むものであるいま、被検知物体
（Ｘ）が第４図（ａ）に示すように反射型光電スイ・ソ
チ（Ｙ）から距１ＩＩＩＩＬ０、Ｌ３、ｔ３の位置に存
在する場合において、集光面内に配設された＃７７ＰＳ
Ｄ（４）に対する集光スポット（Ｓ）の位置はそれぞれ
第４１図（ｂ）のようになり、被検知物体（Ｘ）の位置
が光じ−ム（Ｐ）の投光方向に変化すると、集光し一ム
（Ｓ）が矢印Ｍ方向に移動してＰ Ｓ Ｄ （４）から
出力される信号１流ＩＡ、ＩＢは集光スポット（Ｓ）の
位置に対応した位置信号となる。距離演算部（７）では
受光回路（２１ａ）（２１ｂ）にてこの信号電流ＩＡ、
ＩＢに比例した信号電圧ｖＡ％ｖＢを形成し、対数増
１１回路（２２ａ）（２２ｂ）にて対数増「１］シた電
圧／−ＨＶＡ、ｔｎＶＢを減算回路に）にて減算するこ
とによシ、減算回路（イ）から信号電圧ｖＡ、ｖＢのレ
ベル比の対数値ｔｎＶ Ａ／Ｖｎ が各距離Ｌ＋ 、Ｌ
ｘ 、 ｉｓに対応する距離データＤｏとして出力され
ることになる。
第５図は他の基本例の距離演算部（７）′の構成を示す
もので、受光回路（２１ａ）（２１ｂ）出力ｖＡ ｓ
Ｖ Ｂを加を演算して距離演算部（７）′から出力する
ようにしたものであり、他の構成は前記基本例と同様で
ある。なお、演算回路＠はデジタル演算回路にて形成し
ても良く、この場合、受光回路（２１ａ）（２１ｂ）出
力ＶＡ、ＶＢをＡ／Ｄ変換して演算回路１２のに入力さ
れる而して、上述のような基本例において、ＰＳＤ（４
）から出力されるｆａ号電流ＩＡ、ＩＢのレベル比に基
いて距離チー４夕を得ているので、被検知物体（Ｘ）の
光反射率、投受光用光学系（２）（３）の汚れなどによ
る光レベルの変化に関係なく距離データが得られ、測距
誤差が生じ難いようになっている。
もので、受光回路（２１ａ）（２１ｂ）出力ｖＡ ｓ
Ｖ Ｂを加を演算して距離演算部（７）′から出力する
ようにしたものであり、他の構成は前記基本例と同様で
ある。なお、演算回路＠はデジタル演算回路にて形成し
ても良く、この場合、受光回路（２１ａ）（２１ｂ）出
力ＶＡ、ＶＢをＡ／Ｄ変換して演算回路１２のに入力さ
れる而して、上述のような基本例において、ＰＳＤ（４
）から出力されるｆａ号電流ＩＡ、ＩＢのレベル比に基
いて距離チー４夕を得ているので、被検知物体（Ｘ）の
光反射率、投受光用光学系（２）（３）の汚れなどによ
る光レベルの変化に関係なく距離データが得られ、測距
誤差が生じ難いようになっている。
ところで、このような基本例にあっては、被検知物体（
３）に光じ−ム（Ｐ）を照射し、その表面で拡散反射さ
れた反射光（Ｒ）を受光用光学系（３）にて集光してＰ
Ｓ Ｄ （４）上に結像させ、ＰＳＤ（４）上に結像
された集光スボ・シトＳの位置を検出することによシ、
被検知物体（Ｘ）までの距離ｔをめるようにしたもので
あるが、被検知物体（Ｘ）の表面の正反射による反射光
（Ｒ）を受光用光学系（３）で受光した場合には測距誤
差が生じるという問題があった。すなわち、被検知物体
００の反射面としては、第６図（ａ）に示すように拡散
反射光Ｒａのみよシなる紙、木材の表面などの完全拡散
面に近いもの、第６図（ｂ）に示すように、正反射成分
Ｒｂが大きい金属、アクリル表面などの反射面、１ｇ６
図（Ｃ）に゛示すように、正反射成分Ｒｂのみよシなる
完全鏡面があり、完全鏡面については、この方式による
測距は不可能であり、正反射成分Ｒｂの大きい反射面に
あっては正反射成分Ｒｈの影響で測距誤差が生じつとい
う問題があった。例えば、第７図に示すように、正反射
成分Ｒｈの強い表面を有する被検知物体閃が傾いて、投
、受光手段（１） （２）が正反射位置になると、被検
