JPS60165642A - 放射線画像情報読取装置 - Google Patents
放射線画像情報読取装置Info
- Publication number
- JPS60165642A JPS60165642A JP2126584A JP2126584A JPS60165642A JP S60165642 A JPS60165642 A JP S60165642A JP 2126584 A JP2126584 A JP 2126584A JP 2126584 A JP2126584 A JP 2126584A JP S60165642 A JPS60165642 A JP S60165642A
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- Japan
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- light beam
- panel
- normal direction
- filter
- phosphorescence
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- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、輝尽性螢光体パネルを励起用光ビームで走査
して該輝尽性螢光体パネルに記録されている放射線潜像
(画像情報)を読取るようにした放射線画像情報読取装
置に関する。
して該輝尽性螢光体パネルに記録されている放射線潜像
(画像情報)を読取るようにした放射線画像情報読取装
置に関する。
(従来技術)
X線等のエネルギーの強い放射線を照l1lJするとそ
のエネルに−の一部を蓄え、これに可視光や熱を加える
と蓄えたエネルギーを螢光の形で放出づる所謂輝尽性螢
光体がある。この種の材料としては、例えばサマリウム
付活硫化ストロンチウム螢光体(Sr S : Ce
−Sm+ ) ヤニーロヒウム及tFサマリウム付活硫
化ストロンチウム螢光体(SrS:Eu−8I11)等
がある。このような材料をパネル状に均一に塗布して輝
尽性螢光体パネルとし、この輝尽性螢光体パネルにX線
像を踊彰記録し、該パネルをレーザ等の励起用光ビーム
で走査露光し、発光する螢光を検出することにより輝尽
性螢光体パネルに記録されたX線画像情報を読取ること
ができる。
のエネルに−の一部を蓄え、これに可視光や熱を加える
と蓄えたエネルギーを螢光の形で放出づる所謂輝尽性螢
光体がある。この種の材料としては、例えばサマリウム
付活硫化ストロンチウム螢光体(Sr S : Ce
−Sm+ ) ヤニーロヒウム及tFサマリウム付活硫
化ストロンチウム螢光体(SrS:Eu−8I11)等
がある。このような材料をパネル状に均一に塗布して輝
尽性螢光体パネルとし、この輝尽性螢光体パネルにX線
像を踊彰記録し、該パネルをレーザ等の励起用光ビーム
で走査露光し、発光する螢光を検出することにより輝尽
性螢光体パネルに記録されたX線画像情報を読取ること
ができる。
放射線画像情報読取装置は、この輝尽性螢光体パネルの
記録情報を読取るもので、第1図に示すように、放I)
jWA源1を出射し被写体2を透過して放射線(一般に
はX線)を輝尽性螢光体パネル3に吸収せしめ、然る後
、この放射線記録された輝尽性螢光体パネルを励起用光
ビームで励起して、蓄積性螢光体に蓄積されている放射
線エネルギーを螢光として放飼せしめ、この螢光を検出
して放射線画像を得るようにしたものである。第2図乃
至第5図は従来のこの種の装置の実施例を示す図である
。第2図は放射線源11から発射される励起用光ビーム
をダイク[lイックフィルタ12を通して輝尽性螢光体
パネル13に照射し、そのとき発光4る螢光(輝尽性螢
光)をダイクロイックフィルタ12で受けて反射させ、
その反射光をレンズ14で集光し1.:後、史にフィル
タ15で螢光成分のみ抽出して光電変換索子16で画像
情報を電気信号どして検出づるようにしている。このよ
うな方式の装置は、以下に示すような不具合を有してい
る。
記録情報を読取るもので、第1図に示すように、放I)
jWA源1を出射し被写体2を透過して放射線(一般に
はX線)を輝尽性螢光体パネル3に吸収せしめ、然る後
、この放射線記録された輝尽性螢光体パネルを励起用光
ビームで励起して、蓄積性螢光体に蓄積されている放射
線エネルギーを螢光として放飼せしめ、この螢光を検出
して放射線画像を得るようにしたものである。第2図乃
至第5図は従来のこの種の装置の実施例を示す図である
。第2図は放射線源11から発射される励起用光ビーム
をダイク[lイックフィルタ12を通して輝尽性螢光体
パネル13に照射し、そのとき発光4る螢光(輝尽性螢
光)をダイクロイックフィルタ12で受けて反射させ、
その反射光をレンズ14で集光し1.:後、史にフィル