知物体（Ｘ）の表面にて反射された反射光Ｒの正反射成
分Ｒｂが受光手段（２）にて受光され、大巾な測距誤差
を生じるという問題があった。
３）に光じ−ム（Ｐ）を照射し、その表面で拡散反射さ
れた反射光（Ｒ）を受光用光学系（３）にて集光してＰ
Ｓ Ｄ （４）上に結像させ、ＰＳＤ（４）上に結像
された集光スボ・シトＳの位置を検出することによシ、
被検知物体（Ｘ）までの距離ｔをめるようにしたもので
あるが、被検知物体（Ｘ）の表面の正反射による反射光
（Ｒ）を受光用光学系（３）で受光した場合には測距誤
差が生じるという問題があった。すなわち、被検知物体
００の反射面としては、第６図（ａ）に示すように拡散
反射光Ｒａのみよシなる紙、木材の表面などの完全拡散
面に近いもの、第６図（ｂ）に示すように、正反射成分
Ｒｂが大きい金属、アクリル表面などの反射面、１ｇ６
図（Ｃ）に゛示すように、正反射成分Ｒｂのみよシなる
完全鏡面があり、完全鏡面については、この方式による
測距は不可能であり、正反射成分Ｒｂの大きい反射面に
あっては正反射成分Ｒｈの影響で測距誤差が生じつとい
う問題があった。例えば、第７図に示すように、正反射
成分Ｒｈの強い表面を有する被検知物体閃が傾いて、投
、受光手段（１） （２）が正反射位置になると、被検
知物体（Ｘ）の表面にて反射された反射光Ｒの正反射成
分Ｒｂが受光手段（２）にて受光され、大巾な測距誤差
を生じるという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、被検知物体の表面が正反射成分が大
きい反射面であっても測距誤差が生じない測距装置を提
供することにある。
的とするところは、被検知物体の表面が正反射成分が大
きい反射面であっても測距誤差が生じない測距装置を提
供することにある。
（実施例）
第８図および第９図は本発明一実施例を示すもので、（
２１）Ｃ２＊）は、投光手段（１）の光軸（０）の両側
に夫々所定間隔Ｌｏをもって配設された受光手段であシ
、夫々受光用光学系Ｃ３Ｃ５１）Ｃ３およびＰ Ｓ Ｄ
Ｃ４Ｃ４１）（４にて形成されている。（５）はＰ
Ｓ Ｄ （４１）（４りの出力電流ＩＩＡ、 Ｉ ＩＢ
％Ｉ２Ａ％ Ｉ２Ｂに基いて被検知物体（３）までの距
離データＤｏを演算して出力する演算処理部であり、測
距原理は前記基本例と同様の三角測量方式である。ここ
に、演算処理部（６）はＰＳＤ（４ｓ）から出力される
信号電流ＩＩＡ、ＩＩＢに基いて第１の距離データＤ１
を演算する第１の距離演算部（７１）と、ＰＳＤ（４雪
）から出力される信号電流Ｉ２Ａ、Ｉ２Ｂに基いて第２
の距離苧−タＤ！を演算する第２の距離演算部（７雪）
と、各Ｐ Ｓ Ｄ （４ｓ）（４宜）の信号電流の和１
１Ａ＋ＩＩＢ 、Ｉ２Ａ＋Ｉ２ＢすなわちＶＩＡ ＋Ｖ
ＩＢ、Ｖ２Ａ＋Ｖ２Ｂが小すイ方（Ｄ Ｐ Ｓ Ｄ （
４ｔ）あるイハ（４＊）の信号電流１１Ａ、 ＩＩＢあ
るいはＩ２Ａ、 １２Ｂに基いて演算された距離データ
Ｄ１あるいは山を出力させる出力制御部（８）とで形成
されている。なお、距離演算部（７ｚ）（７ｇ）の受光
回路（２１ａｘ）（２１ａｚ）（２１ｂｔ）（２１Ｍ）
および演算回路（２７，）（２７＊）の構成および動作
は前記第５図基本例と全く同様であり、距離演算部（７
，）（７１）から出力される距離データＩ）＋、山は以
下、実施例の動作について説明する。演算処理部（５）
のフローチャートを示すもので、演算処理部（５）の各
距離演算部（７ｓ） （７１）では、夫４、ＰＳＤ（４
ｔ）および（４３）から出力される信号電流ＩＩＡ、
ＩＩＢおよびＩｎ、Ｉ２Ｂに基いて距離データＤ１（＝
大きいか否かすなわちＨ；；、；ＨＨＨが１よシ大きい
か否かを判別して、１以上の場合には距離ブータカする
ようになっている。すなわち、出力制御部（８）では被
検知物体（ｘ）による反射光（Ｒ）の正反射成分（Ｒｂ
）が受光されていない側の受ｉＴｈ手段（２ｔＸ２ｓ）
のＰ Ｓ Ｄ （４１）（４１）出力に基いて距離プー
タＤＯｔ−得るようにしているので、反射光（Ｒ）の正
反射成分（Ｒｂ）による測距誤差が生じることがない。
２１）Ｃ２＊）は、投光手段（１）の光軸（０）の両側
に夫々所定間隔Ｌｏをもって配設された受光手段であシ
、夫々受光用光学系Ｃ３Ｃ５１）Ｃ３およびＰ Ｓ Ｄ
Ｃ４Ｃ４１）（４にて形成されている。（５）はＰ
Ｓ Ｄ （４１）（４りの出力電流ＩＩＡ、 Ｉ ＩＢ
％Ｉ２Ａ％ Ｉ２Ｂに基いて被検知物体（３）までの距
離データＤｏを演算して出力する演算処理部であり、測
距原理は前記基本例と同様の三角測量方式である。ここ
に、演算処理部（６）はＰＳＤ（４ｓ）から出力される
信号電流ＩＩＡ、ＩＩＢに基いて第１の距離データＤ１
を演算する第１の距離演算部（７１）と、ＰＳＤ（４雪
）から出力される信号電流Ｉ２Ａ、Ｉ２Ｂに基いて第２
の距離苧−タＤ！を演算する第２の距離演算部（７雪）
と、各Ｐ Ｓ Ｄ （４ｓ）（４宜）の信号電流の和１
１Ａ＋ＩＩＢ 、Ｉ２Ａ＋Ｉ２ＢすなわちＶＩＡ ＋Ｖ
ＩＢ、Ｖ２Ａ＋Ｖ２Ｂが小すイ方（Ｄ Ｐ Ｓ Ｄ （
４ｔ）あるイハ（４＊）の信号電流１１Ａ、 ＩＩＢあ
るいはＩ２Ａ、 １２Ｂに基いて演算された距離データ
Ｄ１あるいは山を出力させる出力制御部（８）とで形成
されている。なお、距離演算部（７ｚ）（７ｇ）の受光
回路（２１ａｘ）（２１ａｚ）（２１ｂｔ）（２１Ｍ）
および演算回路（２７，）（２７＊）の構成および動作
は前記第５図基本例と全く同様であり、距離演算部（７
，）（７１）から出力される距離データＩ）＋、山は以
下、実施例の動作について説明する。演算処理部（５）
のフローチャートを示すもので、演算処理部（５）の各
距離演算部（７ｓ） （７１）では、夫４、ＰＳＤ（４
ｔ）および（４３）から出力される信号電流ＩＩＡ、
ＩＩＢおよびＩｎ、Ｉ２Ｂに基いて距離データＤ１（＝
大きいか否かすなわちＨ；；、；ＨＨＨが１よシ大きい
か否かを判別して、１以上の場合には距離ブータカする
ようになっている。すなわち、出力制御部（８）では被
検知物体（ｘ）による反射光（Ｒ）の正反射成分（Ｒｂ
）が受光されていない側の受ｉＴｈ手段（２ｔＸ２ｓ）
のＰ Ｓ Ｄ （４１）（４１）出力に基いて距離プー
タＤＯｔ−得るようにしているので、反射光（Ｒ）の正
反射成分（Ｒｂ）による測距誤差が生じることがない。
第１１図乃至第１３図は上記動作を具体的に示す図であ
シ、いま、被検知物体（Ｘ）の表面が第１１図のＡ線、
Ｂ線、Ｃ線で示すように傾斜した場合において、距離演
算部Ｃ７Ｃ７５）（７から出力される距離データＤ１・
Ｄ２は第１２図（ａ）（ｂ）に示すようになる。図から
明らかなように、Ａ線の位置の場合には、両距離データ
Ｄ１、Ｄ、は一致し、共に正確な距離ｔを示している。
シ、いま、被検知物体（Ｘ）の表面が第１１図のＡ線、
Ｂ線、Ｃ線で示すように傾斜した場合において、距離演
算部Ｃ７Ｃ７５）（７から出力される距離データＤ１・
Ｄ２は第１２図（ａ）（ｂ）に示すようになる。図から
明らかなように、Ａ線の位置の場合には、両距離データ
Ｄ１、Ｄ、は一致し、共に正確な距離ｔを示している。
しかしながら、Ｂ線の位置の場合には、受光手段（２１
〕にて反射光（６））の正反射成分（Ｒｂ）が受光され
、距離演算部（７１）から出力される距離イータＤ１は