タ15で螢光成分のみ抽出して光電変換索子16で画像
情報を電気信号どして検出づるようにしている。このよ
うな方式の装置は、以下に示すような不具合を有してい
る。
■ダイクロイックフィルタ12で励起用光ビームが減衰
されること。
されること。
■輝尽螢光は拡散的に発光するので、ダイクロイックフ
ィルタ12での反則効率がかなり低下すること。
ィルタ12での反則効率がかなり低下すること。
■励起用光ビームを輝尽性螢光体パネル13の幅全体に
わたって走査しようとすると、レンズ14、フィルタ1
.5及び光電変換素子16の寸法が大きくなること。
わたって走査しようとすると、レンズ14、フィルタ1
.5及び光電変換素子16の寸法が大きくなること。
第3図は放gFl線源(図示せず)から発射される励起
用光ビームをミラー21で受け、その反射光を輝尽性螢
光体パネル13(第2図と同一部分には同一符号を付し
て示す。以下同じ)に照射し、そのとき発光する輝尽性
螢光をフィルタ15を介して光電変換素子16に導き、
該光電変換素子16で画像情報を電気信号として検出覆
るようにしている。この方式の装置は、以下に示1よう
な不具合を有している。
用光ビームをミラー21で受け、その反射光を輝尽性螢
光体パネル13(第2図と同一部分には同一符号を付し
て示す。以下同じ)に照射し、そのとき発光する輝尽性
螢光をフィルタ15を介して光電変換素子16に導き、
該光電変換素子16で画像情報を電気信号として検出覆
るようにしている。この方式の装置は、以下に示1よう
な不具合を有している。
■ミラー21のために、最も螢光の強い輝尽性螢光体パ
ネル13の法線方向近辺の成分を画像信3− 号として用いることかできないこと(法線方向近辺の成
分はミラー21にさえぎられて光電変操素子16に到達
することができない)。
ネル13の法線方向近辺の成分を画像信3− 号として用いることかできないこと(法線方向近辺の成
分はミラー21にさえぎられて光電変操素子16に到達
することができない)。
■このため、励起用光ビームを走査しようとすると、フ
ィルタ15及び光電変換素子16として大きな寸法のも
のを用いる必要があること。
ィルタ15及び光電変換素子16として大きな寸法のも
のを用いる必要があること。
第4図は放射線源11から発射される励起用光ビームを
真上から偏向器331で主走査方向に振り、輝尽性螢光
体パネル13に照射し、そのとき発光する輝尽性螢光を
両脇からファイバ状の光伝導体32.33で光電変換索
子16に導くようにしている。このような光伝導体32
.33を用いることにより、光ビームを走査したときの
検出効率を高めることができる。しかしながら、この方
式のKlは以下に示すような不具合を有している。
真上から偏向器331で主走査方向に振り、輝尽性螢光
体パネル13に照射し、そのとき発光する輝尽性螢光を
両脇からファイバ状の光伝導体32.33で光電変換索
子16に導くようにしている。このような光伝導体32
.33を用いることにより、光ビームを走査したときの
検出効率を高めることができる。しかしながら、この方
式のKlは以下に示すような不具合を有している。
■輝尽性螢光体パネル13で発生した輝尽螢光のうち、
パネルと法線方向に発生した螢光成分を検出することが
できないこと。この点については第3図の実施例と同じ
である。
パネルと法線方向に発生した螢光成分を検出することが
できないこと。この点については第3図の実施例と同じ
である。
■光fハ導体32.33を用いていること等により=4
− 構成が複雑になること。
− 構成が複雑になること。
第5図は第4図に示す装置の片方の光伝導体33を反射
ミラー41で置換したものである。輝尽性螢光体パネル
13で発生した輝尽性螢光の一部は、反則ミラー41で
反射して光伝導体32に入った後、光電変換素子16に
導かれるようになっている。この方式も第4図に示】装
置と同様、以下に示すような不具合を有している。
ミラー41で置換したものである。輝尽性螢光体パネル
13で発生した輝尽性螢光の一部は、反則ミラー41で
反射して光伝導体32に入った後、光電変換素子16に
導かれるようになっている。この方式も第4図に示】装
置と同様、以下に示すような不具合を有している。
■輝尽性螢光体パネル13の法線り向に螢光成分を検出
することができないこと。
することができないこと。
■反射ミラー41の形状や調整が複雑であること。
(発明の目的)
本発明はこのよう41点に鑑みでなされたもので、その
目的は、輝尽螢光検出面の構造を簡略化すると共に、励
起用光ビームの損失を防止づることのできる放射線画像
情報読取装置を実現することにある。
目的は、輝尽螢光検出面の構造を簡略化すると共に、励
起用光ビームの損失を防止づることのできる放射線画像
情報読取装置を実現することにある。
(発明の構成)
このような目的を達成Jる本発明は、輝尽性の螢光特性
を有するパネルに励起用光ビームを走査露光したとき、