測距誤差の大きいものとなり、またＣ線の位置の場合に
は、受光手段（２１）にて反射光（Ｒ）の正反射成分（
Ｒｂ）が受光され、距離演算部（７り）から出力される
距離データＤＩは測距誤差の大きいものとなる。ところ
で、反射光（Ｒ）の正反射成分Ｒｂは拡散反射成分Ｒａ
に比べて大きい−のが普通であシ、正反射成分Ｒｂを受
光している受光手段（例えば（２１））のＰ Ｓ Ｄ
（４Ｋ）の信号電流の和ＩＩＡ ＋ＩＩＢが・受光して
いない受光手段（例えば（２り ）のＰ Ｓ Ｄ （４
ｇ）の信号電流の和Ｉ２Ａ −１−１２８よりも大きく
なる。第３図はμゝ４１を示すものであシ、前妃へ線の
位ＶＺＡ＋Ｖ２Ｂ ＶＩＡ−）ＶＩＢ≧１ のとき距離イータＤ・とじてＤ
ｔを出ｖ２ａ−１−ｖｚｎ 力し、ＶｉＡ％ＶＩＢ＜ 、、のとき距離データＤ・と
してＤｉＶＩＡ 十Ｖ２Ｂ を出力するようにすれば、距離イータＤｔ、Ｄ３のう〜 〔発明の効果〕 本発明は上述のように構成されておシ、投光手段の両側
に三角測量方式による測距用受光手段を配置し、両受光
手段の位置検出素子の出力信号の和の大小を判別し、出
力信号の和の小さい方の受光手段を反射光の正反射成分
を受光していないものと見なして該受光手段の位置検出
素子の出力信号に基いて演算された距離イータを出力す
るように演算処理部を形成しているので、被検知物体の
表面が正反射成分の大きい反射面であった場合において
も、正反射成分による測距誤差を生じないようにするこ
とができ、常に正確な距離測定ができるという効果があ
る。
〕にて反射光（６））の正反射成分（Ｒｂ）が受光され
、距離演算部（７１）から出力される距離イータＤ１は
測距誤差の大きいものとなり、またＣ線の位置の場合に
は、受光手段（２１）にて反射光（Ｒ）の正反射成分（
Ｒｂ）が受光され、距離演算部（７り）から出力される
距離データＤＩは測距誤差の大きいものとなる。ところ
で、反射光（Ｒ）の正反射成分Ｒｂは拡散反射成分Ｒａ
に比べて大きい−のが普通であシ、正反射成分Ｒｂを受
光している受光手段（例えば（２１））のＰ Ｓ Ｄ
（４Ｋ）の信号電流の和ＩＩＡ ＋ＩＩＢが・受光して
いない受光手段（例えば（２り ）のＰ Ｓ Ｄ （４
ｇ）の信号電流の和Ｉ２Ａ −１−１２８よりも大きく
なる。第３図はμゝ４１を示すものであシ、前妃へ線の
位ＶＺＡ＋Ｖ２Ｂ ＶＩＡ−）ＶＩＢ≧１ のとき距離イータＤ・とじてＤ
ｔを出ｖ２ａ−１−ｖｚｎ 力し、ＶｉＡ％ＶＩＢ＜ 、、のとき距離データＤ・と
してＤｉＶＩＡ 十Ｖ２Ｂ を出力するようにすれば、距離イータＤｔ、Ｄ３のう〜 〔発明の効果〕 本発明は上述のように構成されておシ、投光手段の両側
に三角測量方式による測距用受光手段を配置し、両受光
手段の位置検出素子の出力信号の和の大小を判別し、出
力信号の和の小さい方の受光手段を反射光の正反射成分
を受光していないものと見なして該受光手段の位置検出
素子の出力信号に基いて演算された距離イータを出力す
るように演算処理部を形成しているので、被検知物体の
表面が正反射成分の大きい反射面であった場合において
も、正反射成分による測距誤差を生じないようにするこ
とができ、常に正確な距離測定ができるという効果があ
る。
第１図は本発明に係る一基本例の概略構成を示す図、第
２図は同上の回路図、第３図（ａ）は同上に用いるＰＳ
Ｄの構成を示す断面図、第３図（ｂ）は同上の等価回路
図、第４図（ａ） （ｂ）は同上の動作説明図、第５図
は他の基本例の要部回路図、第６図および第７図は同上
の問題点を示す図、第８図は本発明一実施例の概略構成
図、第９図は同上の回路図、第１０図は同上の７０−チ
ャート、第１１図乃至ＭｌＢ図は同上の動作説明図であ
る。 （１）は投光手段、Ｃ２５）Ｃ２＊）は受光手段、（３
ｔ）（３ｍ）は受光用光学系、（４ｓ）（４重）は位置
検出手段たるＰＳＤ、（５）は演算処理部、（７亀）（
７倉）は距離演算部、（８）は出力制御部である。 代理人 弁理士 石 １）長 七 第４図 く 第５図 （ｂ） （Ｃ） 第７図 Ｌ −Ｊ 第８図
２図は同上の回路図、第３図（ａ）は同上に用いるＰＳ
Ｄの構成を示す断面図、第３図（ｂ）は同上の等価回路
図、第４図（ａ） （ｂ）は同上の動作説明図、第５図
は他の基本例の要部回路図、第６図および第７図は同上
の問題点を示す図、第８図は本発明一実施例の概略構成
図、第９図は同上の回路図、第１０図は同上の７０−チ
ャート、第１１図乃至ＭｌＢ図は同上の動作説明図であ
る。 （１）は投光手段、Ｃ２５）Ｃ２＊）は受光手段、（３
ｔ）（３ｍ）は受光用光学系、（４ｓ）（４重）は位置
検出手段たるＰＳＤ、（５）は演算処理部、（７亀）（
７倉）は距離演算部、（８）は出力制御部である。 代理人 弁理士 石 １）長 七 第４図 く 第５図 （ｂ） （Ｃ） 第７図 Ｌ −Ｊ 第８図
Claims (1)
- （１）被検知物体に対して光ビーム全投光する投光手段
と、投光手段の光軸の両側に夫々所定間隔をもって配設
され、被検知物体による光と−ムの反射光を集光する第
１、第２の受光用光学系と、第１、第２の受光用光学系
の集光面にそれぞれ配設され集光スポットの光量に比例
・しかつ位置に対応した位置信号を出力する第１、第２
の位置検出手段と、両位置検出手段出力に基いて被検知
物体までの距離データを演算して出力する演算処理部と
よりなる測距装置であって、集光スポットの一方向の移
動に際してその移動量に比例して増加する第１の信号電
流と、その移動量に比例して減少する第２信号或流とが
得られる位置検出素子にて第１、第２の位置検出手段を
形成し、第１の位置検出素子のＭ号シ流ＩＪＡ、ＪＩＢ
に基いてａｌの距離データを演算するとともに、第２の
位置検出素子の信号電流ＩｚＡ、Ｉｚｎに基いて第２の
距離データを演算する距離演算部と、各位置検出素子の
信号を施の和ＩＩＡ＋ＩＩＢ、 ｈＡ＋Ｉ２ｇ が小さ
い方の位置検出素子の信号電流に基いて演算された距離
データを出力させる出力制御部とで演算処理部を形成し
て成る測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP511284A JPS60147612A (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP511284A JPS60147612A (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60147612A true JPS60147612A (ja) | 1985-08-03 |
Family
ID=11602265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP511284A Pending JPS60147612A (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60147612A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6271513U (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-07 | ||