発光づる螢光を検出することによりパネルに記録された
放射線潜像を読取るようにした放射線画像情報読取装置
において、前記励起用光ビームはパネルの法線方向に対
し一定の傾きをもって照射覆るようにし、且つ前記螢光
の検出面はパネルの法線方向に対して略垂直になるよう
に構成されたことを特徴とするものである。
を有するパネルに励起用光ビームを走査露光したとき、
発光づる螢光を検出することによりパネルに記録された
放射線潜像を読取るようにした放射線画像情報読取装置
において、前記励起用光ビームはパネルの法線方向に対
し一定の傾きをもって照射覆るようにし、且つ前記螢光
の検出面はパネルの法線方向に対して略垂直になるよう
に構成されたことを特徴とするものである。
(実施例)
以下、図面を参照し本発明の実施例を詳細に説明する。
第6図は本発明装置の螢光検出面の一構成を示η図であ
る。図においで、13は前述した輝尽性螢光体パネル、
51は該輝尽性螢光体パネル13からの光のうち、輝尽
発光成分のみを抽出するフィルタ、52は該フィルタ5
1を通過した螢光を受けて、電気信号に変換する光検出
器である。該光検出器52は、前述した光電変換素子の
組合せより構成されている。53は光検出面で、フィル
タ51の表面がこれに相当する。該光検出面53は、輝
尽性螢光体パネル13の法線nに対して略垂直になるよ
うに配されている。このように構成された装置の動作を
説明すれば、以下の通りである。
る。図においで、13は前述した輝尽性螢光体パネル、
51は該輝尽性螢光体パネル13からの光のうち、輝尽
発光成分のみを抽出するフィルタ、52は該フィルタ5
1を通過した螢光を受けて、電気信号に変換する光検出
器である。該光検出器52は、前述した光電変換素子の
組合せより構成されている。53は光検出面で、フィル
タ51の表面がこれに相当する。該光検出面53は、輝
尽性螢光体パネル13の法線nに対して略垂直になるよ
うに配されている。このように構成された装置の動作を
説明すれば、以下の通りである。
励起用光ビームが輝尽性螢光体パネル13の法線0に対
して角θをもって入射し、パネル面のA点に照射すると
、A点付近からは図に示1ような輝尽性の螢光が発光す
る。発光しIこ螢光は、光検出面53に入射する。該光
検出面53は、フィルタ面であるので、入射した光のう
ち励起用光ビーム′の反射光は阻止され螢光のみがフィ
ルタ51を透過する。フィルタ51を透過した螢光は、
光検出器52により電気信号に変換された後、処■1装
置(図示せず)で画像処理や像の再構成が行われる。
して角θをもって入射し、パネル面のA点に照射すると
、A点付近からは図に示1ような輝尽性の螢光が発光す
る。発光しIこ螢光は、光検出面53に入射する。該光
検出面53は、フィルタ面であるので、入射した光のう
ち励起用光ビーム′の反射光は阻止され螢光のみがフィ
ルタ51を透過する。フィルタ51を透過した螢光は、
光検出器52により電気信号に変換された後、処■1装
置(図示せず)で画像処理や像の再構成が行われる。
この場合において、輝尽螢光の強度は角度依存性をもっ
ている。第7図は輝尽螢光の角度依存特性を示す図であ
る。図において、Xは法線方向を示す。円Cで囲まれた
複数個の矢印は、その角醍θにおける螢光強度で入射角
θに対してcos Oに比例した大きさになっている。
ている。第7図は輝尽螢光の角度依存特性を示す図であ
る。図において、Xは法線方向を示す。円Cで囲まれた
複数個の矢印は、その角醍θにおける螢光強度で入射角
θに対してcos Oに比例した大きさになっている。
即ら、法線方向−/−
(θ=0°)の成分が最も螢光強度が大きい。尚、励起
用光ビームの反射光は、第8図に示すように反射角θの
方向が最大となりその角度からずれるに従って8速に光
強度が減衰することが確認された。この反射光は、輝尽
性螢光体パネル13のパネルの表面状態に強く依存し、
平滑度が高い程この傾向は強くなる。平滑度は通常高い
方が画像の粒状性を上げるうえで好ましく、反射光の角
度依存性は強く瑣われる。但し、励起用光ビームの入射
角θを大きくしていくにつれて光ビームの照射ビーム径
を絞るのが困難になること、光ビームの表面反射が大ぎ
くなり励起効率が低下してくる等の理由により入射角θ
としては30’乃至60゜の範囲が適当である。このよ
うに、第6図に示す実施例によれば、光検出面53の検
出面積あたり、最も効率的に螢光を検出することができ
ること、励lC用光ビームの反射光の影響もフィルタ5
3にJ:り小さくできること及び入射光ビームを妨げる
何もないので、光検出器52の光電変換効率が良い等の
効果を得ることができる。
用光ビームの反射光は、第8図に示すように反射角θの
方向が最大となりその角度からずれるに従って8速に光
強度が減衰することが確認された。この反射光は、輝尽
性螢光体パネル13のパネルの表面状態に強く依存し、