| JPS63206610A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Matsushita Electric Works Ltd | 測距装置 |
| JPH02291913A (ja) * | 1989-05-01 | 1990-12-03 | Japan Radio Co Ltd | 光学式変位測定装置 |
-
1984
- 1984-01-13 JP JP511284A patent/JPS60147612A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6271513U (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-07 | ||
| JPS63206610A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Matsushita Electric Works Ltd | 測距装置 |
| JPH02291913A (ja) * | 1989-05-01 | 1990-12-03 | Japan Radio Co Ltd | 光学式変位測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0324636B2 (ja) | ||
| US4814810A (en) | Active-type auto-focusing mechanism | |
| JP3078069B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPS60147612A (ja) | 測距装置 | |
| JP3215232B2 (ja) | 光電式距離センサ | |
| JPS59762B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| JPH08184431A (ja) | 測距装置 | |
| JPH03102727A (ja) | 光電スイッチ | |
| JP2933804B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| JPS61218909A (ja) | 光電式物体検知装置 | |
| JP2559393B2 (ja) | 距離検出装置 | |
| JP2851053B2 (ja) | 光ビーム入射角検出センサ | |
| JP2942046B2 (ja) | 光学的測距センサー | |
| JPS59202084A (ja) | 反射型光電スイツチ | |
| JPH0778429B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPH07151849A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPS63167213A (ja) | 距離検出装置 | |
| JPH0536733B2 (ja) | ||
| JPH0688726A (ja) | 測距センサ | |
| JPH03158786A (ja) | 反射型光電センサ | |
| JPS63206682A (ja) | 光電スイツチ | |
| JPH0750656Y2 (ja) | 光電センサ | |
| JPH0618259A (ja) | カメラの測距装置 | |
| JPH03107709A (ja) | 光学的測定装置 | |
| JPS59139519A (ja) | 反射型光電スイツチ |