平滑度が高い程この傾向は強くなる。平滑度は通常高い
方が画像の粒状性を上げるうえで好ましく、反射光の角
度依存性は強く瑣われる。但し、励起用光ビームの入射
角θを大きくしていくにつれて光ビームの照射ビーム径
を絞るのが困難になること、光ビームの表面反射が大ぎ
くなり励起効率が低下してくる等の理由により入射角θ
としては30’乃至60゜の範囲が適当である。このよ
うに、第6図に示す実施例によれば、光検出面53の検
出面積あたり、最も効率的に螢光を検出することができ
ること、励lC用光ビームの反射光の影響もフィルタ5
3にJ:り小さくできること及び入射光ビームを妨げる
何もないので、光検出器52の光電変換効率が良い等の
効果を得ることができる。
8−
第9図は本発明装置の一実施例を示す構成図である。図
において、第6図と同一部分には同一符号を付しで示す
。第6図では、輝尽性螢光体パネル13の輝尽螢光を直
接光検出器52に取込んでいたが、第9図の場合、ファ
イバ状の光伝導体61で光検出器52まで導いている点
が異なっている。62は入射した励起用光ビームを主走
査方向(図のZ方向)に振り分ける偏向ミラーである。
において、第6図と同一部分には同一符号を付しで示す
。第6図では、輝尽性螢光体パネル13の輝尽螢光を直
接光検出器52に取込んでいたが、第9図の場合、ファ
イバ状の光伝導体61で光検出器52まで導いている点
が異なっている。62は入射した励起用光ビームを主走
査方向(図のZ方向)に振り分ける偏向ミラーである。
このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の
通りである。
通りである。
励起用光ビームは、偏向ミラー62により偏向されなが
ら主走査方向く図の1方向)に、nつ輝尽性螢光体パネ
ル13の法線方向に対しである一定の傾きで照射される
。励起用光ビームによって照射された輝尽性螢光体パネ
ル13は螢光を発する。この螢光は光伝導体61により
光検出器52に導かれる。この場合の光検出面は、光伝
導体61の一方の断面63であり、走査線を中心どして
。
ら主走査方向く図の1方向)に、nつ輝尽性螢光体パネ
ル13の法線方向に対しである一定の傾きで照射される
。励起用光ビームによって照射された輝尽性螢光体パネ
ル13は螢光を発する。この螢光は光伝導体61により
光検出器52に導かれる。この場合の光検出面は、光伝
導体61の一方の断面63であり、走査線を中心どして
。
輝尽性螢光体パネル13と略平行と4するように設置さ
れている。光検出、而の走査方向(2方向)の長さは、
輝尽性螢光体パネル13の幅より長くなるにうに設計さ
れており、走査周辺での検出効率の低下を防いでいる。
れている。光検出、而の走査方向(2方向)の長さは、
輝尽性螢光体パネル13の幅より長くなるにうに設計さ
れており、走査周辺での検出効率の低下を防いでいる。
光伝導体61の他方の断面はフィルタ51に密着してお
り、該フィルタ51の他方の面は光検出器52に接して
いるので光の損失がない。光伝導体として、例えばプラ
スチックファイバを用いると検出効率を向上させること
ができる。
り、該フィルタ51の他方の面は光検出器52に接して
いるので光の損失がない。光伝導体として、例えばプラ
スチックファイバを用いると検出効率を向上させること
ができる。
(発明の効果)
以−1−詳細に説明したように、本発明によれば、励起
用光ビームは輝尽性螢光体パネルの法線方向に対しl一
定角で入射させ、このとき発生する螢光の検出面は輝尽
性螢光体パネルの法線方向に対して略垂直になるように
構成することにより、輝尽螢光検出面の構造を簡略化す
ると共に、励起用光ビームの損失を防止することができ
る放射線画像情報読取装置を実現できる。
用光ビームは輝尽性螢光体パネルの法線方向に対しl一
定角で入射させ、このとき発生する螢光の検出面は輝尽
性螢光体パネルの法線方向に対して略垂直になるように
構成することにより、輝尽螢光検出面の構造を簡略化す
ると共に、励起用光ビームの損失を防止することができ
る放射線画像情報読取装置を実現できる。
第1図は輝尽性螢光体パネルへの放射線画像の記録を示
す説明図、第2図乃至第5図は従来装置例を示す図、第
6図は本発明!!置の螢光検出面の一構成を示す図、第
7図は輝尽螢光の角度依存特性を示す図、第8図は反射
光の角度依存特性を示す図、第9図は本発明の一実施例
を示す構成図である。 1.11・・・111躬線源 2・・・被写体3.13
・・・輝尽性螢光体パネル 12・・・ダイクロイックフィルタ 14・・・レンズ 1’5.51・・・フィルタ16・
・・光電変換索子 21・・・ミラー31・・・偏向器 32.33.61・・・光伝導体 41・・・反射ミラー 52・・・光検出器53.63
・・・光検出面 62・・・偏向ミラー 特許出願人 小西六写真工業株式会打 代 叩 人 弁理士 ;↑ 島 藤 治外1名
す説明図、第2図乃至第5図は従来装置例を示す図、第
6図は本発明!!置の螢光検出面の一構成を示す図、第
7図は輝尽螢光の角度依存特性を示す図、第8図は反射
光の角度依存特性を示す図、第9図は本発明の一実施例
を示す構成図である。 1.11・・・111躬線源 2・・・被写体3.13
・・・輝尽性螢光体パネル 12・・・ダイクロイックフィルタ 14・・・レンズ 1’5.51・・・フィルタ16・
・・光電変換索子 21・・・ミラー31・・・偏向器 32.33.61・・・光伝導体 41・・・反射ミラー 52・・・光検出器53.63
・・・光検出面 62・・・偏向ミラー 特許出願人 小西六写真工業株式会打 代 叩 人 弁理士 ;↑ 島 藤 治外1名
Claims (2)
- (1)輝尽性の螢光特性を有するパネルに励起用光ビー
ムを走査露光したとき、発光する螢光を検出することに
よりパネルに記録された放射II潜像を読取るようにし
た放射線画像情報読取装置において、前記励起用光ビー
ムはパネルの法線方向に対し一定の傾きをもって照射す
るようにし、且つ前記螢光の検出面はパネルの法線方向
に対して略垂直になるように構成されたことを特徴とす
る放射線画像読取装置。 - (2)前記励起用光ビームはパネル面を直線的に略等速
移動し、前記螢光の検出面は走査露光位置の真上に、−
走査の露光範囲よりも広い面積で設置されたことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の放射線画像情報読取
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2126584A JPS60165642A (ja) | 1984-02-08 | 1984-02-08 | 放射線画像情報読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2126584A JPS60165642A (ja) | 1984-02-08 | 1984-02-08 | 放射線画像情報読取装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60165642A true JPS60165642A (ja) | 1985-08-28 |
Family
ID=12050272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2126584A Pending JPS60165642A (ja) | 1984-02-08 | 1984-02-08 | 放射線画像情報読取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60165642A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6337768A (ja) * | 1986-07-31 | 1988-02-18 | Konica Corp | 放射線画像情報読取装置 |
US5055681A (en) * | 1984-09-18 | 1991-10-08 | Konica Corporation | Radiographic image storage panel and process for reading out a radiographic image |
US5747825A (en) * | 1992-11-20 | 1998-05-05 | Picker International, Inc. | Shadowgraphic x-ray imager with TDI camera and photo stimulable phosphor plate |
US7081632B2 (en) | 2002-09-05 | 2006-07-25 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image storage panel |
Citations (3)
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JPS5512429A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | Radioactive image reader |
JPS5780545A (en) * | 1980-11-07 | 1982-05-20 | Fujitsu Ltd | Measuring device for photoluminescence strength |
-
1984
- 1984-02-08 JP JP2126584A patent/JPS60165642A/ja active Pending
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